華為公司常見(jiàn)軟件度量指標(biāo)

1、常見(jiàn)軟件項(xiàng)目度量指標(biāo)介紹發(fā)布時(shí)間：未知來(lái)源：網(wǎng)絡(luò)轉(zhuǎn)載字體：小中大I上一篇下一篇I打印I我要投稿I推薦標(biāo)簽：軟件測(cè)試基本度量項(xiàng)持續(xù)時(shí)間偏差（）進(jìn)度偏差（）工作量偏差（）規(guī)模偏差（）分配需求穩(wěn)定性指數(shù)（）軟件需求穩(wěn)定性指數(shù)（）（實(shí)際持續(xù)時(shí)間-計(jì)劃持續(xù)時(shí)間）/計(jì)劃持續(xù)時(shí)間）*100 （持續(xù)時(shí)間不包含非工作日）（實(shí)際結(jié)束時(shí)間-計(jì)劃結(jié)束時(shí)間）/計(jì)劃持續(xù)時(shí)間）*100（實(shí)際工作量-計(jì)劃工作 量）/計(jì)劃工作量（實(shí)際規(guī)模-計(jì)劃規(guī)劃）/計(jì)劃規(guī)模）*100（1-（修改' 增加或刪除的分配需求數(shù)/初始的分配需求數(shù)）*100（1-（修改' 增加或刪除的軟件需求數(shù)/初始的軟件需求數(shù)）*100（發(fā)布后缺陷

2、發(fā)現(xiàn)總數(shù)-（發(fā)布后前測(cè)試計(jì)劃本身缺陷數(shù)）/規(guī)發(fā)布前缺陷發(fā)現(xiàn) 密 度（個(gè)/KLOC）遺留缺陷密度（個(gè)/KLOC）（遺留缺陷：測(cè)試部發(fā)現(xiàn)的缺陷）生產(chǎn)率（LOC人天）SRS評(píng)審缺陷發(fā)現(xiàn)密度（個(gè)/頁(yè)）STP評(píng)審缺陷發(fā)現(xiàn)密度（個(gè)/用例）HLD評(píng)審缺陷發(fā)現(xiàn)密度（個(gè)/頁(yè)）ITP評(píng)審缺陷發(fā)現(xiàn)密度（個(gè)/用例）LLD評(píng)審缺陷發(fā)現(xiàn)密度（個(gè)/頁(yè)）UTP評(píng)審缺陷發(fā)現(xiàn)密度（個(gè)/用例）CODE評(píng)審缺陷發(fā)現(xiàn)密度（個(gè)/KLOC）UT缺陷發(fā)現(xiàn)密度（個(gè)/KLOC）IT缺陷發(fā)現(xiàn)密度（個(gè)/KLOC）ST缺陷發(fā)現(xiàn)密度（個(gè)/KLOC模（KLOC）（這里的發(fā)布指開(kāi)發(fā)向測(cè)試部發(fā)布）（測(cè)試部發(fā)現(xiàn)缺陷數(shù)-測(cè)試部測(cè)試計(jì)劃本身缺陷數(shù)”規(guī)模（KLOC）

3、軟件規(guī)模（LOC）總工作（人天）SRS評(píng)審發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)/SRS文檔頁(yè)數(shù)STP評(píng)審發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)/ST用例數(shù)HLD評(píng)審發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)/HLD文檔頁(yè)數(shù)ITP評(píng)審發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)/IT用例數(shù)LLD評(píng)審發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)/LLD文檔頁(yè)數(shù)UTP計(jì)劃評(píng)審發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)/UT用例數(shù)CODE評(píng)審發(fā)現(xiàn)缺陷數(shù)/編碼階段代碼規(guī)模UT發(fā)現(xiàn)缺陷數(shù)/UT階段代碼規(guī)模IT發(fā)現(xiàn)缺陷數(shù)/IT階段代碼規(guī)模ST發(fā)現(xiàn)缺陷數(shù)/ST階段代碼規(guī)模考）SR缺陷引入密度（個(gè)/頁(yè)）HLD缺陷引入密度（個(gè)/頁(yè)）SRS類(lèi)型缺陷數(shù)/SRS文檔頁(yè)數(shù)HLD類(lèi)型缺陷數(shù)/HLD文檔頁(yè)數(shù)質(zhì)量控制活動(dòng)缺陷發(fā)現(xiàn)密度（度量目的：建立基線(xiàn)，評(píng)估評(píng)審、測(cè)試是否充分提供參考）缺陷類(lèi)型引入

4、密度：（度量目的：建立基線(xiàn)，為分析能力水平薄弱環(huán)節(jié)及交付件質(zhì)量提供參LLD缺陷引入密度（個(gè)/頁(yè)）Code缺陷引入密度（個(gè)/KLOC）SRS評(píng)審有效性（）HLD評(píng)審有效性（）LLD評(píng)審有效性（）代碼評(píng)審有效性（）LLD類(lèi)型缺陷數(shù)/LLD文檔頁(yè)數(shù)CODE類(lèi)缺陷數(shù)/代碼規(guī)模SRS評(píng)審發(fā)現(xiàn)的SRS類(lèi)缺陷數(shù)/SRS類(lèi)缺陷總數(shù)HLD評(píng)審發(fā)現(xiàn)的HLD類(lèi)缺陷 數(shù)/HLD類(lèi)缺陷總數(shù)LLD評(píng)審發(fā)現(xiàn)的LLD類(lèi)缺陷數(shù)/LLD類(lèi)缺陷總數(shù)代碼評(píng)審發(fā)現(xiàn) 的 Code類(lèi)缺陷數(shù)/Code類(lèi)缺陷總數(shù)是否合理角度提供參考）評(píng)審活動(dòng)的有效性（度量目的：建立基線(xiàn)，對(duì)相關(guān)評(píng)審是否充分提供參考）每千行代碼的文檔規(guī)模（度量目 的：建立基線(xiàn)，

5、為評(píng)估交付件的質(zhì)量從設(shè)計(jì)是否充分、 粒度每千行代碼SRS文檔規(guī)模（pages/KLOC）每千行代碼HLD文檔規(guī)模（pages/KLOC）每千行代碼LLD文檔規(guī)模（pages/KLOC） SR文檔頁(yè)數(shù)/代碼規(guī)模HLD文檔頁(yè)數(shù)/代碼規(guī)模LLD文檔頁(yè)數(shù)/代碼規(guī)模質(zhì)量成本（評(píng)審工作量+返工工作量+缺陷修改工作量+測(cè)試計(jì)劃準(zhǔn)備工作量+測(cè)試執(zhí)行工作量+培訓(xùn)工作量+質(zhì)量保證工作量）/實(shí)際總工作量（返工工作量+缺陷修改工作量）/實(shí)際總工作量交付件生產(chǎn)率SRS文檔頁(yè)數(shù)/ （SRS文檔準(zhǔn)備工作量+SRS評(píng)審工作量+SRS修改工作量）ST用例數(shù)/ （STP準(zhǔn)備工作量+STP評(píng)審工作量+STP修改工作量）HLD文檔頁(yè)

6、數(shù)/ （HLD文檔準(zhǔn)備工作量+HLD評(píng)審工作量+HLD修改工作量）ITP用例數(shù)/ （ITP準(zhǔn)備工作量+ITP評(píng)審工作量+ITP修改工作量）UTP用例數(shù)/ （UTP準(zhǔn)備工作量+UTP評(píng)審工作量+UTP修改工作量）修改工作量）測(cè)試執(zhí)行效率UT用例數(shù)/ （UT準(zhǔn)備工作量+UT用例執(zhí)行工作量+UT缺陷修改工作量）IT用例數(shù)/ （IT準(zhǔn)備工作量+IT用例執(zhí)行工作量+IT缺陷修改工作量）ST用例數(shù)/ （ST準(zhǔn)備工作量+ST用例執(zhí)行工作量+ST缺陷修改工作量）度角度提供一個(gè)參考）質(zhì)量成本（）返工成本指數(shù)（）SRS文檔生產(chǎn)率（頁(yè)/人天）STP用例生產(chǎn)率（用例/人天）HLD用例生產(chǎn)率（頁(yè)/人天）ITP用例生產(chǎn)率

7、（頁(yè)/人天）UTP用例生產(chǎn)率（頁(yè)/人天）編碼階段代碼生產(chǎn)率（LOC人編碼階段實(shí)際代碼規(guī)模/ （編碼工作量+代碼評(píng)審 工作量+代碼天）UT用例執(zhí)行效率（用例/人天）IT用例執(zhí)行效率（用例/人天）ST用例執(zhí)行效率（用例/人天）每千行代碼測(cè)試用例規(guī)模（度量目的：ST用例規(guī)建立基線(xiàn)，為評(píng)估交付件的質(zhì)量從設(shè)計(jì)是否充分' 粒每千行代碼 模（用例/KLOC）每千行代碼IT用例規(guī)模（用例/KLOC）每千行代碼UT用例規(guī)模（用例/KLOC）UT實(shí)測(cè)規(guī)模缺陷發(fā)現(xiàn)密度（個(gè)/KLOC）IT實(shí)測(cè)規(guī)模缺陷發(fā)現(xiàn)密度（個(gè)/KLOC）ST實(shí)測(cè)規(guī)模缺陷發(fā)現(xiàn)密度（個(gè)/KLOC）總結(jié)：ST用例數(shù)/代碼規(guī)模IT用例數(shù)/代碼規(guī)模UT用例數(shù)/代碼規(guī)模實(shí)測(cè)規(guī)模缺陷發(fā)現(xiàn)密度（度量目的：建立基線(xiàn)，為評(píng)估測(cè)試用例的質(zhì)量提供一個(gè)參考 )UT發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)/UT活動(dòng) 實(shí)際測(cè)試代碼規(guī)模IT發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)/UT活動(dòng)實(shí)際測(cè)試代碼規(guī)模ST發(fā)現(xiàn)的缺