數(shù)字化測(cè)量技術(shù)

1、數(shù)字化測(cè)量技術(shù)數(shù)字化測(cè)量技術(shù)Digital measuring technology匯報(bào)人：孟繁超數(shù)字化測(cè)量技術(shù)的內(nèi)涵數(shù)字化測(cè)量技術(shù)的內(nèi)涵數(shù)字化測(cè)量技術(shù)的發(fā)展現(xiàn)狀數(shù)字化測(cè)量技術(shù)的發(fā)展現(xiàn)狀 數(shù)字化測(cè)量方法簡(jiǎn)介數(shù)字化測(cè)量方法簡(jiǎn)介其他數(shù)字化測(cè)量方法其他數(shù)字化測(cè)量方法目目 錄錄實(shí)驗(yàn)案例實(shí)驗(yàn)案例數(shù)字化測(cè)量技術(shù)的內(nèi)涵The connotation of digital measurement technology數(shù)字化測(cè)量技術(shù)的內(nèi)涵數(shù)字化測(cè)量技術(shù)的內(nèi)涵測(cè)量技術(shù)測(cè)量技術(shù)是按照某種規(guī)律，利用數(shù)據(jù)來(lái)描述觀(guān)察到的現(xiàn)象，即對(duì)事物做出量化的描述數(shù)字化測(cè)量技術(shù)其基本內(nèi)容是首先將連續(xù)變化的被測(cè)模擬量轉(zhuǎn)換成離散的數(shù)字量，再

2、經(jīng)過(guò)數(shù)據(jù)采集、計(jì)數(shù)、編碼、數(shù)據(jù)傳輸與存儲(chǔ)，最后完成數(shù)據(jù)處理、圖像處理、顯示及打印工作數(shù)字化測(cè)量技術(shù)的發(fā)展現(xiàn)狀數(shù)字化測(cè)量技術(shù)的發(fā)展現(xiàn)狀數(shù)字化測(cè)量技術(shù)的發(fā)展現(xiàn)狀The current situation of the development of digital measurement technology近幾年，我國(guó)的測(cè)量技術(shù)與相關(guān)儀器的研究都取得了重大進(jìn)展新型的測(cè)量系統(tǒng)、測(cè)量技術(shù)、測(cè)量原理、儀器設(shè)備在不斷出現(xiàn)，新型的傳感器及傳感原理，先進(jìn)的制造現(xiàn)場(chǎng)、數(shù)字化、非接觸測(cè)量、超大尺寸的精密測(cè)量、微納米級(jí)的超精密測(cè)量、測(cè)量相關(guān)理論的研究方面都有長(zhǎng)足發(fā)展數(shù)字化測(cè)量技術(shù)的發(fā)展現(xiàn)狀數(shù)字化測(cè)量技術(shù)的發(fā)展現(xiàn)狀先

3、進(jìn)制造空間尺寸的測(cè)量現(xiàn)場(chǎng)的校準(zhǔn)方法及裝置取得了重 大成果 以正交偏振激光器為核心的技術(shù)發(fā)明大型的超精密儀器的核心技術(shù)在研究方面已取得重要突破；新型的壓電石英傳感器和測(cè)量技術(shù)成功解決機(jī)械制造當(dāng)中復(fù)雜的力學(xué)測(cè)量問(wèn)題傳統(tǒng)的柵式位移傳感器發(fā)明在設(shè)計(jì)理論和實(shí)踐方面取得重大突破激光合成的波長(zhǎng)納米位移測(cè)量技術(shù)解決了大范圍的高精度納米位移的測(cè)量及微運(yùn)動(dòng)的技術(shù)問(wèn)題數(shù)字化測(cè)量技術(shù)方法簡(jiǎn)介數(shù)字化測(cè)量技術(shù)方法簡(jiǎn)介數(shù)字化測(cè)量技術(shù)方法的簡(jiǎn)介Introduction of digital measurement technology methods接觸式CMM測(cè)量CMM三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)將被測(cè)物體置于三坐標(biāo)機(jī)的測(cè)量空間，它通過(guò)感

4、知測(cè)量頭與工件表面的接觸，可獲得被測(cè)物體上各測(cè)點(diǎn)的坐標(biāo)位置，根據(jù)測(cè)點(diǎn)的空間坐標(biāo)值，經(jīng)計(jì)算可求出被測(cè)的幾何尺寸、形狀和位置 垂直式坐標(biāo)測(cè)量機(jī) 水平式坐標(biāo)測(cè)量機(jī)便攜式測(cè)量機(jī)接觸式接觸式CMM測(cè)量測(cè)量CMM三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)接觸式探頭 (a)硬式探頭 (b)觸發(fā)式探頭 (c)模擬式探頭接觸式接觸式CMM測(cè)量測(cè)量硬式接觸探頭原理通過(guò)手動(dòng)測(cè)頭接觸工件表面，由人眼及感覺(jué)做出判斷，再利用腳踏開(kāi)關(guān)觸發(fā)。記錄觸發(fā)時(shí)接觸點(diǎn)坐標(biāo)值。硬式接觸探頭的性能由于接觸力的大小和接觸點(diǎn)的判斷完全依賴(lài)于操作者的感覺(jué)，極易產(chǎn)生誤差，多用于精度要求不太高的小型測(cè)量機(jī)，成本較低、操作簡(jiǎn)單。接觸式接觸式CMM測(cè)量測(cè)量觸發(fā)式接觸探頭原理觸發(fā)式測(cè)

5、頭利用電子開(kāi)關(guān)機(jī)構(gòu)，當(dāng)測(cè)頭碰到樣件表面，由接觸力控制電子機(jī)構(gòu)的開(kāi)關(guān)，由電信號(hào)的通斷控制坐標(biāo)值的讀取。觸發(fā)式接觸探頭的性能觸發(fā)式測(cè)頭的觸發(fā)信號(hào)由電子開(kāi)關(guān)控制，故其重復(fù)性、準(zhǔn)確性較高，測(cè)量精度可達(dá)1m甚至更高，是現(xiàn)代三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)最常用的測(cè)頭。接觸式接觸式CMM測(cè)量測(cè)量模擬式接觸探頭原理觸針與被測(cè)表面接觸并沿被測(cè)表面直線(xiàn)運(yùn)動(dòng)，觸針的上下位移通過(guò)杠桿機(jī)構(gòu)傳遞給測(cè)量傳感器，傳感器的輸出值與被測(cè)量成比例接觸式接觸式CMM測(cè)量測(cè)量模擬式接觸探頭性能其觸針通常由金剛石制成，觸針形狀為圓錐形，針尖半徑一般為 0.110m，圓錐角一般為 60或 90。垂直分辨率在微米級(jí)和納米級(jí)的表面測(cè)量均可采用這種方法，若采用熱

6、膨脹系數(shù)低的材料和非常尖的觸針，垂直分辨率可接近于0.05nm，橫向分辨率優(yōu)于0.1m接觸式接觸式CMM測(cè)量測(cè)量觸發(fā)式探頭模擬式探頭非接觸非光學(xué)式掃描顯微鏡測(cè)量非接觸非光學(xué)式掃描顯微鏡測(cè)量非光學(xué)式-掃描顯微鏡測(cè)量非接觸式測(cè)量非光學(xué)式掃描顯微鏡測(cè)量法的掃描顯微鏡主要有兩種類(lèi)型：一種是掃描電子顯微鏡（Scanning Elecron Microscope，SEM）另一種是掃描探針顯微鏡（Scanning Probe Microscope，SPM）。 非光學(xué)式掃描顯微鏡測(cè)量非光學(xué)式掃描顯微鏡測(cè)量掃描電子顯微鏡工作原理電子束經(jīng)電子光學(xué)系統(tǒng)會(huì)聚到被測(cè)樣品上并進(jìn)行掃描，高能電子束與物質(zhì)相互作用產(chǎn)生二次電子

7、、背反射電子和 X 射線(xiàn)等信號(hào)，這些信號(hào)經(jīng)接收、放大后通過(guò)計(jì)算機(jī)圖像監(jiān)視器或 CRT顯示。非光學(xué)式掃描顯微鏡測(cè)量非光學(xué)式掃描顯微鏡測(cè)量掃描電子顯微鏡工作性能目前它的分辨率約在0.5nm。掃描電子顯微鏡能通過(guò)成像觀(guān)測(cè)表面的形貌和結(jié)構(gòu)，但卻不能同時(shí)精確測(cè)定微小結(jié)構(gòu)在縱向的尺寸，此外電子束還會(huì)使某些對(duì)電子敏感的樣品產(chǎn)生輻射損傷,而且測(cè)量時(shí)間比較長(zhǎng)。非光學(xué)式掃描顯微鏡測(cè)量非光學(xué)式掃描顯微鏡測(cè)量掃描探針顯微鏡工作原理 基本原理：AFM是利用微小探針與待測(cè)物之間交互作用力，通過(guò)將激光束照射到微懸臂上,再進(jìn)行反射及反饋來(lái)呈現(xiàn)待測(cè)物的表面的形貌和物理特性。相互作用相互作用F非光學(xué)式掃描顯微鏡測(cè)量非光學(xué)式掃描顯

8、微鏡測(cè)量掃描探針顯微鏡工作性能具有原子級(jí)分辨率，其橫向分辨率和縱向分辨率分別可達(dá)到 0.1nm 和 0.01nm，可以直接觀(guān)察分子或原子。由于它們具有超高的分辨力，用于表面粗糙度測(cè)量時(shí)，目前是唯一能在x、y、z 三個(gè)方向均能達(dá)到納米級(jí)測(cè)量的儀缺點(diǎn)是易受灰塵的干擾，測(cè)量條件要求比較苛刻，測(cè)量范圍小，不能測(cè)量粗糙表面，主要用于原子級(jí)或納米級(jí)表面的測(cè)量光學(xué)式掃描測(cè)量光學(xué)式掃描測(cè)量光學(xué)式-激光掃描光學(xué)式掃描測(cè)量根據(jù)三維激光掃描儀種類(lèi)的不同,工作原理也不盡相同,常見(jiàn)的大致有三種使用脈沖測(cè)距技術(shù)脈沖測(cè)距技術(shù)相位干涉方法掃描立體相機(jī)和機(jī)構(gòu)化光源掃描成像光學(xué)式掃描測(cè)量光學(xué)式掃描測(cè)量脈沖測(cè)距技術(shù)原理測(cè)距儀發(fā)射出

9、的激光經(jīng)被測(cè)量物體的反射后又被測(cè)距儀接收，測(cè)距儀同時(shí)記錄激光往返的時(shí)間t，光速c和往返時(shí)間t的乘積的一半，就是之間的距離D。光學(xué)式掃描測(cè)量光學(xué)式掃描測(cè)量相位激光測(cè)距技術(shù)原理根據(jù)調(diào)制的激光信號(hào)在待測(cè)距離上往返傳播所形成的相移，間接測(cè)出激光傳播時(shí)間，再根據(jù)激光傳播速度，求出待測(cè)距離。光學(xué)式掃描測(cè)量光學(xué)式掃描測(cè)量立體相機(jī)和機(jī)構(gòu)化光源掃描成像技術(shù)原理激光會(huì)按照先從上到下(逐行)，再?gòu)挠业阶?逐列)的方向來(lái)掃描投射在此矩形區(qū)域中的實(shí)際場(chǎng)景點(diǎn)。獲取的物體表面采樣點(diǎn)的三維空間坐標(biāo)。由于空間坐標(biāo)反映了掃描點(diǎn)與視點(diǎn)之間的距離，因此掃描得到的圖像稱(chēng)為距離圖像或深度圖像光學(xué)式掃描測(cè)量光學(xué)式掃描測(cè)量非接觸式測(cè)量-光學(xué)

10、式激光三角形掃描半導(dǎo)體激光器發(fā)出的光經(jīng)聚焦透鏡形成狹窄的光束照射在被測(cè)物體上,由于物體表面粗糙不平,狹窄的光束照射在物體表面會(huì)形成漫反射,一部分反射光落在透鏡上,經(jīng)聚焦后成為一個(gè)點(diǎn)落在PSD的敏感面上獲得位置。光學(xué)式掃描測(cè)量光學(xué)式掃描測(cè)量光學(xué)式-激光三角形面測(cè)量激光三角法面形測(cè)量的基本原理是利用激光在被測(cè)樣件表面投影一光條，由于被測(cè)表面起伏極曲率變化，投影的光條隨此輪廓位置起伏而扭曲變形，由CCD攝像機(jī)攝取激光束影像，這樣就可由激光束的發(fā)射角度和激光束在CCD內(nèi)成像位置，通過(guò)三角幾何關(guān)系獲得被測(cè)點(diǎn)距離或坐標(biāo)等數(shù)據(jù)。光學(xué)式掃描測(cè)量光學(xué)式掃描測(cè)量光學(xué)式掃描測(cè)量光學(xué)式掃描測(cè)量光學(xué)式測(cè)量-結(jié)構(gòu)光式測(cè)量

11、測(cè)量過(guò)程中由投影裝置把光柵圖像投影到被測(cè)物體表面,同時(shí)使用相機(jī)拍攝下經(jīng)被測(cè)物體表面調(diào)制而發(fā)生變形的光柵圖像,然后通過(guò)對(duì)變形的光柵圖像進(jìn)行處理,計(jì)算出代表物體高度的相位信息,最后根據(jù)相位信息和已標(biāo)定出的系統(tǒng)參數(shù)對(duì)被測(cè)物體表面進(jìn)行三維點(diǎn)云重建。光學(xué)式掃描測(cè)量光學(xué)式掃描測(cè)量結(jié)構(gòu)光掃描沖壓模具的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量光學(xué)式掃描測(cè)量光學(xué)式掃描測(cè)量光學(xué)式測(cè)量-圖像分析法顆粒與背景的根本差別就在于各自灰度值的不同,因此可以利用灰度值將顆粒與背景完全分開(kāi)。圖像二值化是指圖像上所有點(diǎn)的灰度值只有二種可能,不是“0”,就是“255”,即把灰度值超過(guò)某一閾值的象素賦以最大灰度值255,其余象素則賦予最小灰度值0光學(xué)式掃描測(cè)量光學(xué)

12、式掃描測(cè)量光學(xué)式測(cè)量-圖像分析法一幅灰度圖像和使用不同閾值得到的二值圖像結(jié)果1.原始灰度圖像 2.閾值T=100 3.T=128 4 .T1=100/T2=128光學(xué)式掃描測(cè)量光學(xué)式掃描測(cè)量光學(xué)式測(cè)量-光干涉法光干涉條件干涉測(cè)量基于光波相干疊加，因此必須滿(mǎn)足三個(gè)條件： 頻率相同， 振動(dòng)方向相同， 位相差恒定。光源的尺寸大小又會(huì)影響到各種干涉條紋的干涉圖樣對(duì)比度平行平板的等傾干涉： 對(duì)比度與光源大小無(wú)關(guān)楊氏干涉：只有利用狹縫限制光源尺寸，才能獲得干涉條紋楔形板形成的等厚干涉：介于上述兩種情況之間。光學(xué)式掃描測(cè)量光學(xué)式掃描測(cè)量光學(xué)式測(cè)量-光干涉法平行板干涉楔形板干涉光學(xué)式掃描測(cè)量光學(xué)式掃描測(cè)量光學(xué)

13、式測(cè)量-光干涉法楊氏干涉光學(xué)式掃描測(cè)量光學(xué)式掃描測(cè)量光學(xué)式測(cè)量-光干涉法(1)背景濾除：對(duì)原始圖像進(jìn)行預(yù)處理；(2)二值化：使干涉圖變?yōu)槎祷瘓D像；(3)細(xì)化：保留條紋中心曲線(xiàn)，從而提取出條紋上點(diǎn)的坐標(biāo)；(4)修像：去除細(xì)化圖像中的干擾信息，修改間斷點(diǎn)；(5)標(biāo)記：對(duì)干涉條紋進(jìn)行跟蹤、標(biāo)記不同條紋的干涉級(jí)次；(6)采樣：用等間距采樣現(xiàn)貫穿干涉圖像區(qū)間，均勻設(shè)置采樣 點(diǎn)。光學(xué)式掃描測(cè)量光學(xué)式掃描測(cè)量光學(xué)式測(cè)量-光干涉法順序?qū)⒏鼽c(diǎn)連成曲線(xiàn)，這條曲線(xiàn)代表了實(shí)際波面與理想平面波在A-A截面上的偏離程度光學(xué)式掃描測(cè)量光學(xué)式掃描測(cè)量光學(xué)式測(cè)量-光柵測(cè)量法光柵測(cè)量的構(gòu)成主光柵 - 標(biāo)尺光柵，定光柵；指示光柵

14、 - 動(dòng)光柵光電轉(zhuǎn)換電路等光學(xué)式掃描測(cè)量光學(xué)式掃描測(cè)量光學(xué)式測(cè)量-光柵測(cè)量法透射光柵原理反射光柵原理光學(xué)式掃描測(cè)量光學(xué)式掃描測(cè)量由于擋光效應(yīng)和光的衍射，在與線(xiàn)紋幾乎垂直方向上，會(huì)出現(xiàn)明暗交替、間隔相等的粗大條紋，稱(chēng)為“莫爾條紋” 。光學(xué)式掃描測(cè)量光學(xué)式掃描測(cè)量光學(xué)式測(cè)量-光柵測(cè)量法莫爾條紋紋距B 與光柵節(jié)距w和傾角之間的關(guān)系：B2B22sin/qw=B光學(xué)式掃描測(cè)量光學(xué)式掃描測(cè)量光學(xué)式測(cè)量-光柵測(cè)量法光柵測(cè)量流程：光學(xué)式掃描測(cè)量光學(xué)式掃描測(cè)量直線(xiàn)光柵直線(xiàn)光柵 - 直線(xiàn)位移；直線(xiàn)位移；圓光柵圓光柵 - 角位移角位移平面光柵平面光柵 - XY位移位移a. 封閉式封閉式b. 開(kāi)放式開(kāi)放式聲學(xué)式掃描測(cè)

15、量聲學(xué)式掃描測(cè)量聲學(xué)式-聲波測(cè)量聲學(xué)式測(cè)量聲學(xué)式根據(jù)用途不同，可分為兩類(lèi)應(yīng)用聲波測(cè)距技術(shù)聲波檢測(cè)技術(shù)聲學(xué)式掃描測(cè)量聲學(xué)式掃描測(cè)量聲學(xué)式-聲波測(cè)距聲波在其介質(zhì)中傳播被定義為縱波，當(dāng)聲波收到尺寸大于波長(zhǎng)的目標(biāo)體阻擋時(shí)會(huì)發(fā)生反射。假如聲波在介質(zhì)中的傳播速度已知，而且聲波從波源返回來(lái)的時(shí)間可以測(cè)量到，那么從聲波到目標(biāo)的距離就可以精確的計(jì)算。聲學(xué)式掃描測(cè)量聲學(xué)式掃描測(cè)量聲學(xué)式-聲波定位聲學(xué)式掃描測(cè)量聲學(xué)式掃描測(cè)量聲學(xué)式-聲波檢測(cè)聲學(xué)式掃描測(cè)量聲學(xué)式掃描測(cè)量聲學(xué)式-聲波檢測(cè)白光式掃描測(cè)量白光式掃描測(cè)量白光式掃描測(cè)量原理其他方式測(cè)量幾條公理及定理：不共線(xiàn)的三點(diǎn)確定唯一的一個(gè)平面；三個(gè)在同一軸上的投影面能描述

16、物體的唯一一個(gè)可視角；在讀取量筒或量杯時(shí)需要水平讀取，不能俯視或仰視v 這里有三件物品：醬油瓶、水壺、水杯，放置在地板上；v 在不同的角度拍攝我們會(huì)看到他們會(huì)出現(xiàn)在照片的不同位置。v 根據(jù)畫(huà)法幾何，不共軸的三個(gè)投影表述唯一可視角。v 也就是根據(jù)畫(huà)法幾何我們可以計(jì)算出三個(gè)物體的位置。白光式掃描測(cè)量白光式掃描測(cè)量三鏡頭工作方式白光式掃描測(cè)量白光式掃描測(cè)量三鏡頭投影技術(shù) 為解決透視問(wèn)題，我們必須使用已知的平面而不是任一的投影面，這使得三鏡頭需要固定； 為了對(duì)所測(cè)的唯一可視面獲得最大的范圍，所以三個(gè)鏡頭將有共同的視場(chǎng)范圍。v 物體表面可辨識(shí)的特征太少或太不精確；v 所以我們必須使用一種可辨識(shí)的技術(shù)；v

17、 使用投影技術(shù)，將可辨識(shí)的光斑投影在物體表面；v 從而得到物體表面的數(shù)據(jù)；v 為了得到唯一可辨識(shí)使用了數(shù)字邏輯的二進(jìn)制編碼。白光式掃描測(cè)量白光式掃描測(cè)量投影投影光斑投影技術(shù)白光式掃描測(cè)量白光式掃描測(cè)量v 為了使每次測(cè)量得到的數(shù)據(jù)之間能拼合在一起；v 我們?cè)谖矬w表面做上相對(duì)固定的臨時(shí)特征（targets）；v 由于立體幾何的公理：不共線(xiàn)的三點(diǎn)確定唯一平面；v 所以理論上我們只要獲得3個(gè)不共線(xiàn)的目標(biāo)點(diǎn)即能確定該點(diǎn)云的空間位置；v 由于白光的初始數(shù)據(jù)精度在0.68um，所以會(huì)出現(xiàn)重復(fù)的三點(diǎn)可能性不存在，尤其是人工手動(dòng)貼點(diǎn)。白光式掃描測(cè)量白光式掃描測(cè)量標(biāo)記點(diǎn)的定位相機(jī)編號(hào)目標(biāo)點(diǎn)目標(biāo)點(diǎn)IGPSIGPS掃

18、描測(cè)量掃描測(cè)量IGPS掃描測(cè)量原理IGPS掃描測(cè)量1. 激光發(fā)射器(如圖 1)發(fā)射出兩個(gè)呈扇形的激光面，這兩個(gè)激光扇面與垂直平面的夾角為 30和30(見(jiàn) 圖 3)，扇面的覆蓋范圍也為30激光發(fā)射器扇面夾角扇面覆蓋范圍IGPSIGPS掃描測(cè)量掃描測(cè)量IGPS掃描測(cè)量原理 2. 激光發(fā)射器呈 360高速旋轉(zhuǎn)，兩個(gè)激光扇面在測(cè)量區(qū)域內(nèi)高速旋轉(zhuǎn)劃掃。 3. 該系統(tǒng)中需要接收裝置用于接收和處理來(lái)自激光發(fā)射器的信號(hào)。 4. 一個(gè)發(fā)射器對(duì)測(cè)量區(qū)域內(nèi)任何一個(gè)接收器只能獲得兩個(gè)角度信息，一個(gè)仰角，另一個(gè)則為方位角，它們都是利用時(shí)間差計(jì)算出來(lái)的IGPSIGPS掃描測(cè)量掃描測(cè)量IGPS掃描測(cè)量原理5. 只有方位角和

19、仰角兩個(gè)元素是不足以計(jì)算接收器的空間位置，還有另外一個(gè)激光發(fā)射器才可以利用三角形原理計(jì)算得到，此計(jì)算原理與經(jīng)緯儀相同IGPSIGPS掃描測(cè)量掃描測(cè)量IGPS掃描測(cè)量原理可根據(jù)被測(cè)物的尺寸和位置而隨意擺放和調(diào)整激光發(fā)射器的位置，只要保證所有的測(cè)量點(diǎn)被覆蓋，且每個(gè)點(diǎn)到最近的激光發(fā)射器的位置大于等于 2m 即可，與此同時(shí)盡可能保證發(fā)射器之間距離在 715m。所以圖 3 中激光發(fā)射器的布置可根據(jù)飛機(jī)的大小及被測(cè)點(diǎn)位置更為靈活化，可將外圍的 8 個(gè)發(fā)射器布置成橢圓形，也要布置成矩形，同理靠近飛機(jī)的 6個(gè)發(fā)射器也可以這樣布置；實(shí)際上，這 16 個(gè)發(fā)射器可無(wú)規(guī)則地隨意布置。IGPSIGPS掃描測(cè)量掃描測(cè)量I

20、GPS掃描測(cè)量原理=2m=2m7-15m7-15mIGPSIGPS掃描測(cè)量掃描測(cè)量IGPS掃描測(cè)量原理IGPSIGPS掃描測(cè)量掃描測(cè)量IGPS掃描測(cè)量應(yīng)用范圍工業(yè)測(cè)量(1)大部件尺寸測(cè)量：局域 GPS 對(duì)大型物件提供高精度的測(cè)量技術(shù)； (2)在線(xiàn)檢測(cè)：實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)生產(chǎn)裝配線(xiàn)或?qū)嶒?yàn)室研究的質(zhì)量控制； (3)實(shí)時(shí)監(jiān)控：監(jiān)督起重機(jī)和傳輸系統(tǒng)的位置； (4)校準(zhǔn)：指導(dǎo)機(jī)械設(shè)備的安裝和校準(zhǔn)。IGPSIGPS掃描測(cè)量掃描測(cè)量IGPS掃描測(cè)量應(yīng)用范圍植生帶式超級(jí)稻精量播種機(jī)械植生帶式超級(jí)稻精量播種機(jī)械引言案例分析超級(jí)稻種植的要求每穴要插12株苗,要實(shí)現(xiàn)超級(jí)稻機(jī)械化種植要求,播種的稻種要均勻且要沿種子長(zhǎng)軸方向按胚

21、胎定向排列?，F(xiàn)介紹、分析一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、造價(jià)低，并且所播種子均沿其長(zhǎng)軸方向排列的機(jī)械式超級(jí)粳稻秧缽盤(pán)通用的播種裝置。并能實(shí)現(xiàn)超級(jí)稻沿其長(zhǎng)軸方向定向有序每穴21粒的精密播種要求。植生帶式超級(jí)稻精量播種機(jī)械植生帶式超級(jí)稻精量播種機(jī)械植生帶植生帶問(wèn)題：植生帶的直徑會(huì)改變，即速度不能恒定調(diào)節(jié)裝置植生帶式超級(jí)稻精量播種機(jī)械植生帶式超級(jí)稻精量播種機(jī)械利用超聲波測(cè)距初步調(diào)節(jié)速度即讓調(diào)節(jié)裝置在一定的范圍內(nèi)擺動(dòng)，當(dāng)超過(guò)范圍則進(jìn)行調(diào)速超聲波測(cè)距器系統(tǒng)設(shè)計(jì)框圖超聲波接收掃描驅(qū)動(dòng)超聲波發(fā)送LED顯示單片機(jī)控制器植生帶式超級(jí)稻精量播種機(jī)械植生帶式超級(jí)稻精量播種機(jī)械超聲波模塊單片機(jī)LED-SCM1602C植生帶式超級(jí)稻精量

22、播種機(jī)械植生帶式超級(jí)稻精量播種機(jī)械超聲波測(cè)距原理D=(v*t)/2=172T0/100(M)-T0為計(jì)數(shù)器T0的計(jì)數(shù)值植生帶式超級(jí)稻精量播種機(jī)械植生帶式超級(jí)稻精量播種機(jī)械超聲波測(cè)距主程序流程圖開(kāi) 始系統(tǒng)初始化發(fā)送超聲波脈沖等待反射超聲波計(jì)算距離顯示結(jié)果植生帶式超級(jí)稻精量播種機(jī)械植生帶式超級(jí)稻精量播種機(jī)械超聲波測(cè)距主程序Void main()init();while(1)super_start(); / 超聲波開(kāi)始工作while(echo=0); /等待高電平 TR0=1; /打開(kāi)定時(shí)器開(kāi)始計(jì)時(shí)while(echo=1); /接收到信號(hào)TR0=0;/關(guān)閉計(jì)時(shí)器super_count(); /計(jì)算距離display();delay(10)植生帶式超級(jí)稻精量播種機(jī)械植生帶式超級(jí)稻精量播種機(jī)械控制電機(jī)子程序Void mettor()