高電壓技術(shù)第三、四章課件

1、第三章第三章電氣設(shè)備絕緣預(yù)防性試驗(yàn)電氣設(shè)備絕緣預(yù)防性試驗(yàn)電氣安全距離電氣安全距離各種不同電壓等級(jí)的安全距離各種不同電壓等級(jí)的安全距離工作人員與帶電設(shè)備間的安全距離工作人員與帶電設(shè)備間的安全距離 絕緣缺陷和絕緣試驗(yàn)絕緣缺陷和絕緣試驗(yàn)絕緣缺陷分類：絕緣缺陷分類：集中性缺陷：如懸式絕緣子的瓷件開裂，發(fā)電機(jī)絕緣局部磨損、擠集中性缺陷：如懸式絕緣子的瓷件開裂，發(fā)電機(jī)絕緣局部磨損、擠壓開裂，等壓開裂，等分布性缺陷：指整體絕緣性能下降分布性缺陷：指整體絕緣性能下降,如大面積受潮、老化等如大面積受潮、老化等絕緣維修技術(shù)包括：絕緣維修技術(shù)包括：預(yù)防性維修（定期維修）：以預(yù)防性試驗(yàn)為基礎(chǔ)預(yù)防性維修（定期維修）：以

2、預(yù)防性試驗(yàn)為基礎(chǔ)狀態(tài)維修（預(yù)知維修）：以在線檢測(cè)試驗(yàn)為基礎(chǔ)狀態(tài)維修（預(yù)知維修）：以在線檢測(cè)試驗(yàn)為基礎(chǔ) 按試驗(yàn)?zāi)康?，絕緣試驗(yàn)分類：按試驗(yàn)?zāi)康?，絕緣試驗(yàn)分類：出廠試驗(yàn)、預(yù)防性試驗(yàn)、交接試驗(yàn)，等出廠試驗(yàn)、預(yù)防性試驗(yàn)、交接試驗(yàn)，等按電壓高低，絕緣試驗(yàn)分類：按電壓高低，絕緣試驗(yàn)分類：非破壞性試驗(yàn)（檢查性試驗(yàn)）：在較低電壓下測(cè)定絕緣的某些方面非破壞性試驗(yàn)（檢查性試驗(yàn)）：在較低電壓下測(cè)定絕緣的某些方面的特性及其變化情況，從而間接判斷絕緣的狀況。的特性及其變化情況，從而間接判斷絕緣的狀況。破壞性試驗(yàn)（耐壓試驗(yàn)）：模擬設(shè)備絕緣在運(yùn)行中可能受到的危險(xiǎn)破壞性試驗(yàn)（耐壓試驗(yàn)）：模擬設(shè)備絕緣在運(yùn)行中可能受到的危險(xiǎn)的過電

3、壓狀況，對(duì)絕緣施加與之等價(jià)的高電壓來進(jìn)行試驗(yàn)，從而考的過電壓狀況，對(duì)絕緣施加與之等價(jià)的高電壓來進(jìn)行試驗(yàn)，從而考驗(yàn)絕緣耐受這類電壓的能力。驗(yàn)絕緣耐受這類電壓的能力。兩類試驗(yàn)均必不可少，各有特點(diǎn)，不能相互代替，只能互為補(bǔ)充。兩類試驗(yàn)均必不可少，各有特點(diǎn)，不能相互代替，只能互為補(bǔ)充。3.1 絕緣電阻的測(cè)量絕緣電阻的測(cè)量 絕緣電阻的測(cè)量絕緣電阻的測(cè)量-多層介質(zhì)的吸收現(xiàn)象多層介質(zhì)的吸收現(xiàn)象(1)絕緣電阻：一切電介質(zhì)和絕緣結(jié)構(gòu)的絕緣狀態(tài)最基本的綜合絕緣電阻：一切電介質(zhì)和絕緣結(jié)構(gòu)的絕緣狀態(tài)最基本的綜合性參數(shù)性參數(shù)多層介質(zhì)的多層介質(zhì)的吸收現(xiàn)象吸收現(xiàn)象：根據(jù)等值電路，電流開始時(shí)很大、逐步減小、最：根據(jù)等值電路，

4、電流開始時(shí)很大、逐步減小、最后穩(wěn)定于常數(shù)后穩(wěn)定于常數(shù)Ig，絕緣等效電容在充電過程中逐漸，絕緣等效電容在充電過程中逐漸“吸收吸收”電荷的現(xiàn)象電荷的現(xiàn)象電容電流對(duì)應(yīng)的電荷并沒有傳遞，而是在兩端積累電容電流對(duì)應(yīng)的電荷并沒有傳遞，而是在兩端積累雙層介質(zhì)的等值電路雙層介質(zhì)的等值電路 加入直流電壓后電流加入直流電壓后電流吸收現(xiàn)象吸收的電荷對(duì)應(yīng)電流圖中的陰影部分吸收現(xiàn)象吸收的電荷對(duì)應(yīng)電流圖中的陰影部分吸收電流吸收電流傳導(dǎo)電流傳導(dǎo)電流絕緣電阻的測(cè)量絕緣電阻的測(cè)量-多層介質(zhì)的吸收現(xiàn)象多層介質(zhì)的吸收現(xiàn)象(2)t=0，電壓按電容反比分配，電壓按電容反比分配t=時(shí)，電壓按電阻正比分配時(shí)，電壓按電阻正比分配 動(dòng)態(tài)充電電

5、流為，動(dòng)態(tài)充電電流為， 時(shí)間常數(shù)時(shí)間常數(shù) 21210CCCUU21120CCCUU2111RRRUU2122RRRUUtmageIRRUiIi21212122121122)()()(RRRRCCCRCRUIm212121RRRRCC）（傳導(dǎo)電流傳導(dǎo)電流吸收電流吸收電流R1C1=R2C2時(shí)，無吸收電流時(shí)，無吸收電流絕緣電阻的測(cè)量絕緣電阻的測(cè)量-多層介質(zhì)的吸收現(xiàn)象多層介質(zhì)的吸收現(xiàn)象(3)絕緣電阻：直流電壓與充電電流之比，其絕緣電阻：直流電壓與充電電流之比，其值隨時(shí)間不斷變化值隨時(shí)間不斷變化通常指：吸收電流衰減完畢后的穩(wěn)態(tài)電阻通常指：吸收電流衰減完畢后的穩(wěn)態(tài)電阻評(píng)價(jià)方法評(píng)價(jià)方法1：絕緣電阻絕緣電阻。

6、可能時(shí)間長(zhǎng)，或變化范圍大（和結(jié)構(gòu)有關(guān)）可能時(shí)間長(zhǎng)，或變化范圍大（和結(jié)構(gòu)有關(guān)）和歷史值相比，根據(jù)變化趨勢(shì)確定損害程度和歷史值相比，根據(jù)變化趨勢(shì)確定損害程度評(píng)價(jià)方法評(píng)價(jià)方法2：吸收比吸收比：15S和和60S兩個(gè)時(shí)刻兩個(gè)時(shí)刻電流值的比值。電流值的比值。絕緣良好：絕緣良好：k1=1.3Ig比例小；時(shí)間常數(shù)大，吸收電流明顯。比例小；時(shí)間常數(shù)大，吸收電流明顯。絕緣損壞：反之絕緣損壞：反之Ig比例大；時(shí)間常數(shù)小，比例大；時(shí)間常數(shù)小，15S時(shí)吸收電流衰減完時(shí)吸收電流衰減完可以排除絕緣結(jié)構(gòu)、體積尺寸的影響?？梢耘懦^緣結(jié)構(gòu)、體積尺寸的影響。也有例外：也有例外： 如如 R1C1=R2C2 時(shí)無吸收電流，無法應(yīng)用時(shí)

7、無吸收電流，無法應(yīng)用 R值和值和K1值判斷結(jié)果矛盾值判斷結(jié)果矛盾絕緣電阻的測(cè)量絕緣電阻的測(cè)量-多層介質(zhì)的吸收現(xiàn)象多層介質(zhì)的吸收現(xiàn)象(4)評(píng)價(jià)方法評(píng)價(jià)方法3：結(jié)合結(jié)合R值和值和k1 評(píng)價(jià)方法評(píng)價(jià)方法4：吸收比和極化指數(shù)結(jié)合。：吸收比和極化指數(shù)結(jié)合。極化指數(shù)極化指數(shù)：1分鐘和分鐘和10分鐘的電流比值分鐘的電流比值可解決時(shí)間常數(shù)很長(zhǎng)的情況可解決時(shí)間常數(shù)很長(zhǎng)的情況仍需進(jìn)一步探索新方法仍需進(jìn)一步探索新方法絕緣劣化過程的非線性。絕緣劣化過程的非線性。某些集中缺陷已相當(dāng)嚴(yán)重但還未貫通時(shí)，耐壓某些集中缺陷已相當(dāng)嚴(yán)重但還未貫通時(shí)，耐壓試驗(yàn)時(shí)可被擊穿，但試驗(yàn)時(shí)可被擊穿，但R，K1，K2卻不低卻不低其它測(cè)量方法：其

8、它測(cè)量方法：手搖式兆歐表，數(shù)字式兆歐表手搖式兆歐表，數(shù)字式兆歐表記錄環(huán)境溫度、濕度，進(jìn)行補(bǔ)償、換算記錄環(huán)境溫度、濕度，進(jìn)行補(bǔ)償、換算3.2 介質(zhì)損耗角正切的測(cè)量介質(zhì)損耗角正切的測(cè)量 介質(zhì)損耗角正切的意義和測(cè)量方法介質(zhì)損耗角正切的意義和測(cè)量方法 tg是絕緣品質(zhì)的重要指標(biāo)：是絕緣品質(zhì)的重要指標(biāo)：超過相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，則意味著電介質(zhì)嚴(yán)重發(fā)熱，有爆炸的危險(xiǎn)；或絕緣超過相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，則意味著電介質(zhì)嚴(yán)重發(fā)熱，有爆炸的危險(xiǎn)；或絕緣有嚴(yán)重缺陷。有嚴(yán)重缺陷。標(biāo)準(zhǔn)見標(biāo)準(zhǔn)見P68表表3-1能反映絕緣的整體性缺陷，小容量試品中的嚴(yán)重局部缺陷能反映絕緣的整體性缺陷，小容量試品中的嚴(yán)重局部缺陷隨電壓的變化曲線可判斷絕緣是否受潮，含有

9、氣泡及老化程度隨電壓的變化曲線可判斷絕緣是否受潮，含有氣泡及老化程度 西林電橋西林電橋 tg測(cè)量方法測(cè)量方法 諧波波形分析法（基波）諧波波形分析法（基波） 過零相位比較法過零相位比較法 異頻電源法異頻電源法 影響影響 tg 的測(cè)量的因素：的測(cè)量的因素：T、濕度、濕度、U、試品表面泄漏、試試品表面泄漏、試品電容量。品電容量。西林電橋測(cè)量方法西林電橋測(cè)量方法 原理圖原理圖 調(diào)節(jié)可調(diào)電阻和電容，調(diào)節(jié)可調(diào)電阻和電容，使檢流計(jì)電流為使檢流計(jì)電流為0調(diào)節(jié)過程略。調(diào)節(jié)過程略。手動(dòng)方法復(fù)雜、慢，手動(dòng)方法復(fù)雜、慢，自動(dòng)調(diào)節(jié)快、穩(wěn)定，但自動(dòng)調(diào)節(jié)快、穩(wěn)定，但硬件復(fù)雜，價(jià)格貴硬件復(fù)雜，價(jià)格貴則則外界電磁場(chǎng)干擾外界電磁

10、場(chǎng)干擾介質(zhì)中電流（特別是有功分量）非常微弱，極易受電磁干擾介質(zhì)中電流（特別是有功分量）非常微弱，極易受電磁干擾干擾路徑：電場(chǎng)通過雜散電容流入，磁場(chǎng)通過感應(yīng)電流流入干擾路徑：電場(chǎng)通過雜散電容流入，磁場(chǎng)通過感應(yīng)電流流入消除方法：電橋本體用金屬網(wǎng)屏蔽，引線用屏蔽電纜消除方法：電橋本體用金屬網(wǎng)屏蔽，引線用屏蔽電纜44CRtg諧波波形分析法（諧波波形分析法（1） 將電壓、電流信號(hào)離散后進(jìn)行將電壓、電流信號(hào)離散后進(jìn)行FFT，求出基波分量相位，求出基波分量相位則則 優(yōu)點(diǎn)：優(yōu)點(diǎn)：FFT算法，抗諧波、零漂、溫漂；算法，抗諧波、零漂、溫漂；不需要對(duì)波形進(jìn)行前期加工（如濾波）不需要對(duì)波形進(jìn)行前期加工（如濾波）缺點(diǎn)：

11、缺點(diǎn)：易受工頻干擾，易受工頻干擾，PT、CT、調(diào)理電路等易引入誤差，電流幅值小、調(diào)理電路等易引入誤差，電流幅值小）（ui2)(2)2sin()(2)2cos()(211uiuNkNkUjUxUrUNkkuNUxNkkuNUriNkNkIjIxIrINkkiNIxNkkiNIr11)2sin()(2)2cos()(2tg通過強(qiáng)弱電轉(zhuǎn)換和通過強(qiáng)弱電轉(zhuǎn)換和A/D可以將電壓和電流信號(hào)采集為可以將電壓和電流信號(hào)采集為u(k)、i(k)（k=1,2,N）,則則諧波波形分析法（諧波波形分析法（2）過零相位比較法過零相位比較法 實(shí)現(xiàn)過程：實(shí)現(xiàn)過程：對(duì)電壓、電流信號(hào)，進(jìn)行濾波、放大對(duì)電壓、電流信號(hào)，進(jìn)行濾波、放

12、大過零比較變?yōu)榉讲?，過零比較變?yōu)榉讲ǎ瑴y(cè)量電流電壓方波的時(shí)間差，換算相位測(cè)量電流電壓方波的時(shí)間差，換算相位 優(yōu)點(diǎn)：相位測(cè)量變換為時(shí)間測(cè)量，靈敏度和精度高優(yōu)點(diǎn)：相位測(cè)量變換為時(shí)間測(cè)量，靈敏度和精度高缺點(diǎn)：易受波形畸變引起的過零點(diǎn)偏移影響。缺點(diǎn)：易受波形畸變引起的過零點(diǎn)偏移影響。計(jì)數(shù)器f0NtTtTtfNtttui3602,360021異頻電源法異頻電源法 提高實(shí)驗(yàn)電源頻率，進(jìn)行測(cè)量提高實(shí)驗(yàn)電源頻率，進(jìn)行測(cè)量 不是一種獨(dú)立的方法，需要結(jié)合前幾種方法測(cè)試不是一種獨(dú)立的方法，需要結(jié)合前幾種方法測(cè)試優(yōu)點(diǎn)：優(yōu)點(diǎn)： tg抗現(xiàn)場(chǎng)工頻干擾抗現(xiàn)場(chǎng)工頻干擾缺點(diǎn)：缺點(diǎn)： tg隨頻率變化。隨頻率變化。為保證測(cè)試精度，需

13、要頻率接近工頻；為保證測(cè)試精度，需要頻率接近工頻；為了抗工頻干擾，需要測(cè)試頻率遠(yuǎn)離工頻。為了抗工頻干擾，需要測(cè)試頻率遠(yuǎn)離工頻。 需要折中需要折中影響介質(zhì)損耗角測(cè)量精度的因素（影響介質(zhì)損耗角測(cè)量精度的因素（1） 溫度溫度：tg與溫度關(guān)系，且因材料、與溫度關(guān)系，且因材料、結(jié)構(gòu)而異，一般隨溫度上升而增大結(jié)構(gòu)而異，一般隨溫度上升而增大濕度濕度：介質(zhì)受潮后，損失增加：介質(zhì)受潮后，損失增加試驗(yàn)電壓試驗(yàn)電壓：良好絕緣，額定電壓內(nèi)良好絕緣，額定電壓內(nèi) tg幾乎不變幾乎不變介質(zhì)內(nèi)存在氣泡、分層時(shí)，氣泡未電離介質(zhì)內(nèi)存在氣泡、分層時(shí)，氣泡未電離前前tg幾乎不變，局部放電后將迅速上幾乎不變，局部放電后將迅速上升；電壓

14、回落時(shí)，電力更強(qiáng)，形成閉環(huán)升；電壓回落時(shí)，電力更強(qiáng)，形成閉環(huán)曲線曲線絕緣受潮時(shí)，低壓時(shí)絕緣受潮時(shí)，低壓時(shí) tg就很大，電壓就很大，電壓升高時(shí)，升高時(shí)， tg急劇增大，電壓回落時(shí)，急劇增大，電壓回落時(shí)，比上升時(shí)更大一些，形成不閉合的分岔比上升時(shí)更大一些，形成不閉合的分岔曲線曲線可通過隨電壓變化趨勢(shì)，判斷絕緣狀態(tài)可通過隨電壓變化趨勢(shì)，判斷絕緣狀態(tài)或缺陷類型或缺陷類型1-良好絕緣2-絕緣中存在氣隙3-受潮絕緣影響介質(zhì)損耗角測(cè)量精度的因素（影響介質(zhì)損耗角測(cè)量精度的因素（2） 表面泄漏表面泄漏：表面電導(dǎo)：表面電導(dǎo)體積電導(dǎo)體積電導(dǎo)試品電容量試品電容量：對(duì)小容量試品，能發(fā)現(xiàn)局部集中性和整體分布性缺陷；對(duì)小容

15、量試品，能發(fā)現(xiàn)局部集中性和整體分布性缺陷；對(duì)大容量試品，只能能反映整體性缺陷。對(duì)大容量試品，只能能反映整體性缺陷。測(cè)試手段測(cè)試手段的影響：有功電流非常小，易受測(cè)試環(huán)節(jié)引入的的影響：有功電流非常小，易受測(cè)試環(huán)節(jié)引入的誤差影響。誤差影響。 3.3 局部放電的測(cè)量局部放電的測(cè)量 局部放電的基礎(chǔ)知識(shí)局部放電的基礎(chǔ)知識(shí)局部放電是介質(zhì)老化的重要原因之一。局部放電是介質(zhì)老化的重要原因之一。局部放電的發(fā)生機(jī)理：局部放電的發(fā)生機(jī)理：以固體介質(zhì)含氣隙為例，以固體介質(zhì)含氣隙為例，氣隙介電常數(shù)小，場(chǎng)強(qiáng)高；氣隙電氣強(qiáng)度小。氣隙介電常數(shù)小，場(chǎng)強(qiáng)高；氣隙電氣強(qiáng)度小。氣隙先擊穿。氣隙先擊穿。局部放電的破壞過程：局部放電的破壞

16、過程：長(zhǎng)期局部放電將使絕緣劣化損傷逐步擴(kuò)大長(zhǎng)期局部放電將使絕緣劣化損傷逐步擴(kuò)大最終導(dǎo)致絕緣擊穿最終導(dǎo)致絕緣擊穿局部放電的破壞機(jī)理局部放電的破壞機(jī)理機(jī)械：帶電粒子不斷撞擊絕緣，引起破壞機(jī)械：帶電粒子不斷撞擊絕緣，引起破壞熱能：熱量不能散發(fā)，溫度升高引起熱崩潰，或氣隙膨脹熱能：熱量不能散發(fā)，溫度升高引起熱崩潰，或氣隙膨脹輻射：放電區(qū)強(qiáng)烈的離子復(fù)合產(chǎn)生高能輻射線輻射：放電區(qū)強(qiáng)烈的離子復(fù)合產(chǎn)生高能輻射線腐蝕：放電時(shí)產(chǎn)生強(qiáng)氧化劑、腐蝕劑等，使絕緣材料發(fā)生化學(xué)破壞腐蝕：放電時(shí)產(chǎn)生強(qiáng)氧化劑、腐蝕劑等，使絕緣材料發(fā)生化學(xué)破壞固體介質(zhì)含小氣隙的局部放電（固體介質(zhì)含小氣隙的局部放電（1）固體介質(zhì)含小氣隙的局部放電

17、示意圖和等值電路固體介質(zhì)含小氣隙的局部放電示意圖和等值電路與氣隙串聯(lián)的固體介質(zhì)電容與氣隙串聯(lián)的固體介質(zhì)電容Cb 氣隙電容氣隙電容Cg（氣隙很短）（氣隙很短）Cb500-750kV 單臺(tái)變壓器在制造、運(yùn)輸均有單臺(tái)變壓器在制造、運(yùn)輸均有困難，因此只能串級(jí)方式困難，因此只能串級(jí)方式高壓試驗(yàn)變壓器的結(jié)構(gòu)和性能特點(diǎn)高壓試驗(yàn)變壓器的結(jié)構(gòu)和性能特點(diǎn)一般為單相，原理和單相電力變壓器相同。但也有特點(diǎn)：一般為單相，原理和單相電力變壓器相同。但也有特點(diǎn)：電壓高：高于正常額定電壓。電壓高：高于正常額定電壓。如如110kV等級(jí)電力變壓器，工頻試驗(yàn)電壓為等級(jí)電力變壓器，工頻試驗(yàn)電壓為220kV我國(guó)及世界發(fā)達(dá)國(guó)家最高試驗(yàn)變

18、壓器為我國(guó)及世界發(fā)達(dá)國(guó)家最高試驗(yàn)變壓器為2250kV,個(gè)別國(guó)家為個(gè)別國(guó)家為3000kV容量?。褐饕谦@得高壓，不是為了傳輸功率。容量小：主要是獲得高壓，不是為了傳輸功率。只提供試品電容電流、漏導(dǎo)電流、局部放電電流、預(yù)放電電流只提供試品電容電流、漏導(dǎo)電流、局部放電電流、預(yù)放電電流對(duì)于對(duì)于250kV試驗(yàn)變壓器，高壓側(cè)電流試驗(yàn)變壓器，高壓側(cè)電流1A可滿足大多試品的需要可滿足大多試品的需要對(duì)人工污穢試驗(yàn)等少數(shù)特殊情況，要求對(duì)人工污穢試驗(yàn)等少數(shù)特殊情況，要求515A體積?。喝萘啃　Ⅲw積小。電壓高、套管大體積?。喝萘啃?、體積小。電壓高、套管大絕緣裕度小：不考慮雷電、操作過電壓，絕緣裕度小絕緣裕度?。翰豢紤]

19、雷電、操作過電壓，絕緣裕度小連續(xù)運(yùn)行時(shí)間短：一般為連續(xù)運(yùn)行時(shí)間短：一般為1min，發(fā)熱較輕，不需要散熱裝置，發(fā)熱較輕，不需要散熱裝置漏抗較大：漏抗大、短路電流小，降低對(duì)繞組機(jī)械強(qiáng)度要求漏抗較大：漏抗大、短路電流小，降低對(duì)繞組機(jī)械強(qiáng)度要求試驗(yàn)變壓器為容性負(fù)荷，電力變壓器為感性負(fù)荷。試驗(yàn)變壓器為容性負(fù)荷，電力變壓器為感性負(fù)荷。試驗(yàn)變壓器需要經(jīng)常放電。試驗(yàn)變壓器需要經(jīng)常放電。 工頻高電壓的測(cè)量（工頻高電壓的測(cè)量（1）容升效應(yīng)容升效應(yīng)：考慮變壓器漏抗，容性負(fù)載所獲得的電壓高于試：考慮變壓器漏抗，容性負(fù)載所獲得的電壓高于試驗(yàn)變壓器的輸出。驗(yàn)變壓器的輸出。工頻高電壓的測(cè)量：按工頻高電壓的測(cè)量：按IEC和我

20、國(guó)國(guó)標(biāo)規(guī)定，工頻高壓的測(cè)和我國(guó)國(guó)標(biāo)規(guī)定，工頻高壓的測(cè)量無論峰值還是有效值，誤差不大于量無論峰值還是有效值，誤差不大于3%。間接測(cè)量：低壓側(cè)測(cè)量再比例換算，由于容升效應(yīng)，不準(zhǔn)確間接測(cè)量：低壓側(cè)測(cè)量再比例換算，由于容升效應(yīng)，不準(zhǔn)確球隙測(cè)壓器：擊穿電壓決定于球隙距離。球隙測(cè)壓器：擊穿電壓決定于球隙距離。基本設(shè)備，是唯一能直接測(cè)量高達(dá)兆伏的測(cè)量裝置基本設(shè)備，是唯一能直接測(cè)量高達(dá)兆伏的測(cè)量裝置傳統(tǒng)方法，現(xiàn)較少采用傳統(tǒng)方法，現(xiàn)較少采用對(duì)球隙的結(jié)構(gòu)、布置和連接，對(duì)球隙的結(jié)構(gòu)、布置和連接，IEC和國(guó)標(biāo)有嚴(yán)格的規(guī)定。見附錄一和國(guó)標(biāo)有嚴(yán)格的規(guī)定。見附錄一精確度較高、投資小精確度較高、投資小 操作復(fù)雜、不方便操作復(fù)

21、雜、不方便 受氣候條件影響，特別是濕度、污穢、球表面情況受氣候條件影響，特別是濕度、污穢、球表面情況測(cè)量值為峰值，可測(cè)量直流、交流、沖擊電壓測(cè)量值為峰值，可測(cè)量直流、交流、沖擊電壓工頻高電壓的測(cè)量（工頻高電壓的測(cè)量（2）靜電電壓表：利用靜電力的效應(yīng)：可活動(dòng)的平行板在電場(chǎng)下靜電電壓表：利用靜電力的效應(yīng)：可活動(dòng)的平行板在電場(chǎng)下受到靜電力，加外力使之平衡，則平衡力可反應(yīng)電壓大小受到靜電力，加外力使之平衡，則平衡力可反應(yīng)電壓大小峰值電壓表：利用整流電路，測(cè)量電容電流半波幅值，峰值電壓表：利用整流電路，測(cè)量電容電流半波幅值，分壓器配低壓表計(jì)測(cè)量：分壓器配低壓表計(jì)測(cè)量：一般用電容式分壓器，一般用電容式分壓

22、器，工頻電壓不高時(shí)（工頻電壓不高時(shí)（220kV的設(shè)備必須做沖擊高電壓試驗(yàn)的設(shè)備必須做沖擊高電壓試驗(yàn); R1， C1C2波前時(shí)間由波前時(shí)間由R1、C2決定決定半波時(shí)間（波長(zhǎng)時(shí)間）由（半波時(shí)間（波長(zhǎng)時(shí)間）由（C1+C2）和）和R2決定決定 T1視在波前時(shí)間；T2視在半峰值時(shí)間；Um沖擊電壓峰值多級(jí)沖擊電壓發(fā)生器多級(jí)沖擊電壓發(fā)生器 可產(chǎn)生數(shù)兆伏的沖擊電壓可產(chǎn)生數(shù)兆伏的沖擊電壓基本原理：并聯(lián)充電、串聯(lián)放電基本原理：并聯(lián)充電、串聯(lián)放電 基本測(cè)試方法基本測(cè)試方法 雷電沖擊耐壓試驗(yàn)采用：三次沖擊法，雷電沖擊耐壓試驗(yàn)采用：三次沖擊法，即施加三次正極性和三次負(fù)極性雷電沖擊波（即施加三次正極性和三次負(fù)極性雷電沖擊波（1.2/50uS）對(duì)變壓器和電抗器內(nèi)絕緣，還要雷電沖擊截波試驗(yàn)對(duì)變壓器和電抗器內(nèi)絕緣，還要雷電沖擊截波試驗(yàn)（1.2/25uS）加球隙保護(hù)，防止試驗(yàn)電壓過高對(duì)試品的傷害加球隙保護(hù)，防止試驗(yàn)電壓過高對(duì)試品的傷害對(duì)沖擊電壓測(cè)量的要求對(duì)沖擊電壓測(cè)量的要求更好的瞬變響應(yīng)特征：沖擊波作用時(shí)間短，變化快。既更好的瞬變響應(yīng)特征：沖擊波作用時(shí)間短，變化快。既要測(cè)幅值、又要記錄波形要測(cè)幅值、又要記錄波形國(guó)標(biāo)：幅值測(cè)量誤差