300KVX以下X射線機校準流程.doc

射線探傷機校驗規(guī)程日 期版次1.0文件編號頁次1. 適用范圍本規(guī)程適用于額定管電壓小于等于300KVX射線探傷機的首次和后續(xù)校驗和檢定工作，有效期為一年。2. 人員要求2.1. X射線探傷機認可人員都應(yīng)經(jīng)過專業(yè)培訓，并持有國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局的級或級以上的射線檢驗人員資格證書；2.2. X射線探傷機認可人員應(yīng)熟悉所用設(shè)備的基本結(jié)構(gòu)、各部分的作用及操作規(guī)程；2.3. X射線探傷機認可人員應(yīng)嚴格按照本程序操作X射線探傷機，并對設(shè)備使用的安全性負責。3. 校驗需用標準器具材質(zhì)應(yīng)為A3鋼，規(guī)格為200mm100mm，表面粗糙度Ra6.3，試塊厚度應(yīng)滿足表1至表2的相應(yīng)要求，其厚度的允差為4；密度計一臺；線型象質(zhì)計。4. 操作步驟4.1. 穿透力校驗4.1.1. 檢查X射線探傷機操作箱和機頭，無任何損壞痕跡以及安裝螺絲脫落，接上電源；4.1.2. 將X光膠片裁成100mm225mm，至焦點600mm，膠片長邊方向與X射線管軸線方向平行。定向機膠片中心偏離輻射中心（1465）mm處拍片；周向機中心沿周向輻射場中心線繞管軸線每90拍一張膠片；4.1.3. 膠片前方緊貼放置表1表2要求的相應(yīng)的標準試塊，增感屏用0.03mmPb，試塊四周按表3規(guī)定的鉛當量遮擋。4.1.4. 采用額定管電壓、額定管電流進行曝光，X射線探傷機曝光時間為5min；4.1.5. 將曝光后的膠片進行暗室處理，顯影定影液的配制及沖洗時間和溫度按X光膠片規(guī)定的要求進行。4.1.6. 干燥后的膠片用黑度計測量黑度值Di。在膠片中心區(qū)域至少測5點，取其算術(shù)平均值D。膠片本底黑度應(yīng)不大于0.3，D應(yīng)不小于1.5。表1定向X射線探傷機額定管電壓kV額定管電流mA對A3鋼穿透力mm10015020022025055555719293339表2周向X射線探傷機額定管電壓kV額定管電流mA對A3鋼穿透力mm15020025055512錐靶管24 錐靶管34 錐靶管表3額定管電壓kV鉛當量mm Pb501001502002500.41.42.13.66.34.2. 輻射角的校驗4.2.1. 定向X射線探傷機輻射角的校驗a) 將檢定的X射線探傷機放置在支承架上，窗口對準地面，地面應(yīng)用厚度為6mm的鉛板屏蔽，使X光管軸線（射線機長度方向軸線和寬度方向）與地面平行，焦點距鉛板表面600mm；b) 在鉛板上找出窗口正投影的中心點，并通過此點劃出與射線機長度方向和寬度方向的平行線，兩平行線交于窗口在鉛板上正投影的中心點；c) 訓練X射線機至額定值，將裝好膠片的暗袋（膠片為360mm80mm、增感屏前后屏均為0.5mm）放置在鉛板劃好的兩條線上，每條線上各放三個暗袋，兩線交點處的暗袋上應(yīng)擺放中心標記，暗袋搭接處應(yīng)擺放搭接標記；d) 調(diào)整X射線機管電壓至額定值的50，管電流為額定值進行透照；e) 將已透照好的膠片進行暗室處理并干燥處理在觀片燈上進行測量底片上中心標記至底片黑度變化區(qū)黑度較大的邊界處的距離Sj（徑向）和Sh（橫向）；f) 按tg-1分別計算X射線機的徑向輻射角j和橫向輻射角h。式中角為X射線機的輻射角。4.2.2. 周向X射線探傷機的徑向輻射角校驗將射線機立放于地面，測量機殼紅色帶中心距地面高度，并以此高度在距焦點600mm的0、90、180、270位置各放置一個裝好膠片的暗袋，膠片長度方向應(yīng)平行于射線機長軸方向，其他程序及方法同定向機校驗檢定。4.3. 計時器誤差校驗將機帶計時器分別調(diào)到0.5，1.0，5min等位置，開機的同時啟動秒表，機帶計時器停止同時停止秒表，每個位置上測量3次，計算其算術(shù)平均值與設(shè)定值之差。取其與設(shè)定值之比最大者為計時器誤差。4.4. 透照靈敏度校驗4.4.1. 測量要求同穿透力校驗，采用JB/T7902-1995線型像質(zhì)計中的R10系列，用2個規(guī)格相同、材質(zhì)標記為FE的線型像質(zhì)計，貼附在按表1表2要求的相應(yīng)試塊邊緣區(qū)域X射線機一側(cè)，像質(zhì)計的細線朝外。按要求曝光并處理膠片。4.4.2. 在背景光亮度不低于215cd/m2的觀片燈下用肉眼觀察底片找出像質(zhì)計影像中可以分辯的最細的直徑按公式S=100%。式中：S-以百分數(shù)表示的透照靈敏度，；-透照試塊的厚度，mm；d-底片上可辯認的最細線碼直徑，mm。 5.