03 地層剖面實(shí)測(cè)方法

03 地層剖面實(shí)測(cè)方法 地層剖面實(shí)測(cè)方法提綱I.剖面測(cè)制目的、任務(wù)II.剖面測(cè)制的技術(shù)要求III.剖面測(cè)制工作流程IV.剖面測(cè)制記錄內(nèi)容、格式V.剖面測(cè)制的方法與注意事項(xiàng)VI.室內(nèi)與作圖剖面測(cè)制目的、任務(wù)?劃分地層、建立地層單位1.各巖石地層單位組成、結(jié)構(gòu)、基本層序、地層標(biāo)志及相序特征，上下地層間接觸關(guān)系，巖石地球化學(xué)特征及含礦性，磁性特征等等；2.各生物地層單位代表性化石、組合特征、延限；?研究巖石成因及分布規(guī)律1.各類(lèi)巖石成因及組合；2.四維時(shí)、空相互關(guān)系；?研究不同地層間相互關(guān)系剖面測(cè)制的技術(shù)要求1.剖面選擇與布置層序完整、露頭連續(xù)、構(gòu)造簡(jiǎn)單、接觸關(guān)系清楚、化石豐富、巖性組合與厚度具有代表性、通達(dá)條件較好；剖面線原則上垂直所要控制的地質(zhì)體的走向，一般情況下兩者間夾角不宜小于60；例如實(shí)測(cè)黃院東山梁剖面，其控制層位為Qbc、?1f、?1-2m、?2x、?2z，?h3,O1y,O1l,O1m，剖面方位基本上垂直各地層界線2.剖面的比例尺確定根據(jù)規(guī)范要求和實(shí)測(cè)對(duì)象具體而定，原則上能反映最小厚度的地層單位，常用的比例尺為1:5001:5000。 本次實(shí)測(cè)太平山南坡剖面，比例尺定為1:1000剖面測(cè)制的技術(shù)要求3.剖面數(shù)量原則上依據(jù)實(shí)際地質(zhì)情況的復(fù)雜程度、延伸情況而定；單幅圖地層剖面每個(gè)填圖單位至少有12條主干剖面加以控制，聯(lián)測(cè)圖幅每個(gè)填圖單位有23條主干剖面加以控制。 本次實(shí)習(xí)只實(shí)測(cè)一條剖面，目的是要掌握地層剖面實(shí)測(cè)方法。 4.剖面實(shí)測(cè)人員構(gòu)成及分工原則上要求3-6人，其中分層、記錄、前測(cè)手、后測(cè)手、樣品或標(biāo)本采集、產(chǎn)狀測(cè)量各1人剖面測(cè)制的技術(shù)要求5.剖面觀測(cè)的要點(diǎn)1)分層可以單一巖性層、也可以復(fù)合層，內(nèi)部基本連續(xù)，與上、下鄰層宏觀易區(qū)分。 復(fù)合層還可以是旋回或韻律，但每一旋回或韻律的組成結(jié)構(gòu)造數(shù)據(jù)必須描述清楚2)巖性用顏色+層厚+結(jié)構(gòu)+成分命名方式先概述，然后補(bǔ)充描述具體特征。 詳細(xì)描述參閱所講沉積地層野外工作方法；3)化石門(mén)類(lèi)組合特征、個(gè)體形態(tài)、保存狀況、分布狀態(tài)與巖性及沉積構(gòu)造間關(guān)系、排列優(yōu)選方位和遺跡化石；剖面測(cè)制的技術(shù)要求5.剖面觀測(cè)的要點(diǎn)4）沉積構(gòu)造分布層位、形態(tài)、類(lèi)型及線和面（含層面）產(chǎn)狀，必要時(shí)應(yīng)作素描圖5）正常層序的識(shí)別與接觸關(guān)系?示頂構(gòu)造如斜層理、波痕、沖蝕痕、溝槽模、泥裂、遺跡化石、鳥(niǎo)眼構(gòu)造等；后期變形構(gòu)造如軸面劈理與層理交切關(guān)系等；?接觸關(guān)系整合接觸、平行不整合接觸、角度不整合接觸剖面測(cè)制的技術(shù)要求5.剖面觀測(cè)的要點(diǎn)6）采樣種類(lèi)和數(shù)量應(yīng)根據(jù)地質(zhì)情況、區(qū)域地質(zhì)研究程度及技術(shù)要求等綜合考慮。 常用的樣品有代表性標(biāo)本、巖礦、化學(xué)分析、人工重砂、同位素年齡、粒度分析、古地磁、化石等等。 本次采集樣品主要為標(biāo)本，逐層取樣，大小要求369cm3，記錄格式為43m取樣P1-2b1（泥質(zhì)白云巖），有別于路線上取樣b003-1（中細(xì)粒石英砂巖）剖面測(cè)制的技術(shù)要求5.剖面觀測(cè)的要點(diǎn)7）測(cè)產(chǎn)狀原則上逐層測(cè)量，尤其是各巖石地層單位之間更是如此。 產(chǎn)狀以總體巖層產(chǎn)狀為準(zhǔn)，忽略局部變形產(chǎn)狀。 其記錄格式為46m產(chǎn)狀75?35剖面測(cè)制工作流程?據(jù)區(qū)域資料和剖面實(shí)測(cè)目的選擇剖面位置；?剖面路線詳細(xì)踏勘，制定工作計(jì)劃；?野外測(cè)量、觀察、記錄及采樣；?室內(nèi)、編錄和計(jì)算，編繪導(dǎo)線實(shí)際材料平面圖、實(shí)測(cè)剖面圖、柱狀圖；?剖面小結(jié)，劃分地層單位；剖面記錄內(nèi)容?剖面測(cè)制起止時(shí)間、天氣情況、地點(diǎn)；?剖面名稱(chēng)及編號(hào)、測(cè)制任務(wù)及意義、人員分工、地形圖及航磁圖編號(hào)；?剖面起止點(diǎn)位置、座標(biāo)、點(diǎn)性、描述；?剖面總導(dǎo)線方位，分導(dǎo)線編號(hào)、方位、坡角、斜距；?各分層號(hào)、斜距及特征（含地貌特征），重要界面之間地質(zhì)體的關(guān)系；?產(chǎn)狀及位置、樣品編號(hào)及位置；?信手剖面圖、各類(lèi)素描圖、照片。 注描述內(nèi)容均應(yīng)按導(dǎo)線距及分層號(hào)進(jìn)行！實(shí)實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面記錄表幅（地區(qū)）剖面編號(hào)剖面位置及起點(diǎn)坐標(biāo)剖面總方位測(cè)線記錄高差累積高差地質(zhì)記錄分層號(hào)分層厚度產(chǎn)狀要素導(dǎo)線方位與巖層走向間夾角視傾角樣品備注導(dǎo)線號(hào)方位角斜距平距坡角地質(zhì)時(shí)代分層地質(zhì)描述位置傾向傾角標(biāo)本（b）位置斜距平距斜距平距斜距平距0-15550?+3?O1m0-23?1?20?253560?1b1（灰?guī)r）9?O1m23-45?2?2b1（角礫狀灰?guī)r）28?C2b45-50?3?48?283463?平行不整合1-25045?-2?C2b0-5?3?3?243264?C2b5-404?654b1（灰?guī)r）15?4b2（千枚巖）35?C2b40-45?5?45?253565?2-35250?0?C3t0-10?6?63?C3t10-18?7?15?423380?7b1（壓力影板巖）15?測(cè)測(cè)線記錄高高差差累積高差導(dǎo)線號(hào)號(hào)方位角角斜斜距距平平距距坡坡角角0-15550?+3?測(cè)線記錄格式測(cè)測(cè)線記錄高高差差地地質(zhì)記錄分層號(hào)號(hào)分層厚度度導(dǎo)線號(hào)號(hào)方位角角斜斜距距平平距距坡坡角角地質(zhì)時(shí)代分分層地質(zhì)描述述斜距平距距0-15550?+3?O1m023? (1)?O1m2345? (2)?C2b4550? (3)?1-25045?-2?地質(zhì)記錄格式測(cè)測(cè)線記錄高高差差累積高差產(chǎn)產(chǎn)狀要素導(dǎo)線方位與巖層走向間夾角視傾角角導(dǎo)線號(hào)號(hào)方位角角斜斜距距平平距距坡坡角角位位置傾傾向向傾傾角角斜距平距0-15550?+3?20?253560?48?283463?產(chǎn)狀記錄格式測(cè)測(cè)線記錄樣樣品備注導(dǎo)線號(hào)方位角角斜斜距距平平距距坡坡角角標(biāo)本（b）位位置斜距平距距0-15550?+3?1b1（灰?guī)r）9?2b1（角礫狀灰?guī)r）28?平行不整合1-25045?-2樣品記錄格式剖面測(cè)制記錄格式年月日星期天氣地點(diǎn)2000710四晴黃院東山梁導(dǎo)線號(hào):0-1方位:70坡角:-3斜距:46m1層035m:為淺灰色厚層-中厚層含礫粗砂巖-中粗砂巖細(xì)砂巖,發(fā)育雙向板狀交錯(cuò)層理.20m產(chǎn)狀:75285m處取樣:P1b(含礫粗粒長(zhǎng)石石英砂巖)1118m處取樣:P1b(中細(xì)粒石英砂巖)12(具體描述從略)(具體描述從略)2層3544m:為灰色-淺灰色薄層千枚巖-板巖,發(fā)育水平層理.41m處取樣:P2b(板巖)113層4446m:為淺灰色-灰白色中薄層大理巖與淺灰色鈣質(zhì)板巖構(gòu)成多個(gè)米級(jí)旋回.其中(具體描述)關(guān)系:與下伏龍山組地層呈整合接觸,兩者產(chǎn)狀近一致45m產(chǎn)狀:672646m處取樣:P3b(大理巖)11剖面測(cè)制記錄格式年月日星期天氣地點(diǎn)2000710四晴黃院東山梁導(dǎo)線號(hào):0-1方位:70坡角:-3斜距:46m1層035m:為淺灰色厚層-中厚層含礫粗砂巖-中粗砂巖細(xì)砂巖,發(fā)育雙向板狀交錯(cuò)層理.20m產(chǎn)狀:75285m處取樣:P1b(含礫粗粒長(zhǎng)石石英砂巖)1118m處取樣:P1b(中細(xì)粒石英砂巖)12(具體描述從略)(具體描述從略)2層3544m:為灰色-淺灰色薄層千枚巖-板巖,發(fā)育水平層理.41m處取樣:P2b(板巖)113層4446m:為淺灰色-灰白色中薄層大理巖與淺灰色鈣質(zhì)板巖構(gòu)成多個(gè)米級(jí)旋回.其中(具體描述)關(guān)系:與下伏龍山組地層呈整合接觸,兩者產(chǎn)狀近一致45m產(chǎn)狀:672646m處取樣:P3b(大理巖)11剖面測(cè)制方法應(yīng)注意事項(xiàng)?凡是地形變化較大的地方一定要更換導(dǎo)線。 如地形線由下坡變成上坡或由上坡變成下坡等；?據(jù)剖面起、止點(diǎn)位置用羅盤(pán)在野外測(cè)出剖面總體方位或用量角器在地形圖上度量剖面總體方位；?分導(dǎo)線方位（B）、坡角（）由前、后測(cè)手根據(jù)羅盤(pán)測(cè)得值（相差值一般小于3）求平均。 其中方位是代表導(dǎo)線與正北方向的夾角；坡角代表導(dǎo)線與平面間夾角，以后測(cè)手水平視線為準(zhǔn)，導(dǎo)線在其下坡角為負(fù)值、在其上為正值；?分導(dǎo)線及分層斜距用測(cè)繩或皮尺沿地形坡度上度量；?產(chǎn)狀與樣品必