2024DS-(GPK)IE6200型智能分析服務(wù)器

前 范 術(shù)語(yǔ)和定 縮略 產(chǎn)品標(biāo) 要 接口要 功能要 性能要 安全性要 穩(wěn)定性要 可靠性要 試驗(yàn)方 試驗(yàn)條 接口檢 功能檢 性能檢 安全性試 穩(wěn)定性試 可靠性試 檢驗(yàn)規(guī) 檢驗(yàn)分 型式檢 例行檢 確認(rèn)檢 標(biāo) 包 運(yùn) 貯 DS-(GPK)IE6200DS-(GPK)IE6200GB/T191GB/T2099.112A:2B:2Cab:2Ea2Ec:粗率操作造成的沖擊（樣品GB/T2423.10-20192Fc:GB/T2423.22-2012環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化GB/T2423.56-20182Fh：GB/T5080.7GB4943.11GB/T9254.1-20211GB17625.1-2022電磁兼容限值諧波電流發(fā)射限值（設(shè)備每相輸入電流≤16A）GB/T17626.2-2018電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.3-2016電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.4-2018GB/T17626.5-2019電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.6-2017GB/T17626.8-2006電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)工頻磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.11-202311部分：對(duì)每相輸入電流小于或等于16A設(shè)備PSIA：實(shí)體安防互通聯(lián)盟PhysicalSecurityInteroperabilityDS-(GPK) 1A~Z列VGAUSB1000Mbps，數(shù)據(jù)口數(shù)目10000Mbps；光纖通道接口：數(shù)據(jù)口速率≥4Gbps；SATA≥3Gbps；SAS≥6Gbps110V±11V、220V±22V，50Hz±2HzGB/T2099.1GB/T2423.1-200858hGB/T2423.1-20084048hGB/T2423.2-2008358hGB/T2423.2-20087048hGB/T2423.22-2012GB/T2423.3-2016GB/T2423.10-2019GB/T2423.5-201911ms、15gGB/T2423.56-20182（2）50dB272dB應(yīng)符合GB/T17626.2-2018中接觸放電等級(jí)2要求及空氣放電等級(jí)3要求，允許性能或功能暫時(shí)喪失應(yīng)符合GB/T17626.3-2016等級(jí)2的要求，不允許出現(xiàn)性能明顯降低或者工作狀態(tài)改變或者存儲(chǔ)數(shù)應(yīng)符合GB/T17626.6-2017等級(jí)2的要求，不允許出現(xiàn)性能明顯降低或者工作狀態(tài)改變或者存儲(chǔ)數(shù)應(yīng)符合GB/T17626.11-2023中1類設(shè)備的要求，電壓暫降過(guò)程允許性能或功能暫時(shí)喪失或者降低，應(yīng)符合GB/T9254.1-2021中A應(yīng)符合GB/T9254.1-2021中A應(yīng)符合GB17625.1-2022中的AGB4943.1-2022F應(yīng)符合GB4943.1-2022中6.5和附錄G.7采用AC220V三插接線或兩插接線連接至設(shè)備電源接線端子的設(shè)備應(yīng)符合GB4943.1-2022中5.4.9的采用AC220V三插接線或兩插接線連接至設(shè)備電源接線端子的設(shè)備應(yīng)符合GB4943.1-2022中5.5.2的應(yīng)符合GB4943.1-2022中第6應(yīng)符合GB4943.1-2022中4.4.3和第8應(yīng)符合GB4943.1-2022中第9應(yīng)符合GB4943.1-2022中附錄B.2.5應(yīng)符合GB4943.1-2022中附錄B.3和附錄B.4本文件采用平均無(wú)故障工作時(shí)間(MBF)衡量產(chǎn)品的可靠性水平。設(shè)備在正常氣候條件下的平均無(wú)(MTBF26280溫度：5～35大氣壓力：86kPa～106kPaVGAUSB表1電壓5.6GB/T2423.15.6GB/T2423.15.6GB/T2423.25.6GB/T2423.25.6GB/T2423.35.6GB/T2423.105.6GB/T2423.55.6GB/T2423.7測(cè)設(shè)備與噪聲計(jì)的距離保持在1m，產(chǎn)品的靜電放電抗擾度試驗(yàn)應(yīng)按GB/T17626.2規(guī)定的試驗(yàn)方法進(jìn)行，試驗(yàn)過(guò)程中受試設(shè)備不應(yīng)出產(chǎn)品的射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)應(yīng)按GB/T17626.3規(guī)定的試驗(yàn)方法進(jìn)行，試驗(yàn)過(guò)程中受試設(shè)備產(chǎn)品的電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)應(yīng)按GB/T17626.4規(guī)定的試驗(yàn)方法進(jìn)行，試驗(yàn)過(guò)程中受試設(shè)產(chǎn)品的射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾度抗擾度試驗(yàn)應(yīng)按GB/T17626.6規(guī)定的試驗(yàn)方法進(jìn)行，試驗(yàn)過(guò)程中按照GB/T17626.8產(chǎn)品的電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)應(yīng)按GB/T17626.11規(guī)定的試驗(yàn)方法進(jìn)行。試按照GB/T9254.1-2021按照GB/T9254.1-2021按照GB17625.1-2022按照GB4943.1-2022中第6按照GB4943.1-2022中第9本文件規(guī)定可靠性試驗(yàn)?zāi)康臑榇_定產(chǎn)品在正常使用條件下的可靠性水平，試驗(yàn)周期內(nèi)綜合應(yīng)力規(guī)定如下：電應(yīng)力：受試樣品在輸入電壓標(biāo)稱值的5%變化的范圍內(nèi)工作(交流供電時(shí)電壓變化為10%)。25%25%；0.7℃/mi