Y -S-T 273.11-2023 冰晶石化學(xué)分析方法和物理性能測定方法 第11部分:元素含量的測定 X射線熒光光譜法 (正式版)_第1頁
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文檔簡介

ICS71.100.10CCSH30YS中華人民共和國有色金屬行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)代替YS/T273.11-2006、YS/T273.14-2008、YS/T273.15-2012Methodsforchemicalanalysisandphysicalpropertiestestofcryolite—Part11:DeterminationofelX-rayfluorescencespectrometricmethod2023-12-20發(fā)布IYS/T273.11—2023本文件按照GB/T1.1-2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分:標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定起草。本文件是YS/T273《冰晶石化學(xué)分析方法和物理性能測定方法》的第11部分。YS/T273已經(jīng)發(fā)布了——第1部分:濕存水含量的測定重量法;——第2部分:燒減量的測定;——第3部分:氟含量的測定;——第4部分:鋁含量的測定EDTA滴定法;——第5部分:火焰原子吸收光譜法測定鈉含量;——第6部分:二氧化硅含量的測定鉬藍(lán)分光光度法;——第7部分:鄰二氮雜菲分光光度法測定三氧化二鐵含量;——第8部分:硫酸根含量的測定硫酸鋇重量法;——第9部分:五氧化二磷含量的測定鉬藍(lán)分光光度法;——第10部分:重量法測定游離氧化鋁含量;——第11部分:元素含量的測定X射線熒光光譜法;——第12部分:火焰原子吸收光譜法測定氧化鈣含量;——第13部分:試樣的制備和貯存;——第16部分:鋰含量的測定火焰原子吸收光譜法;——第17部分:元素含量的測定電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法。本文件代替YS/T273.11-2006《冰晶石化學(xué)分析方法和物理性能測定方法第11部分:X射線熒光光譜分析法測定硫含量》、YS/T273.14-2008《冰晶石化學(xué)分析方法和物理性能測定方法第14部分:X射線熒光光譜分析法測定元素含量》和YS/T273.15-2012《冰晶石化學(xué)分析方法和物理性能測定方法第15部分:X射線熒光光譜分析(壓片)法測定元素含量》,與YS/T273.11-2006、YS/T273.14-2008和YS/T273.15-2012相比,除結(jié)構(gòu)調(diào)整和編輯性改動(dòng)外,主要技術(shù)變化如下:a)更改了范圍(見第1章,2006年版的第1章);b)刪除了X射線熒光光譜分析法測定硫含量(見YS/T273.11-2006的第2章~第9章);c)增加了熔融法(見第4章);d)增加了“無水偏硼酸鋰”作為熔劑(見4.2.1);e)更改了“樣品”(見4.4,YS/T273.14-2008的第5章);f)更改了樣品與熔劑的混合方式及比例(見4.5.2,2006年版YS/T273.14的6.4.1);g)增加了無水偏硼酸鋰的熔融溫度(見4.5.3.1h)增加了“壓片法”(見第5章);i)增加了“鑲邊墊襯材料”(見5.2.1);j)更改了“樣品”(見5.4,YS/T273.15-20012的第6章);k)增加了“推薦的研磨時(shí)間”(見5.5.3.1l)增加了樣片測量次數(shù)的要求(見5.5.3.3m)增加了“試驗(yàn)報(bào)告”(見第6章)。請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別專利的責(zé)任。YS/T273.14—2023本文件由全國有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC243)提出并歸口。本文件起草單位:中鋁鄭州有色金屬研究院有限公司、多氟多新材料股份有限公司、島津企業(yè)管理(中國)有限公司、中鋁山西新材料有限公司、國標(biāo)(北京)檢驗(yàn)認(rèn)證有限公司、通標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)(天津)有限公司。本文件主要起草人:劉靜、彭展、葉文豪、馬慧俠、冀然、王宜權(quán)、趙偉、崔軍峰、辛麗霞、于磊、宋永清、楊琛、楊宇紅、郭麗娜、陳清。本文件及其所代替文件的歷次版本發(fā)布情況為:——1987年首次發(fā)布為GB8154.11-87《天然和人造冰晶石中硫量的測定X射線熒光光譜分析法》;——1994年第一次修訂為YS/T273.11-1994《天然和人造冰晶石中硫量的測定X射線熒光光譜分——2006年第二次修訂為YS/T273.11-2006《冰晶石化學(xué)分析方法和物理性能測定方法第11部分:X射線熒光光譜分析法測定硫含量》;——本次為第三次修訂,修訂時(shí)并入了YS/T273.14-2008《冰晶石化學(xué)分析方法和物理性能測定方法第14部分:X射線熒光光譜分析法測定元素含量》和YS/T273.15-2012《冰晶石化學(xué)分析方法和物理性能測定方法第15部分:X射線熒光光譜分析(壓片)法測定元素含量》的內(nèi)容(YS/T273.14-2008所代替文件的歷次版本發(fā)布情況為:2008年首次發(fā)布為YS/T273.14-2008;YS/T273.15-2012所代替文件的歷次版本發(fā)布情況為:2012年首次發(fā)布為YS/T273.15-2012)。YS/T273.11—2023冰晶石作為鋁電解生產(chǎn)中的重要原料。在鋁工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)體系中,冰晶石檢測方法系列標(biāo)準(zhǔn)是非常重要的部分,在保證冰晶石質(zhì)量方面發(fā)揮著重要作用。該系列方法標(biāo)準(zhǔn)服務(wù)于冰晶石生產(chǎn)、貿(mào)易結(jié)算、分析比對、電解鋁生產(chǎn)等領(lǐng)域,為我國鋁工業(yè)高質(zhì)量發(fā)展提供技術(shù)支撐。其中冰晶石的元素含量會(huì)直接影響鋁錠的質(zhì)量以及鋁電解的電流效率,因此建立一種能夠快速、準(zhǔn)確測量冰晶石中各元素含量的方法十分重要X-射線熒光光譜分析法具有自動(dòng)化程度高、分析速度快、制樣簡單、一次測量可得到多種元素含量等優(yōu)點(diǎn)。國內(nèi)眾多企業(yè)使用X-射線熒光光譜法對冰晶石元素含量進(jìn)行分析檢測。YS/T273為《冰晶石化學(xué)分析方法和物理性能測定方法》系列標(biāo)準(zhǔn)包含了濕存水、燒減量、氟、鋁、鈉、二氧化硅、三氧化二鐵、硫酸根、五氧化二磷、游離氧化鋁、鋰等指標(biāo)的測定。其中關(guān)于X射線熒光光譜分析方法共有三部分內(nèi)容:YS/T273.11-2006、YS/T273.14-2008和YS/T273.15-2012。YS/T273.11-2006僅測量硫一種元素,這與高效率的X射線熒光光譜分析方法發(fā)展趨勢不符,因此本次修訂刪除了該方法。YS/T273.14-2008為熔融法測量冰晶石中的元素含量,YS/T273.15-2012為壓片法測量冰晶石中的元素含量,兩部分標(biāo)準(zhǔn)使用的儀器相同,測量的元素種類完全重合,因此本次修訂對兩部分內(nèi)容進(jìn)行了合并。修訂后的YS/T273.11由兩種測量方案組成,即YS/T273.14-2008部分轉(zhuǎn)化為熔融法;YS/T273.15-2012部分轉(zhuǎn)化為壓片法。修訂后的標(biāo)準(zhǔn)更加簡潔,易于操作,進(jìn)一步規(guī)范和完善了我國的冰晶石分析檢測標(biāo)準(zhǔn)體系。1YS/T273.11—2023冰晶石化學(xué)分析方法和物理性能測定方法第11部分:元素含量的測定X射線熒光光譜法本文件規(guī)定了冰晶石中元素含量的測定方法。本文件適用于冰晶石中氟、鋁、鈉、二氧化硅、三氧化二鐵、硫酸根、五氧化二磷、氧化鈣含量的測定。測定范圍見表1。表1測定范圍%FFeOPO2規(guī)范性引用文件下列文件的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中,注日期的引用文件,僅該日期對應(yīng)的版本適用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。GB/T6682分析實(shí)驗(yàn)室用水規(guī)格和試驗(yàn)方法GB/T8170數(shù)值修約規(guī)則與極限數(shù)值的表示和判定3術(shù)語和定義本文件沒有需要界定的術(shù)語和定義。4熔融法4.1原理試樣用硼酸鋰熔劑熔融,加少量溴化鋰(或碘化銨)作脫模劑。在熔樣機(jī)中熔融,制成玻璃樣片,用X射線熒光光譜儀測量樣片中各元素的熒光X射線強(qiáng)度,建立校準(zhǔn)曲線,使用校準(zhǔn)方程進(jìn)行元素間的吸收增強(qiáng)效應(yīng)校正,由校準(zhǔn)曲線求出樣品中各元素含量。4.2試劑或材料除非另有說明,在分析中僅使用確認(rèn)為分析純的試劑和符合GB/T6682規(guī)定的二級水。4.2.1熔劑:無水四硼酸鋰和偏硼酸鋰混合熔劑(質(zhì)量比為67:33)。4.2.2無水偏硼酸鋰:于700℃灼燒2h后,置于干燥器中備用。4.2.3脫膜劑:溴化鋰飽和溶液或碘化銨溶液(300g/L)。4.2.4標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì):宜選擇有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì),標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)數(shù)量應(yīng)大于5個(gè),且每個(gè)元素的含量范圍都應(yīng)具有一定梯度。4.2.5監(jiān)控樣片:監(jiān)控樣片應(yīng)是穩(wěn)定的玻璃片,含有所有校準(zhǔn)元素,其濃度應(yīng)使其計(jì)數(shù)率的統(tǒng)計(jì)誤差小于或等于校準(zhǔn)元素的計(jì)數(shù)率統(tǒng)計(jì)誤差。2YS/T273.11—20234.3儀器設(shè)備4.3.1波長色散X射線熒光光譜儀:端窗銠靶X射線管。4.3.2熔樣機(jī):自動(dòng)火焰熔樣機(jī)、高頻電感熔樣機(jī)或其他類型熔樣機(jī),溫度不低于1100℃,且可控制溫度,控溫精度±15℃。4.3.3烘箱:可控溫度110℃±5℃。4.3.4鉑-金合金坩堝(95%Pt+5%Au)。4.3.5鉑-金合金鑄模(95%Pt+5%Au):鑄模材料厚度約1mm,使其不易變形。坩堝和鑄模也可合二為一。試樣在坩堝中熔融后直接成型時(shí),坩堝底面內(nèi)壁應(yīng)平整光滑。4.4樣品樣品要求粒度應(yīng)小于125μm,預(yù)先在110℃±5℃的烘箱(4.3.3)中干燥2h,置于干燥器中,冷卻至室溫后備用。4.5試驗(yàn)步驟4.5.1平行試驗(yàn)平行做兩份試驗(yàn),取其平均值。4.5.2試料將樣品(4.4)和熔劑(4.2.1)按照合適的比例準(zhǔn)確稱量于鉑-金合金坩堝(4.3.4)中,攪拌均勻后,加入1滴脫模劑(4.2.3)。推薦的樣品稱量質(zhì)量為1.0000g±0.0001g,樣品與熔劑的質(zhì)量為1:7~1:8,熔劑的稱量誤差不大于±0.0001g。4.5.3樣片制備±15℃。以無水偏硼酸鋰為熔劑進(jìn)行熔融時(shí),min。熔融過程要轉(zhuǎn)動(dòng)坩堝,使粘在坩堝壁上的熔珠和樣品進(jìn)入熔融體中,并使熔融物混勻。4.5.3.2將坩堝內(nèi)熔融物(4.5.3.1)傾入已預(yù)熱的鉑-金合金鑄模(4.3.5)中,將鑄模移離火焰,冷卻后,將已成型的玻璃樣片與鑄模剝離。樣片在坩堝中熔融后直接成型的應(yīng)在冷卻前搖動(dòng)坩堝,趕出氣泡。成型后的玻璃樣片應(yīng)均勻透明,表面光滑,無氣泡,無析晶。4.5.3.3在玻璃樣片非測量面貼上標(biāo)簽,置于干燥器內(nèi)保存。4.5.4校準(zhǔn)4.5.4.1推薦的測量條件見附錄A。4.5.4.2將選定的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)(4.2.4)按4.5.3制備成校準(zhǔn)樣片。按照選定的測量條件測定各元素的熒光強(qiáng)度,以y軸表示熒光凈強(qiáng)度,x軸表示質(zhì)量濃度來繪制校準(zhǔn)曲線,并根據(jù)校準(zhǔn)曲線情況選取理論α系數(shù)或基本參數(shù)法校正元素間的吸收增強(qiáng)效應(yīng)。4.5.4.3對有譜線重疊干擾的元素,需進(jìn)行譜線重疊干擾校準(zhǔn)。4.5.4.4使用監(jiān)控樣片(4.2.5)建立儀器漂移校準(zhǔn)。漂移校準(zhǔn)應(yīng)與校準(zhǔn)曲線同步建立,以保證漂移校準(zhǔn)的有效性。4.5.5測量3YS/T273.11—2023啟動(dòng)分析程序,測量與待測樣片同時(shí)制備的標(biāo)準(zhǔn)樣片,若標(biāo)準(zhǔn)樣片中元素的分析結(jié)果滿足表2規(guī)定的重復(fù)性要求,則進(jìn)行測量;若不能滿足重復(fù)性要求,則需要測量監(jiān)控樣片(4.2.5),進(jìn)行儀器漂移校準(zhǔn),或重新建立校準(zhǔn)曲線,直至滿足重復(fù)性要求后,再進(jìn)行測量。4.6試驗(yàn)數(shù)據(jù)處理根據(jù)待測元素的熒光X射線強(qiáng)度,由工作曲線計(jì)算出各待測元素的含量。用質(zhì)量分?jǐn)?shù)wx表示(X表示待測元素)。當(dāng)wx≥1.00時(shí),計(jì)算結(jié)果表示到小數(shù)點(diǎn)后兩位;當(dāng)wx<1.00時(shí),計(jì)算結(jié)果保留兩位有效數(shù)字。數(shù)值修約按GB/T8170的規(guī)定執(zhí)行。4.7精密度4.7.1重復(fù)性在重復(fù)性條件下獲得兩次獨(dú)立測試結(jié)果的測定值,在以下給出的平均值范圍內(nèi),這兩次測試結(jié)果的絕對差值不超過重復(fù)性限(r),超過重復(fù)性限(r)的情況不超過5%,重復(fù)性限(r)按表2數(shù)據(jù)采用線性內(nèi)插法或外延法求得。表2重復(fù)性限%wx重復(fù)性限(r)wx重復(fù)性限(r)FFeOPO4.7.2允許差實(shí)驗(yàn)室間分析結(jié)果的差值不大于表3所列允許差。%表3允許差%wxwxFPO4YS/T273.11—2023表3允許差(續(xù))%wxwxPO>0.010~0.10>0.10~0.60FeO>0.10~0.50>0.050~0.10>0.50~1.005粉末壓片法5.1原理按一定比例將樣品和分散劑混合、研磨,加壓制成測量樣片,用X射線熒光光譜儀測量樣片中各元素的熒光X射線強(qiáng)度,建立校準(zhǔn)曲線,使用校準(zhǔn)方程進(jìn)行元素間的吸收增強(qiáng)效應(yīng)校正,由校準(zhǔn)曲線求出樣品中各元素含量。5.2試劑或材料5.2.1鑲邊墊襯材料:硼酸(分析純)、鋁環(huán)、聚乙烯環(huán)等。5.2.2無水乙醇:分析純。5.2.3丙酮:分析純。5.2.4標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì):宜選擇有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì),標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)數(shù)量應(yīng)大于5個(gè),且每個(gè)元素的含量范圍都應(yīng)具有一定梯度。5.2.5監(jiān)控樣片:監(jiān)控樣片應(yīng)是穩(wěn)定的玻璃片,含有所有校準(zhǔn)元素,其濃度應(yīng)使其計(jì)數(shù)率的統(tǒng)計(jì)誤差小于或等于校準(zhǔn)元素的計(jì)數(shù)率統(tǒng)計(jì)誤差。5.3儀器設(shè)備5.3.1波長色散X射線熒光光譜儀:端窗銠靶X射線管。5.3.2震動(dòng)磨及碳化鎢研缽。5.3.3壓片機(jī):壓力大于10MPa。5.3.4稱量瓶:直徑50mm~70mm,帶蓋。5.3.5烘箱:可控溫度110℃±5℃。5.4樣品樣品粒度應(yīng)小于125μm,預(yù)先在105℃±5℃的烘箱(5.3.5)中干燥2h,置于干燥器中,冷卻至室溫后備用。5.5試驗(yàn)步驟5.5.1平行試驗(yàn)平行做兩份試驗(yàn),取其平均值。5.5.2試料稱取約10.0g的樣品(5.4)于稱量瓶(5.3.4)中,蓋上瓶蓋。5YS/T273.11—20235.5.3樣片制備5.5.3.1將試料(5.5.2)均勻的鋪于碳化鎢研缽中,加5滴無水乙醇(5.2.2)或10滴丙酮(5.2.3)于試料表面不同位置,用震動(dòng)磨(5.3.2)研磨。推薦的研磨時(shí)間為20s~40s。5.5.3.2將研磨后的試料(5.5.3.1)倒入模具中,以鑲邊墊襯材料(5.2.1)鑲邊,用壓片機(jī)(5.3.3)加壓至10MPa,并保持壓力壓20s以上,取出樣片修邊,吹去樣片表面附著的粉末。5.5.3.3在非測量面貼上標(biāo)簽,置于干燥器中保存。每個(gè)樣片測量一次,不宜重復(fù)測量。5.5.4校準(zhǔn)5.5.4.1推薦的測量條件見附錄A。5.5.4.2將選定的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)(5.2.4)按5.5.3制備成校準(zhǔn)樣片。按照選定的測量條件測定各元素的熒光強(qiáng)度,以y軸表示熒光凈強(qiáng)度,x軸表示質(zhì)量濃度來繪制校準(zhǔn)曲線,并根據(jù)校準(zhǔn)曲線情況選取理論α系數(shù)或基本參數(shù)法校正元素間的吸收增強(qiáng)效應(yīng)。5.5.4.3對有譜線重疊干擾的元素,需進(jìn)行譜線重疊干擾校準(zhǔn)。5.5.4.4使用監(jiān)控樣片(5.2.5)建立儀器漂移校準(zhǔn)。漂移校準(zhǔn)應(yīng)與校準(zhǔn)曲線同步建立,以保證漂移校準(zhǔn)的有效性。5.5.5測量啟動(dòng)分析程序,測量與待測樣片同時(shí)制備的標(biāo)準(zhǔn)

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