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中華人民共和國國家計(jì)量檢定規(guī)程帶表千分尺2004-03-02發(fā)布2004-09-02實(shí)施國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布1范圍 2引用文獻(xiàn) 3概述 4計(jì)量性能要求 4.1刻線寬度及寬度差 4.2微分筒錐面的端面與固定套管上毫米刻線的相對(duì)位置 4.3微分筒錐面棱邊至固定套管刻線面的距離 4.4帶表千分尺兩測量面的平面度和平行度 4.5帶表千分尺的比較儀 4.6帶表千分尺的測力及測力變化 4.7帶表千分尺的示值誤差 4.8帶表千分尺的重復(fù)性 5通用技術(shù)要求 5.1外觀 5.2各部分相互作用 6計(jì)量器具控制 6.1檢定項(xiàng)目 6.2檢定條件 6.3檢定方法 6.4檢定結(jié)果處理 6.5檢定周期 附錄A帶表千分尺示值誤差測量不確定度評(píng)定 附錄B檢定證書和檢定結(jié)果通知書內(nèi)頁格式 參JJG427—20041帶表千分尺檢定規(guī)程本規(guī)程適用于測量上限至100mm、分度值為0.001mm的帶表千分尺的首次檢定、帶表千分尺(見圖1)是由機(jī)械式比較儀(以下簡稱比較儀)、尺架和測微頭等部帶表千分尺的測量范圍一般分為(0~25)mm,(25~50)mm,(50~75)mm和固定套管上的縱刻線和微分筒上的刻線寬度為(0.15~0.20)mm,刻線寬度差不超24.2微分筒錐面的端面與固定套管上毫米刻線的相對(duì)位置端面與固定套管刻線的右邊緣應(yīng)相切;若不相切,壓線不超過0.05mm,離線不超過4.3微分簡錐面棱邊至固定套管刻線面的距離微分筒錐面棱邊至固定套管刻線面的距離不超過0.4mm。兩測量面的平面度和平行度不超過表1的規(guī)定。表1帶表千分尺兩測量面的平面度和平行度測量范圍/mm測量面平面度/μm兩測量面平行度/μm23測力(是指測砧與球面接觸時(shí)所作用的力)為(2~5)N。測力變化不超過1N。5.1.1首次檢定的帶表千分尺不應(yīng)有碰傷、銹蝕、劃痕等外觀缺陷,表盤及測微頭上5.2.1微分筒在工作行程內(nèi)往返轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)應(yīng)靈活、平穩(wěn),無卡滯和摩擦現(xiàn)象,無手感覺到的徑向擺動(dòng)和軸向竄動(dòng),測微頭鎖緊裝置的作用應(yīng)可靠。36.1檢定項(xiàng)目檢定項(xiàng)目見表2。表2檢定項(xiàng)目和主要檢定器具一覽表序號(hào)檢定項(xiàng)目檢定器具檢定類別首次檢定后續(xù)檢定使用中檢驗(yàn)1外觀-+++2各部分相互作用+++3刻線寬度及寬度差工具顯微鏡示值誤差:+4微分筒錐面的端面與固定套管毫米刻線的相對(duì)位置———+5微分簡錐面棱邊至固定套管刻線面的距離2級(jí)塞尺或工具顯微鏡十6帶表千分尺兩測量面的平面度和平行度2級(jí)平面平晶、平行平晶、1級(jí)量塊+十7帶表千分尺的比較儀見JJG39—1990++8測力及測力變化量儀測力儀:2.5級(jí)+9示值誤差4等量塊+++重復(fù)性專用工具+++注:表中“+”表示應(yīng)檢定,“-”表示可以不檢定。6.2檢定條件檢定帶表千分尺的檢定室內(nèi)溫度為(20±3)℃,帶表千分尺和檢定用工具在檢定室內(nèi)等溫時(shí)間不少于2h。主要檢定器具見表2。目力觀察。4目力觀察和試驗(yàn)。在工具顯微鏡上檢定。微分筒和固定套管上至少各均勻分布地抽檢3條刻線??叹€米刻線的右邊緣相切,此時(shí)讀取微分筒的零刻線與固定套管縱刻線的偏移量即為離、壓在工具顯微鏡上進(jìn)行檢定。也可以用厚度為0.4mm的2級(jí)塞尺用比較法進(jìn)行檢定,兩測量面的平面度用2級(jí)平晶以技術(shù)光波干涉法進(jìn)行檢定。距邊緣0.2mm處允許兩測量面的平行度用平行平晶檢定時(shí),依次將四塊平行平晶微分筒,使兩測量面與平行平晶接觸后鎖緊測微螺桿,讀出兩測量面上出現(xiàn)的白光干涉筒1/4轉(zhuǎn)的四組量塊進(jìn)行。每組量塊以同一部位按圖2所示的四個(gè)及中間共五個(gè)位置放入兩測量面間。檢定時(shí),首先將量塊夾持在測量面中心位置對(duì)零位后,鎖緊測微螺桿,順次在比較儀上讀取同一尺寸量塊在測量面間五個(gè)位置上的示值,并求出其差值。取四組讀數(shù)差中的最大值作為帶表千分尺兩測量面的平行度。用量儀測力儀的球工作面與帶表千分尺工作面相接觸后進(jìn)行檢定。用4等量塊在測微頭25mm行程范圍內(nèi)均勻分布的五個(gè)位置上進(jìn)行檢定。所用量塊5處于各受檢點(diǎn)上,鎖緊測微螺桿后,將相應(yīng)尺寸的量塊放入兩測量面間,在比較儀上讀出各點(diǎn)的示值誤差。每一點(diǎn)都要撥動(dòng)撥叉5次,取其平均值作為該點(diǎn)的示值誤差。各點(diǎn)轉(zhuǎn)動(dòng)微分筒使兩測量面接觸,并使比較儀的指針分別處于零位和正負(fù)最大刻度值附近,緊固測微螺桿,撥動(dòng)撥叉五次,取其中最大與最小讀數(shù)差除以極差系數(shù)dn(dn=2.33)求得實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)差s作為帶表千分尺的重復(fù)性。檢定測量上限為(50~100)mm的帶表千分尺時(shí),可借助于延長桿進(jìn)行檢定(如圖經(jīng)檢定符合本規(guī)程要求的帶表千分尺發(fā)給檢定證書;不符合本規(guī)程要求的發(fā)給檢定JJG427—20046附錄A帶表千分尺示值誤差測量不確定度評(píng)定A.1測量方法依據(jù)本規(guī)程,帶表千分尺的示值誤差是用4等量塊在其規(guī)定的5個(gè)位置上進(jìn)行檢定?,F(xiàn)對(duì)測量范圍為(75~100)mm,分度值為0.001mm的帶表千分尺,在23℃條件下,取檢定點(diǎn)為100mm為例,進(jìn)行測量不確定度評(píng)定。A.2數(shù)學(xué)模型示值誤差e:e=L?+L?-L,(A.1)A.3方差和靈敏系數(shù)靈敏系數(shù);得A.4不確定度一覽表:l=100mmu2(e)=u2(L?)+u2(L?)+u2(L,)標(biāo)準(zhǔn)不確定度分量u(x,)不確定度來源標(biāo)準(zhǔn)不確定度值u(x,)lμm1c,l·u(x;)/μm白由度u(L?)重復(fù)性0.14310.1439u(L?)比較儀示值誤差0.28910.289u(L.)量塊0.3720.372u(L?)對(duì)零位量塊0.130u(L?)檢定用量塊0.148u(L?)帶表千分尺與量塊線脹系數(shù)差0.245u(L)帶表千分尺與量塊溫差0.1992u.=0.49μmV=54A.5計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)不確定度分量JJG427—20047在重復(fù)性條件下,對(duì)100mm點(diǎn)重復(fù)測量10次,求得單次測量實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)差為0.32μm,檢定時(shí)每點(diǎn)讀數(shù)5次,取平均值作為測量結(jié)果。A.5.2帶表千分尺機(jī)械式比較儀示值誤差引起的不確定度分量u(L?)比較儀相對(duì)零位的示值允許誤差為±0.5μm,對(duì)不確定度為10%,則A.5.3量塊引起的標(biāo)準(zhǔn)不確定度分量u(L,)A.5.3.1對(duì)零用量塊引起的不確定度分量u(L?)查資料,75mm4等量塊的不確定度為0.35μm,取自由度v=100,包含因子k=2.7,則A.5.3.2檢定用量塊引起的不確定度分量u(La)查資料,100mm4等量塊的不確定度為0.4μm,取自由度v=100,包含因子k=2.7,則v(La)=100A.5.3.3溫度偏離20℃時(shí),帶表千分尺與檢定用量塊線脹系數(shù)差引起的不確定度分量帶表千分尺與量塊的線脹系數(shù)均為(11.5±1)×10~?℃-',線脹系數(shù)差的分布區(qū)間半寬為2×10~?℃~',在其區(qū)間內(nèi)服從三角分布,估計(jì)相對(duì)不確定度為10%,當(dāng)△t=v(La)=50A.5.3.4帶表千分尺與檢定用量塊溫差引起的不確定度分量u(L)兩者等溫后,仍存在一定溫差。估計(jì)溫差為±0.3℃,在其區(qū)間內(nèi)為均勻分布,估計(jì)相對(duì)不確定度為50%,當(dāng)L=0.1×10μm,a=11.5×10~?℃-'時(shí),8v(L?)=2u(L?)=√0.1302+0.1482+0.2452+0.1992=0.372μmA.6合成標(biāo)準(zhǔn)不確定度和有效自由度由于各輸入分量彼此獨(dú)立,ue=√0.1432+0.2892+0.3722=0.49μm取置信概率p=95%,按有效自由度v=54,查t分布表Uys=tg?(54)×u=2.01×0.49=0.99μm測量范圍為(75~100)mm,分度值為0.001mm的帶表千分尺,在23℃條件下,用4等量塊檢定示值誤
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