參考-電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)

電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)物理電子學(xué)路書祥2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)2/2730．介紹內(nèi)容0.1GB9254-1998idt:CISPR22:1997（EN55022）《信息技術(shù)設(shè)備的無線電騷擾限值和測量方法》0.2GB/T17618-1998IdtCISPR24:1997（EN55024）《信息技術(shù)設(shè)備抗擾度限值和測量方法》0.3GB17625.1-2003idtIEC61000-3-2:2001（EN61000-3-2）《電磁兼容限值諧波電流發(fā)射限值（設(shè)備每相輸入電流≤16A）》0.4GB17625.2-1999idtIEC61000-3-3:1994（EN61000-3-3）《電磁兼容限值對額定電流不大于16A的設(shè)備在低壓供電系統(tǒng)中產(chǎn)生的電壓波動和閃爍的限制》0.5GB4824-2004IDTCISPR11:2003（EN55011）《工業(yè)、科學(xué)和醫(yī)療（ISM）射頻設(shè)備電磁騷擾特性限值和測量方法》0.6GB4343.1-2003idtCISPR14-1:2000+A1（EN55014-1）《電磁兼容家用電器、電動工具和類似電器的要求第一部分：發(fā)射》0.7GB4343.2-1999idtCISPR14-2:1997（EN55014-2）《電磁兼容家用電器、電動工具和類似器具的要求第2部分：抗擾度》2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)3/2731．GB9254-1998idt:CISPR22:1997（EN55022）《信息技術(shù)設(shè)備的無線電騷擾限值和測量方法》1.1適用范圍適用于30MHz~1GHz聲音和電視信號的電纜分配系統(tǒng)的設(shè)計、驗收時對系統(tǒng)抗擾度的評價。1.1.1適用產(chǎn)品適用于所有信息技術(shù)設(shè)備的相應(yīng)無線電騷擾性能測試。信息技術(shù)設(shè)備是滿足條件a）和條件b）的任何設(shè)備：a）能對數(shù)據(jù)和電信消息進行錄入、存儲、顯示、檢索、傳遞、處理、交換或控制（或幾種功能的組合），該設(shè)備可以配置一個或多個通常用于信息傳遞的終端端口；b）額定電壓不超過600V。信息技術(shù)設(shè)備可包括數(shù)據(jù)處理設(shè)備、辦公設(shè)備、電子商用設(shè)備、電信設(shè)備等。1.1.2適用頻率范圍9kHz~400GHz，目前只規(guī)定150kHz~1000MHz內(nèi)的限值和測量方法。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)4/2731.2信息技術(shù)設(shè)備的分級信息技術(shù)設(shè)備分為A級信息技術(shù)設(shè)備和B級信息技術(shù)設(shè)備兩類。1.2.1B級ITE是指滿足B級ITE騷擾限值的那類設(shè)備。B級ITE指適用于家用及住宅區(qū)中使用的設(shè)備，保護距離為10m。B級ITE包括：----不在固定場所使用的設(shè)備，例如靠內(nèi)置電池供電的便攜式設(shè)備；----靠電信網(wǎng)絡(luò)供電的電信終端設(shè)備；----個人計算機及相連的輔助設(shè)備。1.2.2A級ITE是指滿足A級ITE騷擾限值但不滿足B級ITE騷擾限值要求的那類設(shè)備。A級ITE指適用于商用及工業(yè)環(huán)境中使用的設(shè)備，保護距離為30m。注：對于這類設(shè)備不應(yīng)限制其銷售，但應(yīng)在其有關(guān)的使用說明中包含如下內(nèi)容的聲明：

聲明：此為A級產(chǎn)品，在生活環(huán)境中，該產(chǎn)品可能會造成無線電干擾。在這種情況下，可能需要用戶對其干擾采取切實可行的措施。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)5/2731.3測試條件1.3.1環(huán)境條件1.3.1.1試驗時要求的一般環(huán)境條件為：溫度：15~35℃濕度：45~75%RH氣壓：86~106kPa1.3.1.2電磁環(huán)境條件為：試驗場地應(yīng)做到能區(qū)分來自EUT的騷擾和環(huán)境噪聲。有關(guān)這方面的場地適用性，可通過測量環(huán)境噪聲電平（EUT不工作）予以確定；當(dāng)受試設(shè)備接入測量線路而未通電運行時，測得的環(huán)境噪聲電平應(yīng)比試樣對應(yīng)的騷擾限值至少要小6dB。如果在某個頻段，環(huán)境噪聲電平比規(guī)定限值低不足6dB，那么可以采用標(biāo)準(zhǔn)第10.6條給出的方法檢驗EUT是否滿足規(guī)定限值的要求。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)6/273當(dāng)環(huán)境噪聲和源的騷擾兩者之合成結(jié)果下超過規(guī)定的限值時，則不必要求環(huán)境噪聲電平比規(guī)定限值低6dB。在這種情況下，可以認(rèn)為源的發(fā)射滿足規(guī)定限值的要求；而當(dāng)環(huán)境噪聲和源的騷擾兩者之合成結(jié)果超過規(guī)定的限值時，則不能判定EUT未達到限值的要求，除非在超過限值所對應(yīng)的每一個頻率點上都能表明同時滿足下述兩個條件：a）環(huán)境噪聲電平至少比源騷擾加上環(huán)境噪聲電平低6dB；b）環(huán)境噪聲電平至少比規(guī)定的限值低48dB。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)7/2731.3.2測量儀器、設(shè)備及場地騷擾測試接收機人工電源網(wǎng)絡(luò)雙錐天線+對數(shù)周期天線或?qū)拵?fù)合天線屏蔽室半電波暗室或開闊測試場/OATS其他測試需要的特殊輔助設(shè)備：略2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)8/2731.4測試項目及騷擾限值1.4.1測試項目傳導(dǎo)騷擾電壓包括：電源端子騷擾電壓、電信端口的傳導(dǎo)共模（非對稱）騷擾輻射騷擾場強1.4.2騷擾限值1.4.2.1電源端子和電信端口的傳導(dǎo)騷擾限值1.4.2.1.1電源端子騷擾電壓限值電源端子騷擾電壓限值見表1所示。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)9/273表1：電源端子騷擾電壓限值A(chǔ)級ITE限額值B級ITE限額值頻率MHz準(zhǔn)峰值dBμV平均值dBμV頻率MHz準(zhǔn)峰值dBμV平均值dBμV0.15～0.5079660.15～0.5066～5656～460.50～3073600.50～556465～306050注：1、對B級ITE設(shè)備，在0.15~0.50MHz范圍內(nèi)，限值隨頻率的對數(shù)呈線性減少；

2、在過渡頻率處采用較低的限值。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)10/2731.4.2.1.2電信端口的傳導(dǎo)共模（非對稱）騷擾電信端口傳導(dǎo)共模（非對稱）騷擾電壓限值見表2所示；電信端口傳導(dǎo)共模（非對稱）騷擾電流限值見表3所示。表2：電信端口傳導(dǎo)共模（非對稱）騷擾電壓限值A(chǔ)級ITE限額值B級ITE限額值頻率MHz準(zhǔn)峰值dBμV平均值dBμV頻率MHz準(zhǔn)峰值dBμV平均值dBμV0.15～0.5097~8784~740.15～0.5084~7474~640.50～3087740.50～307464注：1、在0.15~0.50MHz頻率范圍內(nèi)，限值隨頻率的對數(shù)呈線性減少；

2、對B級設(shè)備，對于該頻段內(nèi)具備有效譜密度的快速業(yè)務(wù)目前暫定允許在6MHz~30MHz頻段內(nèi)放寬限值10dB，但僅限于通過電纜由有用信號轉(zhuǎn)換成的共模騷擾。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)11/273表3：電信端口傳導(dǎo)共模（非對稱）騷擾電流限值

A級ITE限額值B級ITE限額值頻率MHz準(zhǔn)峰值dBμA平均值dBμA頻率MHz準(zhǔn)峰值dBμA平均值dBμA0.15～0.5053~4340~300.15～0.5040~3030~200.50～3043300.50～303020注：1、在0.15~0.50MHz頻率范圍內(nèi)，限值隨頻率的對數(shù)呈線性減少；

2、對B級設(shè)備，對于該頻段內(nèi)具備有效譜密度的快速業(yè)務(wù)目前暫定允許在6MHz~30MHz頻段內(nèi)放寬限值10dB，但僅限于通過電纜由有用信號轉(zhuǎn)換成的共模騷擾。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)12/2731.4.2.2輻射騷擾限值輻射騷擾限值見表4所示。表4：輻射騷擾限值A(chǔ)級ITE限額值B級ITE限額值測量距離10m測量距離10m頻率MHz準(zhǔn)峰值dB(μV/m)頻率MHz準(zhǔn)峰值dB(μV/m)30~2304030~23030230~100047230~100037換算為3m距離換算為3m距離頻率MHz準(zhǔn)峰值dB(μV/m)頻率MHz準(zhǔn)峰值dB(μV/m)30~2305030~23040230~100057230~100047注：在過渡頻率處采用較低的限值。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)13/2731.4.2.3騷擾限值說明a）對于電源端子騷擾電壓的測量應(yīng)同時滿足平均值限值和準(zhǔn)峰值限值要求，如果準(zhǔn)峰值測量值滿足平均值限值要求，則認(rèn)為EUT同時滿足準(zhǔn)峰值限值和平均值限值要求，平均值不再測量。b）對于電信端口的傳導(dǎo)共模（非對稱）騷擾的測量應(yīng)滿足電壓限值或電流限值要求，若按照標(biāo)準(zhǔn)附錄C1.3所述方法測量，則應(yīng)同時滿足電壓限值和電流限值要求。c）對于輻射騷擾場強的測量，標(biāo)準(zhǔn)所給出的是在10m距離測量時的限值，實際測量時我們大多在3m半電波暗室或3m開闊測試場進行，相應(yīng)的測量值比10m距離測量值大10dB,我們須將10m距離測量時的限值轉(zhuǎn)換為3m距離測量時的限值再與實際測量值相比較進行判別。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)14/2731.4.2.4對批量產(chǎn)品的統(tǒng)計評估1.4.2.4.1標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的限值的含義：在統(tǒng)計基礎(chǔ)上大量生產(chǎn)的設(shè)備至少有80%符合限值的要求，置信度不小于80%。1.4.2.4.2干擾特性符合限值的統(tǒng)計方法一次抽樣不能少于5個（特殊情況允許3個），試驗后根據(jù)下式判定批量產(chǎn)品是否合格。式中：－以對數(shù)表示的實測產(chǎn)品的算術(shù)平均值

Sn－以對數(shù)表示的平均方差

k－由非中心t分布表給出的系數(shù)，參見標(biāo)準(zhǔn)

L－以對數(shù)表示的標(biāo)準(zhǔn)限值

n－樣品數(shù)

xi－以對數(shù)表示的單個樣品的實測值2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)15/2731.5EUT配置及實驗布置1.5.1EUT配置1.5.1.1EUT一般配置：除非另有規(guī)定，EUT的配置、安裝、布置、和運行應(yīng)與典型應(yīng)用情況一致。應(yīng)將接口電纜、負(fù)載、或裝置與EUT中的每一種類型的接口端口中的至少一個端口相連。如果可能，應(yīng)按設(shè)備實際應(yīng)用中的典型情況端接每一根電纜。1.5.1.2接口的設(shè)置：如果存在同一類型多個接口，依據(jù)試驗試結(jié)果，可能有必要對EUT添加互連電纜、負(fù)載、或裝置。應(yīng)保證電纜增加應(yīng)以結(jié)果不會使預(yù)試驗中相應(yīng)于限值的余量有明顯下降為限。有關(guān)端口配置和負(fù)載選擇，其理由應(yīng)在試驗報告中注明。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)16/2731.5.1.3電纜的設(shè)置：互連電纜應(yīng)符合具體設(shè)備要求中所規(guī)定的型號和長度。如果規(guī)定長度可變，則選擇用會產(chǎn)生最大發(fā)射的長度。1.5.1.4屏蔽電纜的設(shè)置：如果在測試中使用了屏蔽的或特殊的電纜以滿足限值要求，則應(yīng)在使用說明書中注明建議使用這種電纜。1.5.1.5電纜的長度：電纜的多余部分應(yīng)在其中央處將它捆扎成0.3m~0.4m長的線束。如果不能這樣做，則在試驗報告中詳細(xì)說明電纜多余長度的布置情況。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)17/2731.5.1.6端口的電纜配置：如果設(shè)備有多個同類型接口，只要證明添加電纜不會明顯影響測試結(jié)果，就可僅將一根電纜接到該類型端口的某一個上。1.5.1.7記錄、報告中的電纜說明：任何一組測試結(jié)果都必須附有關(guān)于電纜和設(shè)備方位的完整說明，以便測試結(jié)果具有重現(xiàn)性。如果為滿足限值要求須特定的使用條件的，如：電纜長度、電纜類型、屏蔽和接地，則這些條件必須在提供給用戶的說明書中注明。1.5.1.8模塊設(shè)置：對于通常帶有多個模塊的設(shè)備應(yīng)按典型應(yīng)用中的模塊數(shù)目和組合情況進行試驗。選擇模塊的數(shù)量和類型的理由應(yīng)在試驗報告中注明。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)18/2731.5.1.9多單元系統(tǒng)：由數(shù)個獨立單元組成的系統(tǒng)應(yīng)按最小的、有代表性的配置來組合。選擇單元的理由應(yīng)在試驗報告中注明。1.5.1.10個人計算機或計算機外設(shè)最小配置舉例：a）個人計算機b）鍵盤c）視頻顯示單元d）兩種不同類型（如：并行、串行等）的現(xiàn)有I/O協(xié)議用的外接外圍設(shè)備。e）如果EUT有供特定裝置（如鼠標(biāo)或游戲棒）用的專用端口，那么與該端口相連的裝置應(yīng)視為最小裝置的一部分。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)19/2731.5.1.11最大發(fā)射配置的確定：在預(yù)試驗中尋找對應(yīng)限值的最大騷擾的頻率。此時EUT處于典型的工作狀態(tài)，電纜按常規(guī)擺放，試驗按典型的系統(tǒng)配置。通過考查，鑒別出最高的騷擾頻率，以確保所找到的頻率為可能的最大騷擾頻率，并確認(rèn)此時的相關(guān)的電纜、EUT的配置及其工作狀態(tài)。1.5.1.12EUT與接地平板的布置落地設(shè)備應(yīng)放在接地平板上，或放在靠近接地平板的絕緣地板（如木制地板）上，便攜式設(shè)備應(yīng)放在非金屬桌子上。電源線和信號線相對于接地平板走線應(yīng)等效于實際應(yīng)用的情況。接地平板可以是金屬的。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)20/2731.5.2EUT的工作狀態(tài)1.5.2.1EUT負(fù)載設(shè)置：EUT應(yīng)按設(shè)計要求在額定（標(biāo)稱）工作電壓和典型的負(fù)載條件（機械性能或電性能）下運行，只要可能，應(yīng)使用實際負(fù)載，如果使用模擬負(fù)載，該負(fù)載應(yīng)在射頻和功能特性方面代表實際的負(fù)載。1.5.2.2EUT運行設(shè)置：運行設(shè)備的試驗程序或其他方法應(yīng)確保系統(tǒng)的各個組成部分運行，以便能夠檢測到系統(tǒng)的所有騷擾。1.5.2.3傳真機的工作狀態(tài)應(yīng)在空閑狀態(tài)發(fā)送和接收的工作方式下對傳真機進行測試，傳真時，應(yīng)使用符合ITU-T規(guī)定的傳真接收機試驗圖，EUT應(yīng)處于最清晰的圖形方式。1.5.2.4電話機的工作狀態(tài)對于具有用數(shù)字信號傳送聲音信息能力的電話機，應(yīng)在如下工作狀態(tài)下進行試驗，電話機處于空閑狀態(tài)傳送和接收，按ITU-T規(guī)定的電話測量術(shù)，接收條件為標(biāo)準(zhǔn)講話內(nèi)容。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)21/2731.5.2.5視頻顯示單元的工作狀態(tài)如果EUT包含有視頻顯示單元或監(jiān)視器，應(yīng)按以下原則設(shè)置工作狀態(tài)：－將對比度控制旋鈕調(diào)節(jié)到最大位置；－將亮度控制旋鈕調(diào)節(jié)到最大位置，或放置在光柵剛好消失，但尚未達到最大亮度的位置上；－對于彩色監(jiān)視器，用黑底白字代替所有彩色圖案；－如果正顯、反顯是可變的，則選擇較差的一種；－設(shè)置字符的尺寸和每行的字符數(shù)，使其為典型應(yīng)用中每屏顯示最多的字符；－對于具有圖形顯示能力的監(jiān)視器，應(yīng)顯示滿屏“H”的滾動圖案；對于只具有文本顯示能力的監(jiān)視器，應(yīng)顯示隨機字符組成的圖案。如果上述兩種情況均不適用，那么應(yīng)選擇一種典型的顯示狀態(tài)。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)22/2731.6傳導(dǎo)騷擾測量方法1.6.1電源端口和電信端口的傳導(dǎo)騷擾測量要求1.6.1.1傳導(dǎo)測量的一般要求：傳導(dǎo)測量在屏蔽室內(nèi)進行,測量頻率范圍0.15~30MHz。1.6.1.1.1臺式設(shè)備傳導(dǎo)測量試驗配置：見下所示。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)23/273試驗配置：臺式設(shè)備（傳導(dǎo)測量）2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)24/2731.6.1.1.2臺式設(shè)備傳導(dǎo)測量可替換的試驗配置：試驗配置見下圖所示，俯視圖見下頁所示。

2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)25/273可替換的試驗配置：臺式設(shè)備（傳導(dǎo)測量）俯視圖2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)26/2731.6.1.1.3臺式設(shè)備在輻射試驗場地的傳導(dǎo)測量試驗配置2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)27/2731.6.1.1.4落地式設(shè)備傳導(dǎo)測量試驗配置：2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)28/2731.6.1.1.5落地式和臺式組合設(shè)備系統(tǒng)傳導(dǎo)測量試驗配置：2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)29/2731.6.1.2測量接收機的檢波方式測量時交替使用EMI接收機的準(zhǔn)峰值檢波器和平均值檢波器。為了節(jié)省時間，可用峰值測量接收機代替準(zhǔn)峰值和平均值測量接收機進行測量，但在出現(xiàn)爭議時，準(zhǔn)峰值測量要用準(zhǔn)峰值測量接收機，平均值測量要用平均值測量接收機。1.6.1.3測量記錄對于組成EUT的每一個電源端子和電信端口，當(dāng)測量值超過（L-20dB）（L為對數(shù)單位表示的限值電平）電平時，應(yīng)至少記錄其中6個最大的騷擾電平及其對應(yīng)的頻率。對于電源端子，應(yīng)分別記錄每一根載流線上的測量值。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)30/2731.6.2電源端子的傳導(dǎo)騷擾電壓測量1.6.2.1人工電源網(wǎng)絡(luò)（AMN）：使用GB/T6113.1-1995第二篇第10.3條規(guī)定的50Ω/50μH人工電源網(wǎng)絡(luò)。由電網(wǎng)供電的EUT通過人工電源網(wǎng)絡(luò)供電，并從人工電源網(wǎng)絡(luò)獲得EUT電源端子騷擾電壓。EUT與人工電源網(wǎng)絡(luò)相連，EUT擺放邊框與人工電源網(wǎng)絡(luò)相鄰表面間距為0.8m。1.6.2.2EUT電源線：由制造廠提供軟性電源線的設(shè)備，其電源線的長度應(yīng)為1m。若實際長度超過1m，則將超過部分來回折疊成0.3m~0.4m的線束。若受試系統(tǒng)由幾個單元組成，且每個單元都有自身電源線，則在與人工電源網(wǎng)絡(luò)連接時，按照下列要求：2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)31/273a）端接到標(biāo)準(zhǔn)電源插座上的每根電源線都應(yīng)分別測試。b）制造方來指定要通過一個宿主單元進行連接的電源線或端子均應(yīng)分別測試。c）制造方指定要通過一個宿主單元或其他電源供電設(shè)備進行連接的電源線或現(xiàn)場接線端子應(yīng)按規(guī)定連接。該宿主單元或其他電源供電設(shè)備的端子或電源線則要接到人工電源網(wǎng)絡(luò)并進行測試。d）當(dāng)規(guī)定有其他特殊的連接時，制造方應(yīng)提供用于這一測試的必要的連接附件。e）當(dāng)測試帶有多個電源線的設(shè)備時，不測的那些電源線可以連接到具有多個插座的電源板上，然后再連接到另外的人工電源網(wǎng)絡(luò)（AMN）上。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)32/2731.6.2.3接地平板臺式EUT應(yīng)放在離大小為2m×2m的垂直參考接地平板0.4m遠處，并與其他不屬于該EUT的金屬面或接地平板保持0.8m距離。在屏蔽室內(nèi)，則0.4m的距離可以是距屏蔽室任一側(cè)壁的距離。在開闊場，0.4m指距水平金屬接地平板的距離。落地式EUT應(yīng)放在水平金屬接地板上。接觸點與正常使用情況一致，但不得與接地平板形成金屬接觸，參考接地平板至少比EUT邊框大0.5m，且最小尺寸為2m×2m。應(yīng)用一盡可能短的導(dǎo)電體將AMN和阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡(luò)（ISN）的參考接地連接到參考接地平板上。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)33/2731.6.2.4EUT布置分別按圖1~圖5中相應(yīng)于臺式設(shè)備、落地式設(shè)備與落地式和臺式組合型的設(shè)備的布置要求布置EUT。臺式EUT應(yīng)放置在非金屬桌面上，桌子的高度為0.8m，其下有一塊水平金屬接地平板。臺式EUT離垂直接地平板40cm，該垂直接地平板與水平接地平板相連或者離水平接地平板40cm（見圖4）。如果EUT按后者進行布置（在水平接地平板之上40cm），那么應(yīng)在試驗報告中注明。被設(shè)計成臺式或落地式的兩用設(shè)備應(yīng)按臺式設(shè)備的配置來進行試驗，除非典型安裝為地面放置，且采用那種配置時。那種設(shè)計在墻壁上使用的設(shè)備應(yīng)按臺式設(shè)備進行試驗。設(shè)備的朝向應(yīng)與正常工作時的情況相一致（即正常安裝位置）。通過電源線、將電源端口與AMN相連。通過信號電纜，將電信端口與ISN相連。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)34/2731.6.3電信端口的騷擾測量電信端口的傳導(dǎo)騷擾目前還未完全開展實施，此處不作詳細(xì)介紹。其測試要求參見標(biāo)準(zhǔn)相關(guān)部分。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)35/2731.7輻射騷擾測量方法1.7.1一般要求在30MHz~1000MHz頻率范圍內(nèi)，用帶有準(zhǔn)峰值檢波器的測量接收機進行測量。為節(jié)省試驗時間，可用峰值測量代替準(zhǔn)峰值測量，但在出現(xiàn)爭議時，則以準(zhǔn)峰值測接收機測量結(jié)果為準(zhǔn)。1.7.2測量天線1.7.2.1天線選擇標(biāo)準(zhǔn)要求天線應(yīng)為一對稱偶極子天線，當(dāng)頻率大于等于80MHz時，天線長度為諧振長度，當(dāng)頻率低于80MHz時，天線長度等于80MHz時的諧振長度。當(dāng)測量結(jié)果的以可以接受的精度與對稱偶極子天線的測量結(jié)果換算時，可用其他天線。實際測量時：當(dāng)頻率在30MHz~300MHz頻率范圍內(nèi)，使用雙錐天線；當(dāng)頻率在200MHz~1000MHz頻率范圍內(nèi)，使用對數(shù)周期天線?；蛑苯邮褂妙l率范圍覆蓋30MHz~1000MHz的寬帶天線。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)36/2731.7.2.2天線到EUT距離對于我們使用的寬帶天線，這距離是指從天線的頻率中心點距EUT邊框的水平距離。EUT邊框是指一條反映EUT簡單幾何構(gòu)型的假想直線確定。ITE系統(tǒng)間所有電纜及所有連接的ITE都應(yīng)包括在這一邊框內(nèi)。實際測量時我們是在3m半電波暗室或3m開闊場進行。天線到EUT距離為3m。1.7.2.3天線到地的距離應(yīng)在地面高度1m~4m的范圍內(nèi)調(diào)整天線高度，以便在每一測試頻率點獲得最大指示值。1.7.2.4天線相對EUT的方位在測量過程中保證EUT與天線相對距離不變的前提下改變EUT相對天線的方位，以尋找最大場強值，可通過旋轉(zhuǎn)EUT實現(xiàn)。1.7.2.5天線相對EUT的極化方向測量過程中，為尋找最大場強讀數(shù)，應(yīng)改變天線相對于EUT的水平和垂直極化方向。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)37/2731.7.3試驗場地1.7.3.1試驗場地要求場地應(yīng)為開闊場或半電波暗室，在30MHz~1000MHz頻率范圍內(nèi)，通過水平極化和垂直極化方向的場地衰減測量來校驗場地有效性。1.7.3.2導(dǎo)電接地平板導(dǎo)電接地平板應(yīng)超出EUT和測量天線的邊界1m并覆蓋EUT與天線之間的區(qū)域。接地平板上不應(yīng)有尺寸大于最高測量頻率所對應(yīng)的波長的1/10的孔洞和縫隙。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)38/2731.7.3.3可替換試驗場地可使用其他試驗場地，但應(yīng)證明這樣的替換場地不致使測量數(shù)據(jù)失效。半電波暗室是開闊場的一個可替換試驗場地。對輻射騷擾場強而言，由于半電波暗室是開闊場的一個可替換試驗場地，輻射騷擾場強的測試可以在半電波暗室進行，其數(shù)據(jù)是有效的，但當(dāng)客戶對測量結(jié)果有爭議是，最終測量結(jié)果以開闊場測量結(jié)果為準(zhǔn)。一般而言，在目前的復(fù)雜電磁環(huán)境下，要想得到一個完全滿足測量要求的開闊場（測量場地背景噪聲小標(biāo)準(zhǔn)限值6dB）是非常困難的。因此，一般比較可行的方法是，在半電波暗室進行預(yù)測試，當(dāng)對測量結(jié)果有爭議時，對測量結(jié)果臨界或超過限值的頻率點在（不能完全滿足標(biāo)準(zhǔn)要求的）開闊場進行點頻測試，當(dāng)開闊場在這些頻率點的背景噪聲滿足標(biāo)準(zhǔn)要求時，可以驗證這些頻率點是否滿足要求，當(dāng)開闊場在這些頻率點的背景噪聲不滿足標(biāo)準(zhǔn)要求時，不可以用該開闊場來進行驗證。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)39/2731.7.4EUT的布置1.7.4.1臺式設(shè)備輻射騷擾場強試驗配置2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)40/2731.7.4.2落地式設(shè)備輻射測量試驗配置：

2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)41/2731.7.4.3落地式和臺式組合設(shè)備輻射測量試驗配置：

2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)42/2731.7.4.4落地式設(shè)備架空電纜測量試驗配置：試驗配置：落地式設(shè)備（架空電纜，側(cè)視圖）2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)43/273試驗布圖：落地式設(shè)備（架空電纜，俯視圖）2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)44/2731.7.4.5輻射騷擾場強測試試驗布置一般要求：臺式EUT放置在輻射場強試驗場地中非金屬的桌面上，桌子高度為0.8m，其下放置金屬接地平板。落地式EUT應(yīng)放在水平金屬接地板上，接觸點與正常使用情況一致，如有金屬接觸，其整體于接地平板之間需有12mm的絕緣距離。臺式和落地式兩用設(shè)備，應(yīng)按臺式配置進行試驗。被設(shè)計成安置在墻壁上使用的設(shè)備應(yīng)按臺式EUT進行試驗。設(shè)備的朝向應(yīng)與正常的朝向一致。對臺式、落地式和臺式與落地式組合的設(shè)備EUT的布置應(yīng)按圖14~圖16要求進行，對帶有架空電纜的落地式設(shè)備的布置應(yīng)按圖17~圖18要求進行。1.7.5測量記錄對于超過（L-20dB）(L為對數(shù)單位表示的限值電平)騷擾電平，應(yīng)至少記錄其中6個最大的騷擾電平及其對應(yīng)的頻率。對于電源端子，應(yīng)分別記錄每一根載流線上的測量值。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)45/2731.7.6大的環(huán)境信號存在時的測量在開闊場測量時，有可能在某些頻率段無法測量EUT的輻射發(fā)射，可用下列方式判斷EUT是否合格：a)在近距離進行測量，并用下式確定限值L2與近距離d2的對應(yīng)關(guān)系:L2=L1(d1/d2)式中：L1—距離d1處規(guī)定的限值（μV/m）；L2--距離d2時的新的限值。b)當(dāng)在環(huán)境噪聲的測量值超過（限值-6dB）的頻帶內(nèi)進行測量時，EUT的騷擾值可以從與其相鄰的騷擾值內(nèi)插得到，內(nèi)插值應(yīng)在一條曲線上，該曲線描述該騷擾值相對于環(huán)境噪聲的連續(xù)函數(shù)關(guān)系。c)還可以使用GB4824-1996的附錄C中規(guī)定的測量方法。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)46/2731.7.7用戶安裝現(xiàn)場測量某些情況下，當(dāng)需要在用戶的安裝現(xiàn)場對A級ITE進行測量時，這些測量最好在用戶安裝場地的邊界處進行。如果用戶場地的邊界離EUT的距離小于10m,則測量應(yīng)在離EUT10m遠處進行。由于場地特性會影響測量結(jié)果，所以合格檢定這種形式只對安裝現(xiàn)場有效。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)47/2732．GB/T17618-1998IdtCISPR24:1997（EN55024）《信息技術(shù)設(shè)備抗擾度限值和測量方法》2.1適用范圍2.1.1適用于所有信息技術(shù)設(shè)備。信息技術(shù)設(shè)備是滿足條件a）和條件b）的任何設(shè)備：a）能對數(shù)據(jù)和電信消息進行錄入、存儲、顯示、檢索、傳遞、處理、交換或控制（或幾種功能的組合），該設(shè)備可以配置一個或多個通常用于信息傳遞的終端端口；b）額定電壓不超過600V。信息技術(shù)設(shè)備可包括數(shù)據(jù)處理設(shè)備、辦公設(shè)備、電子商用設(shè)備、電信設(shè)備等。2.1.2適用頻率范圍：0Hz~400GHz由于測試和性能評估的考慮，一些試驗在規(guī)定的頻段或選頻情況下進行。在這些頻率點上滿足抗擾度要求的設(shè)備被認(rèn)為在0Hz~400GHz全頻段范圍內(nèi)也滿足要求。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)48/2732.2測試部位：測試部位包括：機箱端口、DC電源端口、AC電源端口、接地端口、信號端口、電信端口等。

2.3測試條件

2.3.1環(huán)境條件試驗時要求的一般環(huán)境條件為：溫度：15~35℃濕度：25~75%RH氣壓：86~106kPa其中，靜電放電抗擾度測試對環(huán)境濕度有特殊要求：30~60%RH2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)49/2732.3.2測量儀器、設(shè)備及場地靜電放電測試儀EFT測試儀EMS測試系統(tǒng)磁場敏感度測試線圈寬帶天線射頻功率放大器射頻場強監(jiān)視系統(tǒng)RF信號發(fā)生器傳導(dǎo)抗擾度測試系統(tǒng)浪涌脈沖發(fā)生器浪涌脈沖耦合網(wǎng)絡(luò)綜合浪涌波網(wǎng)絡(luò)CCITT浪涌波網(wǎng)絡(luò)半電波暗室/開闊場全電波暗室抗擾度測量室其他測試需要的特殊輔助設(shè)備：略2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)50/2732.4測試項目測試項目包括：靜電放電抗擾度、電快速瞬變脈沖群抗擾度、連續(xù)波輻射騷擾抗擾度、連續(xù)波傳導(dǎo)騷擾抗擾度、工頻磁場抗擾度、浪涌（沖擊）抗擾度、（電源）電壓暫降和短時中斷抗擾度等。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)51/2732.5試驗一般要求按設(shè)備的每個端口提出具體的抗擾度試驗要求。試驗以明確的、可再現(xiàn)的方式進行。試驗應(yīng)按順序逐項進行，試驗順序可以是任意的。但一般按照容易造成設(shè)備損壞的難易程度選擇順序。一般來說：連續(xù)波輻射騷擾抗擾度、連續(xù)波傳導(dǎo)騷擾抗擾度、工頻磁場抗擾度放在開始測試；（電源）電壓暫降和短時中斷抗擾度、電快速瞬變脈沖群抗擾度放在中間測試；靜電放電抗擾度、浪涌（沖擊）抗擾度一般放在最后進行測試。試驗的描述、試驗發(fā)生器、試驗方法和試驗布置在EMC基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)中給出，這些標(biāo)準(zhǔn)會在GB/T17618-1998標(biāo)準(zhǔn)的各表中被引用。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)52/2732.6靜電放電靜電放電的起因有多種，但GB/T17618-1998標(biāo)準(zhǔn)該項目主要描述在低濕度情況下，通過摩擦等因素，使操作者積累了靜電。電子和電氣設(shè)備遭受直接來自操作者的靜電放電和對臨近物體的靜電放電時的抗擾度要求和試驗方法。

2.6.1試驗方法：試驗方法在GB/T17626.2中詳細(xì)規(guī)定，根據(jù)信息技術(shù)設(shè)備的特點作如下修改：靜電放電僅對設(shè)備在正常使用期間可能被觸及到的點或面施加，包括在用戶手冊中規(guī)定的用戶可能觸及的部位。這兒規(guī)定的靜電放電試驗不適用于處于斷開狀態(tài)下連接器的觸點。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)53/2732.6.2放電方式：應(yīng)通過兩種方式進行放電：2.6.2.1對導(dǎo)體表面和耦合板進行接觸放電EUT應(yīng)承受至少200次靜電放電，其中正、負(fù)極性各100次，這些放電至少在EUT的四個點上進行，每點至少50次。其中一個點應(yīng)承受水平耦合板前邊緣中心至少50次間接接觸放電，其余三點應(yīng)至少各接受50次直接接觸放電。若無直接直接接觸試驗點，則應(yīng)以間接放電方式對水平耦合板和垂直耦合板至少進行200次放電。試驗的最大重復(fù)率為1次/s。2.6.2.2對孔和縫、絕緣面進行空氣放電當(dāng)對EUT的某些部位無法進行接觸放電試驗時，應(yīng)在使用者容易接觸且易出現(xiàn)故障的點（如：按鍵邊緣的縫隙、鍵盤和電話手柄的縫隙）進行空氣放電試驗。上述工作應(yīng)局限在使用者正常操作時會觸到的區(qū)域。對每個區(qū)域所選擇的試驗點應(yīng)進行至少10次單次空氣放電。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)54/2732.6.3試驗一般要求2.6.3.1試驗部位：設(shè)備在正常使用期間可能被觸及到的點或面。2.6.3.2試驗規(guī)范：①接觸放電：4kV（充電電壓）②空氣放電：8kV（充電電壓）2.6.3.3性能判據(jù)：B級及以上為合格2.6.3.4適用范圍：機箱端口2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)55/2732.6.4ESD的模擬：放電線路中的儲能電容CS代表人體電容，現(xiàn)公認(rèn)150pF比較合適。放電電阻Rd為330Ω，代表手握鑰匙或其他金屬工具的人體電阻?，F(xiàn)已證明，用這種放電狀態(tài)來體現(xiàn)人體放電的模型是足夠嚴(yán)酷的。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)56/2732.6.5靜電放電試驗布置臺式設(shè)備和落地式設(shè)備的試驗布置示意圖2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)57/273現(xiàn)場ESD測試試驗配置2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)58/2732.7電快速瞬變脈沖群2.7.1電快速瞬變脈沖群形成機理及其影響電快速瞬變脈沖群是：由電感性負(fù)載（如繼電器、接觸器等）在斷開時，由于開關(guān)觸點間隙的絕緣擊穿或觸點彈跳等原因，在斷開處產(chǎn)生的暫態(tài)騷擾。當(dāng)電感性負(fù)載多次重復(fù)開關(guān)，則脈沖群又會以相應(yīng)的時間間隙多次重復(fù)出現(xiàn)。這種暫態(tài)騷擾能量較小，一般不會引起設(shè)備的損壞，由于其頻譜分布較寬，會對電子、電氣設(shè)備的可靠工作產(chǎn)生影響。一般認(rèn)為電快速瞬變脈沖群會造成設(shè)備的誤動作的原因：脈沖群對線路中半導(dǎo)體結(jié)電容充電，當(dāng)結(jié)電容上的能量累積到一定程度，便會引起線路乃至設(shè)備的誤動作。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)59/2732.7.2試驗?zāi)康模弘娍焖偎沧兠}沖群試驗是一種將由許多快速瞬變脈沖組成的脈沖群耦合到電氣和電子設(shè)備的電源端口、信號和控制端口的試驗。試驗脈沖的特點是：瞬變的短上升時間、重復(fù)出現(xiàn)和低能量。電快速速變脈沖群試驗的目的：就是為了檢驗電子、電氣設(shè)備在遭受這類暫態(tài)騷擾影響時的性能。

2.7.3試驗方法：試驗方法在GB/T17626.4中詳細(xì)規(guī)定，但其中對現(xiàn)場測量的試驗布置部分不適用于ITE。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)60/2732.7.4特殊規(guī)定：應(yīng)按GB/T17626.4中規(guī)定的試驗程序并結(jié)合下列修改和說明進行試驗：－設(shè)備有多個相同的端口時，僅對其中之一進行試驗。－多芯電纜應(yīng)作為單根電纜進行試驗。本試驗不應(yīng)將電纜分開或分組。－連接到由制造廠規(guī)定的預(yù)期長度不超過3m的數(shù)據(jù)電纜的接口端口不進行此項試驗。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)61/2732.7.5試驗一般要求2.7.5.1試驗部位：交流電源輸入端口、直流電源輸入端口、根據(jù)制造廠規(guī)定的預(yù)期長度超過3m長的電信電纜端口。使受試設(shè)備處于典型工作條件下，根據(jù)受試設(shè)備端口及其組合，依次對各端口施加試驗電壓。每種組合應(yīng)針對不同脈沖極性進行測試，每種狀態(tài)的試驗持續(xù)時間不少于1min。2.7.5.2耦合方式：對交/直流電源端子的選擇耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)來施加快速瞬變脈沖群干擾信號。對I/O信號、數(shù)據(jù)和控制端口選擇快速瞬變脈沖群測試專用的容性耦合夾來施加快速瞬變脈沖群干擾信號。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)62/2732.7.5.3試驗規(guī)范：①電信端口0.5kV(峰值)5/50Tr/Thns5kHz(重復(fù)頻率)②DC電源端口(不包括連同獨立AC/DC電源轉(zhuǎn)換器一起銷售的設(shè)備)0.5kV(峰值)5/50Tr/Thns5kHz(重復(fù)頻率)③AC電源端口(包括連同AC/DC電源轉(zhuǎn)換器一起銷售的設(shè)備)1kV(峰值)5/50Tr/Thns5kHz(重復(fù)頻率)2.7.5.4性能判據(jù)：B級及以上為合格2.7.5.5適用范圍：電信端口、AC電源端口、DC電源端口2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)63/2732.7.6EFT試驗發(fā)生器試驗發(fā)生器電路原理見下圖。試驗發(fā)生器性能的主要指標(biāo)有三個：單個脈沖波形、脈沖的重復(fù)頻率和輸出電壓峰值。試驗發(fā)生器輸出波形應(yīng)如下圖所示。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)64/2732023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)65/2732.7.7EFT試驗耦合方式電源線耦合方式見下圖2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)66/273信號線耦合主要通過下圖的EFT專用耦合夾進行。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)67/2732.7.8EFT試驗布置L=耦合夾與EUT之間的距離，不應(yīng)大于1m；（A）=電源線耦合位置；（B）=信號線耦合位置用于實驗室型式試驗的一般試驗配置2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)68/2732.8連續(xù)波射頻騷擾2.8.1通用要求連續(xù)波射頻騷擾包括連續(xù)波輻射騷擾和連續(xù)波傳導(dǎo)騷擾。輻射場試驗的推薦頻率范圍：80MHz~1000MHz。連續(xù)波傳導(dǎo)試驗的推薦頻率范圍：0.15MHz~80MHz。輻射試驗的起始頻率可低于80MHz，在這種情況下，連續(xù)波傳導(dǎo)試驗（如果適用）僅需進行到這一頻率。按規(guī)定要求在上述頻率范圍內(nèi)進行掃描，然而可能需要在所選擇的有限頻率點進行更綜合更全面的功能試驗。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)69/273進行附加選擇頻率試驗的要求不適用于所有產(chǎn)品（具體要求視產(chǎn)品而定），僅適用于在GB/T17618-1998附錄A中規(guī)定的有這一要求的產(chǎn)品，所選擇的頻率段及相應(yīng)判定在附錄A的表A1~表A4中給出。所選擇的頻率點如下：連續(xù)波輻射騷擾：

80，120，160，230，434，460，600，863，900MHz（

1%）連續(xù)波傳導(dǎo)騷擾：

0.2，1，7.1，13.56，21，27.12，40.68MHz（

1%）在每一頻率的駐留時間不應(yīng)小于使EUT動作并作出響應(yīng)所必須的時間，然而掃描期間在每一頻率上駐留的時間不應(yīng)超過5s。使EUT動作的時間不應(yīng)理解為一個程序或一個周期的總的時間，而應(yīng)理解為與EUT出現(xiàn)故障情況下的反應(yīng)時間有關(guān)。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)70/2732.8.2連續(xù)波輻射騷擾試驗方法見GB/T17626.3，此外，標(biāo)準(zhǔn)根據(jù)信息技術(shù)設(shè)備的特點作如下規(guī)定：試驗時，EUT放置應(yīng)使其四個面按順序暴露在電磁場中，并在每個位置考核EUT的性能。如果在全頻段內(nèi)已知EUT最敏感的面，則可僅對其敏感面進行試驗。在有爭議的情況下，應(yīng)選擇對EUT的四個側(cè)面進行試驗。如果EUT太大，天線不能充分輻照，應(yīng)使用局部輻照方式進行試驗。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)71/273局部輻照應(yīng)按下列方法之一進行：―為使EUT超出天線束的這些部位得到輻照，應(yīng)改變EUT放置位置，以便其朝向輻射天線的面（該面與校準(zhǔn)點和輻射天線之間的軸線垂直）與天線保持其試驗距離；―當(dāng)EUT由一些獨立的模塊組成，這些模塊可分別在天線波束內(nèi)進行試驗。在有爭議的情況下，應(yīng)選擇對EUT全面輻照試驗。試驗時，在頻率范圍內(nèi)以不超過基頻的4%步長進行掃描，并以規(guī)定的試驗電平兩倍的場強值進行試驗。在有爭議的情況下，應(yīng)按規(guī)定的試驗電平，選擇1%步長進行試驗。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)72/2732.8.3連續(xù)波輻射騷擾抗擾度試驗一般要求2.8.3.1測量頻率范圍和測量時間：輻射場試驗推薦的頻率范圍為80MHz~1GHz,輻射試驗的起始頻率可從低于80MHz處開始測試，但不低于26MHz；測量時在上述頻率范圍內(nèi)掃描，需要時在所選擇有限頻率點進行更綜合更全面的功能測試。選擇的頻率點為：

80，120，160，230，434，460，600，863，900MHz（

1%）試驗時，在頻率范圍內(nèi)以不超過基頻的4%步長進行掃描，并以規(guī)定試驗電平兩倍的場強進行試驗。有爭議時，應(yīng)按規(guī)定試驗電平，選擇1%的步長進行試驗。在每一頻率的駐留時間不少于使EUT動作并作出響應(yīng)所必需的時間。然而，掃描期間在每一頻率上駐留時間不應(yīng)超過5s。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)73/2732.8.3.2試驗部位：試驗時，EUT的放置應(yīng)使其四個面按順序暴露在電磁場中，并在每個位置考核EUT的性能。如果在全頻段內(nèi)已知EUT最敏感面，則可以僅對其敏感面進行試驗。2.8.3.3試驗規(guī)范：頻率范圍：≤80MHz~1GHz試驗場強：3V/m（rms未調(diào)制時測量值）調(diào)制幅度：80%AM（1kHz正弦波調(diào)制）2.8.3.4性能判據(jù)：A級合格2.8.3.5適用范圍：機箱端口2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)74/2732.8.3.6注入法選擇2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)75/273不同注入法對信源功率要求2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)76/2732.8.3.7試驗布置測試場地的有效性：全電波暗室場均勻性校驗2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)77/273輻射抗擾度測試試驗布置示意圖2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)78/273臺式設(shè)備RS試驗布置圖2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)79/273落地式設(shè)備RS試驗布置圖2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)80/2732.8.4連續(xù)波傳導(dǎo)騷擾該項試驗程序按GB/T17626.6規(guī)定進行（標(biāo)準(zhǔn)GB/T17618-1998中的4.2.3.1節(jié)規(guī)定的內(nèi)容除外）2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)81/2732.8.5連續(xù)波傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗一般要求2.8.5.1測量頻率范圍和測量時間：連續(xù)波傳導(dǎo)試驗推薦的頻率范圍為0.15MHz~80MHz,若輻射試驗的起始頻率從低于80MHz處開始測試，連續(xù)波傳導(dǎo)試驗(如果適用)僅需進行到這一頻率；測量時在上述頻率范圍內(nèi)掃描，需要時在所選擇有限頻率點進行更綜合更全面的功能測試。選擇的頻率點為：

0.2，1，7.1，13.56，21，27.12，40.68MHz（

1%）試驗時，在頻率范圍內(nèi)以不超過基頻的4%步長進行掃描，并以規(guī)定試驗電平兩倍進行試驗。有爭議時，應(yīng)按規(guī)定試驗電平，選擇1%的步長進行試驗。在每一頻率的駐留時間不少于使EUT動作并作出響應(yīng)所必需的時間。然而掃描期間在每一頻率上駐留時間不應(yīng)超過5s。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)82/2732.8.5.2試驗部位：交流電源輸入端口、直流電源輸入端口、根據(jù)制造廠規(guī)定的預(yù)期長度超過3m長的電信電纜端口。2.8.5.3試驗規(guī)范：頻率范圍：0.15MHz~80MHz試驗場強：3V（rms未調(diào)制時測量值）調(diào)制幅度：80%AM（1kHz正弦波調(diào)制）2.8.5.4性能判據(jù)：A級合格2.8.5.5適用范圍：電信端口、AC電源端口、DC電源端口2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)83/2732.8.5.6連續(xù)波傳導(dǎo)騷擾（CS）試驗布置CS試驗信號發(fā)生器2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)84/2732023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)85/273CS試驗配置框圖2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)86/2732023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)87/2732023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)88/2732.9工頻磁場2.9.1工頻磁場干擾形成機理：當(dāng)設(shè)備遭受與其特定位置和安裝條件（如：設(shè)備靠近騷擾源）相關(guān)的工頻磁場時，本試驗可檢驗設(shè)備的抗擾度。工頻磁場是由導(dǎo)體中的工頻電流產(chǎn)生，或極少量的由附近的其他裝置（如變壓器的漏磁通）所產(chǎn)生。對于鄰近導(dǎo)體的影響，分為兩種不同情況：－正常運條件下的電流，產(chǎn)生穩(wěn)定磁場，幅值較?。唬收蠗l件下的電流，能產(chǎn)生幅值較高、但持續(xù)時間較短的磁場，直到保護裝置動作為止。穩(wěn)定磁場試驗適用于公用或工業(yè)低壓配電網(wǎng)絡(luò)或發(fā)電廠的各種類型電氣設(shè)備。故障情況下短時磁場試驗要求與穩(wěn)定磁場試驗等級不同，其最高等級主要使用于安裝在電力設(shè)備中的設(shè)備。試驗磁場波形為工頻的正弦波形。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)89/2732.9.2試驗方法及特殊規(guī)定：應(yīng)按GB/T17626.8中規(guī)定的試驗程序并結(jié)合下列修改和說明進行試驗。根據(jù)信息技術(shù)設(shè)備的特點作出如下規(guī)定：EUT應(yīng)按滿足其功能要求放置和連接，并放置在磁場線圈的中心（浸沒法）。應(yīng)使用設(shè)備制造廠所提供的電纜，如果設(shè)備本身沒有電纜，可選擇對所涉及信號合適的電纜代替。物理尺寸大的設(shè)備不需要完全放置在磁場中，僅需要將敏感的裝置（例如：CRT監(jiān)視器）放置在磁場中。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)90/2732.9.3試驗一般要求2.9.3.1工頻磁場信號發(fā)生單元2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)91/2732.9.3.2工頻磁場發(fā)射天線2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)92/2732.9.3.3試驗部位及試驗布置：EUT應(yīng)按滿足其功能要求放置和連接，并放置在磁場線圈的中心。應(yīng)使用設(shè)備制造廠所提供的電纜，如果設(shè)備本身沒有電纜，可選擇對所涉及信號合適的電纜代替。物體尺寸大的設(shè)備不需要完全放置在磁場中，僅需要將敏感的裝置放置在磁場中，如果CRT與ITE連成一個系統(tǒng)，則CRT或敏感裝可單獨進行試驗。臺式及落地式設(shè)備試驗布置圖見下頁。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)93/2732023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)94/2732023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)95/2732.9.3.2試驗規(guī)范：磁場頻率：50Hz或60Hz磁場強度：1A/m(rms)2.9.3.3性能判據(jù)：

A級合格

2.9.3.4適用范圍：僅適用于包括有對磁場敏感（例如：CRT、霍爾元件、電動麥克風(fēng)、磁場傳感器等等）的設(shè)備。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)96/2732.10浪涌（沖擊）2.10.1浪涌沖擊形成的機理電磁兼容領(lǐng)域所指的浪涌沖擊一般來源于開關(guān)瞬態(tài)和雷擊瞬態(tài)。

2.10.1.1開關(guān)瞬態(tài)系統(tǒng)開關(guān)瞬態(tài)與以下內(nèi)容有關(guān)：a）主電源系統(tǒng)切換騷擾，例如電容器組的切換；b）配電系統(tǒng)內(nèi)在儀器附近的輕微開關(guān)動作或者負(fù)荷變化；c）與開關(guān)裝置有關(guān)的諧振電路，如晶閘管；d）各種系統(tǒng)故障，例對設(shè)備組接地系統(tǒng)的短路和電弧故障。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)97/2732.10.1.2雷擊瞬態(tài)雷電產(chǎn)生浪涌（沖擊）電壓的主要原理如下：a）直接雷擊于外部電路（戶外），注入的大電流流過接地電阻或外部電路阻抗而產(chǎn)生電壓；b）在建筑物內(nèi)、外導(dǎo)體上產(chǎn)生感應(yīng)電壓和電流的間接雷擊（即云層之間或云層中的雷擊或擊于附近物體的雷擊，這種雷擊產(chǎn)生的磁場）；c）附近直接對地放電地雷電入地電流耦合到設(shè)備組接地系統(tǒng)的公共接地路徑。當(dāng)保護裝置動作時，電壓和電流可能發(fā)生迅速變化，并可能耦合到內(nèi)部電路。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)98/2732.10.2試驗方法：該項試驗程序按GB/T17626.5規(guī)定進行。電源、信號和其他功能電量應(yīng)在其額定的范圍內(nèi)使用，并處于正常的工作狀態(tài)。根據(jù)要進行試驗的EUT的端口類型選擇相應(yīng)的試驗試驗波形發(fā)生器和耦合單元及相應(yīng)的信號源內(nèi)阻。使受試設(shè)備處于典型工作條件下，根據(jù)受試設(shè)備端口及其組合，依次對各端口施加沖擊電壓，。每種組合應(yīng)針對不同脈沖極性進行測試，兩次脈沖間隔時間不少于1min。對電源端子進行浪涌測試時，應(yīng)在交流電壓波形的正、負(fù)峰值和過零點分別施加試驗電壓。對電源線和信號線應(yīng)分別在不同組合的共模和差模狀態(tài)下施加脈沖沖擊。每種組合狀態(tài)至少進行5次脈沖沖擊。若需滿足較高等級的測試要求，也應(yīng)同時進行較低等級的測試。只有兩者同時滿足，我們才認(rèn)為測試通過。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)99/2732.10.3浪涌試驗發(fā)生器及波形a）信號發(fā)生器特性應(yīng)盡可能地模擬開關(guān)瞬態(tài)和雷擊瞬態(tài)現(xiàn)象；b）如果干擾源與受試設(shè)備的端口在同一線路中，例如在電源網(wǎng)絡(luò)中（直接耦合），那么信號發(fā)生器在受試設(shè)備的端口能夠模擬一個低阻抗源；c）如果干擾源與受試設(shè)備的端口不在同一線路中（間接耦合），那么信號發(fā)生器能夠模擬一個高阻抗源。對于不同場合使用的產(chǎn)品及產(chǎn)品的不同端口，由于相應(yīng)的浪涌（沖擊）瞬態(tài)波形各不相同，因此對應(yīng)模擬信號發(fā)生器的參數(shù)也不相同。例如：對交流電源端口，通常采用的是1.2/50μs(8/20μs)組合波信號發(fā)生器；對電信端口，通常采用的是10/700μs的符合CCITT要求的試驗信號發(fā)生器。浪涌（沖擊）發(fā)生器及波形見下頁所示。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)100/2732023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)101/273綜合波浪涌發(fā)生器波電壓/電流形圖2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)102/273CCITT浪涌波發(fā)生器電路原理2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)103/273CCITT浪涌波形2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)104/2732.10.4試驗一般要求2.10.4.1試驗部位及試驗布置：對信號端口和電信端口：僅適用于根據(jù)制造廠規(guī)范可直接與室外電纜連接的那些端口對DC電源端口：僅適用于根據(jù)制造廠規(guī)范可直接與室外電纜連接的那些端口對AC電源端口：全部適用試驗布置圖見下頁2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)105/273用于電源端浪涌（沖擊）試驗配置（差模方式）用于電源端浪涌（沖擊）試驗配置（共模方式）2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)106/2732.10.4.2試驗規(guī)范：①信號端口和電信端口施加電壓：1.5kV（峰值）4kV（峰值）脈沖波形：10/700Tr/Th

s如果端口按要求設(shè)置了第一級保護，則試驗應(yīng)施加4kV浪涌電壓到所設(shè)保護器上，否則，對無保護的端口施加1.5kV的試驗電壓。②DC電源輸入端口（不包括連同a.c./d.c.電源轉(zhuǎn)換器一起銷售的設(shè)備）施加電壓：0.5kV（峰值）脈沖波形：1.2/50（8/20）Tr/Th

s（綜合波）在線到地之間試驗③AC電源輸入端口（包括連同a.c./d.c.電源轉(zhuǎn)換器一起銷售的設(shè)備）施加電壓：線-線1kV線-地2kV脈沖波形：1.2/50（8/20）Tr/Th

s（綜合波）當(dāng)制造廠規(guī)定了保護措施，但在試驗期間無法模擬這些措施時，則施加的試驗電壓應(yīng)降到0.5kV和1kV。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)107/2732.10.4.3性能判據(jù)：B級及以上為合格2.10.4.4適用范圍：信號端口、電信端口、AC電源端口、DC電源端口2.10.5特殊規(guī)定：如果適用，對信號端口和電信端口按TIU-TK20、K21或K22進行試驗。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)108/2732.11電壓暫降和短時中斷2.11.1電壓暫降和短時中斷形成機理電壓暫降、短時中斷是由電網(wǎng)、電力設(shè)施的故障或負(fù)荷突然出現(xiàn)大的變化引起的。在某些情況下會出現(xiàn)兩次或更多次連續(xù)的暫降或中斷。電壓變化是由連接到電網(wǎng)的負(fù)荷連續(xù)變化引起的。這些現(xiàn)象本質(zhì)上是隨機的，其特征可以用偏離額定電壓量及持續(xù)時間來表述。2.11.2試驗方法：該項試驗程序按GB/T17626.11規(guī)定進行。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)109/2732.11.3試驗發(fā)生器由調(diào)壓器和電子開關(guān)構(gòu)成的試驗發(fā)生器2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)110/273由波形發(fā)生器和功放大器構(gòu)成的試驗信號發(fā)生器2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)111/273典型的電壓跌落和短時中斷波形2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)112/2732.11.4試驗一般要求2.11.4.1試驗部位及試驗布置：對AC電源端口：全部適用測試時，試驗電壓波形在0°交叉點發(fā)生變化。2.11.4.2試驗規(guī)范和判定準(zhǔn)則：①電壓暫降>95%降低0.5個周期B級及以上合格30%降低25個周期C級及以上合格②電壓短時中斷>95%降低250個周期C級及以上合格2.11.4.3適用范圍：AC電源端口（包括連同AC/DC電源轉(zhuǎn)換器一起銷售的設(shè)備）2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)113/2732.12適用性應(yīng)根據(jù)GB/T17618-1998標(biāo)準(zhǔn)表1~表4對設(shè)備的相關(guān)端口進行試驗。且應(yīng)只對實際存在的端口進行試驗?？紤]到特定設(shè)備的電性能和用途，某些試驗可能是不合適的因而也是不需要的。在這種情況下，需在試驗報告中記錄對某些特定端口不需做某些特定試驗的決定及其正當(dāng)理由。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)114/2732.13試驗時EUT狀態(tài)2.13.1一般狀態(tài)試驗應(yīng)按與典型應(yīng)用情況相符合的、最有代表性的方式，并在全部主要功能都運行的情況下進行。試驗樣品應(yīng)按實際典型安裝方式進行配置。如果設(shè)備是系統(tǒng)的一部分，或可能被連接到輔助設(shè)備，則設(shè)備應(yīng)按與GB9254中描述的相類似方式連接必須的輔助設(shè)備，以有代表性的最小配置進行試驗。試驗期間的配置和運行方式應(yīng)在報告中準(zhǔn)確注明，當(dāng)對設(shè)備的每一功能都進行試驗不可能時，應(yīng)選擇最嚴(yán)酷的運行方式進行試驗。如果設(shè)備配有較多終端或帶有較多類似的連接端口，應(yīng)選擇足夠數(shù)量的端口或終端以模擬實際工作狀態(tài)并確保所有不同類型的終端都已包括在內(nèi)。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)115/273試驗期間，螺旋電纜不應(yīng)有意伸展。對這種電纜，電纜的長度是指不伸展?fàn)顟B(tài)的長度。試驗設(shè)備或連接到EUT的輔助設(shè)備對試驗結(jié)果不應(yīng)有任何影響。如果按制造廠規(guī)范要求并在使用手冊中明確規(guī)定使用外部保護裝置或保護措施時，那么在采用了外部保護裝置或保護措施的情況下這些試驗要求才適用。試驗期間，環(huán)境條件和供電電壓應(yīng)保持在產(chǎn)品說明書中規(guī)定的工作范圍內(nèi)，除非在基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)中另有說明。如果提供了獨立于供電電源電纜的接地端子，則對所有其他端口進行試驗時，該接地端子應(yīng)根據(jù)制造廠的規(guī)范進行連接。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)116/2732.13.2特定工作狀態(tài)（EUT工作方式等等）在GB/T17618-1998附錄中規(guī)定的特定工作狀態(tài)優(yōu)先于一般狀態(tài)的相應(yīng)部分。若標(biāo)準(zhǔn)未給出特定功能錯的特定工作狀態(tài)，則應(yīng)按照標(biāo)準(zhǔn)中一般工作狀態(tài)進行測試。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)117/2732.14性能判據(jù)制造廠有責(zé)任對其產(chǎn)品根據(jù)預(yù)期性能給出其性能判據(jù)。當(dāng)執(zhí)行相關(guān)功能時，下列性能判據(jù)是適用的，并用作評定。2.14.1一般性能判據(jù)由工廠規(guī)定并在試驗期間評定的一些功能舉例：―基本工作方式和狀態(tài)；―所有外部設(shè)備（硬盤、軟盤、打印機、鍵盤、鼠標(biāo)器等）的訪問測試；―軟件執(zhí)行質(zhì)量；―數(shù)據(jù)顯示和傳輸質(zhì)量；―語音傳輸質(zhì)量。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)118/2732.14.1.1性能判據(jù)A無需操作人員介入，設(shè)備應(yīng)按預(yù)期持續(xù)工作。當(dāng)按預(yù)期使用設(shè)備時，不允許出現(xiàn)低于制造廠規(guī)定的性能等級的性能降級或功能損失。可以用允許的性能降低來代替性能等級。如果制造廠不規(guī)定最低性能等級和允許的性能降級，則可以從產(chǎn)品說明書或技術(shù)文件中得知，并且用戶有理由要求所使用的設(shè)備達到此規(guī)定。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)119/2732.14.1.2性能判據(jù)B試驗開始之后，無需操作人員介入，設(shè)備應(yīng)能繼續(xù)按預(yù)期工作。當(dāng)按預(yù)期使用設(shè)備時，在施加騷擾之后，不允許出現(xiàn)低于制造廠規(guī)定的性能等級的性能降級或功能損失?？梢杂迷试S的性能降低來代理性能等級。在試驗期間，性能降級是允許的，然而在試驗之后，工作狀態(tài)不應(yīng)改變，儲存的數(shù)據(jù)不應(yīng)丟失。如果制造廠不規(guī)定最低性能等級和允許的性能降級，則可以從產(chǎn)品說明書或技術(shù)文件中得知，并且用戶有理由要求所使用的設(shè)備達到此規(guī)定。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)120/2732.14.1.3性能判據(jù)C允許出現(xiàn)可自行恢復(fù)或能由使用者根據(jù)制造廠說明操作之后使其恢復(fù)的功能損失。存儲在非易失性存儲器內(nèi)的或由備用電池保護的功能和（或）信息不應(yīng)丟失。2.14.2特定性能判據(jù)在GB/T17618-1998附錄中規(guī)定的特定性能判據(jù)優(yōu)先于一般性能判據(jù)的相應(yīng)部分。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)121/2733．GB17625.1-2003idtIEC61000-3-2:2001（EN61000-3-2）《電磁兼容限值諧波電流發(fā)射限值（設(shè)備每相輸入電流≤16A）》

3.1標(biāo)準(zhǔn)背景

GB17625.1-2003是眾多電子電器產(chǎn)品認(rèn)證檢驗的一個重要依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)。等同采用IEC61000-3-2:2001第2.1版。該標(biāo)準(zhǔn)于2003年2月9日發(fā)布，并于2003年5月1日正式實施。取代GB17625.1-1998。與舊版相比，新版對電子產(chǎn)品的諧波電流發(fā)射限值有所放松。這主要體現(xiàn)在：1）對D類產(chǎn)品的界定上。一般地說，D類產(chǎn)品的諧波電流發(fā)射限值是比較嚴(yán)格的，但新標(biāo)準(zhǔn)只將個人計算機、顯示器和電視接收機定義為D類設(shè)備；2）對20次以上奇次高階單次諧波電流限值的放松（但總諧波含量不超過限值）。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)122/2733.2基本概念對于由交流市電供電的電子、電氣產(chǎn)品，諧波電流是一個很重要的電磁兼容測量項目。在低壓市電網(wǎng)絡(luò)使用的電子電氣設(shè)備，其供電電壓是正弦波，但其電流波形未必是正弦波，可能有或多或少的畸變。大量的此類設(shè)備應(yīng)用，會造成電網(wǎng)電壓波形畸變，使電網(wǎng)電能質(zhì)量下降。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)123/2732023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)124/273

一個周期函數(shù)可以分解為傅立葉級數(shù)，表示為多級正弦函數(shù)的和式。即可把周期信號當(dāng)作是正弦函數(shù)的基波與高次諧波的合成。所以，我們可以將設(shè)備的畸變電流波形分解為基波和高次諧波。通過特定的儀器測量高次諧波含量，就可以分析出設(shè)備電流波形畸變的程度。這些高次諧波電流分量我們簡稱為諧波電流。

GB17625.1考慮到第40次諧波電流含量。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)125/2732023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)126/2733.3諧波的危害大量的非線性設(shè)備應(yīng)用，會造成電網(wǎng)電壓波形畸變，使電網(wǎng)電能質(zhì)量下降。當(dāng)電網(wǎng)中存在過量的諧波電流，不僅會使發(fā)電機的效率降低，嚴(yán)重時還會造成發(fā)電機和電網(wǎng)設(shè)備的損壞，同時還會影響電網(wǎng)用戶設(shè)備的正常工作，比如計算機運算出錯，電視機畫面翻滾。正是出于保護共用電網(wǎng)電能質(zhì)量，保障電網(wǎng)和用戶設(shè)備的正常進行，IEC提出了諧波電流限值標(biāo)準(zhǔn)。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)127/2733.4標(biāo)準(zhǔn)的適用范圍及新舊標(biāo)準(zhǔn)變化該標(biāo)準(zhǔn)只對接入頻率為50Hz/60Hz、相電壓為220V/230V/240V的低壓供電系統(tǒng)且每相輸入電流不大于16A的設(shè)備提出諧波電流限值要求。該標(biāo)準(zhǔn)是一個通用電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)。一般地說，適合于本標(biāo)準(zhǔn)的產(chǎn)品類別較多，如家用電器、電動工具、電氣照明設(shè)備、信息技術(shù)設(shè)備、影音設(shè)備等等。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)128/273新舊標(biāo)準(zhǔn)變化情況：—修改了標(biāo)準(zhǔn)的名稱，采用IEC61000-3-2標(biāo)準(zhǔn)的名稱；—增加了非專用電弧焊設(shè)備；—增加了總諧波電流、待機模式等術(shù)語的定義,刪除了相位控制等術(shù)語的定義；—刪除了設(shè)備分類流程圖和判定D類設(shè)備的“特殊波形”，明確規(guī)定了D類設(shè)備的類型；—修改了諧波電流測量的條款；—增加了確定設(shè)備適用性的流程圖；—增加了有功輸入功率不大于25W的放電燈諧波電流限值；—修改了附錄B“對測量設(shè)備的要求”；—修改了電視接收機的試驗條件；—增加了空調(diào)器和非專用電弧焊等設(shè)備的試驗條件。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)129/2733.5設(shè)備的分類

分類是按照諧波電流限值不同而進行的。

A類：平衡的三相設(shè)備;

家用電器，不包括列入D類的設(shè)備；工具，不包括便攜式工具；白熾燈調(diào)光器；音頻設(shè)備；以及除以下幾類設(shè)備外的所有其他設(shè)備

B類：便攜式工具；不屬于專用設(shè)備的電弧焊設(shè)備

C類：照明設(shè)備

D類：有功功率不大于600W下列設(shè)備：個人計算機和個人計算機顯示器；電視接收機。

B類、C類和D類設(shè)備定義比較簡單，A類的區(qū)分比較復(fù)雜。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)130/2733.6通用要求3.6.1

控制方法的要求

一般不允許對設(shè)備采用非對稱相位控制方法，也不允許直接對供電源進行半波整流。例外允許的情況是：1）它們是檢測不安全狀況的唯一可用的方法；2）被控制的有功功率≤100W；3）被控制的設(shè)備由雙芯軟電纜供電且只短時使用，如幾分鐘。如滿足上述三個條件中的一個，半波整流可用于任何用途，而非對稱控制僅適用于電動機的控制。這類設(shè)備包括電吹風(fēng)、廚房電器和便攜式工具，但并不限于此。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)131/273

容易在輸入電流中產(chǎn)生低次（n≤40）諧波的對稱控制法，只要是完全的正弦波電源，輸入功率不大于200W，或未超過標(biāo)準(zhǔn)表3的限值，可用于加熱元件供電功率的控制。作為一個整體，主要用途不是加熱的專用設(shè)備，應(yīng)對照相關(guān)的限值進行諧波試驗。例如：復(fù)印機的主要用途不是加熱，而電炊具的主要用途是加熱。盡管在上述條件下允許采用非對稱控制和半波整流，但這些設(shè)備仍需符合標(biāo)準(zhǔn)中諧波電流的限值的要求。另外標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，采用對稱控制短時工作的家用電器按A類設(shè)備進行試驗。2023/11/10電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)132/2733.6.2

測量方法3.6.2.1標(biāo)準(zhǔn)附錄C給出了多種設(shè)備的諧波電流測量試驗條件。對于附錄C中未列出的設(shè)備，發(fā)射測量應(yīng)在用戶操作控制下或自動程序設(shè)定在正常工作狀態(tài)下，預(yù)計產(chǎn)生最大總諧波電流（THC）的模式進行。這是規(guī)定了發(fā)射試驗時設(shè)備的配置，而不是要求測量THC值或?qū)ふ易類毫訝顟B(tài)下的發(fā)射。3