材料現代研究方法樣本_第1頁
材料現代研究方法樣本_第2頁
材料現代研究方法樣本_第3頁
材料現代研究方法樣本_第4頁
材料現代研究方法樣本_第5頁
已閱讀5頁,還剩18頁未讀, 繼續(xù)免費閱讀

下載本文檔

版權說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內容提供方,若內容存在侵權,請進行舉報或認領

文檔簡介

資料內容僅供您學習參考,如有不當或者侵權,請聯系改正或者刪除。第一章一、選擇題1.用來進行晶體結構分析的X射線學分支是(

B

)A.X射線透射學;B.X射線衍射學;C.X射線光譜學;D.其它2.M層電子回遷到K層后,多余的能量放出的特征X射線稱(B)Kα;B.Kβ;C.Kγ;D.Lα。3.當X射線發(fā)生裝置是Cu靶,濾波片應選(C)Cu;B.Fe;C.Ni;D.Mo。4.當電子把所有能量都轉換為X射線時,該X射線波長稱()短波限λ0;B.激發(fā)限λk;C.吸收限;D.特征X射線5.當X射線將某物質原子的K層電子打出去后,L層電子回遷K層,多余能量將另一個L層電子打出核外,這整個過程將產生()(多選題)光電子;B.二次熒光;C.俄歇電子;D.(A+C)二、正誤題1.隨X射線管的電壓升高,λ0和λk都隨之減小。(X)2.激發(fā)限與吸收限是一回事,只是從不同角度看問題。()3.經濾波后的X射線是相正確單色光。()4.產生特征X射線的前提是原子內層電子被打出核外,原子處于激發(fā)狀態(tài)。()5.選擇濾波片只要根據吸收曲線選擇材料,而不需要考慮厚度。()三、填空題1.當X射線管電壓超過臨界電壓就能夠產生X射線和X射線。2.X射線與物質相互作用能夠產生、、、、、、、。3.經過厚度為H的物質后,X射線的強度為。4.X射線的本質既是波長極短的電磁波也是,具有波粒二象性性。5.短波長的X射線稱軟X射線,常見于;長波長的X射線稱硬X射線,常見于。X射線的本質是什么?它與可見光、紫外線等電磁波的主要區(qū)別何在?用哪些物理量描述它?Ⅹ射線與物質有哪些相互作用?規(guī)律如何?對x射線分析有何影響?反沖電子、光電子和俄歇電子有何不同?如果用1mm厚的鉛作防護屏,試求CrKα和MoKα的穿透系數。試計算Cu的K系激發(fā)電壓。(答案:8980Ⅴ)試計算Cu的Kαl射線的波長。(答案:0.1541nm).第二章選擇題1.有一倒易矢量為,與它對應的正空間晶面是()。A.(210);B.(220);C.(221);D.(110);。2.有一體心立方晶體的晶格常數是0.286nm,用鐵靶Kα(λKα=0.194nm)照射該晶體能產生()衍射線。A.三條;B.四條;C.五條;D.六條。3.一束X射線照射到晶體上能否產生衍射取決于()。A.是否滿足布拉格條件;B.是否衍射強度I≠0;C.A+B;D.晶體形狀。4.面心立方晶體(111)晶面族的多重性因素是()。A.4;B.8;C.6;D.12。正誤題1.倒易矢量能唯一地代表對應的正空間晶面。()2.X射線衍射與光的反射一樣,只要滿足入射角等于反射角就行。()3.干涉晶面與實際晶面的區(qū)別在于:干涉晶面是虛擬的,指數間存在公約數n。()4.布拉格方程只涉及X射線衍射方向,不能反映衍射強度。()5.結構因子F與形狀因子G都是晶體結構對衍射強度的影響因素。()填空題倒易矢量的方向是對應正空間晶面的;倒易矢量的長度等于對應。只要倒易陣點落在厄瓦爾德球面上,就表示該滿足條件,能產生。影響衍射強度的因素除結構因素、晶體形狀外還有,,,??紤]所有因素后的衍射強度公式為,對于粉末多晶的相對強度為。結構振幅用表示,結構因素用表示,結構因素=0時沒有衍射我們稱或。對于有序固溶體,原本消光的地方會出現。名詞解釋倒易點陣——系統消光——衍射矢量——形狀因子——相對強度——1、試畫出下列晶向及晶面(均屬立方晶系):[111]。[121],[21],(00)(110),(123)(21)。2、下面是某立方晶系物質的幾個晶面間距,試將它們從大到小按次序重新排列。(12)(100)(200)(11)(121)(111)(10)(220)(030)(21)(110)3、當波長為的X射到晶體并出現衍射線時,相鄰兩個(hkl)反射線的程差是多少?相鄰兩個(HKL)反射線的程差又是多少?4、畫出Fe2B在平行于(010)上的部分倒易點。Fe2B屬正方晶系,點陣參數a=b=0.510nm,c=0.424nm。5、判別下列哪些晶面屬于[11]晶帶:(0),(13),(12),(2),(01),(212)。6、試計算(11)及(2)的共同晶帶軸。8、畫出六方點陣(001)*倒易點,并標出a*,b*,若一單色X射線垂直于b軸入射,試用厄爾德作圖法求出(120)面衍射線的方向。13、計算鈉原子在頂角和面心,氯原子在棱邊中心和體心的立方點陣的結構因數,并討論。第三章選擇題1.最常見的X射線衍射方法是()。A.勞厄法;B.粉末多法;C.周轉晶體法;D.德拜法。2.德拜法中有利于提高測量精度的底片安裝方法是()。A.正裝法;B.反裝法;C.偏裝法;D.A+B。3.德拜法中對試樣的要求除了無應力外,粉末粒度應為()。A.<325目;B.>250目;C.在250-325目之間;D.任意大小。4.測角儀中,探測器的轉速與試樣的轉速關系是()。A.保持同步1﹕1;B.2﹕1;C.1﹕2;D.1﹕0。5.衍射儀法中的試樣形狀是()。A.絲狀粉末多晶;B.塊狀粉末多晶;C.塊狀單晶;D.任意形狀。正誤題1.大直徑德拜相機能夠提高衍射線接受分辨率,縮短暴光時間。()2.在衍射儀法中,衍射幾何包括二個圓。一個是測角儀圓,另一個是輻射源、探測器與試樣三者還必須位于同一聚焦圓。()3.選擇小的接受光欄狹縫寬度,能夠提高接受分辨率,但會降低接受強度。()4.德拜法比衍射儀法測量衍射強度更精確。()5.衍射儀法和德拜法一樣,對試樣粉末的要求是粒度均勻、大小適中,沒有應力。()填空題在粉末多晶衍射的照相法中包括、和。德拜相機有兩種,直徑分別是和Φmm。測量θ角時,底片上每毫米對應o和o。衍射儀的核心是測角儀圓,它由、和共同組成。能夠用作X射線探測器的有、和等。影響衍射儀實驗結果的參數有、和等。名詞解釋偏裝法——光欄——測角儀——聚焦圓——正比計數器——光電倍增管——習題:從一張簡單立方點陣物的德拜相上,已求出四根高角度線條的θ角(系由CuKα所產生)及對應的干涉指數,試用”a-cos2θ”的圖解外推法求出四位有效數字的點陣參數。HKL532620443541611540621θ.角72.0877.9381.1187.44根據上題所給數據用柯亨法計算點陣參數至四位有效數字。用背射平板相機測定某種鎢粉的點陣參數。從底片上量得鎢的400衍射環(huán)直徑2Lw=51.20毫米,用氮化鈉為標準樣,其640衍射環(huán)直徑2LNaCl=36.40毫米。若此二衍射環(huán)均系由CuKαl輻射引起,試求精確到四位數字的鎢粉的點陣參數值。試用厄瓦爾德圖解來說明德拜衍射花樣的形成。還是較小?既然多晶粉末的晶體取向是混亂的,為何有此必然的規(guī)律衍射儀測量在人射光束、試樣形狀、試樣吸收以及衍射線記錄等方面與德拜法有何不同?CuKα輻射(λ=0.154nm)照射Ag(f.c.c)樣品,測得第一衍射峰位置2θ=38°,試求Ag的點陣常數。試總結德拜法衍射花樣的背底來源,并提出一些防止和減少背底的措施。粉未樣品顆粒過大或過小對德拜花樣影響如何?為什么?板狀多晶體樣品晶粒過大或過小對衍射峰形影響又如何?試從入射光束、樣品形狀、成相原理(厄瓦爾德圖解)、衍射線記錄、衍射花樣、樣品吸收與衍射強度(公式)、衍射裝備及應用等方面比較衍射儀法與德拜法的異同點。衍射儀與聚焦相機相比,聚焦幾何有何異同?第四章選擇題1.測定鋼中的奧氏體含量,若采用定量X射線物相分析,常見方法是()。A.外標法;B.內標法;C.直接比較法;D.K值法。2.X射線物相定性分析時,若已知材料的物相能夠查()進行核對。A.Hanawalt索引;B.Fenk索引;C.Davey索引;D.A或B。3.德拜法中精確測定點陣常數其系統誤差來源于()。A.相機尺寸誤差;B.底片伸縮;C.試樣偏心;D.A+B+C。4.材料的內應力分為三類,X射線衍射方法能夠測定()。A.第一類應力(宏觀應力);B.第二類應力(微觀應力);C.第三類應力;D.A+B+C。5.Sin2Ψ測量應力,一般取Ψ為()進行測量。A.確定的Ψ角;B.0-45o之間任意四點;C.0o、45o兩點;D.0o、15o、30o、45o四點。正誤題1.要精確測量點陣常數。必須首先盡量減少系統誤差,其次選高角度θ角,最后還要用直線外推法或柯亨法進行數據處理。()2.X射線衍射之因此能夠進行物相定性分析,是因為沒有兩種物相的衍射花樣是完全相同的。()3.理論上X射線物相定性分析能夠告訴我們被測材料中有哪些物相,而定量分析能夠告訴我們這些物相的含量有多少。()4.只要材料中有應力就能夠用X射線來檢測。()5.衍射儀和應力儀是相同的,結構上沒有區(qū)別。()填空題在Δθ一定的情況下,θ→o,Δsinθ→;因此精確測定點陣常數應選擇θ。X射線物相分析包括和,而更常見更廣泛。第一類應力導致X射線衍射線;第二類應力導致衍射線;第三類應力導致衍射線。X射線測定應力常見儀器有和,常見方法有和。X射線物相定量分析方法有、、等。名詞解釋柯亨法——Hanawalt索引——直接比較法——Sin2Ψ法——習題一個承受上下方向純拉伸的多晶試樣,若以X射線垂直于拉伸軸照射,問在其背射照片上衍射環(huán)的形狀是什么樣的?為什么?不必用無應力標準試樣對比,就能夠測定材料的宏觀應力,這是根據什么原理?假定測角儀為臥式,今要測定一個圓柱形零件的軸向及切向應力,問試樣應該如何放置?總結出一條思路,說明平面應力的測定過程。一無殘余應力的絲狀試樣,在受到軸向拉伸載荷的情況下,從垂直絲軸的方向用單色Ⅹ射線照射,其透射針孔相上的衍射環(huán)有何特點?用側傾法測量試樣的殘余應力,當Ψ=0o和Ψ=45o時,其x射線的穿透深度有何變化?A-TiO2%(銳鈦礦)與R-TiO2(金紅石)混合物衍射花樣中兩相最強線強度比IA-TiO2/IR-TiO2=1·5·試用參比強度法計算兩相各自的質量分數。某淬火后低溫回火的碳鋼樣品,不含碳化物(經金相檢驗)。A(奧氏體〕中含碳1%,M(馬氏體)中含碳量極低。經過衍射測得A220峰積分強度為2.33(任意單位〕〕M211峰積分強度為16.32。試計算該鋼中殘留奧氏體的體積分數(實驗條件:FeKα輻射,濾波,室溫20℃。α

第五章選擇題1.若H-800電鏡的最高分辨率是0.5nm,那么這臺電鏡的有效放大倍數是()。A.1000;B.10000;C.40000;D.600000。2.能夠消除的像差是()。A.球差;B.像散;C.色差;D.A+B。3.能夠提高TEM的襯度的光欄是()。A.第二聚光鏡光欄;B.物鏡光欄;C.選區(qū)光欄;D.其它光欄。4.電子衍射成像時是將()。A.中間鏡的物平面與與物鏡的背焦面重合;B.中間鏡的物平面與與物鏡的像平面重合;C.關閉中間鏡;D.關閉物鏡。5.選區(qū)光欄在TEM鏡筒中的位置是()。A.物鏡的物平面;B.物鏡的像平面C.物鏡的背焦面;D.物鏡的前焦面。正誤題1.TEM的分辨率既受衍射效應影響,也受透鏡的像差影響。()2.孔徑半角α是影響分辨率的重要因素,TEM中的α角越小越好。()3.有效放大倍數與儀器能夠達到的放大倍數不同,前者取決于儀器分辨率和人眼分辨率,后者僅僅是儀器的制造水平。()4.TEM中主要是電磁透鏡,由于電磁透鏡不存在凹透鏡,因此不能象光學顯微鏡那樣經過凹凸鏡的組合設計來減小或消除像差,故TEM中的像差都是不可消除的。()5.TEM的景深和焦長隨分辨率Δr0的數值減小而減小;隨孔徑半角α的減小而增加;隨放大倍數的提高而減小。()填空題TEM中的透鏡有兩種,分別是和。TEM中的三個可動光欄分別是位于,位于,位于。TEM成像系統由、和組成。TEM的主要組成部分是、和觀;輔助部分由、和組成。電磁透鏡的像差包括、和。名詞解釋景深與焦長——電子槍——點分辨與晶格分辨率——消像散器——選區(qū)衍射——分析型電鏡——極靴——有效放大倍數——Ariy斑——孔徑半角——思考題比較靜電透鏡和磁透鏡的聚焦原理。球差、色差和像散是怎樣造成的?用什么方法能夠減小這些像差?說明透鏡分辨率的物理意義,用什么方法提高透鏡的分辨率?電磁透鏡的景深和焦長是受哪些因素控制的?說明透射電鏡中物鏡和中間鏡在成像時的作用。物鏡光闌和選區(qū)光闌各具有怎樣的功能電子波有何特征?與可見光有何異同?分析電磁透鏡對電子波的聚焦原理,說明電磁透鏡結構對聚焦能力的影響。說明影響光學顯微鏡和電磁透鏡分辨率的關鍵因素是什么?如何提高電磁透分辨率?電磁透鏡景深和焦長主要受哪些因素影響?說明電磁透鏡的景深大、焦長長,是什么因素影響的結果?假設電磁透鏡沒有像差,也沒有衍射Airy斑,即分辨率極高,此時景深和焦長如何?透射電鏡主要由幾大系統構成?各系統之間關系如何?樣品臺的結構與功能如何?它應滿足哪些要求?透射電鏡中有哪些主要光闌,在什么位置?其作用如何?如何測定透射電鏡的分辨卒與放大倍數。電鏡的哪些主要參數控制著分辨率與放大倍數?

第六章選擇題1.單晶體電子衍射花樣是()。A.規(guī)則的平行四邊形斑點;B.同心圓環(huán);C.暈環(huán);D.不規(guī)則斑點。2.薄片狀晶體的倒易點形狀是()。A.尺寸很小的倒易點;B.尺寸很大的球;C.有一定長度的倒易桿;D.倒易圓盤。3.當偏離矢量S<0時,倒易點是在厄瓦爾德球的()。A.球面外;B.球面上;C.球面內;D.B+C。4.能幫助消除180o不唯一性的復雜衍射花樣是()。A.高階勞厄斑;B.超結構斑點;C.二次衍射斑;D.孿晶斑點。5.菊池線能夠幫助()。A.估計樣品的厚度;B.確定180o不唯一性;C.鑒別有序固溶體;D.精確測定晶體取向。6.如果單晶體衍射花樣是正六邊形,那么晶體結構是()。A.六方結構;B.立方結構;C.四方結構;D.A或B。判斷題1.多晶衍射環(huán)和粉末德拜衍射花樣一樣,隨著環(huán)直徑增大,衍射晶面指數也由低到高。()2.單晶衍射花樣中的所有斑點同屬于一個晶帶。()3.因為孿晶是同樣的晶體沿孿晶面兩則對稱分布,因此孿晶衍射花樣也是衍射斑點沿兩則對稱分布。()4.偏離矢量S=0時,衍射斑點最亮。這是因為S=0時是精確滿足布拉格方程,因此衍射強度最大。()5.對于未知晶體結構,僅憑一張衍射花樣是不能確定其晶體結構的。還要從不同位向拍攝多幅衍射花樣,并根據材料成分、加工歷史等或結合其它方法綜合判斷晶體結構。()6.電子衍射和X射線衍射一樣必須嚴格符合布拉格方程。()填空題電子衍射和X射線衍射的不同之處在于不同、不同,以及不同。電子衍射產生的復雜衍射花樣是、、、和。偏離矢量S的最大值對應倒易桿的長度,它反映的是θ角布拉格方程的程度。單晶體衍射花樣標定中最重要的一步是。二次衍射能夠使密排六方、金剛石結構的花樣中在產生衍射花樣,但體心立方和面心立方結構的花樣中。名詞解釋偏離矢量S180o不唯一性菊池線高階勞厄斑第七章選擇題1.將某一衍射斑點移到熒光屏中心并用物鏡光欄套住該衍射斑點成像,這是()。A.明場像;B.暗場像;C.中心暗場像;D.弱束暗場像。2.當t=5s/2時,衍射強度為()。A.Ig=0;B.Ig<0;C.Ig>0;D.Ig=Imax。3.已知一位錯線在選擇操作反射g1=(110)和g2=(111)時,位錯不可見,那么它的布氏矢量是()。A.b=(0-10);B.b=(1-10);C.b=(0-11);D.b=(010)。4.當第二相粒子與基體呈共格關系時,此時的成像襯度是()。A.質厚襯度;B.衍襯襯度;C.應變場襯度;D.相位襯度。5.當第二相粒子與基體呈共格關系時,此時所看到的粒子大小()。A.小于真實粒子大小;B.是應變場大小;C.與真實粒子一樣大小;D.遠遠大于真實粒子。判斷題1.實際電鏡樣品的厚度很小時,能近似滿足衍襯運動學理論的條件,這時運動學理論能很好地解釋襯度像。()2.厚樣品中存在消光距離ξg,薄樣品中則不存在消光距離ξg。()3.明場像是質厚襯度,暗場像是衍襯襯度。()4.晶體中只要有缺陷,用透射電鏡就能夠觀察到這個缺陷。()5.等厚消光條紋和等傾消光條紋一般是形貌觀察中的干擾,應該經過更好的制樣來避免它們的出現。()填空題運動學理論的兩個基本假設是和。對于理想晶體,當或連續(xù)改變時襯度像中會出現或。對于缺陷晶體,缺陷襯度是由缺陷引起的導致衍射波振幅增加了一個,可是若=2π的整數倍時,缺陷也不產生襯度。一般情況下,孿晶與層錯的襯度像都是平行,但孿晶的平行線,而層錯的平行線是的。實際的位錯線在位錯線像的,其寬度也大大小于位錯線像的寬度,這是因為位錯線像的寬度是寬度。名詞解釋中心暗場像消光距離ξg等厚消光條紋和等傾消光條紋不可見性判據應變場襯度7-10.用什么辦法、根據什么特征才能判斷出fcc晶體中的層錯是抽出型的還是插入型的?7-11.怎樣確定球型沉淀是空位型還是間隙型的?7-12.當下述像相似時,寫出區(qū)別它們的實驗方法及區(qū)別根據。球形共格沉淀與位錯線垂直于試樣表面的位錯。垂直于試樣表面的晶界和交叉位錯像。片狀半共格沉淀和位錯環(huán)。不全位

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯系上傳者。文件的所有權益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網頁內容里面會有圖紙預覽,若沒有圖紙預覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經權益所有人同意不得將文件中的內容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 人人文庫網僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內容的表現方式做保護處理,對用戶上傳分享的文檔內容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內容負責。
  • 6. 下載文件中如有侵權或不適當內容,請與我們聯系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準確性、安全性和完整性, 同時也不承擔用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評論

0/150

提交評論