硬盤修復(fù)利器THDD使用說明及壞道修復(fù)方法

硬盤修復(fù)利器THDD使用說明及壞道修復(fù)方法發(fā)布于2010-07-2606:11:18|3470次閱讀硬盤修復(fù)利器THDD使用說明及壞道修復(fù)方法簡介：THDD是G-LIST級別的壞道修復(fù)軟件，它目前的版本不支持P-LIST級操作，處理速度快;它沒有MHDD/Dalas/HDDScan等軟件其它的功能，只能檢測和修復(fù)壞道；共同點支持所有品牌硬盤；操作步驟：一：將需要檢測/修復(fù)的硬盤接到計算機(jī)IDE2口，運(yùn)行THDD程序；圖一界面說明，此界面中顯示了IDE接口，端口顯示將按照硬盤系列順序一一列出，選擇需要檢測硬盤端口使用上下方向鍵來完成選擇；選擇后回車將進(jìn)入下一步；圖一：進(jìn)入程序，選擇需要檢測修復(fù)的硬盤圖二：選擇執(zhí)行的功能（主菜單）二：選擇硬盤后，狀態(tài)欄顯示了硬盤的型號/版本/SN/SMART狀態(tài)等等信息；如下圖;圖三：狀態(tài)欄信息MODEL:硬盤型號顯示FIRMWARE:固件版本號顯示SERIAL^硬盤SN的顯示SMART5：SMART當(dāng)前狀態(tài)顯示SIZE（MBytes）：硬盤容量大小大?。∕B）狀態(tài)顯示ROTATIONSPEED：硬盤轉(zhuǎn)速顯示CYLINDER:柱面數(shù)顯示HEAD:磁頭數(shù)顯示SECTOR:扇區(qū)數(shù)顯示圖四：程序的主菜單CLEARFAT清除FAT表CLEARMBR清除MBRSURFACETEST磁盤表面檢測4VIEWDEFECTLIST查看缺陷列表（+注意：選項菜單中并不能察看硬盤上的缺陷表，只能夠顯示在磁盤表面檢測中發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)列表，如果沒有經(jīng)過檢測，列表中將沒有顯示；］CHOICEDRIVE選擇操作驅(qū)動器；EXIT退出硬盤表面的檢測;1：執(zhí)行SURFACETEST選項菜單后，出現(xiàn)圖五中顯示，CHS模式只能檢測8GB以下硬盤，LBA模式可以支持超過8G以上硬盤的檢測，此功能選項根據(jù)測試硬盤而定；在檢測運(yùn)行方式上，兩種具備相同的功效；（圖五：選擇工作模式圖五：選擇工作模式2：選擇工作模式進(jìn)入，出現(xiàn)圖六顯示；這里選擇從開始數(shù)值，回車（確定）后，開始執(zhí)行硬盤表面的掃描；圖六：選擇硬盤開始檢測的位置中國硬盤基地網(wǎng)3：檢測完畢后，我們可以使用VIEWDEFECTLIST（查看缺陷列表）功能來查看檢測結(jié)果;MODELFIRHUARESERIALNSMflBT5MaxtorBZ100A4CAUX9E0BE46HQ7En SI533 EOCYLINDER:409Z*1HELP+++PAGEUP一PAGEUPPAGEDN-PAGEDOMNt圖六：選擇硬盤開始檢測的位置中國硬盤基地網(wǎng)3：檢測完畢后，我們可以使用VIEWDEFECTLIST（查看缺陷列表）功能來查看檢測結(jié)果;MODELFIRHUARESERIALNSMflBT5MaxtorBZ100A4CAUX9E0BE46HQ7En SI533 EOCYLINDER:409Z*1HELP+++PAGEUP一PAGEUPPAGEDN-PAGEDOMNt-SCROLLUPL一SCROLLDRUNR一REPAIRDEFECTSS-STflNDBVMODE□unRFNTrnncu:ahead:nCVLIHDERHEADSECT0I1ERUCR30123456Z345670U9111111100006oU8圖七：察看硬盤壞道掃描結(jié)果列表結(jié)果這個時候可以按鍵盤“R”鍵，開始執(zhí)行修復(fù)，THDD會自動把這些缺陷添加到硬盤的G-LIST表中；鍵盤中4：退出TH