音箱檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

PAGE文件編號(hào)保密級(jí)□絕密□保密■一般版本號(hào)A第0次修改三級(jí)文件第1頁(yè)共4發(fā)布日期：2017.04.11音箱檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)核定審核：制訂：目的規(guī)范音箱類產(chǎn)品的要求，為檢驗(yàn)提供檢驗(yàn)依據(jù)，以控制產(chǎn)品的品質(zhì)。適用范圍適用于各協(xié)力廠商所生產(chǎn)WOOK音箱類產(chǎn)品的檢驗(yàn)。3檢驗(yàn)環(huán)境3.1檢驗(yàn)溫度：25℃±10℃，相對(duì)濕度：45％~85％3.2光照條件：在冷白熒光照射下，光源500-800Lux，距物品1米3.3視角：視線與工件平齊，正負(fù)旋轉(zhuǎn)45°3.4視力要求：視力要求:≧0.8(裸視或經(jīng)矯正后)3.5檢視時(shí)間和距離：等級(jí)面AA級(jí)面A級(jí)面B級(jí)面檢驗(yàn)距離30cm30cm30cm檢驗(yàn)時(shí)間5-8秒4-6秒2-4秒4缺陷等級(jí)定義4.1致命缺陷(CR)：指對(duì)使用者或攜帶者的安全帶來(lái)危害或違反相關(guān)安規(guī)之缺陷。4.2嚴(yán)重缺陷(MA)：不構(gòu)成致命缺陷，但很可能造成故障，或?qū)挝划a(chǎn)品使用功能會(huì)嚴(yán)重降低，或嚴(yán)重影響產(chǎn)品形象之缺陷。4.3輕微缺陷(MI)：外觀性缺陷，不構(gòu)成致命或主要缺陷，不影響產(chǎn)品使用功能。5表面等級(jí)劃分：AA面公司LOGO及絲印區(qū)域。A級(jí)面正常使用時(shí)可以看到的面，如產(chǎn)品正面。B級(jí)面正常使用時(shí)看不到的表面及產(chǎn)品背面、底面及側(cè)面。7功能測(cè)試序號(hào)測(cè)試項(xiàng)目檢驗(yàn)方法檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)檢驗(yàn)工具抽樣頻率缺陷等級(jí)CRMAMJ1輸出功率測(cè)試藍(lán)牙輸出功率：發(fā)射1KHZ/0DB信號(hào)，測(cè)試輸出功率輸出功率要求范圍：

-0.2W/+0.3W；THD＜10%.示波器

DC電源

毫伏表

失真儀

測(cè)試架5pcs/lot√2基準(zhǔn)失真測(cè)試A):連接好測(cè)試儀器，f=1khz0db；DC電壓：3.2V；

B):調(diào)節(jié)音量開關(guān)，觀察毫伏表上的指示電壓，使輸出功率為0.5W；然后觀察失真儀上的讀數(shù).失真≤0.5%示波器

DC電源

毫伏表

失真儀

測(cè)試架5pcs/lot√3信噪比測(cè)試A):連接好測(cè)試儀器，輸出f=1khz0db；DC電壓：3.2V

B):調(diào)節(jié)音量開關(guān)，觀察毫伏表上的指示電壓，使輸出功率為0.5W,記錄毫伏表上的DB值：DB1.

C):關(guān)斷音箱，記錄此時(shí)毫伏表上的DB值：DB2.

D):信噪比=DB1-DB2≥70DB示波器

DC電源

毫伏表

失真儀

測(cè)試架5pcs/Lot√4頻響測(cè)試A):連接好測(cè)試儀器，輸出f=1khz0db；DC電壓：3.2V

B):調(diào)節(jié)音量開關(guān),使毫伏表上的輸出為0db;輸出頻率為：100HZ，記錄毫伏表上的DB值：DB1.

C):輸出頻率為：18KHZ,記錄毫伏表上的DB值：DB2100HZ~10KHZ

（+/-1DB）示波器

DC電源

毫伏表

失真儀

測(cè)試架5pcs/Lot√5輸出聲壓測(cè)試音量開到最大，成品機(jī)與分貝儀保持1米的距離≥75DB分貝儀，IPHONE（用白噪聲信號(hào)）5pcs/Lot√6USB充電1.充電電流：小音箱一般500mA左右

2.充電時(shí)電流穩(wěn)定,不可出現(xiàn)充電電流突然大幅度的變大或變小

3.充電時(shí)指示燈正常參考規(guī)格書直流電源AQL=0.4√7功能檢查藍(lán)牙播放、AUX、TF卡、U盤、收音、上下曲、音量加減、免提通話清晰度等功能確認(rèn)功能無(wú)異常

參考簽樣樣機(jī)手機(jī)/TF/U盤AQL=0.4√8音質(zhì)確認(rèn)播放音樂，確認(rèn)產(chǎn)品有無(wú)振音、異音、漏氣等不良現(xiàn)象，音量大小和樣品相同，最大音量不失真參考簽樣樣機(jī)手機(jī)藍(lán)牙測(cè)試儀AQL=0.4√8可靠性測(cè)試序號(hào)測(cè)試項(xiàng)目檢驗(yàn)方法檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)抽樣頻率缺陷等級(jí)CRMAMJ1跌落測(cè)試1.產(chǎn)品裸機(jī)每1面分別垂直朝下,從100cm高度連續(xù)6次自由跌落至20mm硬木板上。2.產(chǎn)品包裝箱每1面分別垂直朝下,從80cm高度連續(xù)以(1角/3稜/6面)自由跌落至20mm硬木板上。1.單品功能正常，外殼允許有輕微開裂，但可復(fù)原；2.外箱允許有輕微變形，不允許有破裂，產(chǎn)品外觀、功能正常。單品首批3pcs；成品首批一箱√2振動(dòng)測(cè)試頻率30~50HZ,水平掃頻振幅3mm,時(shí)間30分鐘，垂直掃頻振幅3mm,時(shí)間30分鐘。100%檢測(cè)包裝盒內(nèi)產(chǎn)品，無(wú)功能不良單品首批3pcs；成品首批一箱√3高溫存儲(chǔ)測(cè)試樣品含包裝放入高溫箱內(nèi),溫度變化1℃/Min,穩(wěn)定溫度60℃±3℃,濕度90℃±3℃，持續(xù)時(shí)間24小時(shí).待靜止2H回溫后測(cè)試其功能.無(wú)功能不良,電池外觀應(yīng)不鼓脹、不冒煙或漏液，外殼不可有變形氣泡1pcs/每批√4高溫高濕工作測(cè)試將樣品放入高溫箱內(nèi),溫度保持40℃±2℃,濕度85℃±3℃,持續(xù)時(shí)間充放電一個(gè)循環(huán)。無(wú)功能不良,電池外觀應(yīng)不鼓脹、不冒煙或漏液，外殼不可有變形氣泡1pcs/每批√5低溫存儲(chǔ)測(cè)試樣品含包裝放入高溫箱內(nèi),溫度變化1℃/Min,穩(wěn)定溫度-20℃±3℃,持續(xù)時(shí)間24小時(shí).待靜止2H回溫后測(cè)試其功能。無(wú)功能不良1pcs/每批√13插拔力測(cè)試將被測(cè)品插頭與插座分別固定于專用設(shè)備反復(fù)插拔，頻率不超過200周期/小時(shí)，共進(jìn)行2000個(gè)周期插拔，實(shí)驗(yàn)結(jié)束后查看結(jié)構(gòu)并測(cè)試功能機(jī)械結(jié)構(gòu)無(wú)損壞，功能正常1pcs/每批√14USB拔出力測(cè)試用拉力計(jì)測(cè)試拔出力在1-2KG之間拔出力在范圍內(nèi)按AQL抽檢√15按鍵測(cè)試按壓按鍵3000次，查看按鍵手感及功能按鍵手感良好且功能正常1pcs/每批√16插拔壽命USB，TF卡槽及音頻插座插拔壽命均在3000次以上機(jī)械無(wú)損傷，功能正常1pcs/每批√注：1.