GB/T 6462-2005金屬和氧化物覆蓋層厚度測量顯微鏡法

ICS25.220.20A29中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T6462-2005/ISO1463:2003代替GB/T6462—1986金屬和氧化物覆蓋層厚度測量顯微鏡法Metallicandoxidecoatings-Measurementofcoatinginckness-Microscopicalmethod（ISO1463:2003,IDT)2005-06-23發(fā)布2005-12-01實(shí)施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局愛布中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T6462-2005/IS01463:2003三次前言范圍規(guī)范性引用文件23術(shù)語和定義4原理5影響測量不確定度的因素6橫斷面的制備………78測量的不確定度9附錄A（資料性附錄）關(guān)于橫斷面制備和測量的指南附錄B（資料性附錄）橫斷面的斜度和齒狀結(jié)構(gòu)覆蓋層的測量附錄C（資料性附錄)室溫下使用的典型的浸蝕劑

GB/T6462-2005/IS01463:2003本標(biāo)準(zhǔn)等同采用ISO1463.2003《金屬和氧化物覆蓋層度測量顯微鏡法》英文版）本標(biāo)準(zhǔn)等同翻譯ISO1463:2003。為了便于使用，本標(biāo)準(zhǔn)做了下列編輯性修改：·本國際標(biāo)準(zhǔn)？一詞改為·本標(biāo)準(zhǔn)"；b·該國·一詞改為·國家?：C）用用小數(shù)點(diǎn)·.·代替作為小數(shù)點(diǎn)的運(yùn)號·,；d）刪除國際標(biāo)準(zhǔn)的前言。本標(biāo)準(zhǔn)代替（B/T6462—1986《金屬和氧化物覆蓋層橫斷面厚度顯微鏡測量方法》。與GB/T6462-1986相比主要變化如下：標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)名稱改為《金屬和氧化物覆蓋層厚度測量品微鏡法》增加了測址方法的適用范圍(第1章)增加了規(guī)范性引用文件（第2章）增加了局部厚度定義(第3章)；增加了附錄B。本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A、附錄B、附錄C為資料性附錄。本標(biāo)準(zhǔn)由中國機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國金屬與非金屬覆蓋層標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC57)歸口。本標(biāo)準(zhǔn)負(fù)責(zé)起草單位：武漢材料保護(hù)研究所、寧波永新光學(xué)股份有限公司本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：張德忠、曾麗珠、陳曉帆、王成。本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為：GB/T6462-1986。

GB/T6462-2005/IS01463:2003金屬和氧化物覆蓋層厚度測量顯微鏡法1范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了運(yùn)用光學(xué)顯微鏡檢測橫斷面,以測量金屬覆蓋層、氧化膜層和釉瓷或玻璃塘瓷覆蓋層的局部厚度的方法。警告：應(yīng)用本標(biāo)準(zhǔn)可能涉及到危險(xiǎn)的材料、操作和裝置的使用。本標(biāo)準(zhǔn)沒有提出使用過程中的任何健康危害和安全問題。在運(yùn)用本標(biāo)準(zhǔn)前，使用者有責(zé)任根據(jù)國家或當(dāng)?shù)氐囊?guī)定制定合適的健康和安全條例，并采取相應(yīng)的措施2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn).然而，鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。GB/T12334金屬和其他非有機(jī)覆蓋層關(guān)于厚度測量的定義和一般規(guī)則(idtISO2064)術(shù)語和定義GB/T12334確立的以及下列術(shù)語和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)局部厚度10Calthickness在參比面內(nèi)進(jìn)行規(guī)定次數(shù)厚度測量的平均值原理從待測件上切割一塊試樣.鑲嵌后.采用適當(dāng)?shù)募夹g(shù)對橫斷面進(jìn)行研磨、拋光和浸蝕，。用校正過的標(biāo)尺測量覆蓋層橫斷面的厚度。?。河薪?jīng)驗(yàn)的金相學(xué)家對這些技術(shù)很熟悉，對于經(jīng)驗(yàn)不足的操作者.第5章和附錄A中給出了一些指南。，影響測量不確定度的因素5.1表面粗糙度如果覆蓋層或覆蓋層基體表面是粗糙的，那么與覆蓋層橫斷面接觸的一條或兩條界面線是不規(guī)則的，以致不能精確測量(見A.5)。5.2橫斷面的斜度如果橫斷面不垂直于待測覆蓋層平面,那么測量的厚度將大于真實(shí)厚度。例如：垂直度偏差10°.將產(chǎn)生1.5%的誤差。注：附錄B中B.1提供了關(guān)于傾斜橫斷面的指南5.3覆蓋層變形鑲嵌試樣和制備橫斷面的過程中.過高的溫度和壓力將使軟的或低熔點(diǎn)的覆蓋層產(chǎn)生有害變形;在制備脆性材料橫斷面時(shí),過度的打磨也同樣會(huì)產(chǎn)生變形。5.4覆蓋層邊緣倒角如