標準解讀

《GB/T 4930-1993 電子探針分析標準樣品通用技術(shù)條件》與《GB 4930-1985》相比，在多個方面進行了更新和完善，以更好地適應電子探針分析技術(shù)的發(fā)展和需求。具體變更包括但不限于以下幾個方面：

一、標準編號的變化：從《GB 4930-1985》變更為《GB/T 4930-1993》，增加了“T”，意味著該標準由強制性國家標準調(diào)整為推薦性國家標準，反映了國家對于標準化管理方式的調(diào)整。

二、適用范圍更加明確：新版本對電子探針分析標準樣品的應用領(lǐng)域給出了更詳細的描述，強調(diào)了其適用于各種類型的材料（如金屬、合金、礦物等）中元素定性和定量分析時作為參考基準使用的要求。

三、術(shù)語定義部分得到了豐富和完善：增加了若干關(guān)鍵術(shù)語及其定義，比如“均勻性”、“穩(wěn)定性”等概念，有助于使用者準確理解并應用標準內(nèi)容。

四、提高了對標準樣品質(zhì)量控制的要求：針對標準樣品的制備過程、物理化學性質(zhì)以及長期保存條件等方面提出了更高的技術(shù)要求，并且規(guī)定了相應的檢測方法，確保了標準樣品的一致性和可靠性。

五、引入了國際上先進的測試方法和技術(shù)規(guī)范：結(jié)合當時國內(nèi)外最新研究成果和發(fā)展趨勢，對原有的分析方法進行了優(yōu)化升級，同時增加了一些新的分析項目和技術(shù)參數(shù)，使得整個標準體系更加科學合理。

六、加強了對環(huán)境保護的關(guān)注：在新版標準中特別提到了有關(guān)廢棄物處理的規(guī)定，體現(xiàn)了綠色發(fā)展理念，要求在生產(chǎn)和使用過程中采取有效措施減少污染。


如需獲取更多詳盡信息，請直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標準文檔。

....

查看全部

  • 被代替
  • 已被新標準代替，建議下載現(xiàn)行標準GB/T 4930-2008
  • 1993-08-30 頒布
  • 1994-07-01 實施
?正版授權(quán)
GB/T 4930-1993電子探針分析標準樣品通用技術(shù)條件_第1頁
GB/T 4930-1993電子探針分析標準樣品通用技術(shù)條件_第2頁
免費預覽已結(jié)束，剩余10頁可下載查看

下載本文檔

GB/T 4930-1993電子探針分析標準樣品通用技術(shù)條件-免費下載試讀頁

文檔簡介

UDC621.317：620.11中華人民共和國國家標準GB/T4930-93電子探針分析標準樣品通用技術(shù)條件Generalspecificationofelectronprobemicroanalysisstandardspecimen1993-08-30發(fā)布1994-07-01實施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國國家標準GB/T4930-93電子探針分析標準樣品通用技術(shù)條件代替GB4930-85Generalspecificationofelectronprobemicroanalysisstandardspecimen主題內(nèi)容與適用范圍本技術(shù)條件適用于電子探針、X射線微區(qū)定量分析用的標準樣品（以下簡稱標樣）.2標樣2.1材料2.1.1標樣材料應致密，成分均勻而穩(wěn)定，能長期保存和使用2.1.2標樣材料最小粒度應大于0.2mm。2.1.3標樣材料的母體應有足夠量，供批量生產(chǎn)使用。-一般應多于2g（粒度不小于0.2mm），除足夠供應化學定值等消耗外，保證能在被確認后制成200個以上的標樣成品。2.1.4合成材料應提供制作工藝簡明資料，天然礦物應提供來源及選礦流程資料。2.2尺寸與制作2.2.1單個標樣將標樣材料鑲嵌在用外徑3mm或6mm的黃銅管，紫銅管，白銅或不銹鋼管內(nèi)，工作平面拋光，端面要與柱軸垂直。最終產(chǎn)品應為3mm×8mm±1mm或6mmX8mm±1mm。2.2.2組合標樣將多種標樣材料鑲嵌在外徑25.4mm，高10mm的黃銅、白銅、無磁不銹鋼圓柱體上。工作面磨平拋光并與柱軸垂直。2.2.3特殊標樣指滿足電子探針定量分析要求制成的其他尺寸規(guī)格和形狀的標樣。2.3外觀檢查2.3.1用光學顯微鏡檢查標樣表面，每平方毫米不超過40條劃痕和臺階。2.3.2凡含有過量夾雜、偏析、包體或不同化學相的物質(zhì)不能作探針標樣的材料3定值及定值原則標樣成分必須定值并標明定值準確度。由于電子探針對不同物質(zhì)中不同元素的探測極限不同，因此對具體標樣的定值，應從電子探針分析實際出發(fā)，分別規(guī)定。3.1單一元素金屬、合成均勾物及單晶標樣，其雜質(zhì)含量對標定元素的影響應小于該標定元素X射線計數(shù)的統(tǒng)計偏差。單一元素材料，暫不設(shè)國標樣品，有特殊需要或獨特的制作工藝者除外。3.2對含兩個和兩個以上元素的標樣(合金、多品體礦物、多品體融培體、玻璃體等材料)要求用一種或一種以上的可靠分析方法在全國探針分析標準樣品標準化技術(shù)委員會推薦的實驗室進行成分定值，全分析總量偏差應小于1%，單項分析精度應優(yōu)

溫馨提示

  • 1. 本站所提供的標準文本僅供個人學習、研究之用，未經(jīng)授權(quán)，嚴禁復制、發(fā)行、匯編、翻譯或網(wǎng)絡(luò)傳播等，侵權(quán)必究。
  • 2. 本站所提供的標準均為PDF格式電子版文本（可閱讀打?。驍?shù)字商品的特殊性，一經(jīng)售出，不提供退換貨服務。
  • 3. 標準文檔要求電子版與印刷版保持一致，所以下載的文檔中可能包含空白頁，非文檔質(zhì)量問題。

評論

0/150

提交評論