GB/T 2423.45-2012環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/ABDM：氣候順序

ICS19040

K04.

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T242345—2012

代替.

GB/T2423.45—1997

環(huán)境試驗第2部分試驗方法

:

試驗Z/ABDM氣候順序

:

Environmentaltestin—Part2Testmethods—

g:

TestZ/ABDMClimaticseuence

:q

(IEC60068-2-61:1991,MOD)

2012-12-31發(fā)布2013-06-01實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T242345—2012

.

目次

前言…………………………

Ⅰ

范圍………………………

11

規(guī)范性引用文件…………………………

21

定義………………………

31

試驗設(shè)備…………………

42

嚴(yán)酷等級…………………

52

預(yù)處理……………………

62

初始檢測…………………

72

試驗………………………

82

恢復(fù)………………………

94

最后檢測…………………

104

相關(guān)規(guī)范應(yīng)給出的信息…………………

114

附錄資料性附錄規(guī)范編寫人員導(dǎo)則………………

A()10

附錄資料性附錄試驗實施導(dǎo)則……………………

B()11

附錄資料性附錄標(biāo)準(zhǔn)的組成部分………………

NA()GB/T242312

GB/T242345—2012

.

前言

本部分為的第部分標(biāo)準(zhǔn)的組成部分見資料性附錄

GB/T242345,GB/T2423NA。

本部分按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本部分代替電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗

GB/T2423.45—1997《2:Z/

氣候順序與之相比主要變化如下

ABDM:》,,:

一致性程度不同版為等同采用這一版為修改采用

———(1997,);

第章的第一段進(jìn)行了編輯性的調(diào)整

———1;

關(guān)于規(guī)范性引用文件具體調(diào)整如下

———,:

用代替了

●GB/T4797IEC60721-2;

用代替了

●GB/T4798IEC60721-3;

第章中引用了采用國際標(biāo)準(zhǔn)的國家標(biāo)準(zhǔn)

———2;

第章在使用能逐步建立該順序中的專用試驗箱時改成了在使用能滿足該順序中的

———4“……”“

單一試驗箱時

……”;

第章中嚴(yán)酷等級主要由氣壓和試驗持續(xù)時間決定如要求選用低氣壓試驗

———5“……,(IEC68-2-

第章嚴(yán)酷等級最后一項則是本標(biāo)準(zhǔn)的濕熱試驗周期數(shù)改成了嚴(yán)酷等級主要由

34),8.2.5”“

氣壓和試驗持續(xù)時間如要求選用低氣壓試驗第章決定最

……[(GB/T2423.21—20084)],

后一項是本部分的濕熱試驗周期數(shù)

8.2.5”;

將本部分中試驗試驗改為試驗試驗

———“Aa”“Ba”“Ab”“Bb”;

第章中接受改成了進(jìn)行

———7“”“”;

將中的尺寸檢測和功能檢測全部改成了尺寸檢查和功能檢查

———8.2.5“”“”;

將中的含和和中的含和去掉

———8.3.1“(8.2.18.2.4)”8.4.1“(8.2.18.2.3)”;

圖圖圖中非強制改成了選用

———1、2、3“”“”;

將圖的標(biāo)準(zhǔn)一欄改為標(biāo)準(zhǔn)

———3“IEC”“GB/T”;

圖中改成了

———4“1h30”“1.5h”;

附錄中的末尾改成結(jié)束時

———A.1“……”“……”;

附錄中的專用試驗箱改成單一試驗箱

———B.3“”“”;

增加了資料性附錄標(biāo)準(zhǔn)的組成部分見附錄

———“GB/T2423”(NA)。

本部分使用重新起草法修改采用環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗

IEC60068-2-61:1991《2:Z/

氣候順序

ABDM:》。

本部分與的技術(shù)性差異及其原因如下

IEC60068-2-61:1991:

關(guān)于規(guī)范性引用文件本部分做了具有技術(shù)性差異的調(diào)整以適應(yīng)我國的技術(shù)條件具體調(diào)整

———,,,

如下

:

用等同采用的代替了

●IEC60068-2-1:2007GB/T2423.1—2008,IEC60068-2-1:1990;

用等同采用的代替了及

●IEC60068-2-2:2007GB/T2423.2—2008,IEC60068-2-2:1974

第次補充

IEC60068-2-2A:19761;

用等同采用的代替了

●IEC60068-2-30:2005GB/T2423.4—2008,IEC60068-2-30:1980;

用等同采用的代替了

●IEC60068-3-4:2001GB/T2424.2—2005,IEC60068-2-28:1980;

用代替了

●GB/T4797IEC60721-2;

用代替了

●GB/T4798IEC60721-3;

Ⅰ

GB/T242345—2012

.

將國際標(biāo)準(zhǔn)中的試驗試驗改為本部分的試驗試驗試驗試驗

———“Aa”“Ba”“Ab”“Bb”,“Aa”“Ba”

在現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)中已刪除

;

將圖的標(biāo)準(zhǔn)一欄改為標(biāo)準(zhǔn)

———3“IEC”“GB/T”。

本部分與相比主要做了下列編輯性修改

IEC60068-2-61:1991,:

本國際標(biāo)準(zhǔn)一詞改為本部分

———“”“”;

刪除了的前言和引言增加了國家標(biāo)準(zhǔn)前言

———IEC60068-2-61:1991,;

將國際標(biāo)準(zhǔn)的第章的標(biāo)題目的改成了本部分的第章范圍

———1“”1“”;

引用了采用國際標(biāo)準(zhǔn)的國家標(biāo)準(zhǔn)

———;

第章中如要求選用低氣壓試驗這句移到了氣壓和試驗持續(xù)時間之后

———5“”“”。

本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會提出并歸口

(SAC/TC8)。

本部分由中國電器科學(xué)研究院有限公司北京航空航天大學(xué)負(fù)責(zé)起草

、。

本部分主要起草人李嬋王俊吳颯許雪冬

:、、、。

本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為

:

———GB/T2423.45—1997。

Ⅱ

GB/T242345—2012

.

環(huán)境試驗第2部分試驗方法

:

試驗Z/ABDM氣候順序

:

1范圍

的本部分給出了確定試驗樣品在承受依次由溫度濕熱和低氣壓必要時等環(huán)境應(yīng)力

GB/T2423、()

組成的環(huán)境條件時的環(huán)境適應(yīng)性的一種標(biāo)準(zhǔn)的組合試驗方法

。

施加應(yīng)力的次序與試驗步驟轉(zhuǎn)換時的環(huán)境條件已經(jīng)選定以便加速并強化與自然氣候條件相同的

,

劣化機理

。

注自然界環(huán)境條件的分類分級見和

:GB/T4797GB/T4798。

當(dāng)劣化機理相同且滿足規(guī)定的試驗要求時本部分也可作為編寫類似試驗方法的基礎(chǔ)

,。

在本試驗中試驗樣品按標(biāo)準(zhǔn)順序接受環(huán)境試驗并按附錄規(guī)定的代號分

,,GB/T2421.1—2008A

類只是第組數(shù)字用于表示第步交變濕熱試驗的周期數(shù)見第章在

,35:Db(GB/T2423.4—20085)。

本部分中等氣候類型中的短劃線可用等組合中適合

,-/-/56、40/-/-55/100/56、25/085/56、40/085/21

于該位置的任何標(biāo)準(zhǔn)值代替如需要改變有關(guān)規(guī)范應(yīng)為所選試驗方法的每個步驟提供所需的資料見

,,(

第章

8)。

本試驗常被安排在與機械應(yīng)力有關(guān)的其他試驗如端子強度試驗可焊性試驗和振動試驗之后進(jìn)行

、,

以作為確定試驗樣品的密封性是否損壞的方法

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗概述和指南

GB/T2421.1—2008(IEC60068-1:1988,IDT)

環(huán)境試驗試驗方法編寫導(dǎo)則術(shù)語和定義

GB/T2422—2012(IEC60068-5-2:1990,IDT)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗