標準解讀

《GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫》與《GB/T 2423.2-2001 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫》相比,在多個方面進行了調整和更新,主要體現(xiàn)在以下幾個方面:

  1. 標準結構上的調整:新版標準按照ISO/IEC導則第2部分的要求對標準文本的格式進行了修訂,使得整體更加符合國際標準化組織對于標準文件編寫的規(guī)定。這包括了對條款編號、標題以及內容編排方式等多方面的優(yōu)化。

  2. 術語定義更加明確:在2008版中,針對一些關鍵術語如“穩(wěn)定溫度”、“恢復時間”等給出了更為準確且詳細的定義,有助于使用者更好地理解并執(zhí)行相關測試要求。

  3. 測試條件細化:相較于2001版本,《GB/T 2423.2-2008》對試驗過程中涉及到的具體參數(shù)(如溫度范圍、持續(xù)時間)進行了更細致的規(guī)定,并增加了某些特定條件下如何操作的具體指導,提高了試驗結果的一致性和可比性。

  4. 增加了安全注意事項:新標準特別強調了進行高溫試驗時需要注意的安全事項,比如防止燙傷、電氣短路等問題的發(fā)生,以保障試驗人員及設備的安全。

  5. 引用文件更新:隨著技術進步及相關領域內其他國家標準或行業(yè)標準的更新,《GB/T 2423.2-2008》也相應地調整了其引用的標準文件列表,確保所參考的內容均為最新有效的版本。


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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2008-12-30 頒布
  • 2009-10-01 實施
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GB/T 2423.2-2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗B:高溫_第1頁
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文檔簡介

犐犆犛19.040

犓04

中華人民共和國國家標準

犌犅/犜2423.2—2008/犐犈犆6006822:2007

代替GB/T2423.2—2001

電工電子產品環(huán)境試驗

第2部分:試驗方法

試驗犅:高溫

犈狀狏犻狉狅狀犿犲狀狋犪犾狋犲狊狋犻狀犵犳狅狉犲犾犲犮狋狉犻犮犪狀犱犲犾犲犮狋狉狅狀犻犮狆狉狅犱狌犮狋狊—

犘犪狉狋2:犜犲狊狋犿犲狋犺狅犱狊—犜犲狊狋狊犅:犇狉狔犺犲犪狋

(IEC6006822:2007,Environmentaltesting—

Part22:Tests—TestB:Dryheat,IDT)

20081230發(fā)布20091001實施

中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局

發(fā)布

中國國家標準化管理委員會

犌犅/犜2423.2—2008/犐犈犆6006822:2007

目次

前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅰ

1范圍!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1

2規(guī)范性引用文件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1

3術語和定義!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1

4非散熱試驗樣品與散熱試驗樣品試驗方法應用對比!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2

5試驗描述!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!3

6試驗程序!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!4

7相關規(guī)范應給出的信息!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!6

8試驗報告中應給出的信息!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!6

附錄NA(資料性附錄)GB/T2423標準的組成部分!!!!!!!!!!!!!!!!!!!8

附錄NB(資料性附錄)試驗A:低溫和試驗B:高溫的分類代號小寫字母之間的關系!!!!!11

犌犅/犜2423.2—2008/犐犈犆6006822:2007

前言

GB/T2423.2是GB/T2423標準的第2部分,GB/T2423標準的組成部分見資料性附錄NA。

本部分等同采用IEC6006822:2007《環(huán)境試驗第22部分:試驗試驗B:干熱》(英文版)。

本部分與IEC6006822:2007相比,主要做了下列編輯性修改:

———本部分的名稱改為:《電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗B:高溫》;

———“本標準”一詞改為“本部分”;

———刪除了IEC6006822:2007前言;

———刪除了IEC6006822:2007引言,將其內容轉化為增加的資料性附錄NB的內容;

———增加了資料性附錄“GB/T2423標準的組成部分”(見附錄NA);

———增加了資料性附錄“試驗A:低溫和試驗B:高溫的分類代號小寫字母之間的關系”(見附錄

NB);

———刪除了第1章第1段中的“對于非散熱試驗樣品,”;

———第2章規(guī)范性引用文件一覽表增加了對GB/T2423.22的引用;

———4.3標題“溫度突變與溫度漸變試驗應用對比”改為“溫度漸變試驗”;

———6.8.2標題“絕對濕度”改為“濕度”。

為清晰起見,上述修改已在正文相應位置加了腳注。

本部分代替GB/T2423.2—2001《電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗B:高溫》,

與之相比,主要變化如下:

———刪除了試驗Ba:非散熱試驗樣品溫度突變的高溫試驗;

———刪除了試驗Bc:散熱試驗樣品溫度突變的高溫試驗;

———刪除了附錄A、附錄B、附錄C、附錄D、附錄E、附錄F;

———增加了試驗Be:散熱試驗樣品溫度漸變的高溫試驗———試驗樣品在整個試驗過程通電。

本部分的附錄NA、附錄NB為資料性附錄。

本部分由全國電工電子產品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標準化技術委員會(SAC/TC8)提出并歸口。

本部分由廣州電器科學研究院負責起草。

本部分主要起草人:張志勇。

本部分所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為:

———GB/T2423.2—1981、GB/T2423.2—1989、GB/T2423.2—2001。

犌犅/犜2423.2—2008/犐犈犆6006822:2007

電工電子產品環(huán)境試驗

第2部分:試驗方法

試驗犅:高溫

1范圍

GB/T2423的本部分規(guī)定的高溫試驗適用于非散熱和散熱試驗樣品。試驗Bb和試驗Bd與早期

版本無實質上的差異1)。

本高溫試驗的目的僅限于用來確定元件、設備或其他產品在高溫環(huán)境下使用、運輸或貯存的能力。

本高溫試驗不能用來評價試驗樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運行能力,在這種情

況下,應采用GB/T2423.22。

本高溫試驗方法細分為以下幾種:

———非散熱試驗樣品高溫試驗:

●試驗Bb,溫度漸變。

———散熱試驗樣品高溫試驗:

●試驗Bd,溫度漸變;

●試驗Be,溫度漸變,試驗樣品在整個試驗過程通電。

本部分給出的試驗方法通常用于試驗期間能達到溫度穩(wěn)定的試驗樣品。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過GB/T2423的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文

件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內容)或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據(jù)本部分達成

協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本

部分。

GB/T2421電工電子產品環(huán)境試驗第1部分:總則(GB/T2421—199

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