標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 21356-2008 無(wú)損檢測(cè) 計(jì)算機(jī)射線照相系統(tǒng)的長(zhǎng)期穩(wěn)定性與鑒定方法》是一項(xiàng)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),主要針對(duì)計(jì)算機(jī)射線照相系統(tǒng)(CR系統(tǒng))的性能穩(wěn)定性和定期鑒定提出了具體的要求。該標(biāo)準(zhǔn)適用于使用計(jì)算機(jī)射線成像技術(shù)進(jìn)行材料或部件內(nèi)部缺陷檢測(cè)的應(yīng)用場(chǎng)景。

根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容,首先定義了幾個(gè)關(guān)鍵術(shù)語(yǔ),包括但不限于:基準(zhǔn)圖像、測(cè)試體模等,這些是理解和執(zhí)行后續(xù)步驟的基礎(chǔ)。接著,標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)描述了用于評(píng)估CR系統(tǒng)長(zhǎng)期穩(wěn)定性的測(cè)試方法和程序。這涉及到如何選擇合適的測(cè)試體模來(lái)生成能夠反映系統(tǒng)性能的基準(zhǔn)圖像,以及在不同時(shí)間點(diǎn)重復(fù)此過(guò)程以監(jiān)測(cè)系統(tǒng)變化的方法。

對(duì)于鑒定過(guò)程,標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了一系列的操作指南,從準(zhǔn)備階段到實(shí)際測(cè)試再到數(shù)據(jù)分析,每一步都有明確指示。例如,在準(zhǔn)備階段需要確保環(huán)境條件符合要求;在測(cè)試過(guò)程中,應(yīng)按照特定順序放置測(cè)試體模,并記錄下所有相關(guān)參數(shù);最后,在分析階段,則需對(duì)比新舊圖像之間的差異,以此判斷系統(tǒng)是否保持了預(yù)期水平的性能。


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  • 2008-01-14 頒布
  • 2008-05-01 實(shí)施
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GB/T 21356-2008無(wú)損檢測(cè)計(jì)算機(jī)射線照相系統(tǒng)的長(zhǎng)期穩(wěn)定性與鑒定方法_第1頁(yè)
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GB/T 21356-2008無(wú)損檢測(cè)計(jì)算機(jī)射線照相系統(tǒng)的長(zhǎng)期穩(wěn)定性與鑒定方法-免費(fèi)下載試讀頁(yè)

文檔簡(jiǎn)介

犐犆犛19.100

犑04

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

犌犅/犜21356—2008

無(wú)損檢測(cè)計(jì)算機(jī)射線照相系統(tǒng)的長(zhǎng)期

穩(wěn)定性與鑒定方法

犖狅狀犱犲狊狋狉狌犮狋犻狏犲狋犲狊狋犻狀犵—犙狌犪犾犻犳犻犮犪狋犻狅狀犪狀犱犾狅狀犵狋犲狉犿狊狋犪犫犻犾犻狋狔狅犳犮狅犿狆狌狋犲犱

狉犪犱犻狅犾狅犵狔狊狔狊狋犲犿狊

20080114發(fā)布20080501實(shí)施

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

犌犅/犜21356—2008

前言

本標(biāo)準(zhǔn)修改采用ASTME244505《計(jì)算機(jī)射線照相系統(tǒng)的長(zhǎng)期穩(wěn)定性與鑒定方法》(英文版)。

本標(biāo)準(zhǔn)根據(jù)ASTME244505重新起草。

考慮到我國(guó)國(guó)情,在采用ASTME244505時(shí),本標(biāo)準(zhǔn)做了一些修改。有關(guān)技術(shù)性差異如下:

a)將規(guī)范性引用文件E1316更改為我國(guó)標(biāo)準(zhǔn)GB/T12604.2;

b)將規(guī)范性引用文件E1815更改為我國(guó)標(biāo)準(zhǔn)GB/T19348.1;

c)將規(guī)范性引用文件E2446更改為我國(guó)標(biāo)準(zhǔn)GB/T21355;

d)刪除規(guī)范性引用文件E2007和E2033。

為便于使用,本標(biāo)準(zhǔn)還做了下列編輯性修改:

a)“本方法”一詞改為“本標(biāo)準(zhǔn)”;

b)按GB/T1.1—2000規(guī)定的格式要求,對(duì)部分條號(hào)和標(biāo)題做了修改;

c)在第2章和第3章中使用GB/T1.1—2000規(guī)定的引導(dǎo)語(yǔ)。

本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A為資料性附錄。

本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)提出。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)無(wú)損檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC56)歸口。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:上海蘇州美柯達(dá)探傷器材有限公司、中國(guó)特種設(shè)備檢測(cè)研究中心、上海星標(biāo)科技

信息咨詢事務(wù)所、上海材料研究所。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:宓中玉、章怡明、張佳銀、趙成、金宇飛。

犌犅/犜21356—2008

無(wú)損檢測(cè)計(jì)算機(jī)射線照相系統(tǒng)的長(zhǎng)期

穩(wěn)定性與鑒定方法

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了計(jì)算機(jī)射線照相系統(tǒng)(CR)的基本參數(shù),以保證其無(wú)損檢測(cè)時(shí)獲得令人滿意的和可重

復(fù)的結(jié)果。

本標(biāo)準(zhǔn)描述了對(duì)工業(yè)用計(jì)算機(jī)射線照相系統(tǒng)的評(píng)價(jià),其目的旨在對(duì)成像質(zhì)量,以及掃描器或IP系

統(tǒng)對(duì)成像質(zhì)量的影響進(jìn)行評(píng)價(jià),確保滿足用戶要求并能保持檢測(cè)的長(zhǎng)期穩(wěn)定性。

本標(biāo)準(zhǔn)描述的每一種測(cè)定,可以采用特定的專用指示計(jì)來(lái)完成。對(duì)系統(tǒng)控制所進(jìn)行的測(cè)試,是采用

專用的試樣還是CR板(附錄A),具體應(yīng)由用戶決定。計(jì)算機(jī)照相測(cè)試?yán)?,本?biāo)準(zhǔn)指明為“用戶測(cè)試”

的,可以由用戶在檢測(cè)操作過(guò)程中,利用適當(dāng)間隙自己來(lái)進(jìn)行,這些測(cè)試是與系統(tǒng)的使用范圍和所測(cè)材

料相適應(yīng)的。影像的衰退、均勻性和擦除能力的測(cè)試,也應(yīng)是系統(tǒng)控制的一部分。所有其他與質(zhì)量和檢

測(cè)能力相關(guān)項(xiàng)目的測(cè)試,應(yīng)由CR設(shè)備制造商實(shí)施和出具證明。

本標(biāo)準(zhǔn)未提出與安全相關(guān)的規(guī)定。本標(biāo)準(zhǔn)使用者有責(zé)任在事先依據(jù)適用的法規(guī)條款,制定適當(dāng)?shù)?/p>

安全衛(wèi)生實(shí)施細(xì)則,并供測(cè)試時(shí)遵循執(zhí)行。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過(guò)本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有

的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn),然而,鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究

是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

GB/T12604.2無(wú)損檢測(cè)術(shù)語(yǔ)射線照相檢測(cè)(GB/T12604.2—2005,ISO5576:1997,IDT)

GB/T19348.1無(wú)損檢測(cè)工業(yè)射線照相膠片第1部分:工業(yè)射線照相膠片系統(tǒng)的分類

(GB/T19348.1—2003,ISO116991:1998,IDT)

GB/T21355無(wú)損檢測(cè)計(jì)算機(jī)射線照相系統(tǒng)的分類

ASTME1647射線照相對(duì)比靈敏度測(cè)定方法

ASTME2002射線照相圖像總不清晰度測(cè)定方法

3術(shù)語(yǔ)和定義

GB/T12604.2確立的以及下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

3.1

混疊犪犾犻犪狊犻狀犵

超過(guò)奈奎斯特(Nyquist)頻率(由像素間隔決定)的預(yù)置試樣的高空間頻率信號(hào),在較低空間頻率時(shí)

反射進(jìn)入圖像。

3.2

計(jì)算機(jī)射線照相系統(tǒng)(犆犚系統(tǒng))犮狅犿狆狌狋犲犱狉犪犱犻狅犾狅犵狔狊狔狊狋犲犿(犆犚狊狔狊狋犲犿)

由存儲(chǔ)磷光成像板(IP)、相應(yīng)的讀出裝置(掃描器或讀

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