標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 18239-2000 集成電路(IC)卡讀寫(xiě)機(jī)通用規(guī)范》作為一項(xiàng)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)，為集成電路卡讀寫(xiě)設(shè)備的制造商和用戶(hù)提供了統(tǒng)一的功能要求、性能指標(biāo)、測(cè)試方法及安全要求。然而，您提供的對(duì)比參照物未明確給出，這使得直接對(duì)比具體變更內(nèi)容變得不可能。不過(guò)，可以一般性地說(shuō)明當(dāng)一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)更新或與另一個(gè)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)比較時(shí)，通常會(huì)涉及以下幾個(gè)方面的變化：

  1. 技術(shù)進(jìn)步的適應(yīng)性：新標(biāo)準(zhǔn)可能會(huì)納入新技術(shù)要求，以適應(yīng)集成電路卡讀寫(xiě)技術(shù)的發(fā)展，比如支持更高頻率的通信協(xié)議、增加對(duì)新型IC卡標(biāo)準(zhǔn)的兼容性等。

  2. 安全性增強(qiáng)：鑒于信息安全的重要性日益增加，新標(biāo)準(zhǔn)可能會(huì)加強(qiáng)關(guān)于數(shù)據(jù)加密、身份驗(yàn)證、防篡改功能等方面的要求，確保交易和數(shù)據(jù)傳輸?shù)陌踩浴?/p>

  3. 互操作性提升：為了促進(jìn)不同廠商設(shè)備間的順暢交互，新標(biāo)準(zhǔn)可能會(huì)細(xì)化互操作性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，確保不同品牌讀寫(xiě)器與IC卡之間的兼容性。

  4. 性能指標(biāo)調(diào)整：可能會(huì)根據(jù)技術(shù)進(jìn)步和市場(chǎng)需求調(diào)整讀寫(xiě)速度、錯(cuò)誤率、耐用性等性能指標(biāo)，以提高用戶(hù)體驗(yàn)和系統(tǒng)效率。

  5. 環(huán)境適應(yīng)性與可靠性：隨著應(yīng)用環(huán)境的多樣化，新標(biāo)準(zhǔn)可能對(duì)設(shè)備的工作溫度范圍、濕度抵抗能力、電磁兼容性等提出更嚴(yán)格的要求。

  6. 測(cè)試方法與認(rèn)證流程：為了確保產(chǎn)品符合新標(biāo)準(zhǔn)，可能會(huì)引入新的測(cè)試方法和認(rèn)證程序，包括實(shí)驗(yàn)室測(cè)試、現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)等，以驗(yàn)證設(shè)備的合規(guī)性。

  7. 用戶(hù)界面與可訪問(wèn)性：考慮到用戶(hù)體驗(yàn)，新標(biāo)準(zhǔn)可能會(huì)包含對(duì)用戶(hù)界面友好度、多語(yǔ)言支持、無(wú)障礙設(shè)計(jì)等方面的指導(dǎo)原則。


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  • 2001-08-01 實(shí)施
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GB/T 18239-2000集成電路(IC)卡讀寫(xiě)機(jī)通用規(guī)范_第1頁(yè)
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ICS.35.240.15L64中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T18239—2000集成電路(IC)卡讀寫(xiě)機(jī)通用規(guī)范Genericspecificationforintegratedcircuitcardreader2000-10-17發(fā)布2001-08-01實(shí)施國(guó)家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

GB/T18239-2000目次前言……上范圍引用標(biāo)準(zhǔn)定義4要求5試試驗(yàn)方法6檢驗(yàn)規(guī)則7標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸、財(cái)存·附錄A(標(biāo)準(zhǔn)的附錄）故故障分類(lèi)及判據(jù)附錄B(標(biāo)準(zhǔn)的附錄)集成電路卡讀寫(xiě)機(jī)檢查程序的規(guī)定

GB/T18239-2000本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定IC卡讀寫(xiě)機(jī)的技術(shù)要求、試驗(yàn)方法和檢驗(yàn)規(guī)則,以及IC卡讀寫(xiě)機(jī)的標(biāo)志和標(biāo)簽。本標(biāo)準(zhǔn)所涉及的IC卡讀寫(xiě)機(jī)適用于工商、稅務(wù)、交通及流動(dòng)人口管理等領(lǐng)域。該機(jī)適用的IC卡應(yīng)符合GB/T16649.1—1993《識(shí)別卡帶觸點(diǎn)的集成電路卡第1部分：物理特性》和GB/T16649.2-1993《識(shí)別卡帶觸點(diǎn)的集成電路卡第2部分：觸點(diǎn)的尺寸和位置》和GB/T16649.3—1993《識(shí)別卡帶觸點(diǎn)的集成電路卡第3部分：電信號(hào)和傳輸協(xié)議》的規(guī)定。本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A、附錄B是標(biāo)準(zhǔn)的附錄。本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國(guó)信息產(chǎn)業(yè)部提出本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所歸口本標(biāo)準(zhǔn)主要起草單位：華旭金卡有限責(zé)任公司、中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所、中國(guó)華大集成電路設(shè)計(jì)中心、長(zhǎng)城計(jì)算機(jī)軟件與系統(tǒng)公司、深圳開(kāi)發(fā)科技股份有限公司、福建實(shí)達(dá)電腦股份有限公司、上海良標(biāo)智能終端股份有限公司。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：丁榮興、馮樹(shù)德、王立建、張金霞

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T18239-2000集成電路(IC)卡讀寫(xiě)機(jī)通用規(guī)范Genericspecificationforintegratedcircuitcardreader1范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了集成電路(IC)卡讀寫(xiě)機(jī)(以下簡(jiǎn)稱(chēng)產(chǎn)品)的技術(shù)要求、試驗(yàn)方法和檢驗(yàn)規(guī)則,以及標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸和貼存要求。本標(biāo)準(zhǔn)適用于IC卡讀寫(xiě)機(jī)產(chǎn)品、2引用標(biāo)準(zhǔn)下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文，通過(guò)在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。本標(biāo)準(zhǔn)出版時(shí).所示版本均為有效。所有標(biāo)準(zhǔn)都會(huì)被修訂，使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性GB191—1990包裝儲(chǔ)運(yùn)圖示標(biāo)志GB/T1988—1998信息技術(shù)信息交換用七位編碼字符集(eqvISO/IEC646：1991)GB2312—1980信息交換用漢字編碼字符集基本集GB/T2421—1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第1部分:總則(idtIEC68-1:1988)GB/T2423.1—1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法（eqvIEC68-2-1:1974）GB/T2423.2—1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程足試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法(eqvIEC68-2-2:1974）GB/T2423.3-1993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法（eqvIEC68-2-3:1984）5電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法GB/T2423.5-1995試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則：沖擊(idtIEC68-2-27:1987）GB/T2423.6-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則：碰撞(idtIEC68-2-29.1987)，電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法GB/T2423.8-1995試驗(yàn)Ed:自由跌落CidtIEC68-2-32：1990GB/T2423.10—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法：試驗(yàn)Fe和導(dǎo)則：振動(dòng)（正弦)idtIEC68-2-6.1982）GB/T2828—1987逐批檢查計(jì)數(shù)抽樣程序及抽樣表(適用于連續(xù)批的檢查）GB4943—1995信息技術(shù)設(shè)備(包括電氣事務(wù)設(shè)備)的安全(idtIEC950:1991)GB/T5007.1—1985信息交換用漢字24×24點(diǎn)陣字模集GB/T5007.2-1985信息交換用漢字24×24點(diǎn)陣字模數(shù)據(jù)集GB/T5080.7-19

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