GB/T 2423.8-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed：自由跌落

PDC.621.3：620.178K04中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T2423.8-1995idtIec68-2-32：1990電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed：自由跌落EnvironmentaltestingforelectricandelectronicproductsPart2：TestmethodsTestEd:Freefall1995-08-29發(fā)布1996-08-01實(shí)施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

GB:T2423.8-1995本標(biāo)準(zhǔn)等同采用國際電工委員會標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-32(1975年第二版)基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed;自由跌落》、1982年的第一次修改和1990年的第二次修改。這樣，使這項國家標(biāo)準(zhǔn)與國際標(biāo)準(zhǔn)相同，以適應(yīng)國際貿(mào)易、技術(shù)和經(jīng)濟(jì)交流的需要，本標(biāo)準(zhǔn)代替GB2423.8—81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ed:自由跌落試驗(yàn)方法》和（B2424.6—81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程自由跌落試驗(yàn)導(dǎo)則》。GB2423.8-81和GB2424.6一81是參照IEC68-2-32(1975年第二版)《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed:自由跌落》起草的。本標(biāo)準(zhǔn)在技術(shù)內(nèi)容、編寫格式和規(guī)則上都與IEC68-2-32(1975)、1982年的第一次修改文本,1990年的第二次修改文本完全相同。本標(biāo)準(zhǔn)與前版的主要區(qū)別在于：-將GB2423.8和GB2424.6兩個標(biāo)準(zhǔn)合并成一個標(biāo)準(zhǔn)GB/T2423.8；-按IEC68-2-32.1982年和1990年的兩次修改，對方法二和附錄A作了修改，補(bǔ)充了附錄B。下列四項標(biāo)準(zhǔn)與本標(biāo)準(zhǔn)均屬撞擊試驗(yàn)范時,有關(guān)規(guī)范應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品的使用和運(yùn)輸?shù)木唧w情況選擇合適的試驗(yàn)方法（見附錄B)。-GB/T2423.5一1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則：沖擊：-GB/T2423.6—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法武驗(yàn)Eb和導(dǎo)則：碰撞，電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)GB/T2423.7-1995：第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ee和導(dǎo)則：傾跌與翻倒(主要用于設(shè)備型樣品)-GB2423.39—90電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ee:彈跳試驗(yàn)方法、本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A、附錄B是標(biāo)準(zhǔn)的附錄。本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國電子工業(yè)部提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：郵電部第一研究所、電子工業(yè)部第五研究所。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：王裕春、魏蓓、何錦康、于占泉、王樹榮。

GB/T2423.8-1995IEC前吉1）國際電工委員會(IEC)關(guān)于技術(shù)問題的正式?jīng)Q議或協(xié)議,是由對該問題特別關(guān)切的國家委員會代表參加的技術(shù)委員會制定的,它們盡可能地表達(dá)了國際上對該問題的一致意見。2）這些決議或協(xié)議以推薦標(biāo)準(zhǔn)的形式供國際上使用，在這種意義上為各國家委員會所接受。3）為了促進(jìn)國際上的統(tǒng)一,國際電工委員會希望：所有國家委員會在本國條件許可的情況下應(yīng)采用IC推薦標(biāo)準(zhǔn)作為他們的國家標(biāo)準(zhǔn)。IC推薦標(biāo)準(zhǔn)與相應(yīng)的國家標(biāo)準(zhǔn)之間的任何分歧，應(yīng)盡可能在國家標(biāo)準(zhǔn)中明確地說明。本標(biāo)準(zhǔn)是由IEC第50技術(shù)委員會（環(huán)境試驗(yàn))的50A分技術(shù)委員會(沖擊和振動試驗(yàn))制定的第一次草案在1972年斯德哥爾摩會議上討論.形成文件:50A(中央辦公室)138。于1973年提交給各國家委員會按"六個月法"表決。下列國家投票明確贊成本標(biāo)準(zhǔn)：澳大利亞、比利時、巴西、捷克斯洛伐克、丹麥、埃及、芬蘭、德國、法國、以色列、日本、荷蘭、挪威、波蘭、和新牙、南非(共和）、羅馬尼亞、西班牙、瑞典、瑞士、土耳其、蘇聯(lián)、聯(lián)合王國、美國。1982年作了第一次修改，增加了附錄B導(dǎo)則。1990年作了第二次修改，修改基于下列文件：二月程摩六個月法表決報省修改文件號表決報告50A(CO)18550A（CO)18650A（CO)18150A（CO)18750A（CO15250A（CO)157更詳細(xì)的資料可查閱上表所列表決報告。第二次修改更新了兩個附錄的內(nèi)容

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed：自由跌落代替CE：2423.8一GB2424.6-81EnvironmentaltestingforelectricandelectronicproductsPart2：TestmethodsTestEd：Freefall引言本試驗(yàn)分為兩種方法。第一種方法通常是用來模擬非包裝狀態(tài)的產(chǎn)品在搬運(yùn)期間可能經(jīng)受到的自由跌落，樣品通常是按照規(guī)定的姿態(tài)從規(guī)定的高度跌落到規(guī)定的表面上兩次。第二種方法通常用來模擬附在電纜上的連接器、小型通控裝置等在使用中可能經(jīng)受的重復(fù)自由跌落。使試驗(yàn)樣品從規(guī)定高度重復(fù)跌落到規(guī)定的表面上。它是通過使用合適的設(shè)備，例如(旋轉(zhuǎn))滾簡來實(shí)現(xiàn)的。方法一：自由跌落1日的確定產(chǎn)品在搬運(yùn)期間由于粗率裝卸遭到跌落的適應(yīng)性，或確定安全要求用的最低牢固等級。本試驗(yàn)主要用于非包裝的試驗(yàn)樣品，以及在運(yùn)輸箱中其包裝可以作為樣品一部分的試驗(yàn)樣品。武驗(yàn)條件2.1試驗(yàn)表面試驗(yàn)表面應(yīng)該是混凝土或鋼制成的平滑、堅硬的剛性表面。必要時，有關(guān)規(guī)范可以規(guī)定其它表面。2.2跌溶高度是指試驗(yàn)樣品在跌落前懸掛著的時候，試驗(yàn)表面與離它最近的樣品部位之間的高度。2.3釋放方法釋放試驗(yàn)樣品的方法應(yīng)使試驗(yàn)樣品從懸掛著的位置自由跌落。釋放時，要使干擾最小.3·嚴(yán)酷等級應(yīng)從下列諸值中選取跌落高度：（25、5