標(biāo)準(zhǔn)解讀
GB/T 12085.18-2011 是一項中國國家標(biāo)準(zhǔn),專注于光學(xué)和光學(xué)儀器的環(huán)境試驗方法。這一標(biāo)準(zhǔn)的具體內(nèi)容集中在第18部分,它規(guī)定了對光學(xué)及光學(xué)儀器進(jìn)行濕熱、低內(nèi)壓綜合試驗的方法與要求,旨在評估這些設(shè)備在特定惡劣環(huán)境條件下的性能穩(wěn)定性和可靠性。
標(biāo)準(zhǔn)適用范圍
該標(biāo)準(zhǔn)適用于各種光學(xué)儀器及其組件,包括但不限于相機鏡頭、望遠(yuǎn)鏡、顯微鏡、激光設(shè)備等,在設(shè)計、生產(chǎn)和質(zhì)量控制環(huán)節(jié)中進(jìn)行的環(huán)境適應(yīng)性測試。通過模擬濕熱和低氣壓同時作用的極端環(huán)境,來檢驗產(chǎn)品是否能保持其預(yù)期功能和性能。
試驗條件與參數(shù)
-
濕熱條件:標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)說明了試驗時應(yīng)維持的溫度和濕度水平,通常包括高溫高濕環(huán)境,以考察材料的吸濕性、密封性以及電子部件在潮濕條件下的工作穩(wěn)定性。
-
低內(nèi)壓(低壓)條件:除了濕熱外,標(biāo)準(zhǔn)還規(guī)定了降低試驗箱內(nèi)氣壓的要求,模仿高海拔或航空運輸?shù)葓鼍?,評估設(shè)備在低氣壓環(huán)境中的密封性、結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性和工作能力。
-
綜合試驗周期:標(biāo)準(zhǔn)指定了試驗的持續(xù)時間,可能包括幾個階段,每個階段都有具體的溫濕度和壓力設(shè)定,以全面考核設(shè)備的耐受性。
-
試驗前準(zhǔn)備與試驗后檢查:包含了樣品的預(yù)處理步驟、試驗期間的監(jiān)控要求以及試驗結(jié)束后的檢測項目,如外觀檢查、功能驗證、性能指標(biāo)測試等,確保試驗結(jié)果的有效性。
-
試驗設(shè)備與設(shè)施:說明了執(zhí)行此類試驗所需試驗箱的技術(shù)規(guī)格和校準(zhǔn)要求,保證試驗環(huán)境的準(zhǔn)確性和重復(fù)性。
-
數(shù)據(jù)記錄與分析:要求詳細(xì)記錄試驗過程中的各項參數(shù)變化和試驗結(jié)果,以便于數(shù)據(jù)分析和評估產(chǎn)品的環(huán)境適應(yīng)性。
實施意義
遵循此標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行的濕熱、低內(nèi)壓綜合試驗,能夠幫助制造商和研發(fā)機構(gòu)科學(xué)地評價光學(xué)及光學(xué)儀器的環(huán)境適應(yīng)能力,及時發(fā)現(xiàn)潛在的設(shè)計缺陷或材料問題,從而提升產(chǎn)品質(zhì)量和用戶使用體驗,確保產(chǎn)品在不同環(huán)境下都能保持良好的工作狀態(tài)。
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....
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- 被代替
- 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替,建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 12085.23-2022
- 2011-06-16 頒布
- 2011-11-01 實施
下載本文檔
GB/T 12085.18-2011光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法第18部分:濕熱、低內(nèi)壓綜合試驗-免費下載試讀頁文檔簡介
ICS37020
N30.
中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)
GB/T1208518—2011
.
光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法
第18部分濕熱低內(nèi)壓綜合試驗
:、
Opticsandopticalinstruments—Environmentaltestmethods—
Part18Combineddamheatandlowinternalressure
:pp
(ISO9022-18:1994,MOD)
2011-06-16發(fā)布2011-11-01實施
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布
中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
GB/T1208518—2011
.
前言
光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法分為以下個部分
GB/T12085《》21:
第部分術(shù)語試驗范圍
———1:、;
第部分低溫高溫濕熱
———2:、、;
第部分機械作用力
———3:;
第部分鹽霧
———4:;
第部分低溫低氣壓綜合試驗
———5:、;
第部分砂塵
———6:;
第部分滴水淋雨
———7:、;
第部分高壓低壓浸沒
———8:、、;
第部分太陽輻射
———9:;
第部分振動正弦與高溫低溫綜合試驗
———10:()、;
第部分長霉
———11:;
第部分污染
———12:;
第部分沖擊碰撞或自由跌落與高溫低溫綜合試驗
———13:、、;
第部分露霜冰
———14:、、;
第部分寬帶隨機振動數(shù)字控制與高溫低溫綜合試驗
———15:()、;
第部分彈跳或恒加速度與高溫低溫綜合試驗
———16:、;
第部分污染太陽輻射綜合試驗
———17:、;
第部分濕熱低內(nèi)壓綜合試驗
———18:、;
第部分溫度周期與正弦振動隨機振動綜合試驗
———19:、;
第部分含二氧化硫硫化氫的濕空氣
———20:、;
第部分低壓與大氣溫度高溫綜合試驗
———21:、。
本部分修改采用光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法第部分濕熱低內(nèi)壓綜
ISO9022-18:1994《18:、
合試驗
》。
本部分與的主要差異為
ISO9022-18:1994:
刪除國際標(biāo)準(zhǔn)的序言和前言
———;
根據(jù)第章及我國標(biāo)準(zhǔn)用語習(xí)慣對標(biāo)準(zhǔn)范圍作了重新編寫
———ISO9022-181;
國際標(biāo)準(zhǔn)本部分一詞改為本部分
———“”“”;
第章中的規(guī)范性引用文件用現(xiàn)行國家標(biāo)準(zhǔn)替代
———2;
條件試驗中懸置段加編號
———。
本部分的附錄為資料性附錄
A。
本部分由中國機械工業(yè)聯(lián)合會提出
。
本部分由全國光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口
(SAC/TC103)。
本部分起草單位上海理工大學(xué)寧波永新光學(xué)股份有限公司江南永新光學(xué)有限公司南京東利來
:、、、
光電實業(yè)有限公司廣州粵顯光學(xué)儀器有限責(zé)任公司寧波市教學(xué)儀器有限公司寧波華光精密儀器有
、、、
限公司梧州奧卡光學(xué)儀器公司寧波舜宇儀器有限公司貴陽新天光電科技有限公司重慶光電儀器有
、、、、
限公司麥克奧迪實業(yè)集團有限公司
、。
本部分主要起草人章慧賢馮瓊輝曾麗珠葉慧李晞楊廣烈李彌高王國瑞徐利明張景華
:、、、、、、、、、、
胡森虎胡清夏碩肖倩
、、、。
Ⅰ
GB/T1208518—2011
.
光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法
第18部分濕熱低內(nèi)壓綜合試驗
:、
1范圍
本部分規(guī)定了濕熱低內(nèi)壓綜合試驗的試驗條件條件試驗試驗程序及環(huán)境試驗標(biāo)記
、、、。
本部分適用于光學(xué)儀器裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件
、。
2規(guī)范性引用文件
下列文件中的條款通過的本部分的引用而成為本部分的條款凡是注日期的引用文
GB/T12085。
件其隨后所有的修改單不包括勘誤的內(nèi)容或修訂版均不適用于本部分然而鼓勵根據(jù)本部分達(dá)成
,(),,
協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本凡是不注日期的引用文件其最新版本適用于本
。,
部分
。
光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法第部分術(shù)語試驗范圍
GB/T12085.11:、(GB/T12085.1—
2010,ISO9022-1:1994,MOD)
光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法第部分高壓低壓浸沒
GB/T12085.88:、、(GB/T12085.8—
2010,ISO9022-8:1994,MOD)
3試驗條件
在綜合作用力條件下對暴露的試樣進(jìn)行的測試要比任一種單一環(huán)境條件試驗更為嚴(yán)酷
,。
光學(xué)儀器抗?jié)駸岷蛢?nèi)低壓綜合試驗采用三種不同方法
。
4條件試驗
41總則
.
試樣的各個部分都達(dá)到與試驗箱室的溫差在之內(nèi)開始試驗試樣上允許出現(xiàn)凝露各試驗
()3K。。
步驟應(yīng)按預(yù)定順序依次進(jìn)行試驗過程不允許中斷
。。
42條件試驗方法47濕熱和內(nèi)低壓壓差低
.:,
條件試驗方法濕熱和內(nèi)低壓壓差低按表和圖
47,11。
條件試驗方法適用于密封性制造要求低抗壓性低的光學(xué)儀器例如符合條
47()。:GB/T12085.8
件試驗方法中嚴(yán)酷等級為和的儀器
8101、02、0708。
表1
嚴(yán)酷等級
010203040506
試驗箱
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