標(biāo)準(zhǔn)解讀

GB/T 12085.18-2011 是一項(xiàng)中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，專注于光學(xué)和光學(xué)儀器的環(huán)境試驗(yàn)方法。這一標(biāo)準(zhǔn)的具體內(nèi)容集中在第18部分，它規(guī)定了對(duì)光學(xué)及光學(xué)儀器進(jìn)行濕熱、低內(nèi)壓綜合試驗(yàn)的方法與要求，旨在評(píng)估這些設(shè)備在特定惡劣環(huán)境條件下的性能穩(wěn)定性和可靠性。

標(biāo)準(zhǔn)適用范圍

該標(biāo)準(zhǔn)適用于各種光學(xué)儀器及其組件，包括但不限于相機(jī)鏡頭、望遠(yuǎn)鏡、顯微鏡、激光設(shè)備等，在設(shè)計(jì)、生產(chǎn)和質(zhì)量控制環(huán)節(jié)中進(jìn)行的環(huán)境適應(yīng)性測(cè)試。通過(guò)模擬濕熱和低氣壓同時(shí)作用的極端環(huán)境，來(lái)檢驗(yàn)產(chǎn)品是否能保持其預(yù)期功能和性能。

試驗(yàn)條件與參數(shù)

  1. 濕熱條件：標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)說(shuō)明了試驗(yàn)時(shí)應(yīng)維持的溫度和濕度水平，通常包括高溫高濕環(huán)境，以考察材料的吸濕性、密封性以及電子部件在潮濕條件下的工作穩(wěn)定性。

  2. 低內(nèi)壓（低壓）條件：除了濕熱外，標(biāo)準(zhǔn)還規(guī)定了降低試驗(yàn)箱內(nèi)氣壓的要求，模仿高海拔或航空運(yùn)輸?shù)葓?chǎng)景，評(píng)估設(shè)備在低氣壓環(huán)境中的密封性、結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性和工作能力。

  3. 綜合試驗(yàn)周期：標(biāo)準(zhǔn)指定了試驗(yàn)的持續(xù)時(shí)間，可能包括幾個(gè)階段，每個(gè)階段都有具體的溫濕度和壓力設(shè)定，以全面考核設(shè)備的耐受性。

  4. 試驗(yàn)前準(zhǔn)備與試驗(yàn)后檢查：包含了樣品的預(yù)處理步驟、試驗(yàn)期間的監(jiān)控要求以及試驗(yàn)結(jié)束后的檢測(cè)項(xiàng)目，如外觀檢查、功能驗(yàn)證、性能指標(biāo)測(cè)試等，確保試驗(yàn)結(jié)果的有效性。

  5. 試驗(yàn)設(shè)備與設(shè)施：說(shuō)明了執(zhí)行此類試驗(yàn)所需試驗(yàn)箱的技術(shù)規(guī)格和校準(zhǔn)要求，保證試驗(yàn)環(huán)境的準(zhǔn)確性和重復(fù)性。

  6. 數(shù)據(jù)記錄與分析：要求詳細(xì)記錄試驗(yàn)過(guò)程中的各項(xiàng)參數(shù)變化和試驗(yàn)結(jié)果，以便于數(shù)據(jù)分析和評(píng)估產(chǎn)品的環(huán)境適應(yīng)性。

實(shí)施意義

遵循此標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行的濕熱、低內(nèi)壓綜合試驗(yàn)，能夠幫助制造商和研發(fā)機(jī)構(gòu)科學(xué)地評(píng)價(jià)光學(xué)及光學(xué)儀器的環(huán)境適應(yīng)能力，及時(shí)發(fā)現(xiàn)潛在的設(shè)計(jì)缺陷或材料問(wèn)題，從而提升產(chǎn)品質(zhì)量和用戶使用體驗(yàn)，確保產(chǎn)品在不同環(huán)境下都能保持良好的工作狀態(tài)。


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....

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  • 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替，建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 12085.23-2022
  • 2011-06-16 頒布
  • 2011-11-01 實(shí)施
?正版授權(quán)
GB/T 12085.18-2011光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第18部分：濕熱、低內(nèi)壓綜合試驗(yàn)_第1頁(yè)
GB/T 12085.18-2011光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第18部分：濕熱、低內(nèi)壓綜合試驗(yàn)_第2頁(yè)
GB/T 12085.18-2011光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第18部分：濕熱、低內(nèi)壓綜合試驗(yàn)_第3頁(yè)
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ICS37020

N30.

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T1208518—2011

.

光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法

第18部分濕熱低內(nèi)壓綜合試驗(yàn)

:、

Opticsandopticalinstruments—Environmentaltestmethods—

Part18Combineddamheatandlowinternalressure

:pp

(ISO9022-18:1994,MOD)

2011-06-16發(fā)布2011-11-01實(shí)施

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T1208518—2011

.

前言

光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法分為以下個(gè)部分

GB/T12085《》21:

第部分術(shù)語(yǔ)試驗(yàn)范圍

———1:、;

第部分低溫高溫濕熱

———2:、、;

第部分機(jī)械作用力

———3:;

第部分鹽霧

———4:;

第部分低溫低氣壓綜合試驗(yàn)

———5:、;

第部分砂塵

———6:;

第部分滴水淋雨

———7:、;

第部分高壓低壓浸沒(méi)

———8:、、;

第部分太陽(yáng)輻射

———9:;

第部分振動(dòng)正弦與高溫低溫綜合試驗(yàn)

———10:()、;

第部分長(zhǎng)霉

———11:;

第部分污染

———12:;

第部分沖擊碰撞或自由跌落與高溫低溫綜合試驗(yàn)

———13:、、;

第部分露霜冰

———14:、、;

第部分寬帶隨機(jī)振動(dòng)數(shù)字控制與高溫低溫綜合試驗(yàn)

———15:()、;

第部分彈跳或恒加速度與高溫低溫綜合試驗(yàn)

———16:、;

第部分污染太陽(yáng)輻射綜合試驗(yàn)

———17:、;

第部分濕熱低內(nèi)壓綜合試驗(yàn)

———18:、;

第部分溫度周期與正弦振動(dòng)隨機(jī)振動(dòng)綜合試驗(yàn)

———19:、;

第部分含二氧化硫硫化氫的濕空氣

———20:、;

第部分低壓與大氣溫度高溫綜合試驗(yàn)

———21:、。

本部分修改采用光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第部分濕熱低內(nèi)壓綜

ISO9022-18:1994《18:、

合試驗(yàn)

》。

本部分與的主要差異為

ISO9022-18:1994:

刪除國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的序言和前言

———;

根據(jù)第章及我國(guó)標(biāo)準(zhǔn)用語(yǔ)習(xí)慣對(duì)標(biāo)準(zhǔn)范圍作了重新編寫(xiě)

———ISO9022-181;

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)本部分一詞改為本部分

———“”“”;

第章中的規(guī)范性引用文件用現(xiàn)行國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)替代

———2;

條件試驗(yàn)中懸置段加編號(hào)

———。

本部分的附錄為資料性附錄

A。

本部分由中國(guó)機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)提出

。

本部分由全國(guó)光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口

(SAC/TC103)。

本部分起草單位上海理工大學(xué)寧波永新光學(xué)股份有限公司江南永新光學(xué)有限公司南京東利來(lái)

:、、、

光電實(shí)業(yè)有限公司廣州粵顯光學(xué)儀器有限責(zé)任公司寧波市教學(xué)儀器有限公司寧波華光精密儀器有

、、、

限公司梧州奧卡光學(xué)儀器公司寧波舜宇儀器有限公司貴陽(yáng)新天光電科技有限公司重慶光電儀器有

、、、、

限公司麥克奧迪實(shí)業(yè)集團(tuán)有限公司

、。

本部分主要起草人章慧賢馮瓊輝曾麗珠葉慧李晞楊廣烈李彌高王國(guó)瑞徐利明張景華

:、、、、、、、、、、

胡森虎胡清夏碩肖倩

、、、。

Ⅰ

GB/T1208518—2011

.

光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法

第18部分濕熱低內(nèi)壓綜合試驗(yàn)

:、

1范圍

本部分規(guī)定了濕熱低內(nèi)壓綜合試驗(yàn)的試驗(yàn)條件條件試驗(yàn)試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記

、、、。

本部分適用于光學(xué)儀器裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件

、。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過(guò)的本部分的引用而成為本部分的條款凡是注日期的引用文

GB/T12085。

件其隨后所有的修改單不包括勘誤的內(nèi)容或修訂版均不適用于本部分然而鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成

,(),,

協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本凡是不注日期的引用文件其最新版本適用于本

。,

部分

。

光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第部分術(shù)語(yǔ)試驗(yàn)范圍

GB/T12085.11:、(GB/T12085.1—

2010,ISO9022-1:1994,MOD)

光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第部分高壓低壓浸沒(méi)

GB/T12085.88:、、(GB/T12085.8—

2010,ISO9022-8:1994,MOD)

3試驗(yàn)條件

在綜合作用力條件下對(duì)暴露的試樣進(jìn)行的測(cè)試要比任一種單一環(huán)境條件試驗(yàn)更為嚴(yán)酷

,。

光學(xué)儀器抗?jié)駸岷蛢?nèi)低壓綜合試驗(yàn)采用三種不同方法

。

4條件試驗(yàn)

41總則

.

試樣的各個(gè)部分都達(dá)到與試驗(yàn)箱室的溫差在之內(nèi)開(kāi)始試驗(yàn)試樣上允許出現(xiàn)凝露各試驗(yàn)

()3K。。

步驟應(yīng)按預(yù)定順序依次進(jìn)行試驗(yàn)過(guò)程不允許中斷

。。

42條件試驗(yàn)方法47濕熱和內(nèi)低壓壓差低

.:,

條件試驗(yàn)方法濕熱和內(nèi)低壓壓差低按表和圖

47,11。

條件試驗(yàn)方法適用于密封性制造要求低抗壓性低的光學(xué)儀器例如符合條

47()。:GB/T12085.8

件試驗(yàn)方法中嚴(yán)酷等級(jí)為和的儀器

8101、02、0708。

表1

嚴(yán)酷等級(jí)

010203040506

試驗(yàn)箱

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