醫(yī)用X射線診斷設(shè)備質(zhì)量控制培訓(xùn)教材(PPT-82頁)課件

1、醫(yī)用X射線診斷設(shè)備質(zhì)量控制數(shù)字化X射線攝影（DR）系統(tǒng)2018-06-13一、相關(guān)法規(guī)二、成像原理三、質(zhì)量控制一、相關(guān)法規(guī)放射診療管理規(guī)定第五條 醫(yī)療機構(gòu)應(yīng)當(dāng)采取有效措施，保證放射防護、安全與放射診療質(zhì)量符合有關(guān)規(guī)定、標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范的要求。第二十條 醫(yī)療機構(gòu)的放射診療設(shè)備和檢測儀表，應(yīng)當(dāng)符合下列要求：（一）新安裝、維修或更換重要部件后的設(shè)備，應(yīng)當(dāng)經(jīng)省級以上衛(wèi)生行政部門資質(zhì)認(rèn)證的檢測機構(gòu)對其進行檢測（驗收），合格后方可啟用；放射診療管理規(guī)定（二）定期進行穩(wěn)定性檢測、校正和維護保養(yǎng)，由省級以上衛(wèi)生行政部門資質(zhì)認(rèn)證的檢測機構(gòu)每年至少進行一次狀態(tài)檢測；第二十四條 醫(yī)療機構(gòu)應(yīng)當(dāng)制定與本單位從事的放射診療項目

2、相適應(yīng)的質(zhì)量保證方案，遵守質(zhì)量保證監(jiān)測規(guī)范。 質(zhì)量保證：為獲得穩(wěn)定的高質(zhì)量的x射線影像，同時又使人員的受照劑量和所需費用達到合理的最低水平所采取的有計劃的系統(tǒng)行動。質(zhì)量控制：通過對x射線診斷設(shè)備的性能檢測和維護，對X射線影像形成過程的監(jiān)測和校正行動，保證影像質(zhì)量的技術(shù)。質(zhì)量管理：為使質(zhì)量保證計劃得以貫徹實施，使各種檢測能正常進行，其結(jié)果得到評價，相關(guān)的校正行動得以實施而采取的管理措施。醫(yī)療機構(gòu)質(zhì)量控制程序示例為加強放射科影像質(zhì)量管理和質(zhì)量控制，保證放射科診斷質(zhì)量和醫(yī)療安全，落實“醫(yī)療質(zhì)量持續(xù)改進計劃，參照浙江省醫(yī)院放射科影像質(zhì)量保證方案，制定本市放射科影像質(zhì)量保證方案。醫(yī)療機構(gòu)質(zhì)量控制程序示例

3、一、放射科影像質(zhì)量保證組織和人員職責(zé)分工二、放射科工作人員準(zhǔn)入要求三、影像質(zhì)量評價制度四、影像質(zhì)量評價標(biāo)準(zhǔn)五、診斷報告書寫格式和質(zhì)量評價標(biāo)準(zhǔn)六、影像檢查過程的質(zhì)量控制七、相關(guān)資料的記錄、保存八、醫(yī)療安全的保證九、影像檢查設(shè)備的質(zhì)量控制一、放射科影像質(zhì)量保證組織和人員職責(zé)分工（一）各級醫(yī)院放射科應(yīng)建立影像質(zhì)量保證工作小組，小組成員應(yīng)包括高年資影像診斷醫(yī)師、放射科技師、影像設(shè)備維修人員相關(guān)專業(yè)工程技術(shù)人員，一般由5-7人組成。（二）放射科常規(guī)X線、CT、MR、DSA統(tǒng)一管理，放射科主任負(fù)責(zé)影像質(zhì)量保證方案的全面實施，組織定期和不定期的核查。影像質(zhì)量保證工作小組成員中，影像設(shè)備維修人員或相關(guān)專業(yè)工程

4、技術(shù)人員負(fù)責(zé)影像設(shè)備正常運行，保證影像設(shè)備運行穩(wěn)定，參數(shù)準(zhǔn)確，發(fā)生設(shè)備故障及時檢修。一、放射科影像質(zhì)量保證組織和人員職責(zé)分工技師負(fù)責(zé)X線檢查、CT、MRI掃描過程的質(zhì)量控制。影像診斷醫(yī)師負(fù)責(zé)診斷操作的質(zhì)量控制和影像診斷報告質(zhì)量的控制。（三）各種設(shè)備日常保養(yǎng)責(zé)任落實到人。二、成像原理X射線的發(fā)現(xiàn)1895年11月，德國物理學(xué)家倫琴在維爾茨堡大學(xué)的實驗室里，拉上物理實驗室厚厚的窗簾，屋子里一片漆黑，倫琴摸黑順利做完了實驗。但是，在沖洗才做完的實驗照片時，他發(fā)現(xiàn)放在放電管旁邊的一盒照相底片曝光了1900年4月1日，倫琴第一個獲得了諾貝爾物理學(xué)獎X射線的產(chǎn)生軔致輻射:高速電子突然中止 X射線99%熱能1

5、% X射線X射線是一種有能量的電磁波普通X射線成像的原理DR系統(tǒng)的組成一、X射線產(chǎn)生部分二、成像及圖像處理部分一、 X射線產(chǎn)生部分1、控制臺2、高壓發(fā)生器3、X線球管4、限束器5、其他普通醫(yī)用X射線診斷設(shè)備系統(tǒng)X射線球管的結(jié)構(gòu)焦點限束器限束器：能任意調(diào)節(jié)X射線照射野的大小濾線柵構(gòu)造：X射線濾線柵是由一定厚度、高度的高吸收X射線鉛材料片條和低吸收X射線鋁材料片條所組成的。作用：濾線柵可以減少被照體產(chǎn)生的散射線,改善X射線影像的對比度和清晰度，從而提高X射線影像的質(zhì)量和醫(yī)療診斷效果DR成像板DR成像板的分類1、直接直接能量轉(zhuǎn)換-非晶硒2、間接間接能量轉(zhuǎn)換-非晶硅和CCD一、非晶硒探測器結(jié)構(gòu)及其成像

6、原理:(直接成像)直接成像X線非晶硒感光層電信號影像數(shù)字信息非晶硒探測器直接數(shù)字化X線成像的平板探測器，利用了非晶硒的光電導(dǎo)性，將X線直接轉(zhuǎn)換成電信號，形成全數(shù)字化影像。成像原理：X線粒子射入加有高電壓的非晶硒感光層，其中原本定向移動的電荷發(fā)生電導(dǎo)率的改變，伴隨著空穴電子對分布不均勻的形成，感光層內(nèi)就有了不均勻聚集的電荷通過薄膜晶體管陣列轉(zhuǎn)換為可測的電信號，再進行A/D轉(zhuǎn)換，成為可直接由計算機進行處理的數(shù)字信號非晶硒探測器參數(shù)探測器有效探測面積：35X43cm采集矩陣：2560 x3072像素大?。?39139m采集像素A/D轉(zhuǎn)換位數(shù)：14bit空間分辨率：3.6lp/mm非晶硒探測器特性：優(yōu)

7、點：1、直接光電轉(zhuǎn)換2、直接讀出3、量子檢測率（DQE）較高4、曝光寬容度大5、后處理功能強大缺點：FPD對環(huán)境溫度，濕度要求較高，需要較高的偏直電壓，刷新速度慢，仍不能滿足動態(tài)攝影，所以不常用。二、非晶硅探測器結(jié)構(gòu)及其成像原理：(間接成像) 分碘化銫（CsI）+非晶硅和硫氧化釓GOS+非晶硅結(jié)構(gòu)由碘化銫閃爍體層、非晶硅光電二極管陣列、行驅(qū)動電路以及圖像信號讀取電路四部分。與非晶硒平板探測器的主要區(qū)別在于熒光材料層和探測元陣列層的不同，其信號讀出、放大、A/D轉(zhuǎn)換和輸出等部分基本相同。非晶硅探測器非晶硅平板探測器，是一種以非晶硅光電二極管陣列為核心的X線影像探測器。它利用碘化銫（CsI）的特性

8、，將入射后的X線光子轉(zhuǎn)換成可見光，再由具有光電二極管作用的非晶硅陣列變?yōu)殡娦盘?，通過外圍電路檢出及A/D轉(zhuǎn)換，從而獲得數(shù)字化圖像。由于其經(jīng)歷了射線可見光電荷圖像數(shù)字圖像的成像過程，通常也被稱作間接轉(zhuǎn)換型平板探測器。非晶硅平板探測器具有成像速度快，良好的空間及密度分辨率，高信噪比，直接數(shù)字輸出等優(yōu)點。碘化銫針柱直徑6m主要非晶硅平板探測器參數(shù)說明探測器法國Trixell Pixium 4600美國GERevolution美國VARIANPaxScan4343R DRZ Plus日本佳能CXDI-40G韓國三星探測器類型針狀碘化銫+非晶硅4塊拼接碘化銫+非晶硅整版碘化銫+非晶硅整版硫氧化釓+非晶硅

9、整版碘化銫+非晶硅整版影像區(qū)面積43cm43cm41cm41cm43cm43cm43cm43cm43cm43cm像素矩陣3K3K2K2K3K3K268826883K3K像素大小143um200um139um160um143um極限空間分辨率3.5LP/mm2.5LP/mm3.6LP/mm3.0LP/mm3.5LP/mmDQE (100%MTF時）65%74%70%33%65%A/D 轉(zhuǎn)換14bit14bit14bit14bit14bit灰階度14bit14bit14bit12bit14bit圖像預(yù)覽時間5s5s3s3s5s圖像處理時間8s8s5s20s15s工作環(huán)境要求溫度18-30溫度10-

10、40溫度10-40溫度10-40溫度10-40是否需要特殊輔助裝置（如水冷設(shè)備）不需要需要不需要不需要不需要探測器校正周期3-6個月用戶自定義校正周期（建議每一年校正一次）用戶自定義校正周期（建議每一年校正一次）用戶自定義校正周期（建議每一年校正一次）用戶自定義校正周期（建議每一年校正一次）非晶硅平板探測器優(yōu)缺點優(yōu)點：1、轉(zhuǎn)換效率高；2、動態(tài)范圍廣；3、空間分辨率高；4、在低分辨率區(qū)X線吸收率高（原因是其原子序數(shù)高于非晶硒）；5、環(huán)境適應(yīng)性強。缺點：1、高劑量時DQE不如非晶硒型；2、因有熒光轉(zhuǎn)換層故存在輕微散射效應(yīng)；3、銳利度相對略低于非晶硒型。CCD探測器結(jié)構(gòu)及其成像原理: (間接成像)

11、CCD（Charge Coupled Device）電荷耦合器是一種將光能轉(zhuǎn)換為電能的元件，隨著微電子技術(shù)的發(fā)展，CCD已是一項成熟的技術(shù)，它是由數(shù)量眾多的光敏單元排列組成面陣，光敏單元可小至50m2以下，空間分辨率很高，幾何失真小，均勻性和一致性好。但CCD對X射線不敏感，所以需要先將X射線激發(fā)熒光屏產(chǎn)生熒光，經(jīng)增強后成為Video信息，經(jīng)反光鏡反射到CCD鏡頭，被采集并轉(zhuǎn)換為電信息，再轉(zhuǎn)換為數(shù)字信息。CCD的特性：光電靈敏度高動態(tài)范圍大空間分辨率高較小的失真惰性極小高性能，長壽命CCD有兩大特點：一是CCD采用電荷耦合器件作為圖像傳感器，沒有攝像管，不用電子束掃描；二是CCD輸出的視頻信號

12、中也有圖像信息、復(fù)位電平和干擾脈沖，它是一個電壓信號，而不象攝像管輸出的高阻電流信號。目前國內(nèi)主要CCDDR探測器技術(shù)參數(shù)說明探測器KeenrayCCDDR探測器，深圳藍韻研制XDS3000探測器萬東研制IDC 4K/3KCCD探測器IDC研制類型針狀碘化銫+非晶硅硫氧化釓+非晶硅4K：針狀碘化銫+非晶硅3K：硫氧化釓+非晶硅影像尺寸171717171717像素矩陣40964096，1680萬像素30723072，940萬4K：40964096，1680萬像素3K：30723072，940萬像素尺寸108um143um108um極限空間分辨率4.6LP/MM3.5LP/MM4K：4.6LP/M

13、M3K：3.5LP/MM密度分辨率65536灰階16384灰階16384灰階動態(tài)范圍采集：16比特輸出：16比特采集：12比特輸出：14比特采集：14比特輸出：14比特圖像采集時間6s8s8s三、質(zhì)量控制設(shè)備質(zhì)量控制檢測的分類驗收檢測：X射線診斷設(shè)備這裝完畢或重大維修后，為鑒定其性能指標(biāo)是否符合約定值需進行的質(zhì)量控制檢測。狀態(tài)檢測：在運行中的設(shè)備，為評價其性能指標(biāo)是否符合要求而定期進行的質(zhì)量控制檢測。穩(wěn)定性檢測：為確定X射線設(shè)備或在給定條件下獲得的數(shù)值相對于一個初始狀態(tài)的變化是否符合控制標(biāo)準(zhǔn)而進行的質(zhì)量控制檢測。檢測及評價標(biāo)準(zhǔn)醫(yī)用常規(guī)X射線診斷設(shè)備質(zhì)量控制檢測規(guī)范（WS76-2017）醫(yī)用數(shù)字

14、X射線攝影（DR）系統(tǒng)質(zhì)量控制檢測規(guī)范（WS521-2017）2017-10-01實施醫(yī)用常規(guī)X射線診斷設(shè)備質(zhì)量控制檢測規(guī)范替代WS76-2011WS76-2017的適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)適用于醫(yī)用常規(guī)X射線診斷設(shè)備的質(zhì)量控制檢測，包括傳統(tǒng)屏片X射線攝影設(shè)備、X射線透視設(shè)備。數(shù)字X射線攝影（DR）通用性能指標(biāo)部分、介入放射學(xué)設(shè)備、移動式X射線攝影設(shè)備和便攜式X射線設(shè)備可參照使用。不適用生產(chǎn)過程的質(zhì)量控制檢測。常規(guī)X射線攝影設(shè)備的檢測項目與技術(shù)要求常規(guī)X射線攝影設(shè)備的檢測項目與技術(shù)要求（續(xù)表）WS521-2017 中對通用項目的要求DR系統(tǒng)的通用檢測項目具體檢測方法管電壓輸出量重復(fù)性有用線束半值層曝光時

15、間1、X射線管電壓指示的偏離檢測方法：驗收檢測時，在允許最大X射線管電流的50%或多一些，加載時間約為0.1s的條件下，至少應(yīng)進行60kV、 80kV、 100kV 、 120kV或者電壓接近這些值的各檔測量（飛利浦為79或81kV）要求：5kV或者5%，以較大者控制2、輸出量重復(fù)性檢測方法：將探測器房子檢查床上照射野中心，以80kV,適當(dāng)?shù)墓茈娏鲿r間積（50mAs）照射5次，計算80kV時每管電流時間積的輸出量，建立基線值時，以此5次的平均值作為基線值，并以一下公式計算輸出量的重復(fù)性。輸出量重復(fù)性： 10%3、有用線束半值層檢測方法：分別將不同厚度（0mm，1mm5mm）的鋁吸收片房子檢查床

16、上方50cm（或1/2SID）處，用同樣的條件進行照射，依次測量并記錄空氣比釋動能，并求得80kV的半值層要求：2.3mmAl4、曝光時間指示偏離(限驗收檢測)檢測方法：采用數(shù)字式曝光計時儀器測量，重點檢測臨床常用時間檔要求：t 0.1s，10%； t0.1s， 2ms或15%5、X射線攝影設(shè)備的幾何學(xué)特性包括：a.有用線束垂直度偏離（SID指示的偏離）b.光野與照射野四邊的偏離c.光野與照射野中心的偏離（DR檢測不做要求）幾何學(xué)特性檢測工具有用線束垂直度偏離（SID指示的偏離）SID：焦點到影像接收器之間的距離把SID檢測筒置于診視床上，使得光野中心、SID檢測筒中心以及暗盒中心于一垂直線上

17、鎖住全部地位鎖，暗盒托盤全部推進去，光野四邊每邊距SID檢測筒4cm。選用適當(dāng)?shù)恼丈錀l件進行照射后沖洗膠片。（曝光條件根據(jù)照射量適當(dāng)調(diào)整）示意圖光野與照射野四邊的偏離光野與照射野四邊的偏離要求：四邊 1cm，中心 1cmDR系統(tǒng)專用檢測項目暗噪聲探測器劑量指示（DDI）信號傳遞特性（STP）響應(yīng)均勻性測距誤差殘影偽影極限空間分辨力低對比度細節(jié)檢測AEC靈敏度AEC電離室之間一致性AEC管電壓變化一致性DR系統(tǒng)專用檢測項目與技術(shù)要求DR系統(tǒng)專用檢測項目與技術(shù)要求（續(xù)表）檢測前準(zhǔn)備照射量設(shè)置值（Gy）kVmAsmAs附加濾過照射量測量值1701mm銅5701mm銅10701mm銅20701mm銅3

18、0701mm銅暗噪聲1、如果有可能，取出濾線柵。2、關(guān)閉遮線器，再用一塊15 cm15cm，2mm厚鉛板完全覆蓋在遮線器出線口，設(shè)置最低管電流或最低管電流時間積和最低管電壓進行曝光并獲取一幅空白影像。3 、在預(yù)處理影像中央選取面積約12 cm12cm感興趣區(qū)（ROI）,讀取平均像素值，或者記錄DDI值。4、評價：適當(dāng)調(diào)整窗寬和窗位，目視檢查影像均勻，不應(yīng)看到偽影。所獲得像素值或DDI值在生產(chǎn)廠規(guī)定值范圍內(nèi)。如果生產(chǎn)廠家沒有提供規(guī)定值，則以測量的像素值或記錄的DDI建立基線值。探測器劑量指示（DDI）1、如果有可能，取出濾線柵。2、設(shè)置焦點影像接受器距離（SID）為180cm，如達不到則調(diào)節(jié)SI

19、D為最大值。調(diào)整照射野完全覆蓋探測器，用1.0mm銅濾過板擋住遮線器出線口，設(shè)置70kV，對探測器入射空氣比釋動能選取約為10Gy進行曝光，記錄DDI的數(shù)值。在上述相同的條件下重復(fù)曝光三次，記錄DDI數(shù)值，計算平均值。如果DR系統(tǒng)沒有DDI的形式，對獲取每一幅影像中央選取ROI為12 cm12cm的面積上像素值，并計算三幅影像平均像素值。 探測器劑量指示（DDI）3、根據(jù)生產(chǎn)廠提供DDI公式進行驗證，記錄的DDI平均值應(yīng)與公式提供在10Gy入射空氣比釋動能計算出DDI值20%內(nèi)一致。4、驗收檢測中獲得DDI平均值作為基線值，與在狀態(tài)和穩(wěn)定檢測得到DDI平均值進行相互比較在20%內(nèi)一致。5、如果

20、生產(chǎn)廠未能提供DDI值與入射空氣比釋動能計算公式，則對在第二條中使用曝光條件下獲得影像中ROI區(qū)所計算平均像素值建立基線值，作為狀態(tài)和穩(wěn)定檢測結(jié)果相互比較在20%內(nèi)一致。信號傳遞特性（STP）1、如果有可能，取出濾線柵。設(shè)置SID為180cm，如達不到則調(diào)節(jié)SID為最大值。2、調(diào)整照射野完全覆蓋探測器，用1.0mm銅濾過板蓋住遮線器出線口，設(shè)置70kV，分別選取探測器入射空氣比釋動能1Gy、5Gy、10Gy 、20Gy和30Gy進行曝光獲取每一幅影像。3、在每一幅原始影像中央選取ROI為12 cm12cm，獲取每幅影像ROI的平均像素值。信號傳遞特性（STP）4、對于線性響應(yīng)的DR系統(tǒng)，以平均

21、像素值為縱坐標(biāo)，影像探測器表面入射空氣比釋動能為橫坐標(biāo)作圖擬合直線（如P = aK + b），計算線性相關(guān)系數(shù)的平方（R2）。對于非線性響應(yīng)的DR系統(tǒng)（比如對數(shù)相關(guān)），應(yīng)參考廠家提供的信息進行直線擬合（如P = aln(K) + b），計算線性相關(guān)系數(shù)的平方R2。5、評價：驗收檢測要求R20.98； 狀態(tài)檢測要求R20.95。 響應(yīng)均勻性1、從DDI第二條檢測中，選取任一幅預(yù)處理影像，使用分析軟件在影像中選五個面積約4cm4cmROI，分別獲取像素值，要求ROI分別從影像中央?yún)^(qū)和四個象限中央?yún)^(qū)，記錄每個選點實測像素值Vi 。2、按公式計算：式中：CV變異系數(shù)，%； 5個ROI的平均像素值。Vi

22、 第i次測量ROI的像素值。3、評價： CV5.0%測距誤差1、選用二個固定長度的薄金屬板（如10cm長，2cm寬, 厚1mm的銅板），相互交叉垂直放置在探測器表面中央，調(diào)節(jié)SID為最大值，設(shè)置50kV，10mAs曝光，獲取一幅軟拷貝影像。2、使用測距軟件工具對水平和垂直兩個方向上的鉛尺刻度不低于10cm的影像測量距離（Dm），和真實長度（Do）進行比較。如果金屬板不能直接放在探測器表面，則把鉛尺放置在攝影床面板中央，獲得影像應(yīng)做距離校正。3、評價：按E=（Dm-Do）/Do100%公式計算它們的偏差，垂直和水平方向上均應(yīng)在2%以內(nèi)符合。殘影1、如果有可能，取出濾線柵。設(shè)置SID為180cm，

23、如達不到則調(diào)節(jié)SID為最大值。2、關(guān)閉遮線器，再用一塊面積15cm15cm，厚2mm的鉛板完全擋住遮線器出線口，設(shè)置最低管電流和最低管電壓進行第一次曝光，獲取一幅空白影像。3、打開遮線器取走鉛板，在探測器表面中央部位放置一塊面積4cm4cm， 4mm厚的鉛板。在70kV和探測器入射面約5Gy空氣比釋動能進行第二次曝光。殘影4、按第二條重復(fù)進行第三次曝光，再獲得一幅空白影像，這次曝光應(yīng)在第二次曝光后1.5min內(nèi)完成。5、調(diào)整窗寬和床位，在工作站監(jiān)視器上目視觀察第三次曝光后的空白影像中不應(yīng)存在第二次曝光影像中殘影（一部分或者全部）。若發(fā)現(xiàn)殘影，則利用分析軟件在殘影區(qū)和非殘影區(qū)各取相同的ROI面積

24、獲取平均像素值，殘影區(qū)中平均像素值相對非殘影區(qū)中平均像素值的誤差5.0%。偽影1、設(shè)置SID為180cm，如達不到則調(diào)節(jié)SID為最大值。2、將屏/片X射線攝影密著檢測板（細金屬絲網(wǎng)格板）放在探測器上面，在60kV和約10mAs進行曝光，獲取一幅軟拷貝影像。3、評價：在工作站監(jiān)視器上獲得影像，適當(dāng)調(diào)整窗寬和窗位，通過目視檢查不應(yīng)存在偽影。4、如果發(fā)現(xiàn)偽影，檢查偽影隨影像移動或擺動情況，若偽影隨影像移動或擺動表示來自探測器，不移動仍停留在原位置表示來自監(jiān)視器。應(yīng)記錄所觀察到的偽影情況。 極限空間分辨力1、如果有可能，取出濾線柵。設(shè)置SID為180cm，如達不到則調(diào)節(jié)SID為最大值。2、取三塊分辨力

25、測試卡（最大線對數(shù)不低于5Lp/mm）分別放置在探測器面上呈水平和垂直方向。3、按生產(chǎn)廠給出條件進行曝光。如生產(chǎn)廠未給出條件，選用適當(dāng)曝光條件（如60kV，3mAs）進行曝光。4、調(diào)節(jié)窗寬和窗位，使分辨力最優(yōu)化。從監(jiān)視器上觀察可分辨出的線對組數(shù)目。極限空間分辨力5、評價：在垂直和水平方向上分別與生產(chǎn)廠家保證的極限空間分辨力的規(guī)定值比較，應(yīng)90%。如果得不到規(guī)定值應(yīng)與fNyquist進行比較，80%。驗收檢測的結(jié)果作為基線值，狀態(tài)檢測與基線值進行比較（ 90%基線值）。低對比度細節(jié)檢測1、在WS521-2017的附錄B中選擇任一種低對比度細節(jié)檢測模體，放置在探測器上面，根據(jù)模體說明書要求，選擇適

26、當(dāng)?shù)墓茈妷骸V過和SID，照射野完全覆蓋住探測器，通常對探測器入射空氣比釋功能選擇三個劑量水平，在一個以上量級范圍（如1Gy、5Gy和10Gy）進行三次曝光獲取影像。2、根據(jù)在臨床上對影像最常使用二種評價方式獲取影像：應(yīng)調(diào)節(jié)窗寬和窗位使每一細節(jié)尺寸為最優(yōu)化；用硬拷貝觀察影像細節(jié)，并進行記錄。低對比度細節(jié)檢測3、評價：驗收檢測按檢測模體說明書要求判斷或者建立基線值。狀態(tài)檢測與基線值進行比較，不得超過基線值的兩個細節(jié)變化。AEC靈敏度選擇一個特定器官曝光程序（如胸部），設(shè)置電壓為70kV,用1mm銅濾過板放置在遮線器出線口，照射野應(yīng)覆蓋影像探測器，在AEC下曝光，記錄mA、s、mAs（按AEC方式

27、不同而定），或者記錄DDI值。在驗收檢測中建立基線值（mA、s、mAs或DDI值），狀態(tài)檢測應(yīng)與基線值在25%內(nèi)一致。AEC電離室之間一致性選70kV，用1mm銅濾過板放置在遮線器出線口，關(guān)閉其他電離室，選擇一個電離室，在AEC下曝光。曝光后記錄機器顯示mA、s、mAs或DDI值（按AEC方式不同而定）。然后分別選擇其他任一個電離室按上述相同條件進行曝光，記錄機器顯示mA、s、mAs或DDI值。 將測量值（如mA、s、mAs或DDI）進行相互比較，計算平均值最大偏差。驗收檢測時平均值最大偏差在10.0%內(nèi)一致，狀態(tài)檢測時最大偏差在15.0%內(nèi)一致。AEC管電壓變化一致性照射野應(yīng)覆蓋住影像探測器，用1mm銅濾過板放置在遮線器出線口，如果可能，在無濾線柵和無床面衰減條件下，分別設(shè)置電壓為80kV、 80kV、90kV和80kV 在AEC下曝光，分別測量4個電壓檔的影像探測器表面入射空氣比釋動能，記錄計量值或DDI值，并計算總平均值。驗收檢測時影像探測器在4個電壓檔建立劑量總平均值或DDI總平均值作為基線值，狀態(tài)檢測時劑量總平均值或DDI總平均值與基線值的最大偏差在25.0%內(nèi)謝謝！1、人生一世，總有些片斷當(dāng)時看著無關(guān)緊要，而事實上卻牽動了大局。2、相遇總是猝不及防，而離別多是蓄謀已久，總有一些人會