SPC統(tǒng)計制程管制講義ppt課件

1、SPC統(tǒng)計制程控制講義博迪企業(yè)管理顧問.預(yù)防和檢測預(yù)防：是為防止?jié)撛诓缓细窕蚱渌麧撛诓黄谕闆r發(fā)生所采取的行動。檢測：經(jīng)過檢查或重新檢查任務(wù)來找出錯誤。檢測容忍浪費(fèi)預(yù)防防止浪費(fèi).有反響的過程控制系統(tǒng)模型.過程控制系統(tǒng)過程的性能取決于供方與顧客的溝通，過程設(shè)計及實(shí)施的方式以及動作和管理的方式等，其它部分只在堅持和提高時才有用。過程本身過程特性及內(nèi)在的變化是關(guān)懷重點(diǎn)。對過程采取措施，包括改動操作或者改動過程本身更根本的要素或整個過程的設(shè)計。當(dāng)輸出不能滿足顧客要求時，應(yīng)對輸出采取措施。.普通緣由及特殊緣由的定義普通緣由：是指呵斥隨著時間的推移具有穩(wěn)定的且可反復(fù)的分布過程中的許多變差的緣由。特殊緣由：

2、是指呵斥不是一直作用于過程的變差的緣由；即它的出現(xiàn)將呵斥整個過程的分布改動。并非一切的特殊緣由對過程都是無益的。.變差的普通緣由及特殊緣由.普通及特殊緣由與過程的關(guān)系.部分措施和系統(tǒng)采取措施簡單的統(tǒng)計過程控制技術(shù)能檢查變差的特殊緣由，也能指明變差的普通緣由的范圍。.過程控制和過程才干過程在統(tǒng)計控制下運(yùn)轉(zhuǎn)指的是僅存在呵斥變差的普通緣由。只需過程受控才干計算過程才干。普通受控的過程服從可預(yù)測的分布。過程可根據(jù)能否可接受和能否受控進(jìn)展分類。.過程控制和特殊緣由.過程才干和普通緣由.才干指數(shù)才干指數(shù)分為兩種：短期和長期。短期才干以一個操作循環(huán)中獲取的丈量為根底的，一是用來解析過程初期才干，一是用于機(jī)器

3、才干研討。PPK長期才干研討包括在足夠長的時間所進(jìn)展的丈量，數(shù)據(jù)包括一切能估計到的變差的緣由。用來描畫一個很長的時期內(nèi)能否滿足顧客的要求。CP、CPK、CPM等沒有一個單獨(dú)的指數(shù)可以適用于一切過程，也沒有一過程可以只經(jīng)過一個單獨(dú)的指數(shù)完好的描畫.過程改良循環(huán)的各個階段.控制圖過程控制的工具.控制圖的益處.第二章：計量型數(shù)據(jù)控制圖.計量型和計數(shù)型控制圖區(qū)別什么是計量值？什么是計數(shù)值？為什么計量型控制圖得到廣泛的運(yùn)用？如何確定對哪些數(shù)據(jù)進(jìn)展控制？.R控制圖運(yùn)用前的預(yù)備A、搜集數(shù)據(jù)B、計算控制限C、過程控制解釋D、過程才干解釋.運(yùn)用前的預(yù)備.A.搜集數(shù)據(jù)A.1選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù)a.初期研討子組

4、普通由45件延續(xù)的產(chǎn)品且代表單一的工程因子。b.在過程初期研討中通常是延續(xù)進(jìn)展分組或是在很短的時間進(jìn)展分組。可以是每班2次，每小時一次等。c.子組大小：越多越好，普通包含100或更多單數(shù)的25個或更多個子組可以很好地檢驗(yàn)過程穩(wěn)定性或得到過程位置和分布寬度的有效的估計值。.A.搜集數(shù)據(jù)A.2建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù)1.普通在上R圖在下，和R值為縱坐標(biāo)，按時間先后的子組為橫坐標(biāo)，數(shù)值、極差、均值點(diǎn)縱向?qū)R。2.數(shù)據(jù)欄應(yīng)包括每個讀數(shù)的空間，讀數(shù)的和、均值、極差及日期時間或其他識別了組的代碼的空間。A.3計算每個子組的均值和極差.A.搜集數(shù)據(jù)(A.2例如.A.搜集數(shù)據(jù)A.4選擇控制圖的刻度 1.控制圖

5、的縱坐標(biāo)是和R的量測值。 2.對于圖，坐標(biāo)上的刻度值最大和最小值之差應(yīng)為初期子組均值的最大值和最小值的2倍。 3.對于R圖，刻度值應(yīng)從最低為0開場，到初始階段所遇到的最大極差的2倍。A.5將均值和極差分別畫到控制圖上。 1.將各點(diǎn)用直線銜接起來從而得到可見的圖形和趨勢。 2.應(yīng)確認(rèn)計算和畫圖能否正確，且確保所畫的和R點(diǎn)在縱向是對應(yīng)的。 3.初期操作控制圖是僅允許用于現(xiàn)場中沒有控制限的控制圖，且應(yīng)清楚標(biāo)明“初期研討字樣。.A.搜集數(shù)據(jù).B.計算控制限首先計算R圖的控制限再計算圖的控制限B.1計算平均極差及過程均值在研討階段，計算：.B.計算控制限B.2計算控制限為什么計算控制限？UCLRD4 L

6、CLRD3 UCLA2LCL A2 式中D3、D4、A2為常數(shù)，它們隨樣本容量的不同而不同，以下為樣本容量從210的一個表。對于樣本容量小于7的情況，LCLR在技術(shù)上為一個負(fù)值，即對于一個樣本數(shù)為6的子組，6個一樣的丈量結(jié)果是成立的。2.鏈圖.B.計算控制限B.3在控制圖上作出平均值和極差控制限的控制線。將平均極差和過程均值畫成程度實(shí)線，各控制限LCL、UCL、UCLR、LCLR畫成程度虛線，把線標(biāo)上記號，在初始研討階段，這些被稱為實(shí)驗(yàn)控制限。.C.過程控制解釋過程在受控時零件間的變異性和過程均值堅持現(xiàn)有的程度，而且數(shù)據(jù)中不會出現(xiàn)與與隨機(jī)變化明顯不同的圖形或趨勢。C1分析極差圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn)。為什

7、么首先分析R圖？a.有超越控制限的點(diǎn)。.C.過程控制解釋b.鏈圖延續(xù)7點(diǎn)位于平均值的一側(cè)。.C.過程控制解釋b.鏈圖延續(xù)7點(diǎn)上升后點(diǎn)等于或大于前點(diǎn)或下降。.C.過程控制解釋c.明顯的非隨機(jī)圖形。各點(diǎn)與的間隔：1.顯著大于2/3的點(diǎn)落在控制限的中間1/3的區(qū)域內(nèi)對于25個子組大約90%的點(diǎn)落在控制限的1/3的區(qū)域內(nèi)。2.顯著大于1/3的點(diǎn)會落在其外的2/3的區(qū)域內(nèi)對于25組子組，假設(shè)有60%或多于60%的點(diǎn)落在其外的1/3區(qū)域。3.留意不要過分解釋數(shù)據(jù)。.C.過程控制解釋c.2識別并標(biāo)注特殊緣由極差圖1.對于數(shù)據(jù)內(nèi)每個特殊緣由進(jìn)展標(biāo)注，作過程操作分析，確定緣由并改良對過程的了解，采取糾正條件并防

8、止它發(fā)生。2.控制圖本身就是問題分析工具。3.及時分析問題是將消費(fèi)的不合格減少到最低以及獲得診斷用新證據(jù)的方法。4.對過程的解釋最終在于過程以及與之有關(guān)的人。.C.過程控制解釋.C.過程控制解釋C.3重新計算控制限1.在初次過程研討或重新評定過程才干時，失控的緣由已被識別和消除或制度化，應(yīng)排除一切受已被識別并處理或固定下來的特殊緣由影響的子組，重新計算控制限，以確保一切的極差點(diǎn)為受控，否那么反復(fù)、糾正、重新計算過程。2.極差受控時我們以為過程的分布寬度子組內(nèi)的變差是穩(wěn)定的。.C.過程控制解釋c.4分析均值上的數(shù)據(jù)點(diǎn)。均值在受控形狀，其變差便于極差圖中的變差系統(tǒng)的普通緣由有關(guān)。如沒有受控，那么存

9、在呵斥過程位置不穩(wěn)定的特殊緣由變差。.C.過程控制解釋a.超出控制限的點(diǎn)。闡明什么？1.控制限或描點(diǎn)錯誤。2.過程已改動或是在當(dāng)時的那一點(diǎn)能夠是一件獨(dú)立的事件或是一種趨勢的一部分3.丈量系統(tǒng)發(fā)生改動例如:不同量具或檢驗(yàn)員.C.過程控制解釋b.延續(xù)7點(diǎn)在平均值的一側(cè)。7點(diǎn)延續(xù)上升或下降。1.標(biāo)注這些促使人們作出決議的點(diǎn)，從該點(diǎn)做一條參考延伸到鏈的開場點(diǎn)。分析時應(yīng)思索開場出現(xiàn)變化趨勢或變化的時間。2.與均值有關(guān)的鏈通常闡明出現(xiàn)以下一種或兩種情況：過程均值已改動也許還在變化丈量系統(tǒng)已改動飄移、偏倚、靈敏度等。.C.過程控制解釋c.明顯的非隨機(jī)圖形大約2/3的點(diǎn)落在1/3區(qū)域，1/3點(diǎn)落在2/3區(qū)域；

10、1/20的點(diǎn)應(yīng)落在控制限較近之處，1/150的點(diǎn)落在控制限之外。遠(yuǎn)大于2/3的點(diǎn)落在均值附近，調(diào)查以下情況：1.控制限或描點(diǎn)計算錯或描錯或重新計算錯2.過程或取樣方法分層，每個子組包含從兩個或多個具有不同均值的過程流的丈量值。3.數(shù)據(jù)已被編輯。.C.過程控制解釋遠(yuǎn)小于2/3的點(diǎn)落在平均值的附近，應(yīng)調(diào)查以下情況之一或兩者：1.控制限或描點(diǎn)計算錯或描錯。2.過程或抽樣方法呵斥延續(xù)的子組中包含從兩個或多個不同過程流的丈量值這能夠是由于對可調(diào)整的過程進(jìn)展過度控制呵斥的。3.假設(shè)存在幾個過程，應(yīng)分別識別和追蹤。.C.過程控制解釋.C.過程控制解釋c.5識別和標(biāo)注特殊緣由均值圖c.6重新計算控制限假設(shè)沒有

11、明顯的證聽闡明已發(fā)現(xiàn)過程的特殊緣由，任何的“糾正措施能夠添加而不是減少過程輸出的總變異。c.7為了繼續(xù)進(jìn)展控制延伸控制限。子組容量的變化將影響期望的平均極差以及極差和均值圖的控制限。為了調(diào)整新的子組樣本容量對應(yīng)的中心線和控制限，應(yīng)采取以下的措施：.C.過程控制解釋a.估計過程的規(guī)范偏向用表示用現(xiàn)有的子組容量計算：/ d2 d2 是隨樣本容量變化的常數(shù)b.按照新的子組容量查得系數(shù)d2D3D4A2 ，計算新的極差和均值控制限： .D.過程才干解釋過程才干反映普通緣由引起的變差，并且?guī)缀蹩偸且獙ο到y(tǒng)采取管理措施來提高才干。任何才干分析技術(shù)，不論它看起來多么準(zhǔn)確，也只能得到大約的結(jié)果，緣由：1.總是存

12、在抽樣變差。2.沒有“完全受控統(tǒng)計控制的過程。3.沒有一個實(shí)踐的輸出“準(zhǔn)確服從正態(tài)分布.D.過程才干解釋D.1計算過程的規(guī)范偏向 = /d2D.2計算過程才干過程才干是指按規(guī)范偏向?yàn)閱挝粊砻璁嫷倪^程均值與界限的間隔，用Z表示。對于單邊容差，計算：.D.過程才干解釋對于雙向容差，計算：Z為負(fù)值闡明過程均值超越規(guī)范?？捎肸值和規(guī)范正態(tài)分布表來估計多少比例的輸出會超出規(guī)范值.D.過程才干解釋對于單邊容量查找超出規(guī)范的百分比:PZPZUSL對于雙邊容量超出規(guī)范的百分比：PZPZUSLPZLSLZMin也可以轉(zhuǎn)化成才干指數(shù)CPK，按以下公式：.D.過程才干解釋.D.過程才干解釋.D.過程才干解釋D.3過

13、程才干評價：.D.過程才干解釋.D.過程才干解釋D.4提高過程才干為了提高過程才干，必需注重減少普通緣由。D.5對修正的過程繪制控制圖并分析。1.控制圖是驗(yàn)證措施能否有效的一種方式。2.在變化時期的一切不穩(wěn)定的要素都能處理后，應(yīng)評定過程的才干并將它作為操作新的控制限的根底。通常情況下，變化后用25個子組的數(shù)據(jù)足以建立新的控制限。.均值和規(guī)范差圖S圖 與Xbar-R圖一樣 S圖檢出才干較R圖大，但計算太費(fèi)事 普通樣本大小n小于9時運(yùn)用R圖，n大于9 運(yùn)用S圖 配合電腦運(yùn)用.均值和規(guī)范差圖S圖.中位數(shù)圖R可用來替代R圖?？梢杂脕韺讉€過程的輸出或同一過程的不同階段和輸出進(jìn)展比較。中位數(shù)易于運(yùn)用，并

14、不要求很多計算。中位數(shù)可顯示過程輸出的分布寬度并且給出過程變差的趨勢。.中位數(shù)圖R.單值和挪動極差圖XMR圖單值挪動極差控制圖數(shù)據(jù)不能合理分組時運(yùn)用在以下情況可運(yùn)用 一次只能搜集到一個數(shù)據(jù)，消費(fèi)效率及損耗率 制程質(zhì)量極為均勻，不需多取樣本，如液體濃度 獲得測定值既費(fèi)時本錢又高，如復(fù)雜的化學(xué)分析及破壞性實(shí)驗(yàn).計數(shù)型控制圖.不合格率P圖A.搜集數(shù)據(jù)B.計算控制限C.過程控制用控制圖的解釋。D.過程才干解釋。.A.搜集數(shù)據(jù)A.1選擇子組的容量，頻率及數(shù)量a.子組容量：普通要求比較大。50200或更多。子組容量恒定或它們不超越25%b.分組頻率：根據(jù)產(chǎn)品的周期確定，頻率快比較好。c.子組數(shù)量：搜集時間

15、應(yīng)足夠長普通，應(yīng)包括25個或更多。.A.搜集數(shù)據(jù)A.2計算每個子組內(nèi)的不合格率P.A.搜集數(shù)據(jù)A.3選擇控制圖的座標(biāo)刻度不合格率為縱座標(biāo)，子組辨以為橫座標(biāo)?？v座標(biāo)為最大不合格率的1.52倍。A.4將不合格品率描畫在控制圖上1.描點(diǎn)并連線以發(fā)現(xiàn)異常圖形和趨勢。2.檢查描點(diǎn)能否合理，重點(diǎn)是高或低很多的點(diǎn)。3.記錄過程中的異常于控制圖中的“備注部分.B.計算控制限B.1計算過程平均不合格品率.B.計算控制限B.2計算上下控制限UCL，LCL.B.計算控制限B.3畫線并標(biāo)注以上適用于子組容量一樣的情況下，但實(shí)踐各子組的容量與其平均值相差不超越25%時，可用樣本容量來計算控制限。.B.計算控制限超越25

16、%時，找出樣本容量超出該范圍的一切子組：.C過程控制用控制圖解釋C.1分析數(shù)據(jù)點(diǎn)，找出不穩(wěn)定的證據(jù)a超出控制限的點(diǎn).C.過程控制用控制圖解釋b鏈當(dāng)n 9時1.延續(xù)7點(diǎn)位于均值一側(cè)，2.延續(xù)7點(diǎn)上升或下降。.C.過程控制用控制圖解釋.C過程控制用控制圖解釋c.明顯的非隨機(jī)圖形.C過程控制用控制圖解釋.C過程控制用控制圖解釋C.2尋覓并糾正特殊緣由C.3重新計算控制限。.D過程才干解釋D.1計算過程才干過程才干由平均不合格品率來表示的。對過程才干的初步估計值，運(yùn)用歷史數(shù)據(jù)。正式研討過程才干時，運(yùn)用新的數(shù)據(jù)最好25組。D.2評價過程才干假設(shè)現(xiàn)有的平均才干程度不可接受時，那么直接對過程本身分析并采取措施。.D過程才干解釋D.3改良過程才干過程受控時，過程不合格的平均程度反映了系統(tǒng)變差的緣由過程才干。D.4繪制并分析修正后的過程控制圖對過程采取系