
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1、第二單元第二單元 射線檢測(cè)射線檢測(cè) 焊接質(zhì)量檢測(cè)技術(shù)焊接質(zhì)量檢測(cè)技術(shù)學(xué)習(xí)目標(biāo)1.了解射線產(chǎn)生、性質(zhì)及衰減,掌握檢測(cè)的基本了解射線產(chǎn)生、性質(zhì)及衰減,掌握檢測(cè)的基本原理原理2.熟悉射線檢測(cè)設(shè)備及器材,可以合理選擇射線熟悉射線檢測(cè)設(shè)備及器材,可以合理選擇射線檢測(cè)方法檢測(cè)方法3.了解相關(guān)設(shè)備射線檢測(cè)技術(shù)規(guī)范和新標(biāo)準(zhǔn)了解相關(guān)設(shè)備射線檢測(cè)技術(shù)規(guī)范和新標(biāo)準(zhǔn)4.掌握射線照相法檢測(cè)工藝及底片評(píng)定法,并能掌握射線照相法檢測(cè)工藝及底片評(píng)定法,并能對(duì)焊縫評(píng)級(jí)對(duì)焊縫評(píng)級(jí) 主要內(nèi)容主要內(nèi)容u模塊一模塊一 射線檢測(cè)的基本知識(shí)射線檢測(cè)的基本知識(shí)u模塊二模塊二 射線檢測(cè)的主要方法及原理射線檢測(cè)的主要方法及原理u模塊三模塊三 射
2、線檢測(cè)設(shè)備簡(jiǎn)介射線檢測(cè)設(shè)備簡(jiǎn)介u模塊四模塊四 射線照相法探傷射線照相法探傷u模塊五模塊五 底片的評(píng)定及焊縫質(zhì)量分級(jí)底片的評(píng)定及焊縫質(zhì)量分級(jí)u模塊六模塊六 射線的安全防護(hù)射線的安全防護(hù)模塊一模塊一 射線的基本知識(shí)射線的基本知識(shí) n 能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)1 X射線的產(chǎn)生及其性質(zhì)射線的產(chǎn)生及其性質(zhì)n 能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)2 射線的產(chǎn)生及其特質(zhì)射線的產(chǎn)生及其特質(zhì) n 能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)3 高能高能X射線的產(chǎn)生及其特射線的產(chǎn)生及其特 n 能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)4 中子射線的產(chǎn)生及其性質(zhì)中子射線的產(chǎn)生及其性質(zhì) n 能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)5 射線在物質(zhì)中的衰減射線在物質(zhì)中的衰減 n 1、產(chǎn)生、產(chǎn)生 X射線是通
3、過(guò)加速器使燈絲釋放的熱電子獲得高能量后射線是通過(guò)加速器使燈絲釋放的熱電子獲得高能量后撞擊陽(yáng)極靶而產(chǎn)生的。撞擊陽(yáng)極靶而產(chǎn)生的。高速行進(jìn)電子高速行進(jìn)電子轟擊轟擊 金屬靶金屬靶1%動(dòng)能轉(zhuǎn)換為動(dòng)能轉(zhuǎn)換為X射線射線99%動(dòng)能轉(zhuǎn)換為熱能動(dòng)能轉(zhuǎn)換為熱能能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)1 X射線的產(chǎn)生及其性質(zhì)射線的產(chǎn)生及其性質(zhì)射線探傷射線探傷利用射線可以穿透物質(zhì)和在物質(zhì)中利用射線可以穿透物質(zhì)和在物質(zhì)中有衰減的特性來(lái)發(fā)現(xiàn)其中缺陷的一種無(wú)損檢測(cè)方有衰減的特性來(lái)發(fā)現(xiàn)其中缺陷的一種無(wú)損檢測(cè)方法。法。u15500kv 高壓電源高壓電源 高壓電纜高壓電纜陽(yáng)極靶陽(yáng)極靶電子流電子流玻殼管玻殼管陰極罩陰極罩燈絲燈絲X射線射線 X射線源即射
4、線源即X射線發(fā)生器主要由三部分組成:發(fā)射線發(fā)生器主要由三部分組成:發(fā)射電子的燈絲(陰極)、受電子轟擊的陽(yáng)極靶面、電射電子的燈絲(陰極)、受電子轟擊的陽(yáng)極靶面、電子加速裝置子加速裝置高壓發(fā)生器。高壓發(fā)生器。n X射線管實(shí)物圖射線管實(shí)物圖能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)1 X射線的產(chǎn)生及其性質(zhì)射線的產(chǎn)生及其性質(zhì) 2、性質(zhì)、性質(zhì) (1)不可見(jiàn),以光速直線傳播;)不可見(jiàn),以光速直線傳播; (2)不帶電,不受電場(chǎng)和磁場(chǎng)的影響;)不帶電,不受電場(chǎng)和磁場(chǎng)的影響; (3)具有可穿透物質(zhì)和在物質(zhì)中衰減的特性;)具有可穿透物質(zhì)和在物質(zhì)中衰減的特性; (4)可使物質(zhì)電離,能使膠片感光,亦能使某些物)可使物質(zhì)電離,能使膠片感光,
5、亦能使某些物質(zhì)產(chǎn)生熒光;質(zhì)產(chǎn)生熒光; (5)能對(duì)生物細(xì)胞起作用(生物效應(yīng));)能對(duì)生物細(xì)胞起作用(生物效應(yīng));n 1 1、產(chǎn)生、產(chǎn)生 射線是一種電磁波,可以從天然放射性原子核中產(chǎn)射線是一種電磁波,可以從天然放射性原子核中產(chǎn)生,也可以從人工放射性原子核中產(chǎn)生。射線探傷中使用的生,也可以從人工放射性原子核中產(chǎn)生。射線探傷中使用的 射線源是由核反應(yīng)制成的人工放射線源,射線源是由核反應(yīng)制成的人工放射線源,是由放射性物是由放射性物質(zhì)(質(zhì)(6060CoCo、192192IrIr等)內(nèi)部原子核的衰變過(guò)程產(chǎn)生的。等)內(nèi)部原子核的衰變過(guò)程產(chǎn)生的。 n 2 2、性質(zhì)、性質(zhì) (1 1)射線的性質(zhì)與射線的性質(zhì)與X X
6、射線相似,但波長(zhǎng)比射線相似,但波長(zhǎng)比X X射線短,因射線短,因而射線能量高,具有更大的穿透力。目前廣泛使用的而射線能量高,具有更大的穿透力。目前廣泛使用的射線射線 源源6060CoCo,它可以檢查,它可以檢查250mm250mm厚的銅質(zhì)工件、厚的銅質(zhì)工件、350mm350mm厚的鋁制厚的鋁制工件和工件和300mm300mm厚的鋼制工件。厚的鋼制工件。 (2 2)射線源有自己固定射線源有自己固定的能量,需合理選取的能量,需合理選取射線源。射線源。 (3 3)較)較X X射線劑量(輻射率)低,曝光時(shí)間長(zhǎng),一般都使射線劑量(輻射率)低,曝光時(shí)間長(zhǎng),一般都使用增感屏。用增感屏。 (4 4)射線源隨時(shí)都
7、在放射,注意射線的防護(hù)。射線源隨時(shí)都在放射,注意射線的防護(hù)。能力知識(shí)點(diǎn)3 高能X射線的產(chǎn)生及其特性能力知識(shí)點(diǎn)4 中子射線的產(chǎn)生及其性質(zhì) 射線穿過(guò)物質(zhì)時(shí),與物質(zhì)中的原子發(fā)生撞擊、產(chǎn)生能量轉(zhuǎn)射線穿過(guò)物質(zhì)時(shí),與物質(zhì)中的原子發(fā)生撞擊、產(chǎn)生能量轉(zhuǎn)換,引發(fā)能量的衰減。并可用衰減定律表達(dá):換,引發(fā)能量的衰減。并可用衰減定律表達(dá):式式中中 射線透過(guò)物質(zhì)后的射線強(qiáng)度;射線透過(guò)物質(zhì)后的射線強(qiáng)度; 射線的初始強(qiáng)度;射線的初始強(qiáng)度; 自然對(duì)數(shù)的底;自然對(duì)數(shù)的底; 透過(guò)物質(zhì)的厚度;透過(guò)物質(zhì)的厚度; 線衰減系數(shù),為上述各物理效應(yīng)分別引起的衰減系數(shù)之和。線衰減系數(shù),為上述各物理效應(yīng)分別引起的衰減系數(shù)之和。 eII0I0Ie
8、能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)5 射線在物質(zhì)中的衰減射線在物質(zhì)中的衰減 模塊二模塊二 射線探傷的主要方法及其原理射線探傷的主要方法及其原理 n 能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)1 射線照相法探傷射線照相法探傷n 能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)2 射線電離法射線電離法n 能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)3 射線熒光屏觀察法射線熒光屏觀察法 n 能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)4 射線實(shí)時(shí)成像法射線實(shí)時(shí)成像法 n 能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)5 射線計(jì)算機(jī)斷層掃描技術(shù)射線計(jì)算機(jī)斷層掃描技術(shù) 模塊二 射線探傷的主要方法及其原理 一、一、射線檢測(cè)的基本原理射線檢測(cè)的基本原理 射線檢測(cè)是利用射線檢測(cè)是利用射線通過(guò)物質(zhì)衰減程度與被通過(guò)部位射線通過(guò)物質(zhì)衰減程度與被通過(guò)部
9、位的材質(zhì)、厚度和缺陷的性質(zhì)有關(guān)的特性,使膠片感光成黑的材質(zhì)、厚度和缺陷的性質(zhì)有關(guān)的特性,使膠片感光成黑度不同的圖像來(lái)實(shí)現(xiàn)的,檢測(cè)原理:當(dāng)射線通過(guò)被檢物體度不同的圖像來(lái)實(shí)現(xiàn)的,檢測(cè)原理:當(dāng)射線通過(guò)被檢物體時(shí),有缺陷部位與無(wú)缺陷部位對(duì)射線的吸收能力不同,一時(shí),有缺陷部位與無(wú)缺陷部位對(duì)射線的吸收能力不同,一般情況是通過(guò)有缺陷部位的射線強(qiáng)度高于無(wú)缺陷部位的射般情況是通過(guò)有缺陷部位的射線強(qiáng)度高于無(wú)缺陷部位的射線強(qiáng)度,因此可以通過(guò)檢測(cè)透過(guò)被檢物體后射線強(qiáng)度的差線強(qiáng)度,因此可以通過(guò)檢測(cè)透過(guò)被檢物體后射線強(qiáng)度的差異來(lái)判斷被檢物體中是否有缺陷存在。異來(lái)判斷被檢物體中是否有缺陷存在。 模塊二模塊二 射線探傷的主要
10、方法及其原理射線探傷的主要方法及其原理 當(dāng)一束強(qiáng)度為當(dāng)一束強(qiáng)度為I0的的射線平行通過(guò)被檢測(cè)試件射線平行通過(guò)被檢測(cè)試件(厚度為厚度為d)后,其強(qiáng)度后,其強(qiáng)度Id為為 若被測(cè)試件表面有高度為若被測(cè)試件表面有高度為h的凸起時(shí),的凸起時(shí),則則射線強(qiáng)度將衰減為射線強(qiáng)度將衰減為ddeII0)(0ehdhII如在被測(cè)試件內(nèi),有一個(gè)厚度為如在被測(cè)試件內(nèi),有一個(gè)厚度為x、吸收系、吸收系數(shù)為數(shù)為的某種缺陷,的某種缺陷, 則射線通過(guò)后,強(qiáng)度衰減則射線通過(guò)后,強(qiáng)度衰減為為 )(0exxdxII 沿射線透照方向的缺陷尺寸越大,則有無(wú)缺陷處的強(qiáng)度差沿射線透照方向的缺陷尺寸越大,則有無(wú)缺陷處的強(qiáng)度差越大,反映在膠片上的黑度
11、差越大,就越容易發(fā)現(xiàn)缺陷。越大,反映在膠片上的黑度差越大,就越容易發(fā)現(xiàn)缺陷。)(0ehdhIIddeII0而而模塊二模塊二 射線探傷的主要方法及其原理射線探傷的主要方法及其原理 模塊二模塊二 射線探傷的主要方法及其原理射線探傷的主要方法及其原理 能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)4 射線實(shí)時(shí)成像法射線實(shí)時(shí)成像法能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)5 射線檢測(cè)常用的方法是照相法,即利用射線感光材料(通常用射線膠片),放在被透照試件的背面接受透過(guò)試件后的射線。膠片曝光后經(jīng)暗室處理,就會(huì)顯示出物體的結(jié)構(gòu)圖像。根據(jù)膠片上影像的形狀及其黑度的不均勻程度,就可以評(píng)定被檢測(cè)試件中有無(wú)缺陷及缺陷的性質(zhì)、形狀、大小和位置。n (1)射線照相
12、法的原理n射線探傷的實(shí)質(zhì)是根據(jù)被檢工件與其內(nèi)部缺陷介質(zhì)對(duì)射線能量衰減程度不同,而引起射線透過(guò)工件后的強(qiáng)度差異,使缺陷能在射線底片或X光電視屏幕上顯示出來(lái)。射線照相法原理1射線 2工件 3膠片 4底片黑度變化在實(shí)際應(yīng)用中,射線照相法根據(jù)底片上影像的形狀和黑度情況來(lái)評(píng)定實(shí)際應(yīng)用中,射線照相法根據(jù)底片上影像的形狀和黑度情況來(lái)評(píng)定物質(zhì)中有無(wú)缺陷及缺陷的形狀、大小和位置。射線照相法靈敏度高、物質(zhì)中有無(wú)缺陷及缺陷的形狀、大小和位置。射線照相法靈敏度高、直觀可靠、重復(fù)性好,是最常用的檢測(cè)方法之一。直觀可靠、重復(fù)性好,是最常用的檢測(cè)方法之一。能力知識(shí)點(diǎn)2 射線電離法射線電離法是利用射線電離作用和借助電離探測(cè)器
13、,射線電離法是利用射線電離作用和借助電離探測(cè)器,使被電離的氣體形成電離電流,通過(guò)電離電流的大小來(lái)使被電離的氣體形成電離電流,通過(guò)電離電流的大小來(lái)反映射線的強(qiáng)弱。當(dāng)工件中存在缺陷時(shí),作用到電離箱反映射線的強(qiáng)弱。當(dāng)工件中存在缺陷時(shí),作用到電離箱的射線強(qiáng)度發(fā)生變化,產(chǎn)生的電離電流的大小也隨之發(fā)的射線強(qiáng)度發(fā)生變化,產(chǎn)生的電離電流的大小也隨之發(fā)生變化。生變化。能力知識(shí)點(diǎn)2 射線電離法射線熒光屏觀察法射線熒光屏觀察法 定義定義:將透過(guò)被檢物體后的不同強(qiáng)度的射線,:將透過(guò)被檢物體后的不同強(qiáng)度的射線,再投射在涂有熒光物質(zhì)的熒光屏上,激發(fā)出不再投射在涂有熒光物質(zhì)的熒光屏上,激發(fā)出不同強(qiáng)度的熒光而得到物體內(nèi)部的影
14、像的方法。同強(qiáng)度的熒光而得到物體內(nèi)部的影像的方法。射線熒光屏觀察法射線熒光屏觀察法 射線實(shí)時(shí)成像法射線實(shí)時(shí)成像法定義:射線實(shí)時(shí)成像是一種在射線透照的同時(shí)就可以觀察到定義:射線實(shí)時(shí)成像是一種在射線透照的同時(shí)就可以觀察到所產(chǎn)生的圖像的檢測(cè)方法。射線實(shí)時(shí)成像在檢測(cè)時(shí),利用小所產(chǎn)生的圖像的檢測(cè)方法。射線實(shí)時(shí)成像在檢測(cè)時(shí),利用小焦點(diǎn)或微焦點(diǎn)焦點(diǎn)或微焦點(diǎn)X射線源透照工件,利用一定的器件將射線源透照工件,利用一定的器件將X射線射線圖像轉(zhuǎn)換為可見(jiàn)光圖像,再通過(guò)電視攝象機(jī)攝像后,將圖像圖像轉(zhuǎn)換為可見(jiàn)光圖像,再通過(guò)電視攝象機(jī)攝像后,將圖像直接或通過(guò)計(jì)算機(jī)處理后再顯示在電視監(jiān)視屏上,以此來(lái)評(píng)直接或通過(guò)計(jì)算機(jī)處理后再
15、顯示在電視監(jiān)視屏上,以此來(lái)評(píng)定工件內(nèi)部的質(zhì)量。具有實(shí)時(shí),高效、不用射線膠片、可記定工件內(nèi)部的質(zhì)量。具有實(shí)時(shí),高效、不用射線膠片、可記錄和勞動(dòng)條件好等顯著優(yōu)點(diǎn)。錄和勞動(dòng)條件好等顯著優(yōu)點(diǎn)。能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)5 射線計(jì)算機(jī)斷層掃描技術(shù) 射線計(jì)算機(jī)斷層掃描技術(shù)計(jì)算機(jī)斷層掃描技術(shù),簡(jiǎn)射線計(jì)算機(jī)斷層掃描技術(shù)計(jì)算機(jī)斷層掃描技術(shù),簡(jiǎn)稱(chēng)稱(chēng)CT(Computer tomography)。它是根據(jù)物體橫)。它是根據(jù)物體橫斷面的一組投影數(shù)據(jù),經(jīng)計(jì)算機(jī)處理后,得到物體橫斷面的一組投影數(shù)據(jù),經(jīng)計(jì)算機(jī)處理后,得到物體橫斷面的圖象。斷面的圖象。 模塊三模塊三 射線探傷設(shè)備簡(jiǎn)介射線探傷設(shè)備簡(jiǎn)介 n 能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)1 X
16、射線機(jī)射線機(jī) n 能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)2 射線機(jī)射線機(jī)n 能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)3 加速器加速器 射線探傷的產(chǎn)用設(shè)備有射線探傷的產(chǎn)用設(shè)備有X射線機(jī)、射線機(jī)、射線機(jī)和加速器。射線機(jī)和加速器。 一、一、 X射線機(jī)的分類(lèi)射線機(jī)的分類(lèi)攜帶式攜帶式移動(dòng)式移動(dòng)式固定式固定式按結(jié)構(gòu)定向定向周向周向按輻射方向能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)1 X1 X射線機(jī)射線機(jī)X射線機(jī)射線機(jī)X射線機(jī)射線機(jī)攜帶式X射線機(jī)移動(dòng)式X射線機(jī)能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)1 X1 X射線機(jī)射線機(jī)固定式X射線機(jī)能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)1 X1 X射線機(jī)射線機(jī)二、二、X射線機(jī)的組成射線機(jī)的組成 X X射線機(jī)主要由射線機(jī)主要由X X射線管、高壓發(fā)生器、控制裝置、冷射
17、線管、高壓發(fā)生器、控制裝置、冷卻器、機(jī)械裝置和高壓電纜等部件組成。卻器、機(jī)械裝置和高壓電纜等部件組成。 X X射線管是射線管是X X射線機(jī)的核心部件。它是一種由陰極、陽(yáng)射線機(jī)的核心部件。它是一種由陰極、陽(yáng)極和管套組成的真空電子器件。極和管套組成的真空電子器件。X射線管圖能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)1 X1 X射線機(jī)射線機(jī) 1、根據(jù)工作條件選擇、根據(jù)工作條件選擇 對(duì)于零件較小,可以集中對(duì)于零件較小,可以集中在地面工作的,宜選用移動(dòng)式在地面工作的,宜選用移動(dòng)式X射線機(jī)。對(duì)于零件較大射線機(jī)。對(duì)于零件較大需需在高空或地下工作的,宜選用在高空或地下工作的,宜選用攜帶式攜帶式X射線機(jī)。射線機(jī)。 2、根據(jù)被透物體的
18、結(jié)、根據(jù)被透物體的結(jié)構(gòu)和厚度選擇。構(gòu)和厚度選擇。 透照輕金屬或厚度較薄透照輕金屬或厚度較薄的工件時(shí),宜選用管電壓低的工件時(shí),宜選用管電壓低的的X射線機(jī),透照重金屬或射線機(jī),透照重金屬或厚度較大的工件時(shí),宜選用厚度較大的工件時(shí),宜選用管電壓高的管電壓高的X射線機(jī)。射線機(jī)。 三、三、X射線機(jī)選擇射線機(jī)選擇能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)1 X1 X射線機(jī)射線機(jī)射線機(jī)射線機(jī)攜帶式攜帶式移動(dòng)式移動(dòng)式爬行式爬行式Ir92Co60Co60薄件探傷薄件探傷厚件探傷厚件探傷野外焊接野外焊接管探傷管探傷能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)2 射線機(jī)射線機(jī) 能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)2 射線機(jī)射線機(jī) 半衰期短的半衰期短的源源更換頻繁;要求有更換頻
19、繁;要求有嚴(yán)格的射線防護(hù)嚴(yán)格的射線防護(hù)措施;探傷靈敏度措施;探傷靈敏度略低于略低于X射線機(jī)。射線機(jī)。優(yōu)點(diǎn)優(yōu)點(diǎn) 缺點(diǎn)缺點(diǎn) 穿透力強(qiáng);透照過(guò)穿透力強(qiáng);透照過(guò)程中不用水和電,程中不用水和電,可在野外、對(duì)帶可在野外、對(duì)帶電高壓電器設(shè)備、電高壓電器設(shè)備、高空、高溫及水下高空、高溫及水下等多種場(chǎng)合下工作。等多種場(chǎng)合下工作。能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)2 射線機(jī)射線機(jī) 能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)3 加速器加速器 定義:電子加速器是一種利用電磁場(chǎng)使帶定義:電子加速器是一種利用電磁場(chǎng)使帶電粒子(如電子、質(zhì)子、氘核、氦核及其他重離電粒子(如電子、質(zhì)子、氘核、氦核及其他重離子)獲得能量的裝置。用于產(chǎn)生高能子)獲得能量的裝置。用于
20、產(chǎn)生高能X X射線的加射線的加速器主要有電子感應(yīng)式、電子直線式和電子回旋速器主要有電子感應(yīng)式、電子直線式和電子回旋式三種。目前應(yīng)用最廣大的電子直線加速器。式三種。目前應(yīng)用最廣大的電子直線加速器。 模塊四 焊縫的射線照相法檢測(cè) n 能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)1 檢測(cè)系統(tǒng)的組成檢測(cè)系統(tǒng)的組成n 能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)2 檢測(cè)條件的選擇檢測(cè)條件的選擇 n 能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)3 射線透照工藝射線透照工藝 n 能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)4 膠片的暗室處理膠片的暗室處理 能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)1 1 檢測(cè)系統(tǒng)的組成檢測(cè)系統(tǒng)的組成 檢測(cè)系統(tǒng)的組成檢測(cè)系統(tǒng)的組成1射線源射線源 2鉛光闌鉛光闌 3濾板濾板 4像質(zhì)計(jì)、標(biāo)記帶像
21、質(zhì)計(jì)、標(biāo)記帶5遮板遮板 6工件工件 7濾板濾板 8底部鉛板底部鉛板9暗盒、膠片、增感屏暗盒、膠片、增感屏 10鉛罩鉛罩1.射線源射線源射線源可以是射線源可以是X射線機(jī)、射線機(jī)、射線機(jī)或高能射線機(jī)或高能X射線機(jī)。射線機(jī)。2. 射線膠片與暗盒射線膠片與暗盒射線膠片是一張可以彎曲的透明膠片,不同于一般膠片之處在于片基射線膠片是一張可以彎曲的透明膠片,不同于一般膠片之處在于片基的兩面涂有混于乳膠液中的溴化銀或氯化銀的兩面涂有混于乳膠液中的溴化銀或氯化銀。3. 增感屏增感屏 (1 1)熒光增感屏)熒光增感屏熒光增感屏是利用熒光物質(zhì)被射線激發(fā)產(chǎn)生熒光實(shí)現(xiàn)增感作用的熒光增感屏是利用熒光物質(zhì)被射線激發(fā)產(chǎn)生熒光
22、實(shí)現(xiàn)增感作用的,其結(jié)構(gòu)如圖所示。它是將熒光物質(zhì)均勻地涂布在質(zhì)地均勻而光滑的支撐,其結(jié)構(gòu)如圖所示。它是將熒光物質(zhì)均勻地涂布在質(zhì)地均勻而光滑的支撐物物( (硬紙或塑料薄板等硬紙或塑料薄板等) )上,再覆蓋一層薄薄的透明保護(hù)層組合而成的。上,再覆蓋一層薄薄的透明保護(hù)層組合而成的。 能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)1 1 檢測(cè)系統(tǒng)的組成檢測(cè)系統(tǒng)的組成 (2)金屬增感屏是由金屬箔(常用鉛、鋼或銅)粘合在紙)金屬增感屏是由金屬箔(常用鉛、鋼或銅)粘合在紙基或膠片片基上制成的。基或膠片片基上制成的。金屬增感屏在受射線照射時(shí)產(chǎn)生金屬增感屏在受射線照射時(shí)產(chǎn)生射線和二次標(biāo)識(shí)射線和二次標(biāo)識(shí)X X射線對(duì)膠片起感光作用。其增感較小
23、,射線對(duì)膠片起感光作用。其增感較小,一般只有一般只有2 27 7倍。倍。能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)1 1 檢測(cè)系統(tǒng)的組成檢測(cè)系統(tǒng)的組成 434. 4. 像質(zhì)計(jì)像質(zhì)計(jì) 透度計(jì)又稱(chēng)像質(zhì)指示器。透度計(jì)要用與被透照工件材質(zhì)吸透度計(jì)又稱(chēng)像質(zhì)指示器。透度計(jì)要用與被透照工件材質(zhì)吸收系數(shù)相同或相近的材料制成。常用的透度計(jì)主要有兩種。收系數(shù)相同或相近的材料制成。常用的透度計(jì)主要有兩種。 (1 1) 槽式透度計(jì)。槽式透度計(jì)。 槽式透度計(jì)的基本設(shè)計(jì)是在平板上加工出一系列的矩形槽槽式透度計(jì)的基本設(shè)計(jì)是在平板上加工出一系列的矩形槽, 其規(guī)格尺寸如圖所示。對(duì)不同厚度的工件照相,可分別采其規(guī)格尺寸如圖所示。對(duì)不同厚度的工件照相,
24、可分別采用不同型號(hào)的透度計(jì)。用不同型號(hào)的透度計(jì)。 能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)1 1 檢測(cè)系統(tǒng)的組成檢測(cè)系統(tǒng)的組成 44槽式透度計(jì)示意圖 能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)1 1 檢測(cè)系統(tǒng)的組成檢測(cè)系統(tǒng)的組成 45(2) (2) 金屬絲透度計(jì)。金屬絲透度計(jì)。 金屬絲透度計(jì)是以一套不同直徑的金屬絲均勻排列,粘合于金屬絲透度計(jì)是以一套不同直徑的金屬絲均勻排列,粘合于兩層塑料或薄橡皮中間而構(gòu)成的。為區(qū)別透度計(jì)型號(hào),在金屬絲兩層塑料或薄橡皮中間而構(gòu)成的。為區(qū)別透度計(jì)型號(hào),在金屬絲兩端擺上與號(hào)數(shù)對(duì)應(yīng)的鉛字或鉛點(diǎn)。金屬絲一般分為兩類(lèi),透照兩端擺上與號(hào)數(shù)對(duì)應(yīng)的鉛字或鉛點(diǎn)。金屬絲一般分為兩類(lèi),透照鋼材時(shí)用鋼絲透度計(jì),透照鋁合金或鎂
25、合金時(shí)用鋁絲透度計(jì)。鋼材時(shí)用鋼絲透度計(jì),透照鋁合金或鎂合金時(shí)用鋁絲透度計(jì)。能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)1 1 檢測(cè)系統(tǒng)的組成檢測(cè)系統(tǒng)的組成 46金屬絲透度計(jì)示意圖 能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)1 1 檢測(cè)系統(tǒng)的組成檢測(cè)系統(tǒng)的組成 47%100dK使用金屬絲透度計(jì)時(shí),應(yīng)將其置于被透照工件的表面,并使用金屬絲透度計(jì)時(shí),應(yīng)將其置于被透照工件的表面,并應(yīng)使金屬絲直徑小的一側(cè)遠(yuǎn)離射線束中心。這樣可保證整個(gè)被應(yīng)使金屬絲直徑小的一側(cè)遠(yuǎn)離射線束中心。這樣可保證整個(gè)被透照區(qū)的靈敏度達(dá)到如下計(jì)算數(shù)值:透照區(qū)的靈敏度達(dá)到如下計(jì)算數(shù)值: 式中:式中: 為觀察到的最小金屬絲直徑;為觀察到的最小金屬絲直徑;d為被透照工件部位為被透照工件
26、部位的總厚度。的總厚度。 能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)1 1 檢測(cè)系統(tǒng)的組成檢測(cè)系統(tǒng)的組成 5. 標(biāo)記系標(biāo)記系(1)定位標(biāo)記)定位標(biāo)記 包括中心標(biāo)記、搭接標(biāo)記。包括中心標(biāo)記、搭接標(biāo)記。(2)識(shí)別標(biāo)記)識(shí)別標(biāo)記 包括工件編號(hào)、焊縫編號(hào)、部位編號(hào)、返修編號(hào)等。包括工件編號(hào)、焊縫編號(hào)、部位編號(hào)、返修編號(hào)等。 (3)B 標(biāo)記標(biāo)記 該標(biāo)記應(yīng)貼附在暗盒背面,用以檢查背面散射線防護(hù)效該標(biāo)記應(yīng)貼附在暗盒背面,用以檢查背面散射線防護(hù)效果。若在較黑背景上出現(xiàn)果。若在較黑背景上出現(xiàn)“B”的較淡影像,應(yīng)予重照。的較淡影像,應(yīng)予重照。 各種標(biāo)記相互位置各種標(biāo)記相互位置(標(biāo)記系標(biāo)記系)A一定位及分編號(hào)一定位及分編號(hào)(搭接標(biāo)記搭接
27、標(biāo)記) B一制造廠代號(hào)一制造廠代號(hào) C一產(chǎn)品令號(hào)一產(chǎn)品令號(hào)(合同號(hào)合同號(hào))D一工件編號(hào)一工件編號(hào) E一焊縫類(lèi)別一焊縫類(lèi)別(縱、環(huán)縫縱、環(huán)縫) F一返修次數(shù)一返修次數(shù) G一檢驗(yàn)日期一檢驗(yàn)日期 H一中心定位標(biāo)記一中心定位標(biāo)記I一像質(zhì)計(jì)一像質(zhì)計(jì) J一一B標(biāo)記標(biāo)記 K一操作者代號(hào)一操作者代號(hào)能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)1 1 檢測(cè)系統(tǒng)的組成檢測(cè)系統(tǒng)的組成 6. 散射線防護(hù)裝置散射線防護(hù)裝置 ( 1 )鉛罩鉛罩(2)鉛遮板)鉛遮板(3)底部鉛板)底部鉛板 底部鉛板又稱(chēng)后防護(hù)鉛板,用于屏底部鉛板又稱(chēng)后防護(hù)鉛板,用于屏蔽后方散射線(來(lái)自暗盒背面的散射線)。蔽后方散射線(來(lái)自暗盒背面的散射線)。(4)濾板)濾板 濾板
28、的作用主要是吸收掉濾板的作用主要是吸收掉X 射線中那些射線中那些波長(zhǎng)較長(zhǎng)的譜線。波長(zhǎng)較長(zhǎng)的譜線。能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)1 1 檢測(cè)系統(tǒng)的組成檢測(cè)系統(tǒng)的組成 1 1、射線透照技術(shù)等級(jí)的選擇、射線透照技術(shù)等級(jí)的選擇 射線透照技術(shù)等級(jí)是對(duì)射線探傷本身的質(zhì)量要求。射線透照技術(shù)等級(jí)是對(duì)射線探傷本身的質(zhì)量要求。 A A級(jí)級(jí)普通級(jí),普通級(jí),; B B級(jí)級(jí)優(yōu)化級(jí),優(yōu)化級(jí),。 2 2、探傷位置的確定及其標(biāo)記、探傷位置的確定及其標(biāo)記 能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)2 檢測(cè)條件的選擇檢測(cè)條件的選擇 案例分析:案例分析: 根據(jù)根據(jù)壓力容器監(jiān)察規(guī)程壓力容器監(jiān)察規(guī)程: A、筒體與封頭連接部位必須進(jìn)行探傷。、筒體與封頭連接部位必須進(jìn)行
29、探傷。115、3145兩條環(huán)焊縫兩條環(huán)焊縫100%探傷。探傷。B、環(huán)節(jié)、環(huán)縫交叉部位必須探傷。、環(huán)節(jié)、環(huán)縫交叉部位必須探傷。1617、2324兩個(gè)區(qū)域必須探傷。兩個(gè)區(qū)域必須探傷。C、筒體上縱焊縫、筒體上縱焊縫X-321上的上的01、67兩個(gè)區(qū)域占該焊縫長(zhǎng)度的兩個(gè)區(qū)域占該焊縫長(zhǎng)度的28%,X-322上上01、78兩個(gè)區(qū)域占該焊縫長(zhǎng)度的兩個(gè)區(qū)域占該焊縫長(zhǎng)度的25%,達(dá)到,達(dá)到20%抽檢面要求。抽檢面要求。 3 3、靈敏度的選擇、靈敏度的選擇 靈敏度是評(píng)價(jià)射線照相質(zhì)量的最重要的指標(biāo),它標(biāo)志著射線靈敏度是評(píng)價(jià)射線照相質(zhì)量的最重要的指標(biāo),它標(biāo)志著射線探傷中發(fā)現(xiàn)探傷中發(fā)現(xiàn)最小缺陷的能力。最小缺陷的能力。
30、由于預(yù)先無(wú)法了解沿射線穿透方向上的最小缺陷尺寸,為此由于預(yù)先無(wú)法了解沿射線穿透方向上的最小缺陷尺寸,為此必須采用已知尺寸的人工必須采用已知尺寸的人工“缺陷缺陷”像像質(zhì)計(jì)來(lái)度量質(zhì)計(jì)來(lái)度量。能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)2 檢測(cè)條件的選擇檢測(cè)條件的選擇 4、射線能量的選擇、射線能量的選擇 射線能量的選擇實(shí)際上是對(duì)射線源的射線能量的選擇實(shí)際上是對(duì)射線源的 kVkVMeVMeV值或值或源源的種類(lèi)的選擇。射線能量愈大,其穿透能力愈強(qiáng),可透照的的種類(lèi)的選擇。射線能量愈大,其穿透能力愈強(qiáng),可透照的工件厚度愈大。但同時(shí)也帶來(lái)了由于衰減系數(shù)的降低而導(dǎo)致工件厚度愈大。但同時(shí)也帶來(lái)了由于衰減系數(shù)的降低而導(dǎo)致成象質(zhì)量下降。所以
31、在保證穿透的前提下,應(yīng)根據(jù)材質(zhì)和成成象質(zhì)量下降。所以在保證穿透的前提下,應(yīng)根據(jù)材質(zhì)和成象質(zhì)量要求,盡量選擇較低的射線能量。象質(zhì)量要求,盡量選擇較低的射線能量。能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)2 檢測(cè)條件的選擇檢測(cè)條件的選擇 5 5、透照幾何參數(shù)的選擇、透照幾何參數(shù)的選擇 (1 1)射線焦點(diǎn)大小的影響)射線焦點(diǎn)大小的影響 盡量選擇焦點(diǎn)小的射線源,或增加焦點(diǎn)至工件表面的距盡量選擇焦點(diǎn)小的射線源,或增加焦點(diǎn)至工件表面的距離。離。 (2)射線源至工件距離的選擇)射線源至工件距離的選擇 在射線源選定后,增大透照距離可提高底片清晰度,在射線源選定后,增大透照距離可提高底片清晰度,也增大每次透照面積。但同時(shí)也大大削弱單
32、位面積的射線強(qiáng)也增大每次透照面積。但同時(shí)也大大削弱單位面積的射線強(qiáng)度,從而使得曝光時(shí)間過(guò)長(zhǎng)。因此,不能為了提高清晰度而無(wú)度,從而使得曝光時(shí)間過(guò)長(zhǎng)。因此,不能為了提高清晰度而無(wú)限地加大透照距離。探傷通常采用的透照距離為限地加大透照距離。探傷通常采用的透照距離為400400700mm700mm。能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)2 檢測(cè)條件的選擇檢測(cè)條件的選擇 554. 4. 焦距的選擇焦距的選擇焦距是指從放射源焦距是指從放射源( (焦點(diǎn)焦點(diǎn)) )至膠片的距離。焦距選擇與射線至膠片的距離。焦距選擇與射線源的幾何尺寸和試件厚度有關(guān)。由于射線源有一定的幾何尺寸源的幾何尺寸和試件厚度有關(guān)。由于射線源有一定的幾何尺寸,
33、 從而產(chǎn)生幾何不清晰度從而產(chǎn)生幾何不清晰度U Ug g,如圖所示。由相似三角形關(guān)系,如圖所示。由相似三角形關(guān)系, 可以求出:可以求出: bFbUg式中:式中:為射線源的幾何尺寸;為射線源的幾何尺寸;F F為焦點(diǎn)至膠片的距離;為焦點(diǎn)至膠片的距離;a a為焦為焦點(diǎn)至缺陷的距離;點(diǎn)至缺陷的距離;b b為缺陷至膠片的距離。為缺陷至膠片的距離。 能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)2 檢測(cè)條件的選擇檢測(cè)條件的選擇 56透照影像幾何不清晰度 bFbUg能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)2 檢測(cè)條件的選擇檢測(cè)條件的選擇 575. 曝光曲線曝光曲線 不同管電壓下,材料厚度與曝光量的關(guān)系曲線,材料厚不同管電壓下,材料厚度與曝光量的關(guān)系曲線,
34、材料厚度度d與曝光量與曝光量x的關(guān)系為:的關(guān)系為: Cdx 式中:式中:為吸收系數(shù);為常數(shù)。為吸收系數(shù);為常數(shù)。x x與與d d呈線性關(guān)系。若以呈線性關(guān)系。若以x x為縱為縱軸,軸,d d為橫軸,當(dāng)焦距一定時(shí),則給定一個(gè)厚度為橫軸,當(dāng)焦距一定時(shí),則給定一個(gè)厚度d d,對(duì)應(yīng)于某一,對(duì)應(yīng)于某一管電壓可以求得一個(gè)管電壓可以求得一個(gè)x x值。用各種不同的電壓試驗(yàn)時(shí),就可以值。用各種不同的電壓試驗(yàn)時(shí),就可以得出一組斜率逐漸變化的曲線,如圖所示。得出一組斜率逐漸變化的曲線,如圖所示。 能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)2 檢測(cè)條件的選擇檢測(cè)條件的選擇 58材料厚度與曝光量的關(guān)系曲線 能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)2 檢測(cè)條件的選
35、擇檢測(cè)條件的選擇 59 不同焦距下,材料厚度與管電壓的關(guān)系曲線。由于底不同焦距下,材料厚度與管電壓的關(guān)系曲線。由于底片黑度要求一定,所以片黑度要求一定,所以x x為一常數(shù),如果被透照的材料固定,為一常數(shù),如果被透照的材料固定,則則d d增大時(shí)增大時(shí)必須減小,所以管電壓要相應(yīng)增大。必須減小,所以管電壓要相應(yīng)增大。 U1若以材料厚度若以材料厚度d為橫軸,管電壓為橫軸,管電壓U為縱軸,則在一定焦距下的厚為縱軸,則在一定焦距下的厚度所對(duì)應(yīng)的管電壓可以連成一條曲線。以不同的焦距試驗(yàn)時(shí),度所對(duì)應(yīng)的管電壓可以連成一條曲線。以不同的焦距試驗(yàn)時(shí), 就可得到一組曲線,就可得到一組曲線, 如圖所示。如圖所示。 能力
36、知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)2 檢測(cè)條件的選擇檢測(cè)條件的選擇 60材料厚度與管電壓的關(guān)系曲線 能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)2 檢測(cè)條件的選擇檢測(cè)條件的選擇 6 6、曝光規(guī)范的選擇、曝光規(guī)范的選擇 曝光規(guī)范是影響照相質(zhì)量的重要因素。曝光規(guī)范是影響照相質(zhì)量的重要因素。X X射線探傷的曝射線探傷的曝光規(guī)范包括管電壓、管電流、曝光時(shí)間及焦距等四個(gè)參數(shù),其光規(guī)范包括管電壓、管電流、曝光時(shí)間及焦距等四個(gè)參數(shù),其中管電流和曝光時(shí)間的乘積稱(chēng)為曝光量。中管電流和曝光時(shí)間的乘積稱(chēng)為曝光量。 射線探傷中,通常利用曝光曲線進(jìn)行曝光規(guī)范的選擇。射線探傷中,通常利用曝光曲線進(jìn)行曝光規(guī)范的選擇。能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)2 檢測(cè)條件的選擇檢測(cè)條件的
37、選擇 627. 透照方向的選擇透照方向的選擇 (1) 平板形工件平板形工件能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)2 檢測(cè)條件的選擇檢測(cè)條件的選擇 63(2) 圓管圓管能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)2 檢測(cè)條件的選擇檢測(cè)條件的選擇 64(3)角形)角形工件工件能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)2 檢測(cè)條件的選擇檢測(cè)條件的選擇 65(4)管接頭焊縫)管接頭焊縫能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)2 檢測(cè)條件的選擇檢測(cè)條件的選擇 66(5) 圓柱體圓柱體(6) 厚度變化劇烈的工件厚度變化劇烈的工件能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)2 檢測(cè)條件的選擇檢測(cè)條件的選擇 8)一次透照長(zhǎng)度的控制)一次透照長(zhǎng)度的控制 中心射線束穿過(guò)的工件厚度,產(chǎn)生了透照厚度差(中心射線束穿過(guò)的工件
38、厚度,產(chǎn)生了透照厚度差(),透照厚度比定義如下:),透照厚度比定義如下: / / 實(shí)際探傷時(shí),透照厚度比實(shí)際探傷時(shí),透照厚度比K K值按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)選擇。值按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)選擇。 能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)2 檢測(cè)條件的選擇檢測(cè)條件的選擇 能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)3 焊縫透照工藝焊縫透照工藝 1. 1.工藝規(guī)程工藝規(guī)程 一般應(yīng)包括:一般應(yīng)包括: (1 1)適用范圍(編制依據(jù)的標(biāo)準(zhǔn),透照質(zhì)量等級(jí),透照母)適用范圍(編制依據(jù)的標(biāo)準(zhǔn),透照質(zhì)量等級(jí),透照母材厚度范圍,工件種類(lèi),焊接方法和類(lèi)型等)。材厚度范圍,工件種類(lèi),焊接方法和類(lèi)型等)。 (2 2)檢測(cè)人員要求。)檢測(cè)人員要求。 (3 3)對(duì)工件的要求。)對(duì)工件的要
39、求。 (4 4)設(shè)備器材。)設(shè)備器材。 (5 5)透照方法及相關(guān)要求。)透照方法及相關(guān)要求。 (6 6)鋼印標(biāo)記方法。)鋼印標(biāo)記方法。 (7 7)曝光曲線(管電壓,管電流,曝光時(shí)間等)。)曝光曲線(管電壓,管電流,曝光時(shí)間等)。 (8 8)暗室處理。)暗室處理。能力知識(shí)點(diǎn)3 焊縫透照工藝 (9 (9)底片評(píng)定(評(píng)片條件,驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn),像質(zhì)鑒定,級(jí)別)底片評(píng)定(評(píng)片條件,驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn),像質(zhì)鑒定,級(jí)別評(píng)定,返修規(guī)定)。評(píng)定,返修規(guī)定)。 (1010)記錄報(bào)告。)記錄報(bào)告。 (1111)安全管理規(guī)定。)安全管理規(guī)定。 (1212)其他必要的說(shuō)明。)其他必要的說(shuō)明。 2.2.工藝卡工藝卡 射線檢測(cè)工藝卡是針對(duì)
40、產(chǎn)品具體結(jié)構(gòu)檢測(cè)操作的指導(dǎo)性射線檢測(cè)工藝卡是針對(duì)產(chǎn)品具體結(jié)構(gòu)檢測(cè)操作的指導(dǎo)性文件,是工藝規(guī)程的文件,是工藝規(guī)程的“濃縮濃縮”。工藝卡包括試件原始數(shù)據(jù)、。工藝卡包括試件原始數(shù)據(jù)、規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)、檢測(cè)技術(shù)數(shù)據(jù)、特殊的技術(shù)措施及說(shuō)明和有規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)、檢測(cè)技術(shù)數(shù)據(jù)、特殊的技術(shù)措施及說(shuō)明和有關(guān)人員簽字。關(guān)人員簽字。能力知識(shí)點(diǎn)3 焊縫透照工藝 n 3. 3.焊縫檢測(cè)的基本操作焊縫檢測(cè)的基本操作n (1 1)試件檢查及清理)試件檢查及清理n (2 2)劃線)劃線n (3 3)像質(zhì)計(jì)和標(biāo)記擺放)像質(zhì)計(jì)和標(biāo)記擺放n (4 4)貼片)貼片n (5 5)對(duì)焦)對(duì)焦n (6 6)散射線防護(hù))散射線防護(hù)n (7 7)曝光
41、)曝光能力知識(shí)點(diǎn)3 焊縫透照工藝 顯影顯影停顯停顯定影定影水洗水洗干燥干燥模塊五模塊五 底片的評(píng)定及焊縫質(zhì)量分級(jí)底片的評(píng)定及焊縫質(zhì)量分級(jí) n 能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)1底片質(zhì)量評(píng)定底片質(zhì)量評(píng)定 n 能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)2底片上缺陷影像的識(shí)別底片上缺陷影像的識(shí)別 n 能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)3焊接缺陷的定量評(píng)定焊接缺陷的定量評(píng)定 n 能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)4焊縫質(zhì)量的評(píng)定焊縫質(zhì)量的評(píng)定 n 能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)5焊縫照相檢測(cè)報(bào)告焊縫照相檢測(cè)報(bào)告 n 能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)6焊縫射線探傷的一般程序焊縫射線探傷的一般程序 由經(jīng)過(guò)專(zhuān)業(yè)培訓(xùn)獲得由經(jīng)過(guò)專(zhuān)業(yè)培訓(xùn)獲得級(jí)或級(jí)或級(jí)以上射線探傷資格證書(shū)的人級(jí)以上射線探傷資格證
42、書(shū)的人員利用觀片燈員利用觀片燈黑度計(jì)等儀器和工具進(jìn)行評(píng)片。包括底片質(zhì)量的黑度計(jì)等儀器和工具進(jìn)行評(píng)片。包括底片質(zhì)量的評(píng)定評(píng)定缺陷的定性和定量缺陷的定性和定量焊縫質(zhì)量的評(píng)級(jí)等內(nèi)容。焊縫質(zhì)量的評(píng)級(jí)等內(nèi)容。 1 1、底片質(zhì)量評(píng)定、底片質(zhì)量評(píng)定 (1 1)黑度值)黑度值 (2 2)靈敏度)靈敏度 (3 3)標(biāo)記系)標(biāo)記系 (4 4)表面質(zhì)量)表面質(zhì)量 能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)1 底片質(zhì)量評(píng)定底片質(zhì)量評(píng)定 常見(jiàn)焊接缺陷影像顯示:常見(jiàn)焊接缺陷影像顯示: 1、 裂紋裂紋 能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)2 底片上缺陷影像的識(shí)別底片上缺陷影像的識(shí)別 裂紋主要是在熔焊冷卻時(shí)因熱應(yīng)力和相變應(yīng)力而產(chǎn)裂紋主要是在熔焊冷卻時(shí)因熱應(yīng)力和相
43、變應(yīng)力而產(chǎn)生的,也有在校正和疲勞過(guò)程中產(chǎn)生的,是危險(xiǎn)性最大生的,也有在校正和疲勞過(guò)程中產(chǎn)生的,是危險(xiǎn)性最大的一種缺陷。裂紋影像較難辨認(rèn)。因?yàn)閿嗔褜挾?、裂紋的一種缺陷。裂紋影像較難辨認(rèn)。因?yàn)閿嗔褜挾取⒘鸭y取向、斷裂深度不同,取向、斷裂深度不同, 使其影像有的較清晰,有的模糊使其影像有的較清晰,有的模糊不清。常見(jiàn)的有縱向裂紋、橫向裂紋和弧坑裂紋,不清。常見(jiàn)的有縱向裂紋、橫向裂紋和弧坑裂紋, 分布分布在焊縫上或熱影響區(qū)。在焊縫上或熱影響區(qū)。 裂紋裂紋能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)2 底片上缺陷影像的識(shí)別底片上缺陷影像的識(shí)別 2 2、未焊透、未焊透 未焊透是熔焊金屬與基體未焊透是熔焊金屬與基體材料沒(méi)有熔合為一體
44、且有一材料沒(méi)有熔合為一體且有一定間隙的一種缺陷。在膠片定間隙的一種缺陷。在膠片上的影像特征是連續(xù)或斷續(xù)上的影像特征是連續(xù)或斷續(xù)的黑線,黑線的位置與兩基的黑線,黑線的位置與兩基體材料相對(duì)接的位置間隙一體材料相對(duì)接的位置間隙一致。致。能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)2 底片上缺陷影像的識(shí)別底片上缺陷影像的識(shí)別 3 3、氣孔、氣孔 氣孔是在熔焊時(shí)部分空氣停留在金屬內(nèi)部而形成的缺陷。氣孔是在熔焊時(shí)部分空氣停留在金屬內(nèi)部而形成的缺陷。氣孔在底片上的影像一般呈圓形或橢圓形,也有不規(guī)則形狀氣孔在底片上的影像一般呈圓形或橢圓形,也有不規(guī)則形狀的,以單個(gè)、多個(gè)密集或鏈狀的形式分布在焊縫上。在底片上的,以單個(gè)、多個(gè)密集或鏈狀
45、的形式分布在焊縫上。在底片上的影像輪廓清晰,邊緣圓滑,如氣孔較大,還可看到其黑度中的影像輪廓清晰,邊緣圓滑,如氣孔較大,還可看到其黑度中心部分較邊緣要深一些。心部分較邊緣要深一些。 氣孔氣孔 鏈狀氣孔鏈狀氣孔能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)2 底片上缺陷影像的識(shí)別底片上缺陷影像的識(shí)別 4 4、夾渣、夾渣 夾渣是在熔焊時(shí)所產(chǎn)生的金屬氧化物或非金屬夾雜物,因夾渣是在熔焊時(shí)所產(chǎn)生的金屬氧化物或非金屬夾雜物,因來(lái)不及浮出表面,停留在焊縫內(nèi)部而形成的缺陷。在底片上其來(lái)不及浮出表面,停留在焊縫內(nèi)部而形成的缺陷。在底片上其影像是不規(guī)則的,呈圓形、塊狀或鏈狀等,邊緣沒(méi)有氣孔圓滑影像是不規(guī)則的,呈圓形、塊狀或鏈狀等,邊緣沒(méi)
46、有氣孔圓滑清晰,清晰, 有時(shí)帶棱角。有時(shí)帶棱角。 夾鎢能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)2 底片上缺陷影像的識(shí)別底片上缺陷影像的識(shí)別 5 5、 燒穿燒穿 在焊縫的局部,因熱量過(guò)大而被熔穿,形成流垂或凹在焊縫的局部,因熱量過(guò)大而被熔穿,形成流垂或凹坑。坑。 在底片上的影像呈光亮的圓形在底片上的影像呈光亮的圓形( (流垂流垂) )或呈邊緣較清晰的或呈邊緣較清晰的黑塊黑塊( (凹坑凹坑) )。 能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)2 底片上缺陷影像的識(shí)別底片上缺陷影像的識(shí)別 7偽缺陷偽缺陷 偽缺陷產(chǎn)生的原因很多,形狀也多種多樣,檢測(cè)人員偽缺陷產(chǎn)生的原因很多,形狀也多種多樣,檢測(cè)人員一般憑經(jīng)驗(yàn)?zāi)茏R(shí)別大部分偽缺陷。也就是說(shuō),對(duì)缺陷影
47、像一般憑經(jīng)驗(yàn)?zāi)茏R(shí)別大部分偽缺陷。也就是說(shuō),對(duì)缺陷影像可根據(jù)缺陷影像的特征和產(chǎn)生的部位予以分析。此外,還可根據(jù)缺陷影像的特征和產(chǎn)生的部位予以分析。此外,還可以從膠片兩側(cè)利用反光或放大鏡觀察表面是否劃傷來(lái)判可以從膠片兩側(cè)利用反光或放大鏡觀察表面是否劃傷來(lái)判斷。如仍懷疑有缺陷,則必須重照復(fù)驗(yàn)。斷。如仍懷疑有缺陷,則必須重照復(fù)驗(yàn)。 6 6表面缺陷表面缺陷 對(duì)于缺陷,主要應(yīng)檢查工件內(nèi)部缺陷,但是各種表對(duì)于缺陷,主要應(yīng)檢查工件內(nèi)部缺陷,但是各種表面缺陷在膠片上的影像和內(nèi)部缺陷的影像并沒(méi)有什么區(qū)面缺陷在膠片上的影像和內(nèi)部缺陷的影像并沒(méi)有什么區(qū)別,表面缺陷有些是允許的。因此,在膠片上發(fā)現(xiàn)有缺別,表面缺陷有些是
48、允許的。因此,在膠片上發(fā)現(xiàn)有缺陷影像后,陷影像后, 應(yīng)與工件表面仔細(xì)查對(duì),應(yīng)與工件表面仔細(xì)查對(duì), 最后得出結(jié)論。最后得出結(jié)論。能力知識(shí)點(diǎn)能力知識(shí)點(diǎn)2 底片上缺陷影像的識(shí)別底片上缺陷影像的識(shí)別 1、缺陷埋藏深度的確定、缺陷埋藏深度的確定 確定缺陷的深度采用雙重曝光法。利用兩個(gè)影像之間的確定缺陷的深度采用雙重曝光法。利用兩個(gè)影像之間的幾何關(guān)系確定缺陷深度。幾何關(guān)系確定缺陷深度。 2、缺陷在射線方向上的尺寸、缺陷在射線方向上的尺寸 缺陷在射線方向上的尺寸大小可用黑度計(jì)測(cè)定。缺陷在射線方向上的尺寸大小可用黑度計(jì)測(cè)定。焊接缺陷的定量測(cè)量焊接缺陷的定量測(cè)量 根據(jù)焊接缺陷形狀根據(jù)焊接缺陷形狀大小,國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)將焊縫中的缺陷分大小,國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)將焊縫中的缺陷分成圓形缺陷成圓形缺陷條狀?yuàn)A渣條狀?yuàn)A渣未焊透未焊透未熔合和裂紋等五種。未熔合和裂紋等五種。 按照焊接缺陷的性質(zhì)按照焊接缺陷的性質(zhì)數(shù)量和大小將焊縫質(zhì)量分為數(shù)量和大小將焊縫質(zhì)量分為共四級(jí),質(zhì)量依次降低。共四級(jí),質(zhì)量依次降低。焊接接頭質(zhì)量的評(píng)定焊接接頭質(zhì)量的評(píng)定 級(jí)焊縫內(nèi)不允許存在任何裂紋級(jí)焊縫內(nèi)不允許存在任何裂紋未熔合未熔合未焊透以未焊透以及條
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