微納測試技術(shù)_第1頁
微納測試技術(shù)_第2頁
微納測試技術(shù)_第3頁
全文預(yù)覽已結(jié)束

下載本文檔

版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請進行舉報或認(rèn)領(lǐng)

文檔簡介

1、1、試分析原子間力有哪些種類?哪些對于原子力顯微鏡有貢獻(xiàn)? 原子間力包括: 離子鍵、共價鍵、排斥力、金屬黏附力、范德華力 其中: 離子鍵是庫侖力形成粒子之間吸引構(gòu)成離子晶體結(jié)構(gòu); 共價鍵是兩個原子的電子云相互重疊形成吸引力,并且在幾個埃內(nèi)有較 強的方向性和衰減性;排斥力來自庫侖排斥力和泡利不相容原理形成的排斥力; 金屬黏附力來自自由共價電子形成的較強的金屬鍵。 范德華力,其作用力較強,存在于各種原子和分子之間,有效距離為幾 個埃到幾百個埃; 原子力顯微鏡中掃描探針和樣品之間存在多種相互作用力, 例如范德華力、 庫侖 力、磁力、靜電力。2、調(diào)研新型的探針技術(shù)?四探針法是材料學(xué)及半導(dǎo)體行業(yè)電學(xué)表征

2、較常用的方法,其原理簡單 ,能消除接觸電阻影響 ,具有較高的測試精度。由厚塊原理和薄層原理推導(dǎo)出計算公式,并經(jīng)厚度、邊緣效應(yīng)和測試溫度的修正即可得到精確測量值。據(jù)測試結(jié)構(gòu)不同,四探針法可分為直線形、方形、范德堡和改進四探針法,其中直線四探針法最為常用,方形四探針多用于微區(qū)電阻測量。四探針法是材料學(xué)及半導(dǎo)體行業(yè)電學(xué)表征的常用方法。隨著微電子器件尺度 持續(xù)減小 ,新型納米材料研究不斷深入 ,須將探針間距控制到亞微米及其以下范疇 才能獲得更高的空間分辨率和表面靈敏度。 近年來研究人員借助顯微技術(shù)開發(fā)出 兩類微觀四點探針測試系統(tǒng) ,即整體式微觀四點探針和獨立四點掃描隧道顯微鏡 探針系統(tǒng) ,隨著現(xiàn)代微加

3、工技術(shù)的發(fā)展 ,當(dāng)前探針間距已縮小到幾十納米范圍。本 文綜述了微觀四點探針技術(shù)近年來的研究進展,主要包括測試?yán)碚摗⑾到y(tǒng)結(jié)構(gòu)與探針制備。其中 ,特別詳述了涉及探針制備的方法、技術(shù)及所面臨問題,并展望了微觀四點探針研究的發(fā)展方向 ,并給出了一些具體建議。參考文獻(xiàn) :李建昌 ,王永,簡曉慧 ,巴德純.半導(dǎo)體表面電學(xué)特性微觀四點探針測 試技術(shù)研究進展J.真空.2011(01)3、原子力顯微鏡的快速掃描技術(shù)?與其他表面分析技術(shù)相比, 原子力顯微鏡具有一些獨特的優(yōu)點。 它可以實時 獲得具有原子力分辨級的樣品表面三維圖像, 并且可在真空、 大氣、液體等多種 條件下工作,并不需要特殊的樣品制備技術(shù)。 然而就原

4、子力顯微鏡儀器本身來說, 由于它在輕敲模式下掃描速度較慢,限制了 AFM 對動態(tài)過程的觀測能力,這 制約了原子力顯微鏡在生物等其他領(lǐng)域的發(fā)展。原理 :在進行樣品成像時,輕敲模式下 AFM 的掃描速度常常只有每秒幾 十微米。在這一速度下,對一個像素為512X 512的圖像成像需要幾分鐘。在不 破壞樣品表面的情況下提高 AFM 在輕敲模式下的成像速度,在研究生物表面 動態(tài)變化等實際應(yīng)用中非常重要。在輕敲模式下,多種因素制約著 AFM 的成 像速度。 AFM 一方面要動態(tài)地調(diào)節(jié)探針樣品間的距離,另一方面要使探針在諧 振頻率下維持高頻機械振動。影響 AFM 成像速度的因素主要有: 1、探針機械 振動瞬

5、時響應(yīng)較慢; 2、探針高頻振動的不穩(wěn)定性; 3、反饋系統(tǒng)成像帶寬; 4、 誤差信號飽和現(xiàn)象; 5、探針振幅至電壓信號轉(zhuǎn)換; 6、AFM 掃描參數(shù)的影響。 在使用輕敲模式下原子力顯微鏡對樣品進行表面分析時, AFM 本身參數(shù)會 隨系統(tǒng)而變化, 這些參數(shù)的設(shè)置會影響 AFM 成像速度, 如 Scan Rate, Setpoint, Integra1 gain, Proportion gain等都對掃描速度有很大影響。 Scan Rate值直接決定針尖掃描速度,設(shè)置較高時可明顯提高成像速度,但一般只在樣品表面特征不 明顯且掃描范圍較小時可適當(dāng)增加掃描速度值,否則會因探針響應(yīng)跟不上而導(dǎo)致 成像出現(xiàn)條紋

6、等失真現(xiàn)象。對于表面較軟的樣品成像,setpoint值設(shè)置時不可降低,那樣可能會損壞樣品表面。而對于表面相對較硬的樣品可適當(dāng)降低setpoi nt值,以免在經(jīng)過表面下降沿時過早形成誤差信號飽和,限制反饋速度,且會造成樣品成像不完整。反饋系統(tǒng)的兩個增益值主要用來設(shè)定探針的反饋能力。適當(dāng)提 高I gain和Pgain的值以提高系統(tǒng)的響應(yīng)性,但是這兩個參數(shù)不宜過高,否則會 使掃描器振蕩,致使圖像出現(xiàn)失真。因此,提高原子力顯微鏡在輕敲模式下的掃 描速度,則必須對這幾個儀器參數(shù)進行合理的設(shè)置。具體的實施方案:采用積分式激勵的探針以提高諧振頻率增大掃描驅(qū)動器的 激勵帶寬是提高AFM的掃描速度并減小由于壓電

7、掃描管較低的響應(yīng)帶寬造成 的相位變化的一個有效方法。通常,原子力顯微鏡使用一個較大的陶瓷管或者是 采用壓電堆材料裝在AFM測量頭作為探針的驅(qū)動器。在和反饋環(huán)節(jié)相結(jié)合時, 這種壓電材料就用來使探針上下移動實現(xiàn)表征樣品表面高度的變化。快速、積分式的驅(qū)動器可以通過把一個由ZnO制作而成的積分式壓電薄片作為探針的驅(qū)動器來實現(xiàn)。在這種積分式壓電驅(qū)動器的激勵下,探針的諧振頻率在空氣中能達(dá) 到50kHz,在液體中也能達(dá)到15kHz。使用這種激勵不僅能夠增加掃描速度, 同時還實現(xiàn)了在液體中的高速接觸模式測量。 在快速掃描設(shè)計中,探針表面集成 了一個ZnO壓電薄膜來代替諧振頻率較低的z向驅(qū)動器,并采用光學(xué)杠桿傳

8、感器來測量探針壓力,該系統(tǒng)成像帶寬達(dá)到33kHz。如圖所示:設(shè)定值例-V sin(wt+02)V sin(wt+o-|)參考文獻(xiàn):蘇琪,輕敲模式下 AFM快速掃描技術(shù)的研究,碩士學(xué)位論文, 天津大學(xué),20084、如何實現(xiàn)大范圍掃描技術(shù)?普通國產(chǎn)原子力顯微鏡使用壓電掃描管掃描樣品,因而掃描范圍偏小, 不能很好的滿足一些研究要求。根據(jù)原子力顯微鏡相關(guān)的基本理論,了解到 擴大掃描范圍的方法關(guān)鍵在于兩點:提高壓電掃描器的性能,在掃描器性能 改進方面,采用堆形結(jié)構(gòu)的壓電掃描器;調(diào)整掃描探頭的結(jié)構(gòu),在探頭結(jié)構(gòu)改善方面,分離XY與Z向壓電掃描器,并重新設(shè)計了微偏轉(zhuǎn)激光檢測結(jié)構(gòu)。 原理:擴大掃描范圍的最直接的

9、辦法是采用足夠長的壓電掃描管,但隨 著管子長度的增加,管型掃描器的非線性誤差會相應(yīng)增大,掃描圖像的畸變 會增加,因而這種原理不可行。通過深入分析國外典型AFM產(chǎn)品,主要有三種掃描探頭結(jié)構(gòu)類型:“下掃描”、“上掃描”和“XY與Z分離”。其中,“XY 與Z分離”這類的原子力顯微鏡采用分離的 XY與Z向壓電掃描器代替?zhèn)鹘y(tǒng) 的管型掃描器,用XY向掃描器帶動樣品進行水平移動,用 Z向掃描器帶動 樣品進行水平移動,用Z向掃描器帶動微懸臂自上而下檢測樣品。這種設(shè)計 的優(yōu)點在于:一方面可以通過選用共振頻率高的 Z向壓電掃描器來提高掃描 速度;另一方面可以通過選用大位移量的 XY向壓電掃描器平臺來增大掃描 范圍。此外,XY向壓電掃描器做成便于放置樣品的掃描平臺還能減少對被 測樣品形狀和尺寸的限制。具體的實施方案:“XY與Z分離”型探頭適合掃描生物樣品,研制成本 適中,所以采用“ XY與Z分離”的掃描探頭設(shè)計方案,具體包括:

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 人人文庫網(wǎng)僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護處理,對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評論

0/150

提交評論