GB∕T 5170.1-2016 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 第1部分：總則

ICS19040 K 04 . 中 華 人 民 共 和 國 國 家 標(biāo) 準(zhǔn) GB/T517012016 代替 . GB/T5170.12008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 第1部分 總則 : Inspectionmethodsforenvironmentaltestingequipments forelectricandelectronic roductsPart1 General p :2016-12-13發(fā)布 2017-07-01實(shí)施 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 發(fā) 布 中 國 國 家 標(biāo) 準(zhǔn) 化 管 理 委 員 會 GB/T517012016 . 目 次 前言 范圍1 1 規(guī)范性引用文件2 1 術(shù)語和定義3 1 檢驗(yàn)條件4 11 檢驗(yàn)用儀器及要求5 11 檢驗(yàn)周期6 11 檢驗(yàn)負(fù)載7 11 對受檢設(shè)備的外觀和安全要求8 12 檢驗(yàn)記錄表9 12 檢驗(yàn)結(jié)果的處理10 12 GB/T517012016 . 前 言 分為以下部分 GB/T5170 : 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 第 部分 總則 GB/T5170.12016 1 : 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備 GB/T5170.22008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 第 部分 濕熱試驗(yàn)設(shè)備 GB/T5170.52016 5 : 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 鹽霧試驗(yàn)設(shè)備 GB/T5170.82008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備 GB/T5170.92008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備 GB/T5170.102008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備 GB/T5170.112008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 振動 正弦 試驗(yàn) GB/T5170.132005 ( ) 用機(jī)械振動臺 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 基本參數(shù)檢驗(yàn)方法 振動 正弦 試驗(yàn) GB/T5170.142009 ( ) 用電動振動臺 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 振動 正弦 試驗(yàn) GB/T5170.152005 ( ) 用液壓振動臺 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 穩(wěn)態(tài)加速度試驗(yàn) GB/T5170.162005 用離心機(jī) 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 低溫 低氣壓 濕 GB/T5170.172005 / / 熱綜合順序試驗(yàn)設(shè)備 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 溫度 濕度組合循 GB/T5170.182005 / 環(huán)試驗(yàn)設(shè)備 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 溫度 振動 正弦 GB/T5170.192005 / ( ) 綜合試驗(yàn)設(shè)備 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 水試驗(yàn)設(shè)備 GB/T5170.202005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢驗(yàn)方法 振動 隨機(jī) 試驗(yàn)用 GB/T5170.212008 ( ) 液壓振動臺 本部分是 的第 部分 GB/T5170 1 。 本部分按照 給出的規(guī)則起草 GB/T1.12009 。 本部分代替 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則 與 GB/T5170.12008 , GB/T5170.1 相比 主要技術(shù)內(nèi)容變化如下2008 , : 在規(guī)范性引用文件中增加了 GB/T22982010、GB/T24222012、GB/T237152009; 溫度偏差的定義由原來的 試驗(yàn)箱 室 穩(wěn)定狀態(tài)下 工作空間各測量點(diǎn)在規(guī)定時(shí)間內(nèi)實(shí)測最高 “ ( ) , 溫度和最低溫度與標(biāo)稱溫度的上下偏差 修改為 試驗(yàn)箱 室 穩(wěn)定狀態(tài)下 工作空間各測量點(diǎn) ”, “ ( ) , 在規(guī)定時(shí)間內(nèi)實(shí)測最高溫度和最低溫度與設(shè)定溫度的上下偏差 見 ”( 3.2.4); 相對濕度偏差的定義由原來的 試驗(yàn)箱 室 穩(wěn)定狀態(tài)下 工作空間各測量點(diǎn)在規(guī)定時(shí)間內(nèi)實(shí)測 “ ( ) , 最高相對濕度和最低相對濕度與標(biāo)稱相對濕度的上下偏差 修改為 試驗(yàn)箱 室 穩(wěn)定狀態(tài)下 ”, “ ( ) , 工作空間各測量點(diǎn)在規(guī)定時(shí)間內(nèi)實(shí)測最高相對濕度和最低相對濕度與設(shè)定相對濕度的上下偏 差 見 ”( 3.2.5); 術(shù)語 每 溫度平均變化速率 修改為 溫度平均變化速率 定義由原來的 試驗(yàn)箱 “ 5min ” “5min ”, “ GB/T517012016 . 室 工作空間幾何中心點(diǎn)測得的兩個規(guī)定溫度之間每 的平均轉(zhuǎn)變速率 用 表 ( ) 5 min , /min 示 修改為 試驗(yàn)箱 室 工作空間幾何中心點(diǎn)測得的兩個規(guī)定溫度之間任意 時(shí)間的平 ”, “ ( ) 5 min 均轉(zhuǎn)變速率 用 表示 見 , /min ”( 3.2.11); 氣壓偏差的定義由原來的 試驗(yàn)箱 室 穩(wěn)定狀態(tài)下 工作空間測量點(diǎn)在規(guī)定時(shí)間內(nèi)實(shí)測最高氣 “ ( ) , 壓和最低氣壓與標(biāo)稱氣壓的上下偏差 修改為 試驗(yàn)箱 室 穩(wěn)定狀態(tài)下 工作空間測量點(diǎn)在規(guī) ”, “ ( ) , 定時(shí)間內(nèi)實(shí)測最高氣壓和最低氣壓與設(shè)定氣壓的上下偏差 見 ”( 3.2.12); 刪除了術(shù)語 頻率范圍 頻率穩(wěn)定度 本底噪聲加速度 臺面漏磁 “ ”、“ ”、“ ”、“ ”; 增加了術(shù)語 輻照度偏差 二氧化硫濃度偏差 硫化氫濃度偏差 降雨強(qiáng)度 雨 滴 直 “ ”、“ ”、“ ”、“ ”、“ 徑 振動發(fā)生器 振動臺 激振器 振動發(fā)生器系統(tǒng) 電動振動發(fā)生器 電動振動臺 電 ”、“ / / ”、“ ”、“ / ”、“ 磁振動發(fā)生器 電磁振動臺 液壓式振動發(fā)生器 機(jī)械式振動發(fā)生器 掃頻速率 線性 / ”、“ ”、“ ”、“ ”、“ 掃頻速率 對數(shù) 頻率 掃頻速率 振幅 掃頻精度 ”、“ ( ) ”、“ ”、“ ”; 檢驗(yàn)用儀器及要求由原來的 使用的測量系統(tǒng)其測量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度 k 不大于被測 “ ( =2) 參數(shù)允許偏差的三分之一 二次儀表與一次儀表應(yīng)一同校驗(yàn) 修改為 由各部分具體規(guī)定 見 , ”, “ ”( 第 章 5 ); 檢驗(yàn)報(bào)告增加了至少應(yīng)包含的信息 見 ( 10.3)。 本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會 提出并歸口 (SAC/TC8) 。 本部分起草單位 工業(yè)和信息化部電子第五研究所 廣州五所環(huán)境儀器有限公司 中國電器科學(xué)研 : 、 、 究院有限公司 中國航空工業(yè)集團(tuán)公司北京長城計(jì)量測試技術(shù)研究所 廣東電網(wǎng)有限責(zé)任公司電力科學(xué) 、 、 研究院 無錫蘇南試驗(yàn)設(shè)備有限公司 、 。 本部分主要起 草 人 伍 偉 雄 謝 晨 浩 黃 開 云 呂 國 義 蘇 偉 倪 一 明 賴 文 光 呂 旺 燕 鄭 術(shù) 力 : 、 、 、 、 、 、 、 、 、 謝凱鋒 。 本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為 : GB5170.11985、GB/T5170.11995、GB/T5170.12008。 GB/T517012016 . 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 第1部分 總則 :1 范圍 的本部分規(guī)定了環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 以下簡稱 設(shè)備 檢驗(yàn)所用術(shù)語和定義 檢驗(yàn)條件 檢 GB/T5170 ( “ ”) 、 、 驗(yàn)用儀器及要求 檢驗(yàn)周期 檢驗(yàn)負(fù)載 外觀和安全 檢驗(yàn)記錄表 檢驗(yàn)結(jié)果處理等 、 、 、 、 、 。 本部分適用于電工電子產(chǎn)品進(jìn)行環(huán)境試驗(yàn)所用設(shè)備的檢驗(yàn) 其他產(chǎn)品進(jìn)行環(huán)境試驗(yàn)所用設(shè)備的檢 , 驗(yàn)亦可參照使用 。2 規(guī)范性引用文件 下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的 凡是注日期的引用文件 僅注日期的版本適用于本文 。 , 件 凡是不注日期的引用文件 其最新版本 包括所有的修改單 適用于本文件 。 , ( ) 。 機(jī)械振動 沖擊與狀態(tài)監(jiān)測 詞匯 GB/T2298 、 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 概述和指南 GB/T2421.1 環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)方法編寫導(dǎo)則 術(shù)語與定義 GB/T2422 振動與沖擊發(fā)生系統(tǒng) 詞匯 GB/T23715 3 術(shù)語和定義 界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件 GB/T2298、GB/T2421.1、GB/T2422、GB/T23715 。31 通用術(shù)語 . 311 . 環(huán)境條件 environmentalcondition 產(chǎn)品所經(jīng)受的周圍物理 化學(xué)和生物的條件 、 。312 . 環(huán)境參數(shù) environmentalparameters 表征環(huán)境條件的一個或多個物理 化學(xué)和生物的特性參數(shù) 、 。313 . 綜合試驗(yàn)設(shè)備