2025年計(jì)算機(jī)三級(jí)軟件測(cè)試知識(shí)圖譜及試題及答案姓名:____________________
一、單項(xiàng)選擇題(每題2分,共10題)
1.下列關(guān)于軟件測(cè)試目的的描述,錯(cuò)誤的是:
A.驗(yàn)證軟件是否滿足需求規(guī)格說明
B.檢測(cè)軟件中的錯(cuò)誤
C.優(yōu)化軟件性能
D.驗(yàn)證軟件的可維護(hù)性
2.下列關(guān)于軟件測(cè)試類型的描述,不屬于靜態(tài)測(cè)試的是:
A.單元測(cè)試
B.代碼審查
C.模塊測(cè)試
D.系統(tǒng)測(cè)試
3.下列關(guān)于軟件測(cè)試用例的描述,錯(cuò)誤的是:
A.測(cè)試用例應(yīng)具有唯一性
B.測(cè)試用例應(yīng)具有可重復(fù)性
C.測(cè)試用例應(yīng)具有可理解性
D.測(cè)試用例應(yīng)具有可擴(kuò)展性
4.下列關(guān)于軟件測(cè)試方法的描述,不屬于黑盒測(cè)試的是:
A.等價(jià)類劃分
B.邊界值分析
C.決策表
D.回歸測(cè)試
5.下列關(guān)于軟件測(cè)試執(zhí)行過程的描述,不屬于測(cè)試執(zhí)行階段的是:
A.測(cè)試計(jì)劃
B.測(cè)試設(shè)計(jì)
C.測(cè)試執(zhí)行
D.測(cè)試總結(jié)
6.下列關(guān)于軟件缺陷管理的描述,錯(cuò)誤的是:
A.缺陷管理是軟件測(cè)試過程中的一個(gè)重要環(huán)節(jié)
B.缺陷管理包括缺陷的發(fā)現(xiàn)、報(bào)告、跟蹤和關(guān)閉
C.缺陷管理應(yīng)遵循一定的流程
D.缺陷管理可以忽略缺陷的優(yōu)先級(jí)和嚴(yán)重性
7.下列關(guān)于軟件測(cè)試工具的描述,不屬于自動(dòng)化測(cè)試工具的是:
A.Selenium
B.QTP
C.LoadRunner
D.WinRunner
8.下列關(guān)于軟件測(cè)試用例優(yōu)先級(jí)的描述,錯(cuò)誤的是:
A.優(yōu)先級(jí)高的測(cè)試用例應(yīng)優(yōu)先執(zhí)行
B.優(yōu)先級(jí)低的測(cè)試用例可以忽略
C.優(yōu)先級(jí)高的測(cè)試用例應(yīng)確保覆蓋關(guān)鍵功能
D.優(yōu)先級(jí)低的測(cè)試用例應(yīng)確保覆蓋邊緣功能
9.下列關(guān)于軟件測(cè)試覆蓋率分析的工具,不屬于靜態(tài)分析工具的是:
A.CodeCoverage
B.SonarQube
C.FindBugs
D.Checkstyle
10.下列關(guān)于軟件測(cè)試過程管理的描述,錯(cuò)誤的是:
A.軟件測(cè)試過程管理是確保軟件測(cè)試工作有序進(jìn)行的重要手段
B.軟件測(cè)試過程管理包括測(cè)試計(jì)劃、測(cè)試設(shè)計(jì)、測(cè)試執(zhí)行和測(cè)試總結(jié)
C.軟件測(cè)試過程管理可以忽略測(cè)試團(tuán)隊(duì)的組織和溝通
D.軟件測(cè)試過程管理應(yīng)遵循一定的標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范
答案:
1.C
2.C
3.B
4.D
5.A
6.D
7.D
8.B
9.B
10.C
二、多項(xiàng)選擇題(每題3分,共10題)
1.下列關(guān)于軟件測(cè)試環(huán)境的描述,正確的有:
A.軟件測(cè)試環(huán)境應(yīng)與實(shí)際運(yùn)行環(huán)境相同
B.軟件測(cè)試環(huán)境應(yīng)具備足夠的硬件資源
C.軟件測(cè)試環(huán)境應(yīng)具備足夠的軟件資源
D.軟件測(cè)試環(huán)境應(yīng)具備獨(dú)立的網(wǎng)絡(luò)環(huán)境
2.下列關(guān)于軟件測(cè)試文檔的描述,正確的有:
A.軟件測(cè)試文檔應(yīng)包括測(cè)試計(jì)劃、測(cè)試用例、測(cè)試報(bào)告等
B.軟件測(cè)試文檔應(yīng)具有可讀性和可維護(hù)性
C.軟件測(cè)試文檔應(yīng)遵循一定的格式和規(guī)范
D.軟件測(cè)試文檔應(yīng)具備唯一性
3.下列關(guān)于軟件測(cè)試流程的描述,正確的有:
A.軟件測(cè)試流程應(yīng)包括需求分析、設(shè)計(jì)、開發(fā)、測(cè)試等階段
B.軟件測(cè)試流程應(yīng)具備一定的靈活性和可擴(kuò)展性
C.軟件測(cè)試流程應(yīng)遵循一定的標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范
D.軟件測(cè)試流程應(yīng)具備完善的缺陷管理機(jī)制
4.下列關(guān)于軟件測(cè)試方法的描述,屬于黑盒測(cè)試的有:
A.等價(jià)類劃分
B.邊界值分析
C.決策表
D.回歸測(cè)試
5.下列關(guān)于軟件測(cè)試用例設(shè)計(jì)的描述,正確的有:
A.測(cè)試用例設(shè)計(jì)應(yīng)覆蓋所有功能模塊
B.測(cè)試用例設(shè)計(jì)應(yīng)考慮各種邊界情況
C.測(cè)試用例設(shè)計(jì)應(yīng)考慮各種異常情況
D.測(cè)試用例設(shè)計(jì)應(yīng)考慮測(cè)試效率
6.下列關(guān)于軟件測(cè)試執(zhí)行的控制,正確的有:
A.測(cè)試執(zhí)行應(yīng)按照測(cè)試計(jì)劃進(jìn)行
B.測(cè)試執(zhí)行應(yīng)記錄測(cè)試結(jié)果
C.測(cè)試執(zhí)行應(yīng)定期進(jìn)行回顧和總結(jié)
D.測(cè)試執(zhí)行應(yīng)保證測(cè)試資源的合理分配
7.下列關(guān)于軟件缺陷管理的描述,正確的有:
A.缺陷管理應(yīng)包括缺陷的發(fā)現(xiàn)、報(bào)告、跟蹤和關(guān)閉
B.缺陷管理應(yīng)確保缺陷的優(yōu)先級(jí)和嚴(yán)重性得到正確評(píng)估
C.缺陷管理應(yīng)確保缺陷的修復(fù)及時(shí)完成
D.缺陷管理應(yīng)保證缺陷報(bào)告的準(zhǔn)確性和完整性
8.下列關(guān)于軟件測(cè)試工具的描述,屬于自動(dòng)化測(cè)試工具有:
A.Selenium
B.QTP
C.LoadRunner
D.WinRunner
9.下列關(guān)于軟件測(cè)試覆蓋率分析的描述,正確的有:
A.軟件測(cè)試覆蓋率分析可以評(píng)估測(cè)試用例的執(zhí)行效果
B.軟件測(cè)試覆蓋率分析可以幫助發(fā)現(xiàn)測(cè)試用例的不足
C.軟件測(cè)試覆蓋率分析可以提高軟件測(cè)試的效率
D.軟件測(cè)試覆蓋率分析可以保證軟件質(zhì)量
10.下列關(guān)于軟件測(cè)試過程管理的描述,正確的有:
A.軟件測(cè)試過程管理是確保軟件測(cè)試工作有序進(jìn)行的重要手段
B.軟件測(cè)試過程管理應(yīng)遵循一定的標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范
C.軟件測(cè)試過程管理應(yīng)包括測(cè)試團(tuán)隊(duì)的組織和溝通
D.軟件測(cè)試過程管理應(yīng)具備一定的靈活性和可擴(kuò)展性
三、判斷題(每題2分,共10題)
1.軟件測(cè)試是軟件開發(fā)過程中的一個(gè)獨(dú)立階段。()
2.單元測(cè)試是在軟件集成測(cè)試之前進(jìn)行的測(cè)試。()
3.靜態(tài)測(cè)試只能發(fā)現(xiàn)軟件代碼中的錯(cuò)誤,無法發(fā)現(xiàn)軟件邏輯錯(cuò)誤。()
4.軟件測(cè)試用例的設(shè)計(jì)應(yīng)遵循“盡可能少,盡可能全”的原則。()
5.軟件測(cè)試覆蓋率越高,軟件質(zhì)量越高。()
6.缺陷的嚴(yán)重性越高,其優(yōu)先級(jí)就越高。()
7.軟件測(cè)試過程中,發(fā)現(xiàn)缺陷后應(yīng)立即進(jìn)行修復(fù)。()
8.自動(dòng)化測(cè)試可以完全替代手工測(cè)試。()
9.軟件測(cè)試過程管理不需要考慮測(cè)試團(tuán)隊(duì)的組織和溝通。()
10.軟件測(cè)試覆蓋率分析是軟件測(cè)試過程中的一個(gè)重要環(huán)節(jié)。()
四、簡(jiǎn)答題(每題5分,共6題)
1.簡(jiǎn)述軟件測(cè)試的基本流程。
2.解釋什么是等價(jià)類劃分,并說明其在軟件測(cè)試中的作用。
3.簡(jiǎn)要介紹軟件測(cè)試中的缺陷管理流程。
4.說明自動(dòng)化測(cè)試與手工測(cè)試的區(qū)別。
5.簡(jiǎn)述軟件測(cè)試覆蓋率分析的目的和意義。
6.結(jié)合實(shí)際案例,說明如何進(jìn)行軟件測(cè)試用例的設(shè)計(jì)。
試卷答案如下
一、單項(xiàng)選擇題
1.C
解析思路:軟件測(cè)試的目的是驗(yàn)證軟件是否滿足需求規(guī)格說明,檢測(cè)軟件中的錯(cuò)誤,以及優(yōu)化軟件性能,但不包括驗(yàn)證軟件的可維護(hù)性。
2.C
解析思路:靜態(tài)測(cè)試包括代碼審查、靜態(tài)分析和代碼走查等,而單元測(cè)試、模塊測(cè)試和系統(tǒng)測(cè)試都屬于動(dòng)態(tài)測(cè)試。
3.B
解析思路:測(cè)試用例應(yīng)具有唯一性、可重復(fù)性、可理解性和可擴(kuò)展性,但不要求測(cè)試用例必須具有可擴(kuò)展性。
4.D
解析思路:黑盒測(cè)試關(guān)注軟件的功能,而回歸測(cè)試是為了確保修改軟件后,原有的功能仍然正常,屬于黑盒測(cè)試的范疇。
5.A
解析思路:測(cè)試計(jì)劃、測(cè)試設(shè)計(jì)、測(cè)試執(zhí)行和測(cè)試總結(jié)是軟件測(cè)試執(zhí)行階段的關(guān)鍵步驟。
6.D
解析思路:缺陷管理應(yīng)遵循一定的流程,包括缺陷的發(fā)現(xiàn)、報(bào)告、跟蹤和關(guān)閉,并應(yīng)考慮缺陷的優(yōu)先級(jí)和嚴(yán)重性。
7.D
解析思路:WinRunner是一種自動(dòng)化測(cè)試工具,而Selenium、QTP和LoadRunner也是自動(dòng)化測(cè)試工具。
8.B
解析思路:優(yōu)先級(jí)高的測(cè)試用例應(yīng)優(yōu)先執(zhí)行,以確保關(guān)鍵功能的測(cè)試覆蓋,而優(yōu)先級(jí)低的測(cè)試用例也應(yīng)確保覆蓋邊緣功能。
9.B
解析思路:SonarQube、FindBugs和Checkstyle都是靜態(tài)分析工具,用于分析代碼質(zhì)量,而CodeCoverage是用于分析測(cè)試覆蓋率的工具。
10.C
解析思路:軟件測(cè)試過程管理應(yīng)包括測(cè)試團(tuán)隊(duì)的組織和溝通,以確保測(cè)試工作的順利進(jìn)行。
二、多項(xiàng)選擇題
1.ABCD
解析思路:軟件測(cè)試環(huán)境應(yīng)與實(shí)際運(yùn)行環(huán)境相同,具備足夠的硬件和軟件資源,以及獨(dú)立的網(wǎng)絡(luò)環(huán)境。
2.ABC
解析思路:軟件測(cè)試文檔應(yīng)包括測(cè)試計(jì)劃、測(cè)試用例、測(cè)試報(bào)告等,并應(yīng)具有可讀性、可維護(hù)性和遵循一定的格式和規(guī)范。
3.ABCD
解析思路:軟件測(cè)試流程應(yīng)包括需求分析、設(shè)計(jì)、開發(fā)、測(cè)試等階段,并應(yīng)具備靈活性和可擴(kuò)展性,遵循標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范,以及完善的缺陷管理機(jī)制。
4.ABC
解析思路:等價(jià)類劃分、邊界值分析和決策表都是黑盒測(cè)試的方法,而回歸測(cè)試屬于白盒測(cè)試。
5.ABCD
解析思路:測(cè)試用例設(shè)計(jì)應(yīng)覆蓋所有功能模塊,考慮邊界情況、異常情況,并考慮測(cè)試效率。
6.ABCD
解析思路:測(cè)試執(zhí)行應(yīng)按照測(cè)試計(jì)劃進(jìn)行,記錄測(cè)試結(jié)果,定期進(jìn)行回顧和總結(jié),并保證測(cè)試資源的合理分配。
7.ABCD
解析思路:缺陷管理應(yīng)包括缺陷的發(fā)現(xiàn)、報(bào)告、跟蹤和關(guān)閉,確保缺陷的優(yōu)先級(jí)和嚴(yán)重性得到正確評(píng)估,修復(fù)及時(shí)完成,并保證報(bào)告的準(zhǔn)確性和完整性。
8.ABCD
解析思路:Selenium、QTP、LoadRunner和WinRunner都是自動(dòng)化測(cè)試工具,用于提高測(cè)試效率和自動(dòng)化程度。
9.ABC
解析思路:軟件測(cè)試覆蓋率分析可以評(píng)估測(cè)試用例的執(zhí)行效果,幫助發(fā)現(xiàn)測(cè)試用例的不足,提高軟件測(cè)試的效率,并保證軟件質(zhì)量。
10.ABCD
解析思路:軟件測(cè)試過程管理應(yīng)包括測(cè)試團(tuán)隊(duì)的組織和溝通,遵循標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范,具備靈活性和可擴(kuò)展性,以確保測(cè)試工作的順利進(jìn)行。
三、判斷題
1.×
解析思路:軟件測(cè)試是軟件開發(fā)過程中的一個(gè)重要環(huán)節(jié),但并非獨(dú)立階段,而是貫穿于整個(gè)軟件開發(fā)過程。
2.√
解析思路:?jiǎn)卧獪y(cè)試是在軟件集成測(cè)試之前進(jìn)行的測(cè)試,用于驗(yàn)證單個(gè)模塊或組件的功能。
3.×
解析思路:靜態(tài)測(cè)試可以檢測(cè)代碼中的錯(cuò)誤,也可以發(fā)現(xiàn)軟件邏輯錯(cuò)誤,雖然不如動(dòng)態(tài)測(cè)試直接,但仍然具有一定的作用。
4.√
解析思路:測(cè)試用例設(shè)計(jì)應(yīng)盡可能覆蓋所有功能,同時(shí)考慮各種邊界和異常情況,以達(dá)到全面測(cè)試的目的。
5.×
解析思路:軟件測(cè)試覆蓋率越高,并不意味著軟件質(zhì)量越高,覆蓋率只是衡量測(cè)試用例執(zhí)行效果的一個(gè)指標(biāo)。
6.√
解析思路:缺陷的嚴(yán)重性越高,其優(yōu)先級(jí)就越高,因?yàn)閲?yán)重缺陷可能對(duì)軟件的穩(wěn)定性和安全性造成較大影響。
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