《覆晶薄膜基板電氣檢查測(cè)試方法》

ICS17.220.20

CCSN67

團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)

T/XAIXX—2021

代替：

覆晶薄膜基板電氣檢查測(cè)試方法

ThemethodforelectricaltestingofCOFtape

在提交反饋意見時(shí)，請(qǐng)將您知道的相關(guān)專利連同支持性文件一并附上。

（標(biāo)準(zhǔn)草案-征求意見稿）

2021年11月01日

2021-XX-XX發(fā)布2021-XX-XX實(shí)施

徐州市發(fā)明協(xié)會(huì)發(fā)布

T/XAIXX—2021

覆晶薄膜基板電氣檢查測(cè)試方法

警示——使用本文件的人員應(yīng)有正規(guī)實(shí)驗(yàn)室工作的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)。本文件并未指出所有可能的安全問

題。使用者有責(zé)任采取適當(dāng)?shù)陌踩徒】荡胧?，并保證符合國(guó)家有關(guān)法律法規(guī)規(guī)定的條件。

1范圍

本文件規(guī)定了覆晶薄膜基板電氣檢查測(cè)試方法的原理、測(cè)試條件、測(cè)試方法、測(cè)試結(jié)果評(píng)定和測(cè)試

報(bào)告等要求，描述了電氣檢查測(cè)試過程，給出了測(cè)試結(jié)果要求。

本文件適用于覆晶薄膜基板的電氣檢查。

2規(guī)范性引用文件

本文件沒有規(guī)范性引用文件。

3術(shù)語(yǔ)和定義

T/XAI7界定的以及下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件。

3.1

覆晶薄膜基板chiponflextape；COF

是一種用于屏幕顯示驅(qū)動(dòng)搭載的柔性線路板，有配線密度高和可靠性高的功能特點(diǎn)。

[來源：T/XAI7—2021，3.1]

4原理

4.1電阻法

第一種檢測(cè)方法為電阻法，通過電測(cè)線針下壓接觸需要進(jìn)行電氣檢查的線路端點(diǎn)處，實(shí)現(xiàn)對(duì)線路電

阻值的檢測(cè)。目前常規(guī)檢測(cè)線針直徑50微米，極限線針直徑20微米。常規(guī)可測(cè)焊盤中心距離100微米，

極限中心距離60微米。針對(duì)可外拉電測(cè)焊盤或線路線心距超過60微米的線路，可采用該方法。

注1：因?yàn)樵摲椒ㄐ枰€針與產(chǎn)品電測(cè)焊盤接觸，又被稱為接觸式電測(cè)；同一網(wǎng)絡(luò)的線路至少設(shè)置兩點(diǎn)接觸方可進(jìn)

行測(cè)量，故從對(duì)信號(hào)處理的角度被稱之為PINTOPIN（針到針）式電測(cè)。

注2：測(cè)試過程通過對(duì)針施加電壓，讀取線路上通過的電流，來檢測(cè)覆晶薄膜基板線路的電阻。

注3：同網(wǎng)絡(luò)線路電阻小，當(dāng)檢測(cè)電阻超過設(shè)定閾值即可判斷為開路。

注4：異網(wǎng)絡(luò)線路電阻大，當(dāng)檢測(cè)電阻低于設(shè)定閾值即可判斷為短路。

計(jì)算公式為（1）：

U=IR······························································（1）

式中：

U——為電壓；

I——為電流；

R——為電阻。

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4.2電容法

第二種檢測(cè)方法是電容法，通過電測(cè)線針下壓接觸需要進(jìn)行電氣檢查的線路一端，并對(duì)待測(cè)線路施

加交流信號(hào)，待測(cè)線路另一端設(shè)置感應(yīng)器，接收信號(hào)，信號(hào)強(qiáng)度由線路與感應(yīng)器的相對(duì)面積決定，其核

心為電容原理。

注1：對(duì)于無法外拉電測(cè)焊盤的精細(xì)線路，無法實(shí)現(xiàn)待測(cè)線路兩端同時(shí)設(shè)針，可通過感應(yīng)器的方式進(jìn)行電氣檢查。

注2：因?yàn)樵摲椒ㄖ懈袘?yīng)器與產(chǎn)品焊盤不直接接觸，又被稱為非接觸式電測(cè)；同一網(wǎng)絡(luò)的線路只需設(shè)置一點(diǎn)接觸即

可進(jìn)行測(cè)量，故從對(duì)信號(hào)處理的角度被稱之為PinToSensor（針到感應(yīng)器）式電測(cè)。

注3：測(cè)試過程通過對(duì)針輪詢式施加交流信號(hào)，感應(yīng)器讀取信號(hào)，來檢測(cè)覆晶薄膜基板線路。

注4：該方法對(duì)感應(yīng)器接收的信號(hào)強(qiáng)度設(shè)置閾值，閾值設(shè)定由不同線路其與感應(yīng)器相對(duì)面積來決定。

注5：同網(wǎng)絡(luò)線路，當(dāng)檢測(cè)信號(hào)強(qiáng)度超出設(shè)定閾值即判斷為開路。

計(jì)算公式為（2）：

Ｃ＝ε0?εr(Ｓ/d)…………（2）

式中：

ε0——為真空的絕對(duì)介電常數(shù)；

εr——為介質(zhì)的相對(duì)介電常數(shù)。

S——為感應(yīng)器區(qū)域的面積

d——為線路與感應(yīng)器之間的距離。

5測(cè)試設(shè)備

測(cè)試設(shè)備包括但不限于圖1電氣檢查測(cè)試機(jī)結(jié)構(gòu)示意圖所示設(shè)備。

F

I

B

EA

GD

5

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H

C

標(biāo)引序號(hào)說明：

A——測(cè)試機(jī)

B——傳送系統(tǒng)

C——PLC模塊（內(nèi)置）

D——馬達(dá)驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)

E——電腦主機(jī)（內(nèi)置）

F——檢測(cè)系統(tǒng)

G——人機(jī)操作界面

H——探針卡及感應(yīng)器

I——去靜電控制器。

圖1電氣檢查測(cè)試機(jī)結(jié)構(gòu)示意圖

設(shè)備參數(shù)

空氣消耗量40L/min

平均測(cè)試速度約<3.2秒（包含搬送時(shí)間）

上治具5μm

對(duì)位精度

下治具30μm

測(cè)試范圍2PF--25PF

最小線間距10μm

測(cè)試產(chǎn)品厚度25μm--125μm

6樣品

6

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6.1樣品介紹

樣品寬幅為35mm、48mm、70mm的COFTape。樣品示意圖如圖2所示。

PF孔

輸入端

IL區(qū)域

輸出端

圖2樣品示意圖

6.2樣品表面

樣品表面目檢無刮花、劃痕、起泡、裂口和剝離等現(xiàn)象。

7測(cè)試程序

7.1測(cè)試條件

7.1.1溫濕度

溫度25±5℃，濕度：30%--50%RH（不可結(jié)露）。

7.1.2參數(shù)

a)上治具為針盤，根據(jù)樣品的圖形對(duì)應(yīng)針點(diǎn)的位置。

b)下治具為感應(yīng)器，上治具通電，向IL區(qū)域發(fā)出信號(hào)，由感應(yīng)器接收信號(hào)并與基準(zhǔn)閾值進(jìn)行對(duì)

比，由此進(jìn)行線路的開短路測(cè)試。

c)根據(jù)樣品特性，電氣檢查時(shí)的參數(shù)設(shè)置如下，開路檢測(cè)電壓50V，阻抗2.0KΩ、短路檢測(cè)電壓

40V，阻抗200MΩ、感應(yīng)器檢測(cè)電壓50V。

7.2測(cè)試步驟

7.2.1樣品準(zhǔn)備

使用連接器將產(chǎn)品連接到牽引帶上，將產(chǎn)品設(shè)置在電檢機(jī)的卷出端，拉出牽引帶引導(dǎo)產(chǎn)品穿過軌道并固

定在卷出軸上。

7.2.2安裝治具并設(shè)置參數(shù)

a)找到與樣品相對(duì)應(yīng)的上下治具，安裝排線，固定好后選擇對(duì)應(yīng)程序；

b)微調(diào)樣品位置，尋找合適的對(duì)位標(biāo)識(shí)，調(diào)整相機(jī)位置，將數(shù)據(jù)上傳至影響系統(tǒng)，用于識(shí)別對(duì)位

標(biāo)識(shí)；

c)控制上下移動(dòng)的馬達(dá)，調(diào)整下壓量，使測(cè)試針彎曲，確保全部針都會(huì)接觸到樣品；

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d)使用顯微鏡觀察樣品上的針的壓痕，移動(dòng)測(cè)試單元位置，確保全部針點(diǎn)都?jí)涸跍y(cè)試焊盤上；

e)通過調(diào)節(jié)螺旋測(cè)微器控制感應(yīng)器模塊移動(dòng)到樣品IL區(qū)域；

f)對(duì)樣品施加電流，觀察每個(gè)線路輸出的電壓值，調(diào)節(jié)信號(hào)放大器，使輸出電壓值達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)值；

g)在人機(jī)操作界面進(jìn)行打孔位置的設(shè)定；

h)確認(rèn)設(shè)定的電壓電阻值是否正確，并確認(rèn)各個(gè)功能是否打開。

7.2.3開始檢測(cè)

所有步驟操作完成后，按下連續(xù)檢測(cè)按鍵，進(jìn)行連續(xù)檢測(cè)。

8測(cè)試結(jié)果評(píng)定

8.1電阻法測(cè)試結(jié)果評(píng)定

檢測(cè)方式一，電阻法測(cè)試結(jié)果評(píng)定。測(cè)試結(jié)果評(píng)定方法見圖3。

圖3測(cè)試結(jié)果評(píng)定方法圖

8.1.1導(dǎo)通范圍含義

當(dāng)測(cè)試電阻值在0Ω~10Ω時(shí)，說明樣品為良品；在10Ω~1KΩ時(shí)，說明樣品存在微開路；在1KΩ~

∞Ω時(shí)，說明樣品存在開路（open）。

8.1.2絕緣范圍含義

當(dāng)測(cè)試電阻值在0Ω~2KΩ時(shí)，說明樣品存在短路（short）；在2KΩ~200MΩ時(shí)，說明樣品存在微

短路（leak）；在200MΩ~∞Ω時(shí)，說明樣品為良品。

8.2電容法測(cè)試結(jié)果評(píng)定

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檢測(cè)方式二，電容法測(cè)試結(jié)果評(píng)定。感應(yīng)器接受到信號(hào)后，會(huì)對(duì)每根線路輸出一個(gè)電壓值，通過信

號(hào)放大器調(diào)節(jié)至1.2V以上（因?yàn)樾盘?hào)值會(huì)有波動(dòng)，波動(dòng)值的最小值要大于1.2V），范圍的設(shè)定默認(rèn)為

20%。超出設(shè)定閾值即判定為開路。

9測(cè)試報(bào)告

包括但不限于開路檢查、短路檢查、微短路檢查。測(cè)試報(bào)告，見表A.1。

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附錄A

（資料性）

測(cè)試報(bào)告

測(cè)試報(bào)告，見表A.1。

表A.1測(cè)試報(bào)告

測(cè)試編號(hào)：

檢查資料檢查開始時(shí)間

作業(yè)員