【正版授權(quán)-英語版】 ISO 14880-3:2024 EN Optics and photonics - Microlens arrays - Part 3: Test methods for optical properties other than wavefront aberrations

上傳人：中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社 IP屬地：四川上傳時(shí)間：2024-11-14 格式：PDF 積分：799

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標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：ISO 14880-3:2024 EN
標(biāo)準(zhǔn)名稱：光學(xué)與光子學(xué)——微透鏡陣列——第3部分：用于波前像差之外的其他光學(xué)性能的測(cè)試方法
英文名稱：Optics and photonics — Microlens arrays — Part 3: Test methods for optical properties other than wavefront aberrations
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2024-11-13

1.**幾何參數(shù)測(cè)量**：微透鏡陣列中的每個(gè)透鏡的尺寸、位置以及它們的相對(duì)大小和角度都需要精確測(cè)量。這些參數(shù)會(huì)影響到最終圖像的質(zhì)量。

2.**亮度分布測(cè)量**：除了形狀和聚焦性能之外，微透鏡陣列的光學(xué)性能還體現(xiàn)在其亮度分布上。這通常通過圖像傳感器和相應(yīng)的軟件來測(cè)量。

3.**光譜性能**：微透鏡陣列的光譜性能，如光譜透過率和反射率，也是重要的光學(xué)參數(shù)。這些可以通過光譜分析儀器進(jìn)行測(cè)量。

4.**偏振特性**：在一些應(yīng)用中，微透鏡陣列可能具有偏振特性。這些特性可以通過偏振儀進(jìn)行測(cè)量。

5.**光學(xué)穩(wěn)定性**：在某些應(yīng)用中，微透鏡陣列可能需要進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間的光學(xué)穩(wěn)定性測(cè)試，以確定其在不同條件下的性能變化。

6.**溫度影響**：微透鏡陣列在高溫和低溫下的性能變化也需要進(jìn)行測(cè)試。

7.**耐候性**：微透鏡陣列在各種環(huán)境條件（如濕度、鹽霧、紫外線等）下的性能也需要進(jìn)行測(cè)試，以確保其在各種環(huán)境條件下的穩(wěn)定表現(xiàn)。

以上就是ISO14880-3:2024EN標(biāo)準(zhǔn)中關(guān)于微透鏡陣列其他光學(xué)性質(zhì)測(cè)試方法的詳細(xì)解釋。這些測(cè)試方法對(duì)于確保微透鏡陣列在各種應(yīng)用中的性能至關(guān)重要。

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