核安全超聲題庫含答案

第頁核安全超聲題庫含答案一、單選題1.3.49脈沖發(fā)射式和穿透式探傷,使用的探頭是同一類型.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

穿透式探傷探頭是一發(fā)一收。2.58超聲容易探測到的缺陷尺寸一般不小于:()A、波長的一半B、一個(gè)波長C、四分之一波長D、若干個(gè)波長【正確答案】：A3.3焊縫斜角探傷時(shí),正確調(diào)節(jié)儀器掃描比例時(shí)為了:()A、缺陷定位B、缺陷定量C、判定結(jié)構(gòu)反射波和缺陷波D、以上A和C【正確答案】：D4.40當(dāng)超聲縱波由有機(jī)玻璃以入射角15o射向鋼界面時(shí),可能存在:()A、反射縱波B、反射橫波C、折射縱波和折射橫波D、以上都有【正確答案】：D5.4.3穿透法的靈敏度高于脈沖反射法.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

6.2.6聲束指向性不僅與頻率有關(guān),而且與波型有關(guān).()A、正確B、錯誤【正確答案】：A解析：

縱波波長長,指向性比橫波差。7.4.3超聲脈沖通過材料后,其中心頻率將變低.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A8.17一般認(rèn)為表面波作用于物體的深度大約為()A、半個(gè)波長B、一個(gè)波長C、兩個(gè)波長D、3.7個(gè)波長【正確答案】：C9.3.27工件表面比較粗糙時(shí),為防止探頭磨損和保護(hù)晶片,宜選用硬保護(hù)膜.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

硬保護(hù)膜適用于表面較光潔的工件檢測,軟保護(hù)膜可用于表面較粗糙的工件檢測。保護(hù)膜會使始波寬度增大、分辨力變差,靈敏度降低,在這方面,硬保護(hù)膜比軟保護(hù)膜更加嚴(yán)重。石英晶片不易磨損,可不加保護(hù)膜。10.3.22不同壓電晶體材料中聲速不一樣,因此不同壓電材料的頻率常數(shù)也不相同.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A解析：

頻率常數(shù)N=tf0=CL/211.3.21調(diào)節(jié)探傷儀“延遲”按鈕時(shí),掃描線上回波信號間的距離也將隨之改變.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

延遲旋鈕用于調(diào)節(jié)開始發(fā)射脈沖時(shí)刻與開始掃描時(shí)刻之間的時(shí)間差。調(diào)節(jié)延遲旋鈕可以使掃描線上的回波位置大幅度左右移動,而不改變回波之間的距離。12.52測定材質(zhì)衰減時(shí)所得結(jié)果除材料本身衰減外,還包括:()A、聲束擴(kuò)散損失B、耦合損耗C、工件幾何形狀影響D、以上都是【正確答案】：D13.42采用聲透鏡方式制作聚焦探頭時(shí),設(shè)透鏡材料為介質(zhì)1,欲使聲束在介質(zhì)2中聚焦,選用平凹透鏡的條件是()A、Z1>Z2B、C1<C2C1>C2D、Z1<Z2【正確答案】：C14.8發(fā)射脈沖的持續(xù)時(shí)間叫()A、始脈沖寬度B、脈沖周期C、脈沖振幅D、以上都不是【正確答案】：A15.2.13超聲場的近場長度愈短,聲束指向性愈好.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

聲束指向性越好,近場區(qū)長度越長。一般是在保證檢測靈敏度的前提下盡可能減少近場區(qū)長度。16.14化學(xué)成分相同,厚度相同,以下哪一類工件對超聲波衰減最大()A、鋼板B、鋼管C、鍛鋼件D、鑄鋼件【正確答案】：D17.1.4由于機(jī)械波是由機(jī)械振動產(chǎn)生的,所以波長等于振幅.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

振動物體離開平衡位置的最大距離叫做振幅,波經(jīng)歷一個(gè)完整周期所傳播的距離稱為波長

18.29超聲波傳播過程中,遇到尺寸與波長相當(dāng)?shù)恼系K物時(shí),將發(fā)生()A、只繞射,無反射B、既反射又繞射C、只反射無繞射D、以上都有可能【正確答案】：B19.3.2增益100dB就是信號強(qiáng)度放大100倍.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

增益100dB是放大100000倍。20.4.6所謂“幻影回波”,是由于探傷頻率過高或材料晶粒粗大引起的.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

幻象波是重復(fù)頻率過高時(shí)產(chǎn)生的。

21.56考慮靈敏度補(bǔ)償?shù)睦碛墒?()A、被檢工件厚度太大B、工件底面與探測面不平行C、耦合劑有較大聲能損耗D、工件與試塊材質(zhì),表面光潔度有差異【正確答案】：D22.1.38超聲波傾斜入射到異質(zhì)界面時(shí),同種波型的反射角等于折射角.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

?23.14對有加強(qiáng)高的焊縫作斜平行掃查探測焊縫橫向缺陷時(shí),應(yīng)()A、保持靈敏度不變B、適當(dāng)提高靈敏度C、增加大K值探頭探測D、以上B和C【正確答案】：B24.1.7一般固體介質(zhì)中的聲速隨溫度升高而增大.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

一般固體介質(zhì)中的聲速隨溫度升高而降低。25.1.23材料的聲阻抗越大,超聲波衰減越大.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

超聲波的衰減主要與波束擴(kuò)散、介質(zhì)吸收、晶粒散射有關(guān),與聲阻抗無關(guān)。此外,還有位錯引起的衰減、磁疇壁引起的衰減和殘余應(yīng)力引起的衰減26.16在對接焊縫超探時(shí),探頭平行于焊縫方向的掃查目的是探測:()A、橫向裂縫B、夾渣C、縱向缺陷D、以上都對【正確答案】：A27.9活塞波聲場,聲束軸線上最后一個(gè)聲壓極大值到聲源的距離稱為()A、近場長度B、未擴(kuò)散區(qū)C、主聲束D、超聲場【正確答案】：A28.3.10通用AVG曲線采用的距離是以近場長度為單位的歸一化距離,適用于不同規(guī)格的探頭.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A29.12在頻率一定和材料相同情況下,橫波對小缺陷探測靈敏度高于縱波的原因是:()A、橫波質(zhì)點(diǎn)振動方向?qū)θ毕莘瓷溆欣鸅、橫波探傷雜波少C、橫波波長短D、橫波指向性好【正確答案】：C30.26以下敘述中,哪一條不是聚焦探頭的缺點(diǎn)()A、聲束細(xì),每次掃查探測區(qū)域小,頻率低B、每只探頭僅適宜探測某一深度范圍缺陷,通用性差C、由于聲波的干涉作用和聲透鏡的球差,聲束不能完全匯聚一點(diǎn)D、以上都是【正確答案】：C31.19同直徑的長橫孔在球面波聲場中距聲源距離增大1倍則回波減弱()A、6dbB、12dbC、3dbD、9db【正確答案】：A32.15管材橫波接觸法探傷時(shí),入射角的允許范圍與哪一因素有關(guān)()A、探頭楔塊B、管材中的縱、橫波聲速C、管子的規(guī)格D、以上全部【正確答案】：D33.31為保證易于探出垂直于焊縫表面的平面型缺陷,凹曲面周向斜探頭探傷應(yīng)選用()A、小K值探頭B、大K值探頭C、軟保護(hù)膜探頭D、高頻探頭【正確答案】：B34.10下列直探頭,在鋼中指向性最好的是()A、2.5P20ZB、3P14ZC、4P20ZD、5P14Z【正確答案】：C35.3下面關(guān)于鋼板探傷的敘述,哪一條是正確的:()A、若出現(xiàn)缺陷波的多次反射,缺陷尺寸一定很大B、無底波時(shí),說明鋼板無缺陷C、鋼板中不允許存在的缺陷尺寸應(yīng)采用當(dāng)量法測定D、鋼板探傷應(yīng)盡量采用低頻率【正確答案】：A36.31超聲波垂直入射到異質(zhì)界面時(shí),反射波與透過波聲能的分配比例取決于()A、界面兩側(cè)介質(zhì)的聲速B、界面兩側(cè)介質(zhì)的衰減系數(shù)C、界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗D、以上全部【正確答案】：C37.2.12面積相同,頻率相同的圓晶片和方晶片,其聲束指向角亦相同.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

圓盤源的半擴(kuò)散角θ0=70λ/Ds,矩形源θ0=57λ/2b;θ0=57λ/2a。矩形波源的縱波聲場與圓盤源不同,矩形波源有兩個(gè)不同的半擴(kuò)散角,其聲場為矩形。38.19確定脈沖在時(shí)基線上的位置應(yīng)根據(jù):()A、脈沖波峰B、脈沖前沿C、脈沖后沿D、以上都可以【正確答案】：B39.7.4焊縫探傷時(shí)所用斜探頭,當(dāng)楔塊底面前部磨損較大時(shí),其K值將變小.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A解析：

前部磨損,K值變小;后部磨損,K值變大40.15在探測條件相同的情況下,孔徑比為4的兩個(gè)球形人工缺陷,其反射波高相差()A、6dbB、12dbC、24dbD、18db【正確答案】：B41.1.12頻率相同的縱波,在水中的波長大于在鋼中的波長.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

λ=c/f,水中λ=1.48/2=0.74;鋼中λ=5.9/2=2.95,鋼中波長大于水中。42.1.42第二介質(zhì)中折射的橫波平行于界面時(shí)的縱波入射角為第一臨界角.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

根據(jù)sinαL/CL1=sinα′L/CL1=sinα′s/Cs1=sinβL/CL2=sinβs/Cs2,可以看出sinαL/CL1=sinβL/CL2,當(dāng)CL2>CL1時(shí),βL>αL,隨著αL增加,βL也增加,當(dāng)αL增加到一定程度時(shí),βL=90°這是所對應(yīng)的縱波入射角稱為第一臨界角。用αI表示,αI=arcsin(CL1/CL2)43.2.14聲波輻射的超聲波,總是在聲束中心軸線上的聲壓為最高.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A解析：

在x<p=""style="-webkit-tap-highlight-color:rgba(0,0,0,0);box-sizing:border-box;margin:0px;"><>44.5.12用斜探頭對大口徑鋼管作接觸法周向探傷時(shí),其跨距比同厚度平板大.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A解析：

因?yàn)橛星?5.1.35超聲波垂直入射到異質(zhì)界面時(shí),聲壓往復(fù)透射率與聲強(qiáng)透射率在數(shù)值上相等.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A解析：

超聲波垂直入射時(shí),在底面全反射的條件下,聲壓往復(fù)透射率與聲強(qiáng)透射率在數(shù)值上相等46.1通常要求焊縫探傷在焊后48小時(shí)進(jìn)行的原因?yàn)?()A、讓工件充分冷卻B、焊縫材料組織穩(wěn)定C、冷卻縫有延時(shí)產(chǎn)生的特點(diǎn)D、以上都對【正確答案】：C47.21鋼管水浸法聚焦法探傷時(shí),下面有關(guān)線聚焦方式的敘述中,哪條是正確的?()A、探傷速度較快B、回波幅度隨缺陷長度增大而增高C、聚焦方法一般采用圓柱面透鏡或瓦片型鏡片D、以上全部【正確答案】：D48.3.20調(diào)節(jié)探傷儀“抑制”旋鈕時(shí),抑制越大,儀器動態(tài)范圍越大.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

抑制的作用是抑制熒光屏上幅度較低或認(rèn)為不必要的雜亂反射波,使之不予顯示,從而使熒光屏顯示的波形清晰。值得注意的是,使用抑制時(shí),儀器垂直線性和動態(tài)范圍將被改變。抑制作用越大,儀器動態(tài)范圍越小,從而在實(shí)際檢測中容易漏掉小的缺陷,因此,除非十分必要,一般不使用抑制。49.3.9C型顯示能展現(xiàn)工件中缺陷的長度和寬度,但不能展現(xiàn)深度.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A50.50應(yīng)用有人工反射體的參考試塊主要目的是:()A、作為探測時(shí)的校準(zhǔn)基準(zhǔn),并為評價(jià)工件中缺陷嚴(yán)重程度提供依據(jù)B、為探傷人員提供一種確定缺陷實(shí)際尺寸的工具C、為檢出小于某一規(guī)定的參考反射體的所有缺陷提供保證D、提供一個(gè)能精確模擬某一臨界尺寸自然缺陷的參考反射體【正確答案】：A51.8超聲波如射到異質(zhì)界面時(shí),可能發(fā)生()A、反射B、折射C、波型轉(zhuǎn)換D、以上都是【正確答案】：D52.26當(dāng)超聲縱波由鋼垂直射向水時(shí),其反射系數(shù)小于0,這意味著:()A、透射能量大于入射能量B、反射超聲波振動相位與入射聲波互成180oC、超聲波無法透入水中D、以上都不對【正確答案】：B53.6.5鍛件探傷中,如缺陷引起底波明顯下降或消失時(shí),說明鍛件中存在較嚴(yán)重的缺陷.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A解析：

當(dāng)缺陷回波很高,并有多次重復(fù)回波,而底波嚴(yán)重下降甚至消失時(shí),說明鍛件中存在平行于檢測面的大面積缺陷。當(dāng)缺陷回波和底波都很低甚至消失時(shí),說明鍛件中存在大面積且傾斜的缺陷或在檢測面附近有大缺陷。54.5工件表面形狀不同時(shí)耦合效果不一樣,下面的說法中,哪點(diǎn)是正確的()A、平面效果最好B、凹曲面居中C、凸曲面效果最差D、以上全部【正確答案】：A55.51下面那種參考反射體與入射聲束角度無關(guān):()A、平底孔B、平行于探測面且垂直于聲束的平底槽C、平行于探測面且垂直于聲束的橫通孔D、平行于探測面且垂直于聲束的V型缺口【正確答案】：C56.30晶片共振波長是晶片厚度的()A、2倍B、1/2倍C、1倍D、4倍【正確答案】：A57.57制作凹曲面的聚焦透鏡時(shí),若透鏡材料聲速為C1,第二透聲介質(zhì)聲速為C2,則兩者材料應(yīng)滿足如下關(guān)系:()A、C1>C2B、C1<C2C1=C2D、Z1=Z2【正確答案】：A58.27鍛件探傷中,如果材料的晶粒粗大,通常會引起()A、地波降低或消失B、有較高的“噪聲”顯示C、使聲波穿透力降低D、以上全部【正確答案】：D59.15通用AVG曲線的通用性表現(xiàn)在可適用于:()A、不同的探測頻率B、不同的晶片尺寸C、不同示波屏尺寸的A型探傷儀D、以上都是【正確答案】：C60.34聯(lián)合雙直探頭的最主要用途是:()A、探測近表面缺陷B、精確測定缺陷長度C、精確測定缺陷高度D、用于表面缺陷探傷【正確答案】：A61.3超聲檢驗(yàn)中,選用鏡片尺寸大的探頭的優(yōu)點(diǎn)是()A、曲面探傷時(shí)可減少耦合損失B、可減少材質(zhì)衰減損失C、輻射聲能大且能量集中D、以上全部【正確答案】：D62.3.34中心切槽的半圓試塊,其反射特點(diǎn)是多次回波總是等距離出現(xiàn).()A、正確B、錯誤【正確答案】：A解析：

半圓試塊中心切槽是為了產(chǎn)生多次反射,在示波屏上形成等距離的反射波。63.3.40測定“始波寬度”時(shí),應(yīng)將儀器的靈敏度調(diào)至最大.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

靈敏度調(diào)至最大,雜波增加。

64.18單斜探頭探傷時(shí),在近區(qū)有幅度波動較快,探頭移動時(shí)水平位置不變的回波,它們可能時(shí):()A、來自工件表面的雜波B、來自探頭的噪聲C、工件上近表面缺陷的回波D、耦合劑噪聲【正確答案】：B65.14鋼管原材料超探試樣中的參考反射體是:()A、橫材B、平底孔C、槽D、豎孔【正確答案】：C66.7.9鋁焊縫探傷應(yīng)選用較高頻率的橫波專用斜探頭.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A67.1.34超聲波垂直入射到Z2>Z1的界面時(shí),聲壓透射率大于1,說明界面有增強(qiáng)聲壓的作用.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

界面兩側(cè)總聲壓相等,即P0+Pr=Pt68.40直探頭縱波探傷時(shí),工件上下表面不平行會產(chǎn)生:()A、底面回波降低或消失B、底面回波正常C、底面回波變寬D、底面回波變窄【正確答案】：A69.11儀器水平線性的好壞直接影響()A、缺陷性質(zhì)判斷B、缺陷大小判斷C、缺陷的精確定位D、以上都對【正確答案】：C70.60探測距離均為100mm的底面,用同樣規(guī)格直探頭以相同靈敏度探測時(shí),下列哪種底面回波最高、()A、與探測面平行的大平底面B、R200的凹圓柱底面C、R200的凹球底面D、R200的凸圓柱底面【正確答案】：C71.3.29由于水中只能傳播縱波,所以水浸探頭只能進(jìn)行縱波探傷.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

可以使縱波在工件界面折射出橫波,從而實(shí)現(xiàn)水浸探頭的橫波探傷。72.1.1受迫振動的頻率等于策動力的頻率.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A解析：

受迫振動是物體受到周期性變化的外力作用時(shí)產(chǎn)生的振動

73.36在超聲探傷時(shí),如果聲束指向不與平面缺陷垂直,則缺陷尺寸一定時(shí),缺陷表面越平滑反射回波越:()A、大B、小C、無影響D、不一定【正確答案】：B74.35超聲波探傷儀的探頭晶片用的是下面哪種材料:()A、導(dǎo)電材料B、磁致伸縮材料C、壓電材料D、磁性材料【正確答案】：C75.19表示探傷儀與探頭組合性能的指標(biāo)有()A、水平線性、垂直線性、衰減器精度B、靈敏度余量、盲區(qū)、遠(yuǎn)場分辨力C、動態(tài)范圍、頻帶寬度、探測深度D、垂直極限、水平極限、重復(fù)頻率【正確答案】：B76.34當(dāng)量大的缺陷實(shí)際尺寸:()A、一定大B、不一定大C、一定不大D、等于當(dāng)量尺寸【正確答案】：A77.2A型掃描顯示,“盲區(qū)”是指()A、近場區(qū)B、聲束擴(kuò)散角以外的區(qū)域C、始脈沖寬度和儀器阻塞恢復(fù)時(shí)間D、以上都是【正確答案】：C78.10在同一固體材料中,縱、橫波聲速相比,與材料的()有關(guān)?A、密度B、彈性模量C、泊松比D、以上全部【正確答案】：C79.1.46超聲波入射到C1A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

凹曲面,C1C2,聚焦。凹小聚,凸大聚。80.1鋼板缺陷的主要分布方向是:()A、平行于或基本平行于鋼板表面B、垂直于鋼板表面C、分布方向無傾向性D、以上都可能【正確答案】：A81.3.4與普通探頭相比,聚焦探頭的分辨力較高.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A解析：

聚焦探頭能力集中,分辨力較高。82.2.8因?yàn)槌暡〞U(kuò)散衰減,所以檢測應(yīng)盡可能在其近場區(qū)進(jìn)行.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

在近場區(qū)檢測定量是不利的,處于聲壓極小值處的較大缺陷回波可能較低,而處于聲壓極大值處的較小缺陷回波可能較高,這樣容易引起誤判,甚至漏檢,因此應(yīng)盡可能避免在近場區(qū)檢測定量。83.2.26軸類工件外圓徑向探傷時(shí),曲底面回波聲壓與同聲程理想大平面相同.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A解析：

實(shí)心圓柱體回波聲壓與大平底面回波聲壓相同84.41直探頭探測厚100mm和400mm的兩平底面鍛件,若后者探測面粗糙,與前者耦合差為5db,材質(zhì)衰減均為0.01Db/mm(雙程),今將前者底面回波調(diào)至滿幅(100%)高,則后者的底面回波應(yīng)是滿幅度的:()A、40%B、20%C、10%D、5%【正確答案】：C85.1.9超聲波擴(kuò)散衰減的大小與介質(zhì)無關(guān).()A、正確B、錯誤【正確答案】：A解析：

超聲波擴(kuò)散衰減僅取決于波陣面的形狀,與介質(zhì)的性質(zhì)無關(guān)。平面波波陣面為平面,波速不擴(kuò)散,不存在擴(kuò)散衰減。

86.44以下哪一條,不屬于數(shù)字化智能超聲波探傷儀的優(yōu)點(diǎn)()A、檢測精度高,定位定量準(zhǔn)B、頻帶寬,脈沖窄C、可記錄存儲信號D、儀器有計(jì)算和自檢功能【正確答案】：B87.1.45橫波斜入射至鋼/空氣界面時(shí),入射角在30°左右時(shí),橫波聲壓反射率最低.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A解析：

當(dāng)αs=30°左右時(shí),橫波聲壓反射率rss很低,縱波聲壓反射率較高。當(dāng)αs>33.2°(αIII)時(shí),rss=100%即鋼中橫波全反射。88.4.17超聲波傾斜入射至缺陷表面時(shí),缺陷反射波高隨入射角的增大而增高.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

入射角增大,與缺陷形成一定夾角時(shí),缺陷回波高度降低甚至消失。89.5.3厚鋼板探傷中,若出現(xiàn)缺陷的多次反射波,說明缺陷的尺寸一定較大.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A解析：

薄鋼板由于疊加效應(yīng)可能導(dǎo)致小缺陷出現(xiàn)多次反射波。厚鋼板不易出現(xiàn)疊加效應(yīng),故出現(xiàn)多次反射波即可能是較大的缺陷。90.2鋼板超聲波探傷主要應(yīng)采用:()A、縱波直探頭B、表面波探頭C、橫波直探頭D、聚焦探頭【正確答案】：A91.1A型掃描顯示中,從熒光屏上直接可獲得的信息是()A、缺陷的性質(zhì)和大小B、缺陷的形狀和取向C、缺陷回波的大小和超聲傳播的時(shí)間D、以上都是【正確答案】：C92.27超聲試驗(yàn)系統(tǒng)的靈敏度:()A、取決于探頭、高頻脈沖發(fā)生器和放大器B、取決于同步脈沖發(fā)生器C、取決于換能器機(jī)械阻尼D.隨分辨力提高而提高【正確答案】：A93.19以下關(guān)于管節(jié)點(diǎn)焊縫探傷的敘述,哪一點(diǎn)是錯誤的()A、宜采用較高頻率,一般為5MHZB、宜采用大角度斜探頭,其中β=70°探頭較好C、宜采用粘度大的耦合劑,如黃油D、一般以橫波斜探頭從主管探測為主,支管探測為輔【正確答案】：D94.1、以下關(guān)于諧振動的敘述,那一條是錯誤的A、諧振動就是質(zhì)點(diǎn)在作勻速圓周運(yùn)動B、任何復(fù)雜振動都可視為多個(gè)諧振動的合成C、在諧振動動中,質(zhì)點(diǎn)在位移最大處受力最大,速度為零D、在諧振動動中,質(zhì)點(diǎn)在平衡位置速度大,受力為零【正確答案】：A解析：

諧振動是質(zhì)點(diǎn)在作循環(huán)往復(fù)運(yùn)動

95.46影響直接接觸法耦合損耗的原因有:()A、耦合層厚度,超聲波在耦合介質(zhì)中的波長及耦合介質(zhì)聲阻抗B、探頭接觸面介質(zhì)聲阻抗C、工件被探測面材料聲阻抗D、以上都對【正確答案】：D96.65方形鍛件垂直法探傷時(shí),熒光屏上出現(xiàn)一游動缺陷回波,其波幅較低但底波降低很大、該缺陷取向可能是()A、平行且靠近探測面B、與聲束方向平行C、與探測面成較大角度D、平行且靠近底面【正確答案】：C97.20用實(shí)測折射角71°的探頭探測板厚為25mm的對接焊縫,熒光屏上最適當(dāng)?shù)穆暢虦y定范圍是:()A、100mmB、125mmC、150mmD、200mm【正確答案】：D98.1.20介質(zhì)中形成駐波時(shí),相鄰兩波節(jié)或波腹之間的距離是一個(gè)波長.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

駐波波線上波節(jié)和波腹的位置是特定的,相鄰兩波腹的間距等于λ/2;相鄰波節(jié)與波腹的距離是λ/499.2.4探頭頻率越高,聲束擴(kuò)散角越小、A、正確B、錯誤【正確答案】：A解析：

θ0=70λ/Ds,頻率越高,波長越短,θ0越小100.18管材自動探傷設(shè)備中,探頭與管材相對運(yùn)動的形式是()A、探頭旋轉(zhuǎn),管材直線前進(jìn)B、探頭靜止,管材螺旋前進(jìn)C、管材旋轉(zhuǎn),探頭直線移動D、以上均可【正確答案】：C101.32在鍛件直探頭探傷時(shí)可能定不準(zhǔn)近側(cè)面缺陷的位置,其原因是:()A、側(cè)面反射波帶來干涉B、探頭太大,無法移至邊緣C、頻率太高D、以上都不是【正確答案】：A102.20超聲波在彈性介質(zhì)中傳播時(shí)有()A、質(zhì)點(diǎn)振動和質(zhì)點(diǎn)移動B、質(zhì)點(diǎn)振動和振動傳遞C、質(zhì)點(diǎn)振動和能量傳播D、B和C【正確答案】：D103.11無縫鋼管缺陷分布的方向有:()A、平行于鋼管軸線的徑向分布B、垂直與鋼管軸線的徑向分布C、平行于鋼管表面的層狀分布D、以上都可能【正確答案】：D104.3.15探傷儀中的發(fā)射電路亦稱為觸發(fā)電路.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

同步電路亦稱為觸發(fā)電路105.3.41為提高分辨力,在滿足探傷靈敏度要求情況下,儀器的發(fā)射強(qiáng)度應(yīng)盡量調(diào)得低一些.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A解析：

抑制越大,動態(tài)范圍越小106.11采用底波高度法(F/B百分比法)對缺陷定量時(shí),以下哪種說法正確()A、F/B相同,缺陷當(dāng)量相同B、該法不能給出缺陷的當(dāng)量尺寸C、適于對尺寸較小的缺陷定量D、適于對密集性缺陷的定量【正確答案】：B107.4.9串列式雙探頭法探傷即為穿透法.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

串列式雙探頭法是橫波檢測、穿透法是縱波檢測108.25以下敘述中哪一條不是聚焦探頭的優(yōu)點(diǎn)()A、靈敏度高B、橫向分辨率高C、縱向分辨率高D、探測粗晶材料時(shí)信噪比高【正確答案】：C109.40以下關(guān)于爬波探頭的敘述,哪一條是錯誤的()A、爬波探頭的外形和結(jié)構(gòu)與橫波斜探頭類似B、當(dāng)縱波入射角大于或等于第二臨界角時(shí),在第二介質(zhì)中產(chǎn)生爬波C、爬波用于探測表層缺陷D、爬波探測的深度范圍與頻率f和晶片直徑D有關(guān)【正確答案】：B110.1.40超聲波以10°角入射至水/鋼界面時(shí),反射角等于10°.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A111.2.17與圓盤源不同,矩形波源的縱波聲場有兩個(gè)不同的半擴(kuò)散角.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A解析：

矩形源θ0=57λ/2b;θ0=57λ/2a。矩形波源的縱波聲場與圓盤源不同,矩形波源有兩個(gè)不同的半擴(kuò)散角,其聲場為矩形。112.9探頭上標(biāo)的2.5MHZ是指()A、重復(fù)頻率B、工作頻率C、觸發(fā)脈沖頻率D、以上都不對【正確答案】：B113.2.21圓晶片斜探頭的上指向角小于下指向角.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

圓盤源只有一個(gè)指向角114.1.16在同種固體材料中,縱、橫波聲速之比為常數(shù).()A、正確B、錯誤【正確答案】：A解析：

對于鋼材,σ≈0.28,CL≈1.8Cs,CR≈0.9Cs,即1.8:1:0.9115.8斜角探傷時(shí),焊縫中的近表面缺陷不容易探測出來,其原因是()A、近場效應(yīng)B、受分辨力影響C、盲區(qū)D、受反射波影響【正確答案】：B116.12儀器的垂直線性好壞會影響()A、缺陷的當(dāng)量比較B、AVG曲線面板的使用C、缺陷的定位D、以上都對【正確答案】：A117.6探測厚度為18mm的鋼板,在探傷波形上出現(xiàn)了“疊加效用”,問哪一種說法是正確的:()A、同大于20mm的厚鋼板一樣,按F1評價(jià)缺陷B、因?yàn)榘搴裥∮?0mm,按F2評價(jià)缺陷C、按最大缺陷回波評價(jià)缺陷D、必須降低靈敏度重新探傷【正確答案】：B118.3.26探頭中壓電晶片背面加吸收塊是為了提高機(jī)械品質(zhì)因素,減少機(jī)械能損耗.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

阻尼塊對壓電晶片的振動起阻尼作用,一是可以使晶片起振后盡快停下來,從而使脈沖寬度減小,分辨力提高;二是阻尼塊還可以吸收晶片向其背面發(fā)射的超聲波;三是對晶片起支承作用。119.58當(dāng)聚焦探頭聲透鏡的曲率半徑增大時(shí),透鏡焦距將:()A、增大B、不變C、減少D、以上都不對【正確答案】：A120.3.18探傷儀發(fā)射電路中的阻尼電阻的阻值愈大,發(fā)射強(qiáng)度愈弱.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

通過改變發(fā)射電路中的阻尼電阻,調(diào)節(jié)發(fā)射脈沖的電壓幅度和脈沖寬度。通常電壓越高、脈沖越寬,則發(fā)射能量越大,但同時(shí),也增大了盲區(qū),使深度分辨力變差。121.2.27對空心圓柱體在內(nèi)孔探傷時(shí),曲底面回波聲壓比同聲程大平面低.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

在外圓檢測空心圓柱體,其回波聲壓低于同距離大平底面回波聲壓,因?yàn)橥怪娣瓷洳òl(fā)散;從內(nèi)孔檢測圓柱體,其回波聲壓大于同距離大平底面回波聲壓,因?yàn)榘贾娣瓷洳ň劢埂?/p>

122.25探頭晶片背面加上阻尼塊會導(dǎo)致:()A、Q降低,靈敏度提高B、Q值增大,分辨力提高C、Q值增大,盲區(qū)增大D、Q值降低,分辨力提高【正確答案】：D123.6.4調(diào)節(jié)鍛件探傷靈敏度的底波法,其含義是鍛件掃描過程中依據(jù)底波變化情況評定鍛件質(zhì)量等級.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

利用工件底波調(diào)整檢測靈敏度是根據(jù)底面回波與同深度的人工缺陷(如平底孔)回波分貝差為定值的原理進(jìn)行的。124.6脈沖反射式超聲波探傷儀中,產(chǎn)生時(shí)基線的電路單元叫做()A、掃描電路B、觸發(fā)電路C、同步電路D、發(fā)射電路【正確答案】：A125.14在探測條件相同的情況下,面積比為2的兩個(gè)平底孔,其反射波高相差()A、6dbB、12dbC、9dbD、3db【正確答案】：A126.3.50聲束指向角較小且聲束截面較窄的探頭稱作窄脈沖探頭.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

窄脈沖探頭是指脈沖寬度窄127.22使用聚焦探頭對管材探傷,如聚焦點(diǎn)未調(diào)到與聲束中心線相垂直的管半徑上,其偏差較大距離,則會引起:()A、盲區(qū)增大B、聲束在管中折射發(fā)散C、多種波形傳播D、回波脈沖變寬【正確答案】：B128.2鍛件缺陷包括:()A、原材料缺陷B、鍛造缺陷C、熱處理缺陷D、以上都有【正確答案】：D129.44第二臨界角是:()A、折射縱波等于90o時(shí)的橫波入射角B、折射橫波等于90o時(shí)的縱波入射角C、折射縱波等于90o時(shí)的縱波入射角D、入射縱波接近90o時(shí)的折射角【正確答案】：B130.22對于球面波,距聲源距離增大1倍,聲壓變化是()A、增大6dbB、減少6dbC、增大3dbD、減少3db【正確答案】：B131.26為了從換能器獲得最高靈敏度:()A、應(yīng)減小阻尼塊B、應(yīng)使用大直徑晶片C、應(yīng)使壓電晶片在它的共振基頻上激勵D、換能器頻帶寬度應(yīng)盡可能大【正確答案】：C132.35傾斜入射到異質(zhì)界面的超聲波束的反射聲壓與透射聲壓與哪一因素有關(guān)()A、反射波波型B、入射角度C、界面兩側(cè)的聲阻抗D、以上都是【正確答案】：D133.31下面有關(guān)鑄鋼件探測條件的敘述中,哪點(diǎn)時(shí)正確的?()A、探測頻率5MHZB、透聲性好粘度大的耦合劑C、晶片尺寸大小的探頭D、以上全部【正確答案】：B134.6.6鍛件探傷時(shí),如缺陷被探傷人員判定為白點(diǎn),則應(yīng)按密集缺陷評定鍛件等級.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

應(yīng)按危險(xiǎn)性缺陷評定。135.12對圓筒形工件縱向焊縫探傷時(shí),跨距將()A、增大B、減小C、不變D、以上A和B【正確答案】：D136.3.24壓電晶片的壓電應(yīng)變常數(shù)(d33)大,則說明該晶片接收性能好.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

壓電應(yīng)變常數(shù)(d33)大,晶片發(fā)射性能好

137.43第一臨界角是:()A、折射縱波等于90o時(shí)的橫波入射角B、折射橫波等于90o時(shí)的縱波入射角C、折射縱波等于90o時(shí)的縱波入射角D、入射縱波接近90o時(shí)的折射角【正確答案】：C138.6.2使用斜探頭對軸類鍛件作圓柱面軸向探測時(shí),探頭應(yīng)用正反兩個(gè)方向掃查.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A解析：

考慮到缺陷的取向,檢測時(shí)應(yīng)作正反兩個(gè)方向的全面掃查。139.27垂直入射于異質(zhì)界面得超聲波束得反射聲壓和透射聲壓:()A、與界面二邊材料的聲速有關(guān)B、與界面二邊材料的密度有關(guān)C、與界面二邊材料的聲速有關(guān)D、與入射聲波波型有關(guān)【正確答案】：C140.6餅類鍛件最主要探測方向是:()A、直探頭端面探傷B、直探頭側(cè)面探傷C、斜探頭端面探傷D、斜探頭側(cè)面探傷【正確答案】：A141.18鋼中表面波的能量大約在距表面多深的距離會降低到原來的1/25.()A、五個(gè)波長B、一個(gè)波長C、1/10波長D、0.5波長【正確答案】：B142.1.6材料組織不均勻會影響聲速,所以對鑄鐵材料超聲波探傷和測厚必須注意這一問題.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A143.30在筒身內(nèi)壁作曲面周向探傷時(shí),實(shí)際的缺陷前沿距離比按平板探傷時(shí)所得讀數(shù):()A、大B、小C、相同D、以上都可以【正確答案】：B144.5.1鋼板探傷時(shí),通常只根據(jù)缺陷波情況判定缺陷.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

鋼板探傷時(shí),除根據(jù)缺陷波情況判定缺陷,還可根據(jù)底波降低量判定缺陷。145.59與探測面垂直的內(nèi)部平滑缺陷,最有效的探測方法是:()A、單斜探頭法B、單直探頭法C、雙斜探頭前后串列法D、分割式雙直探頭法【正確答案】：C146.42如果超聲縱波由水以20o入射到鋼界面,則在鋼中橫波折射角為:()A、約48oB、約24oC、39oD、以上都不對【正確答案】：A147.29一般探傷時(shí)不使用深度補(bǔ)償是因?yàn)樗鼤?()A、影響缺陷的精確定位B、影響AVG曲線或當(dāng)量定量法的使用C、導(dǎo)致小缺陷漏檢D、以上都不對【正確答案】：B148.3.11在通用AVG曲線上,可直接查得缺陷的實(shí)際聲程和當(dāng)量尺寸.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

通用AVG曲線在使用中要進(jìn)行歸一化換算149.3.17探傷儀的掃描電路即為控制探頭在工件探傷面上掃查的電路.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

掃描電路又稱時(shí)基電路,用來產(chǎn)生鋸齒波電壓,施加到示波管水平偏轉(zhuǎn)板上,使示波管熒光屏上的光點(diǎn)沿水平方向從左至右作等速移動,產(chǎn)生一條水平掃描時(shí)基線。改變掃描速度即可改變顯示在屏幕上的時(shí)間范圍,也就是超聲波傳播的聲程范圍。150.3.49水浸聚焦探頭探傷工件時(shí),實(shí)際焦距比理論計(jì)算值大.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

151.24下面有關(guān)試塊法調(diào)節(jié)鍛件探傷靈敏度的敘述中,哪點(diǎn)是正確的?()A、對厚薄鍛件都適用B、對平面和曲面鍛件都適用C、應(yīng)作耦合及衰減差補(bǔ)償D、以上全部【正確答案】：D152.41窄脈沖探頭和普通探頭相比()A、Q值較小B、靈敏度較低C、頻帶較寬D、以上全部【正確答案】：D153.4.2穿透法的最大優(yōu)點(diǎn)時(shí)不存在盲區(qū),但小缺陷容易漏檢.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A154.9超聲波在介質(zhì)中的傳播速度與()有關(guān)、A、介質(zhì)的彈性B、介質(zhì)的密度C、超聲波波型D、以上全部【正確答案】：D155.5.10鋼管水浸探傷時(shí),水中加入適量活性劑是為了調(diào)節(jié)水的聲阻抗,改善透聲性.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

是為了改善潤濕。

156.39在水/鋼界面上,水中入射角為17o,在鋼中傳播的主要振動波型為:()A、表面波B、橫波C、縱波D、B和C【正確答案】：C157.1.39超聲波傾斜入射到異質(zhì)界面時(shí),同種波型的折射角總大于入射角.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

?158.7利用球面波聲壓公式()得到的規(guī)則反射體反射聲壓公式應(yīng)用條件是()A、近似正確B、基本正確C、正確D、以上都正確【正確答案】：D159.1.32超聲波垂直入射到平界面時(shí),聲強(qiáng)反射率與聲強(qiáng)透射率之和等于1.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A解析：

T+R=1160.13遠(yuǎn)場范圍的超聲波可視為()A、平面波B、柱面波C、球面波D、以上都不對【正確答案】：C161.33在同一界面上,聲強(qiáng)反射率R與聲強(qiáng)透過率T之間的關(guān)系是()A、R+T=1B、T=1-RC、R=1-TD、以上全部【正確答案】：D162.1.37當(dāng)鋼中的氣隙(如裂紋)厚度一定時(shí),超聲波頻率增加,反射波高也隨著增加.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A解析：

知識點(diǎn),薄層界面的反射。當(dāng)材料中的氣隙或水隙厚度一定時(shí),頻率增加,聲壓反射率也隨之增加。例如鋼中氣隙d=10-7mm時(shí),f=1MHz,r=20%,f=5MHz,r=60%,可見提高超聲檢測頻率對提高檢測靈敏度是有利的。163.5探測出焊縫中與表面成不同角度的缺陷,應(yīng)采用的方法是()A、提高探測頻率B、用多種角度探頭探測C、修磨探傷面D、以上都可以【正確答案】：B164.1.10超聲波的頻率越高,傳播速度越快.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

固體介質(zhì)中的聲速與介質(zhì)密度和彈性模量(縱波:楊氏彈性模量;橫波:剪切彈性模量)等有關(guān)。液體氣體介質(zhì)中的縱波聲速與其容變彈性模量和密度有關(guān)。

165.1.26超聲波的擴(kuò)散衰減與波型,聲程和傳聲介質(zhì)、晶粒度有關(guān).()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

超聲波的擴(kuò)散衰減只與波陣面的形狀有關(guān)。166.3.48軟保護(hù)膜探頭可減少粗糙表面對探傷的影響.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A167.17鍛鋼件大平底面與探測面不平行時(shí),會產(chǎn)生:()A、無底面回波或底面回波降低B、難以發(fā)現(xiàn)平行探測面的缺陷C、聲波穿透能力下降D、缺陷回波受底面回波影響【正確答案】：A168.2.15聲波輻射的超聲波的能量主要集中在主聲束內(nèi).()A、正確B、錯誤【正確答案】：A解析：

半擴(kuò)散角θ0以外的聲場聲壓很低,超聲波的能量主要集中在半擴(kuò)散角θ0以內(nèi)。因此可以認(rèn)為半擴(kuò)散角限制了波束的范圍,2θ0以內(nèi)的波束稱為主波束,只有當(dāng)缺陷位于主波束范圍時(shí),才容易被發(fā)現(xiàn)。以確定的擴(kuò)散角向固定的方向輻射超聲波的特性稱為波束指向性。

169.28在液浸探傷中,哪種波會迅速衰減:()A、縱波B、橫波C、表面波D、切變波【正確答案】：C170.4、在金屬材料的超聲波探傷中,使用最多的頻率范圍是:()A、10~25MHZB、1~1000KHZC、1~5MHZD、大于20000MHZ【正確答案】：C171.13超聲縱波、橫波和表面波速度主要取決于:()A、頻率B、傳聲介質(zhì)的幾何尺寸C、傳聲材料的彈性模量和密度D、以上全都不全面,須視具體情況而定【正確答案】：C172.3、超聲波是頻率超出人耳聽覺的彈性機(jī)械波,其頻率范圍約為:()A、高于2萬赫茲B、1~10MHZC、高于200HZD、0.25~15MHZ【正確答案】：A173.7.1焊縫橫波探傷中,裂紋等危害性缺陷的反射波幅一般很高.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A174.3.37測定儀器的“動態(tài)范圍”時(shí),應(yīng)將儀器的“抑制”、“深度補(bǔ)償”旋鈕置于“關(guān)”的位置.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A解析：

抑制越大,動態(tài)范圍越小175.55在確定缺陷當(dāng)量時(shí),通常在獲得缺陷的最高回波時(shí)加以測定,這是因?yàn)?()A、只有當(dāng)聲束投射到整個(gè)缺陷發(fā)射面上才能得到反射回波最大值B、只有當(dāng)聲束沿中心軸線投射到缺陷中心才能得到反射回波最大值C、只有當(dāng)聲束垂直投射到工件內(nèi)缺陷的反射面上才能得到反射回波最大值D、人為地將缺陷信號的最高回波規(guī)定為測定基準(zhǔn)【正確答案】：D176.24聲阻抗是:()A、超聲振動的參數(shù)B、界面的參數(shù)C、傳聲介質(zhì)的參數(shù)D、以上都不對【正確答案】：C177.51CSK-ⅡA試塊上的Φ1×6橫孔,在超聲遠(yuǎn)場,其反射波高隨聲程的變化規(guī)律與()相同A、長橫孔B、平底孔C、球孔D、以上B和C【正確答案】：D178.4采用半圓試塊調(diào)節(jié)焊縫探傷掃描比例時(shí),如圓弧第一次反射波對準(zhǔn)時(shí)基刻度2,則以后各次反射波對應(yīng)的刻度為()A、4,6,8,10B、3,5,7,9C、6,10D、以上都可以【正確答案】：C179.4.5“靈敏度”意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力,因此超聲波探傷靈敏度越高越好.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

靈敏度太高容易產(chǎn)生雜波,掩蓋部分缺陷

180.4.10厚焊縫采用串列法掃描時(shí),如焊縫余高磨平,則不存在死區(qū).()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

?181.16大型鑄件應(yīng)用超聲波探傷檢查的主要困難是:()A、組織不均勻B、晶粒非常粗C、表明非常粗糙D、以上都對【正確答案】：D182.3.36調(diào)節(jié)探傷儀的“水平”旋鈕,將會改變儀器的水平線性.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

水平旋鈕也稱零位調(diào)節(jié)旋鈕,用于調(diào)節(jié)水平旋鈕,可以使掃描線連掃描線上的回波一起左右移動一段距離,但不改變回波間距。調(diào)節(jié)檢測范圍時(shí),用深度粗調(diào)旋鈕調(diào)好回波間距,用水平旋鈕進(jìn)行零位校正。

183.3.30雙晶直探頭傾角越大,交點(diǎn)離探測面距離愈遠(yuǎn),覆蓋區(qū)愈大.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

傾角越大,交點(diǎn)離探測面距離愈近,覆蓋區(qū)愈小184.15在厚焊縫單探頭探傷中,垂直焊縫的表面的光滑的裂紋可能:()A、用45°斜探頭探出B、用直探頭探出C、用任何探頭探出D、反射訊號很小而導(dǎo)致漏檢【正確答案】：D185.1.2波只能在彈性介質(zhì)中產(chǎn)生和傳播.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

機(jī)械波只能在彈性介質(zhì)中傳播,電磁波不需要介質(zhì)。186.39表示壓電晶體發(fā)射性能的參數(shù)是()A、壓電電壓常數(shù)g33B、機(jī)電耦合系數(shù)KC、壓電應(yīng)變常數(shù)d33D、以上全部【正確答案】：C187.34超聲波傾斜入射至異質(zhì)界面時(shí),其傳播方向的改變主要取決于()A、界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗B、界面兩側(cè)介質(zhì)的聲速C、界面兩側(cè)介質(zhì)衰減系數(shù)D、以上全部【正確答案】：B188.56斜探頭直接接觸法探測鋼板焊縫時(shí),其橫波:()A、在有機(jī)玻璃斜楔塊中產(chǎn)生B、從晶片上直接產(chǎn)生C、在有機(jī)玻璃與耦合層界面上產(chǎn)生D、在耦合層與鋼板界面上產(chǎn)生【正確答案】：D189.10探頭沿圓柱曲面外壁作周向探測時(shí),如儀器用平試塊按深度1:1調(diào)掃描,下面哪種說法正確()A、缺陷實(shí)際徑向深度總是小于顯示值B、顯示的水平距離總是大于實(shí)際弧長C、顯示值與實(shí)際值之差,隨先是值的增加而減小D、以上都正確【正確答案】：A190.4.2垂直探傷時(shí)探傷面的粗糙度對反射波高的影響比斜角探傷嚴(yán)重.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A191.25當(dāng)超聲縱波由水垂直射向鋼時(shí),其反射系數(shù)大于1,這意味著:()A、能量守恒定律在這里不起作用B、透射能量大于入射能量C、A與B都對D、以上都不對【正確答案】：D192.3.3與鋯鈦酸鉛相比,石英作為壓電材料有性能穩(wěn)定、機(jī)電耦合系數(shù)高、壓電轉(zhuǎn)換能量損失小等優(yōu)點(diǎn).()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

鋯鈦酸鉛機(jī)電耦合系數(shù)0.43,石英0.1;193.22壓電晶片的基頻是:()A、晶片厚度的函數(shù)B、施加的脈沖寬度的函數(shù)C、放大器放大特性的函數(shù)D、以上都不對【正確答案】：A194.4軸類鍛件最主要探測方向是:()A、加熱B、形變C、成型D、冷卻【正確答案】：D195.11板厚100mm以上窄間隙焊縫作超聲檢驗(yàn)時(shí),為探測邊緣未熔合缺陷,最有效的掃查方法時(shí)()A、斜平行掃查B、串列掃查C、雙晶斜探頭前后掃查D、交叉掃查【正確答案】：B196.3.31有機(jī)玻璃聲透鏡水浸聚焦探頭,透鏡曲率半徑愈大,焦距愈大.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A解析：

半徑愈大,圓心越遠(yuǎn),焦距愈大197.4.1在液浸式檢測中,返回探頭的聲能還不到最初值的1%.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A198.42厚度均為400mm,但材質(zhì)衰減不同的兩個(gè)鍛件,采用各自底面校正400/Φ2靈敏度進(jìn)行分別探測,現(xiàn)兩個(gè)鍛件中均發(fā)現(xiàn)缺陷,且回波高度和缺陷聲程均相同,則:()A、兩個(gè)缺陷當(dāng)量相同B、材質(zhì)衰減大的鍛件中缺陷當(dāng)量小C、材質(zhì)衰減小的鍛件中缺陷當(dāng)量小D、以上都不對【正確答案】：B199.13采用雙晶直探頭檢驗(yàn)鍋爐大口徑管座角焊縫時(shí),調(diào)節(jié)探傷靈敏度應(yīng)采用()A、底波計(jì)算法B、試塊法C、通過A.V.G曲線法D、以上都可以【正確答案】：B200.3.23不同壓電材料的頻率常數(shù)不一樣,因此用不同壓電材料制作的探頭其標(biāo)稱頻率不可能相同.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

頻率常數(shù)N=tf0=CL/2,通過改變晶片厚度,可以使標(biāo)稱頻率相同201.1.49介質(zhì)的聲阻抗愈大,引起的超聲波的衰減愈嚴(yán)重.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

超聲波的衰減與聲阻抗無關(guān)。202.44在直接接觸法直探頭探傷時(shí),底波消失的原因是:()A、耦合不良B、存在與聲束不垂直的平面缺陷C、存在與始脈沖不能分開的近表面缺陷D、以上都是【正確答案】：D203.2.23200mm處ф4長橫孔的回波聲壓比100mm處ф2長橫孔的回波聲壓低.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A解析：

10log(4*1003/2*2003)=-6dB204.9表面波探傷時(shí),儀器熒光屏屏上出現(xiàn)缺陷波的水平刻度值通常代表()A、缺陷深度B、缺陷至探頭前沿距離C、缺陷聲程D、以上都可以【正確答案】：B205.33在斜探頭厚焊縫探傷時(shí),為提高缺陷定位精度可采取措施是:()A、提高探頭聲束指向性B、校準(zhǔn)儀器掃描線性C、提高探頭前沿長度和K值測定精度D、以上都對【正確答案】：D206.20在球面波聲場中大平底距聲源距離增大1倍回波減弱()A、6dbB、12dbC、3dbD、9db【正確答案】：A207.2.11面積相同,頻率相同的圓晶片和方晶片,超聲場的近場長度一樣長.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A解析：

N=Fs/πλ208.10鍛鋼件探測靈敏度的校正方式是:()A、沒有特定的方式B、采用底波方式C、采用試塊方式D、采用底波方式和試塊方式【正確答案】：D209.2.22如斜探頭入射點(diǎn)到晶片的距離不變,入射點(diǎn)到假想聲源的距離隨入射角的增加而減小.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A210.13在直探頭探傷,用2.5MHz探頭,調(diào)節(jié)鍛件200mm底波于熒光屏水平基線滿量程刻度10。如果改用5MHz直探頭,儀器所有旋鈕保持不變,則200mm底波出現(xiàn)在:()A、刻度5處B、越出熒光屏外C、仍在刻度10處D、須視具體情況而定【正確答案】：C211.3.19調(diào)節(jié)探傷儀“深度細(xì)調(diào)”旋鈕時(shí),可連續(xù)改變掃描線掃描速度.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A解析：

“深度細(xì)調(diào)”旋鈕的作用是精確調(diào)整檢測范圍,調(diào)節(jié)細(xì)調(diào)旋鈕,可連續(xù)改變掃描線的掃描速度,從而使熒光屏上的回波間距在一定范圍內(nèi)連續(xù)變化。212.3.42在數(shù)字化智能超聲波探傷儀中,脈沖重復(fù)頻率又稱為采樣頻率.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

重復(fù)頻率旋鈕時(shí)調(diào)節(jié)脈沖重復(fù)頻率,即改變發(fā)射電路每秒發(fā)射脈沖的次數(shù)。213.37下面哪種壓電材料最適宜制作高分辨率探頭:()A、石英B、鋯鈦酸鉛C、偏鈮酸鉛D、鈦酸鋇【正確答案】：C214.3.46在鋼中折射角為60o的斜探頭,用于探測鋁時(shí),其折射角將變大.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B215.1.48以有機(jī)玻璃作聲透鏡的水浸聚焦灘頭,有機(jī)玻璃/水界面為凹曲面.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

從有機(jī)玻璃方向入射,是凸曲面入射。

216.1.21具有一定能量的聲束,在鋁中要比在鋼中傳播的更遠(yuǎn).()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

鋁的縱波聲速大于鋼,橫波聲速小于鋼。217.14在用5MHZΦ10晶片的直探頭作水浸探傷時(shí),所測結(jié)果:()A、小于實(shí)際尺寸B、接近聲束寬度C、大于實(shí)際尺寸D、等于晶片尺寸【正確答案】：C218.32在同一界面上,聲強(qiáng)透過率T與聲壓反射率r之間的關(guān)系是()A、T=r2B、T=1-r2C、T=1+rD、T=1-r【正確答案】：B219.39厚度為600mm的鋁試件,用直探頭測得一回波的傳播時(shí)間為165μs,若縱波在鋁中聲速為6300m/s則此回波是:()A、底面回波B、底面二次回波C、缺陷回波D、遲到回波【正確答案】：C220.23在厚焊縫斜探頭探傷時(shí),一般宜使用什么方法標(biāo)定儀器時(shí)基線?()A、水平定位法B、深度定位法C、聲程定位法D、一次波法【正確答案】：B221.11以工件底面作為靈敏度校正基準(zhǔn),可以:()A、不考慮探測面的耦合差補(bǔ)償B、不考慮材質(zhì)衰減差補(bǔ)償C、不必使用校正試塊D、以上都是【正確答案】：D222.24在中薄板焊縫斜探頭探傷時(shí),使用什么方法標(biāo)定儀器時(shí)基線?()A、水平定位法B、深度定位法C、聲程定位法D、二次波法【正確答案】：A223.27在筒身外壁作曲面周向探傷時(shí),缺陷的實(shí)際深度比按平板探傷時(shí)所得讀數(shù):()A、大B、小C、相同D、以上都可以【正確答案】：B224.4.15絕對靈敏度法測量缺陷指示長度時(shí),測長靈敏度高,測得的缺陷長度大.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A225.37一般地說,如果頻率相同,則在粗晶材料中穿透能力最強(qiáng)的振動波型為:()A、表面波B、縱波C、橫波D、三種波型的穿透力相同【正確答案】：B226.41如果將用于鋼的K2探頭區(qū)探測鋁(CFe=3.23km/s,CAL=3.10km/s),則K值會()A、大于2B、小于2C、等于2D、以上都有【正確答案】：B227.5.11鋼管水浸探傷時(shí),如鋼管中無缺陷,熒光屏上只有始波和界面波.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A228.1.47超聲波入射到C1>C2的凸曲面時(shí),其透過波集聚.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A解析：

凹曲面,C1C2,聚焦。凹小聚,凸大聚。

229.3.7雙晶探頭只能用于縱波檢測.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

雙晶橫波探頭230.1.25平面波垂直入射到界面上,入射能量等于透射能量和反射能量之和.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A解析：

T+R=1231.5上題探頭的非擴(kuò)散區(qū)長度約為()A、35mmB、63mmC、45mmD、以上都不對【正確答案】：A232.5機(jī)械波的波速取決于A、機(jī)械振動中質(zhì)點(diǎn)的速度B、機(jī)械振動中質(zhì)點(diǎn)的振幅C、機(jī)械振動中質(zhì)點(diǎn)的振動頻率D、彈性介質(zhì)的特性【正確答案】：D233.3.39測定組合靈敏度時(shí),可先調(diào)節(jié)儀器的“抑制”按鈕,使點(diǎn)噪聲電平≤10%,再進(jìn)行測試.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

使用抑制時(shí),儀器的垂直線性和動態(tài)范圍均會下降。234.1.11介質(zhì)能傳播橫波和表面波的必要條件是介質(zhì)具有切變彈性模量.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A解析：

橫波中介質(zhì)質(zhì)點(diǎn)受到交變的剪切應(yīng)力作用并產(chǎn)生切變形變,表面波可以視為縱波與橫波的合成。

235.11質(zhì)點(diǎn)振動方向垂直于波的傳播方向的波是:()A、縱波B、橫波C、表面波D、蘭姆波【正確答案】：B236.7.5焊縫橫波探傷時(shí)常采用液態(tài)耦合劑,說明橫波可以通過液態(tài)介質(zhì)薄層.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

橫波是在界面產(chǎn)生的237.6在非擴(kuò)散區(qū)內(nèi)大平底距聲源距離增大1倍,其回波減弱()A、6dbB、12dbC、3dbD、0db【正確答案】：D238.7探測T=28mm的鋼板,熒光屏上出現(xiàn)“疊加效應(yīng)”的波形,下面哪種評定缺陷的方法是正確的?()A、按缺陷第一次回波(F1)評定缺陷B、按缺陷第二次回波(F2)評定缺陷C、按缺陷多次回波中最大值評定缺陷D、以上都可以【正確答案】：A239.48為減少凹面探傷時(shí)的耦合損耗,通常采用以下方法:()A、使用高聲阻抗耦合劑B、使用軟保護(hù)膜探頭C、使用較低頻率和減少探頭耦合面尺寸D、以上都可以【正確答案】：D240.1.31聲阻抗是衡量介質(zhì)聲學(xué)特性的重要參數(shù),溫度變化對材料的聲阻抗無任何影響.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

材料的聲阻抗與溫度有關(guān),一般材料的聲阻抗隨溫度的升高而降低。這是因?yàn)槁曌杩筞=ρc而大多數(shù)材料的密度ρ241.25用底波法調(diào)節(jié)鍛件探傷靈敏度時(shí),下面有關(guān)缺陷定量的敘述中哪點(diǎn)是錯誤的?()A、可不考慮探傷耦合差補(bǔ)償B、缺陷定量可采用計(jì)算法或A.V.C曲線法C、可不使用試塊D、缺陷定量可不考慮材質(zhì)衰減差修正【正確答案】：D242.51用4MHZ鋼質(zhì)保護(hù)膜直探頭經(jīng)甘油耦合后,對鋼試件進(jìn)行探測,若要能得到最佳透聲效果,其耦合層厚度為(甘油CL=1920m/s)()A、1.45mmB、0.20mmC、0.7375mmD、0.24mm【正確答案】：D243.1.19波的疊加原理說明,幾列波在同一介質(zhì)中傳播并相遇時(shí),都可以合成一個(gè)波繼續(xù)傳播.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

幾列波相遇后仍保持自己原有的頻率、波長、振動方向等特性并按原來的傳播方向繼續(xù)前進(jìn),好像在各自的途中沒有遇到其他波一樣,這就是波的疊加原理,又稱波的獨(dú)立性原理。244.3.8B型顯示能夠展現(xiàn)工件內(nèi)缺陷的埋藏深度.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A245.1波束擴(kuò)散角是晶片尺寸和傳播介質(zhì)中聲波波長的函數(shù)并且隨()A、頻率增加,晶片直徑減少而減少B、頻率或晶片直徑減少而增大C、頻率或晶片直徑減少而減少D、頻率增加,晶片直徑減少而增大【正確答案】：B246.29鍛件探傷時(shí),哪些因素會在熒光屏上產(chǎn)生非缺陷回波()A、邊緣效應(yīng)B、工件形狀及外形輪廓C、缺陷形狀和取向D、以上全部【正確答案】：D247.1.14因?yàn)槌暡ㄊ怯蓹C(jī)械振動產(chǎn)生的,所以超聲波在介質(zhì)中的傳播速度即為質(zhì)點(diǎn)的振動速度.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

超聲波在介質(zhì)中的傳播速度只與介質(zhì)的彈性模量和密度、泊松比有關(guān)。248.47斜探頭前沿長度和K值測定的幾種發(fā)放中,哪種方法精度最高:()、A、半圓試法和橫孔法B、雙孔法C、直角邊法D、不一定,須視具體情況而定【正確答案】：A249.5軸類鍛件最主要探測方向是:()A、軸向直探頭探傷B、徑向直探頭探傷C、斜探頭外援面軸向探傷D、斜探頭外圓面周向探傷【正確答案】：B250.54換能器尺寸不變而頻率提高時(shí):()A、橫向分辨力降低B、聲束擴(kuò)散角增大C、近場區(qū)增大D、指向性變鈍【正確答案】：D251.7筒形鍛件最主要探測方向是:()A、直探頭端面和外圓面探傷B、直探頭外圓面軸向探傷C、斜探頭外圓面軸向探傷D、以上都是【正確答案】：A252.4.8半波高度發(fā)用來測量大小于聲束截面的缺陷的尺寸.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

對于面積大于聲束截面或長度大于聲束截面直徑的缺陷,可根據(jù)可檢測到缺陷的探頭移動范圍來確定缺陷的大小,通常稱為缺陷指示長度的測定。測長方法有:相對靈敏度測長法(6dB法——半波高度法)。253.4.7當(dāng)量法用來測量大于聲束截面的缺陷的尺寸.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

當(dāng)量評定法時(shí)將缺陷回波幅度與規(guī)則形狀的人工反射體的回波幅度進(jìn)行比較的方法,如兩者的埋深相同,反射波高相等,則稱該人工反射體的反射面尺寸為缺陷的當(dāng)量尺寸。當(dāng)量評定法適用于面積小于聲束截面的缺陷的尺寸評定。254.1.29當(dāng)聲束以一定角度入射到不同介質(zhì)的界面上,會發(fā)生波形轉(zhuǎn)換.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A解析：

當(dāng)超聲波傾斜入射到界面時(shí),除產(chǎn)生同種類型的反射和折射波外,還會產(chǎn)生不同類型的反射和折射波,這種現(xiàn)象稱為波型轉(zhuǎn)換。255.6焊縫斜角探傷時(shí),焊縫中與表面成一定角度的缺陷,其表面狀態(tài)對回波高度的影響是()A、粗超表面回波幅度高B、無影響C、光滑表面回波幅度高D、以上都可能【正確答案】：A256.3.38盲區(qū)與始波寬度是同一概念.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

盲區(qū)是始波加上放大器的阻塞時(shí)間。257.2.9因?yàn)榻鼒鰠^(qū)內(nèi)有多個(gè)聲壓為零的點(diǎn),所以探傷時(shí)近場區(qū)缺陷往往會漏檢.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

近場區(qū)可能引起定量錯誤,不一定會漏檢。

258.3.45目前使用最廣泛的測厚儀是共振式測厚儀.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

使用最廣泛的測厚儀是脈沖反射式測厚儀。259.28鑄鋼件超聲波探傷頻率一般選擇()A、0.5~2.5MZHB、1~5MZHC、2.5~5MZHD、5~10MZH【正確答案】：A260.4.4串列法探傷適用于檢查垂直于探側(cè)面的平面缺陷.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A261.4鋼板厚為30mm,用水浸法探傷,當(dāng)水層厚度為15mm時(shí),則第三次底面回波顯示于()A、二次界面回波之前B、二次界面回波之后C、一次界面回波之前D、不一定【正確答案】：B262.49在平整.光潔表面上作直探頭探傷是宜使用硬保護(hù)膜探頭,因?yàn)檫@樣:()A、雖然耦合損耗大,但有利于減小工件中噪聲B、脈沖窄,探測靈敏度高C、探頭與儀器匹配較好D、以上都對【正確答案】：B263.1.36超聲波垂直入射時(shí),界面兩側(cè)介質(zhì)聲阻抗差愈小,聲壓往復(fù)透射率愈低.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

聲壓往復(fù)透射率與界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗有關(guān),與從何種介質(zhì)入射到界面無關(guān)。界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗相差越小,聲壓往復(fù)透射率就越高,反之就越低。264.57探測粗糙表面的工件時(shí),為提高聲能傳遞,應(yīng)選用:()A、聲阻抗小且粘度大的耦合劑B、聲阻抗小且粘度小的耦合劑C、聲阻抗大且粘度大的耦合劑D、以上都不是【正確答案】：C265.17從A型顯示熒光屏上不能直接獲得缺陷性質(zhì)信息、超聲探傷對缺陷的定性是通過下列方法進(jìn)行:()A、精確對缺陷定位B、精確測定缺陷形狀C、測定缺陷的動態(tài)波形D、以上方法須同時(shí)使用【正確答案】：D266.4.11曲面工件探傷時(shí),探傷面曲率半徑愈大,耦合效果愈好.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A解析：

曲面工件探傷時(shí),探傷面曲率半徑愈大,探頭與工件的接觸面積越大。267.1.24平面波垂直入射到界面上,入射聲壓等于透射聲壓和反射聲壓之和.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

1+r=tt>1,聲壓是力的概念,聲壓只會平衡,不會守恒。268.18利用試塊法校正探傷靈敏度的優(yōu)點(diǎn)是:()A、校正方法簡單B、對大于3N和小于3N的鍛件都適用C、可以克報(bào)探傷面形狀對靈敏度的影響D、不必考慮材質(zhì)差異【正確答案】：B269.24比Ф3mm長橫孔反射小7db的同聲程長橫孔直徑是()A、Ф0.6mmB、Ф1mmC、Ф2mmD、Ф0.3mm【正確答案】：A270.12在流體中可傳播:()A、縱波B、橫波C、縱波、橫波及表面波D、切變波【正確答案】：A271.3.35與IIW試塊相比CSK-1A試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測定斜探頭分辨力.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A解析：

利用試塊上85、91、100尺寸,可以測定直探頭和儀器組合的遠(yuǎn)場分辨力。272.5.8小徑管水浸聚焦法探傷時(shí),應(yīng)使探頭的焦點(diǎn)落在與聲束軸線垂直的管心線上.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A解析：

知識點(diǎn),焦距的選擇。P241頁273.45要在工件中得到純橫波,探頭入射角α必須:()A、大于第二臨界角B、大于第一臨界角C、在第一、第二臨界角之間D、小于第二臨界角【正確答案】：C274.12超聲場的未擴(kuò)散區(qū)長度()A、約等于近場長度B、約等于近場長度0.6倍C、約等于近場長度1.6倍D、約等于近場長度3倍【正確答案】：C275.61由材料晶粒粗大而引起的衰減屬于:()A、擴(kuò)散衰減B、散射衰減C、吸收衰減D、以上都是【正確答案】：B276.22若頻率一定,下列哪種波型在固體彈性介質(zhì)中傳播的波長最短:()A、剪切波B、壓縮波C、橫波D、瑞利表面波【正確答案】：D277.16放大器的不飽和信號高度與缺陷面積成比例的范圍叫做放大器的()A、靈敏度范圍B、線性范圍C、分辨力范圍D、選擇性范圍【正確答案】：B278.3.33當(dāng)斜探頭對準(zhǔn)IIW試塊上R50曲面時(shí),熒光屏上的多次反射回波是等距離.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

R25→R25+50→R25+50→R25+50……279.31已知PZT-4的頻率常數(shù)是2000m/s,2.5MHz的PZT-4晶片厚度約為:()A、0.8mmB、1.25mmC、1.6mmD、0.4mm【正確答案】：A280.25對圓柱形簡體環(huán)縫探測時(shí)的缺陷定位應(yīng):()A、按平板對接焊縫方法B、作曲面修正C、使用特殊探頭D、視具體情況而定采用各種方法【正確答案】：A281.2超聲檢驗(yàn)中,當(dāng)探傷面比較粗糙時(shí),宜選用()A、較低頻探頭B、較粘的耦合劑C、軟保護(hù)膜探頭D、以上都對【正確答案】：D282.55超聲波(活塞波)在非均勻介質(zhì)中傳播,引起聲能衰減的原因是:()A、介質(zhì)對超聲波的吸收B、介質(zhì)對超聲波的散射C、聲束擴(kuò)散D、以上全部【正確答案】：D283.23材料的聲速和密度的乘積稱為聲阻抗,它將影響超聲波()A、在傳播時(shí)的材質(zhì)衰減B、從一個(gè)介質(zhì)到達(dá)另一個(gè)介質(zhì)時(shí)在界面上的反射和折射C、在傳播時(shí)的散射D、擴(kuò)散角大小【正確答案】：B284.20鋼管水浸聚焦法探傷中,下面有關(guān)聚焦方法的敘述中,哪條是錯誤的?()A、對短缺陷有較高探測靈敏度B、聚焦方法一般采用圓柱面聲透鏡C、缺陷長度達(dá)到一定尺寸后,回波幅度不隨長度而變化D、探傷速度較慢【正確答案】：C285.35當(dāng)量小的缺陷實(shí)際尺寸:()A、一定小B、不一定小C、一定不小D、等于當(dāng)量尺寸【正確答案】：B286.10用水浸聚焦探頭局部水浸法檢驗(yàn)鋼板時(shí),聲束進(jìn)入工件后將()、A、因折射而發(fā)散B、進(jìn)一步聚焦C、保持原聚焦?fàn)顩rD、以上都能【正確答案】：B287.6缺陷反射聲能的大小,取決于()A、缺陷的尺寸B、缺陷的類型C、缺陷的形狀和取向D、以上全部【正確答案】：D288.28在筒身內(nèi)壁作曲面周向探傷時(shí),所得缺陷的實(shí)際深度比按平板探傷時(shí)的讀數(shù):()A、大B、小C、相同D、以上都可以【正確答案】：A289.7.7窄脈沖聚焦探頭的優(yōu)點(diǎn)是能量集中,穿透力強(qiáng),所以適合于奧氏體鋼焊縫檢測.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

奧氏體鋼焊縫檢測應(yīng)使用縱波斜探頭,利用縱波波長比橫波長的特性,降低奧氏體鋼焊縫的散射衰減。290.43探頭軟保護(hù)膜和硬保護(hù)膜相比,突出優(yōu)點(diǎn)是()A、透聲性能好B、材質(zhì)衰減小C、有利消除耦合差異D、以上全部【正確答案】：C291.1.44只有當(dāng)?shù)谝唤橘|(zhì)為固體介質(zhì)時(shí),才會有第三臨界角.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A解析：

根據(jù)sinαs/Cs1=sinα′s/Cs1=sinα′s/Cs1=sinα′L/CL1=sinβL/CL2=sinβs/Cs2,可以看出sinαs/Cs1=sinα′L/CL1,當(dāng)CL1>Cs1時(shí),α′L>αs(縱波反射角大于橫波入射角),隨著αs增加,α′L也增加,當(dāng)αs增加到一定程度時(shí),α′L=90°。這時(shí)所對應(yīng)的橫波入射角稱為第三臨界角。用αIII表示,αIII=arcsin(Cs1/CL1),當(dāng)αs≥αIII時(shí),在第一介質(zhì)中只有反射橫波,沒有反射縱波,即橫波全反射。

292.1.52超聲平面波不存在材質(zhì)衰減.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

材質(zhì)衰減與介質(zhì)的性質(zhì)有關(guān),與波陣面無關(guān)。293.7.3采用雙探頭串列法掃描焊縫時(shí),位于焊縫深度方向任何部位的缺陷,其反射波均出現(xiàn)在熒光屏上同一位置.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A294.38焊縫探傷中一般不宜選用較高頻率是因?yàn)轭l率越高:()A、探頭及平面缺陷型缺陷指性向越強(qiáng),缺陷方向不利就不易探出B、裂紋表面不光滑對回波強(qiáng)度影響越大C、雜波太多D、AB都對【正確答案】：D295.1.41超聲波入射至鋼/水界面時(shí),第一臨界角約為14.5°.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

超聲波入射至鋼水界面時(shí),橫波全反射,第一臨界角不存在。

296.2、以下關(guān)于阻尼振動的敘述,那一條是錯誤的()A、阻尼使振動物體的能量逐漸減小B、阻尼使振動物體的振幅逐漸減小C、阻尼使振動物體的運(yùn)動速率逐漸減小D、阻尼使振動周期逐漸變長【正確答案】：D解析：

阻尼使振動周期逐漸縮短297.6在同種固體材料中,縱波聲速CL橫波聲速CS表面波聲速CR之間的關(guān)系是:A、CR>CS>CLB、CS>CL>CRCL>CS>CRD、以上都不對【正確答案】：C解析：

CL:CS:CR≈1.8:1:0.9298.19下列哪種方法可增大超聲波在粗晶材料中的穿透能力:()A、用直徑較大的探頭進(jìn)行檢驗(yàn)B、在細(xì)化晶粒的熱處理后檢驗(yàn)C、將接觸法探傷改為液浸法探傷D、將縱波探傷改為橫波探傷【正確答案】：B299.19下面有關(guān)鋼管水浸探傷的敘述中,哪點(diǎn)是錯誤的?()A、使用水浸式縱波探頭B、探頭偏離管材中心線C、無缺陷時(shí),熒光屏上只顯示波和1~2次底波D、水層距離應(yīng)大于鋼中一次波聲稱的1/2【正確答案】：D300.4.1多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。()A、正確B、錯誤【正確答案】：A301.1.15如材質(zhì)相同,細(xì)鋼棒(直徑d≤λ)與鋼鍛件中的聲速相同。()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

細(xì)鋼棒中的聲速只與彈性模量和密度有關(guān),與泊松比無關(guān)302.32在毛面或曲面工件上作直探頭探傷時(shí),應(yīng)使用:()A、硬保護(hù)膜直探頭B、軟保護(hù)膜直探頭C、大尺寸直探頭D、高頻直探頭【正確答案】：B303.2.1超聲波頻率越高,近場區(qū)的長度也就越大.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A解析：

近場區(qū)長度頻率越高,波長越短,近場區(qū)越長。

304.4.16當(dāng)工件內(nèi)存在較大的內(nèi)應(yīng)力時(shí),將使超聲波的傳播速度及方向發(fā)生變化.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A解析：

當(dāng)工件內(nèi)存在壓應(yīng)力時(shí),聲速提高,當(dāng)工件內(nèi)存在拉應(yīng)力時(shí),聲速降低。

305.63下面有關(guān)材料衰減的敘述、哪句話是錯誤的:()A、橫波衰減比縱波嚴(yán)重B、衰減系數(shù)一般隨材料的溫度上升而增大C、當(dāng)晶粒度大于波長1/10時(shí)對探傷有顯著影響D、提高增益可完全克服衰減對探傷的影響【正確答案】：D306.12在使用2.5MHz直探頭做鍛件探傷時(shí),如用400mm深底波調(diào)整Φ3mm平底孔靈敏度,底波調(diào)整后應(yīng)提高多少db探傷?(晶片直徑D=14mm)A、36.5dbB、43.5dbC、50dbD、28.5db【正確答案】：A307.15調(diào)節(jié)儀器面板上的“抑制”旋鈕會影響探傷儀的()A、垂直線性B、動態(tài)范圍C、靈敏度D、以上全部【正確答案】：D308.2.20頻率和晶片尺寸相同時(shí),橫波聲束指向性比縱波好.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A解析：

橫波波長短309.1.27對同一材料而言,橫波的衰減系數(shù)比縱波大得多.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A310.18同步電路的同步脈沖控制是指()A、發(fā)射電路在單位時(shí)間內(nèi)重復(fù)發(fā)射脈沖次數(shù)B、掃描電路每秒鐘內(nèi)重復(fù)掃描次數(shù)C、探頭晶片在單位時(shí)間內(nèi)向工件重復(fù)輻射超聲波次數(shù)D、以上全部都是【正確答案】：D311.3直徑Ф12mm晶片5MHZ直探頭在鋼中的指向角是()A、5.6oB、3.5oC、6.8oD、24.6o【正確答案】：C312.5.7小徑管的主要缺陷是平行于管軸的徑向缺陷,一般利用橫波進(jìn)行軸向掃查探測.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

平行于管軸的徑向缺陷也稱縱向缺陷,一般利用橫波進(jìn)行周向掃查檢測。對于管內(nèi)橫向缺陷,一般利用橫波進(jìn)行軸向掃查檢測。

313.1.51超聲波探傷中所指的衰減僅為材料對聲波的吸收作用.()A、正確B、錯誤【正確答案】：B解析：

超聲波探傷中所指的衰減主要有:擴(kuò)散衰減、散射衰減、吸收衰減。314.47被檢工件晶粒粗大,通常會引起:()A、草狀回波增多B、信噪比下降C、底波次數(shù)減少D、以上全部【正確答案】：D315.5.5復(fù)合鋼板探傷時(shí),可以從母材一側(cè)探傷,也可從復(fù)合材料一側(cè)探傷.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A解析：

可以從母材一側(cè)探傷,也可從復(fù)合材料一側(cè)探傷316.10焊縫檢驗(yàn)中,對一缺陷環(huán)繞掃查,其動態(tài)波形包絡(luò)線是方形的,則缺陷性質(zhì)可估判未()A、條狀夾渣B、氣孔或圓形夾渣C、裂紋D、以上A和C【正確答案】：B317.1.18幾乎所有的液體(水除外),其聲速都隨溫度的升高而減小.()A、正確B、錯誤【正確答案】：A解析：

幾乎除水以外的所有液體,當(dāng)溫度升高時(shí),容變彈性模量減小,聲速降低。唯有水例外,溫度在74℃左右時(shí)聲速達(dá)最大值,當(dāng)溫度低于74℃時(shí),聲速隨溫度升高而增加;當(dāng)溫度高于74℃時(shí)聲速隨溫度升高而降低。

318.54由材質(zhì)衰減引起的超聲波減弱db數(shù)等于:()A、衰減系數(shù)與聲程的乘積B、衰減系數(shù)與深度的乘積C、e-us(為衰減系數(shù),S為聲程)D、以上都不對【正確答案】：A319.9帶堆焊層工件中的缺陷有:()A、堆焊金屬中的缺陷B、堆焊層與母材間的脫層C、堆焊層下母材熱影響區(qū)的再熱裂紋D、以上三種都有【