射線檢測培訓(xùn)

射線檢測培訓(xùn)

1射線檢測培訓(xùn)5/8/2024一、射線檢測物理基礎(chǔ)1、元素和同位素：元素：具有相同核電荷數(shù)的同一類原子叫做元素。同位素：具有相同質(zhì)子數(shù)和不同中子數(shù)的同一種元素的原子互稱同位素。2、射線探傷用的射線：

X射線、γ射線—電磁波；中子射線—粒子輻射(容易被氫等輕物質(zhì)俘獲,而易穿透鉛等重金屬)。3、X射線、γ射線的性質(zhì)：（P5）

a、不可見，沿直線傳播，傳播速度等于光速；b、不帶電，不受電磁場的影響；c、能穿透可見光不能穿透的物質(zhì)；d、穿透物質(zhì)過程中，會被物質(zhì)吸收和散射而發(fā)生衰減；e、有反射、折射、干涉和衍射現(xiàn)象；f、有光化學(xué)作用，能使膠片感光；g、有熒光效應(yīng)，能使某些物質(zhì)發(fā)熒光；h、有生物效應(yīng)，能殺傷生物細胞。

2射線檢測培訓(xùn)5/8/20244、產(chǎn)生X射線的條件：（習(xí)題P20—372）a、發(fā)射電子；b、使電子聚焦；c、加速電子；d、接受電子轟擊的靶；e、有高真空度。5、連續(xù)X射線和標識X射線的不同之處：（習(xí)題P20—374）a、連續(xù)X射線是由高速電子與原子核的庫侖場作用而產(chǎn)生的；標識X射線是由高速電子與原子核外殼層電子作用而產(chǎn)生的。b、連續(xù)X射線是連續(xù)譜，其波長呈連續(xù)分布；標識X射線是線狀譜，由一個或幾個特定的波長組成。c、連續(xù)X射線的能量（波長）取決于管電壓；標識X射線的能量（波長）取決于靶材，與管電壓無關(guān)。一、射線檢測物理基礎(chǔ)3射線檢測培訓(xùn)5/8/20246、連續(xù)X射線的最短波長：

7、X射線的產(chǎn)生效率：（P6）式中：η0≈1.1～1.4×10-6，

V—管電壓（KV）由上式可知，高速電子撞擊靶時，只有很少的能量轉(zhuǎn)變?yōu)閄射線，絕大部分能量都轉(zhuǎn)變?yōu)闊崃?。例題：求管電壓250KV的X射線機輻射連續(xù)X射線的效率。（已知：鎢靶Z=74，比例系數(shù)η0=1.2×10-6).解：一、射線檢測物理基礎(chǔ)4射線檢測培訓(xùn)5/8/20248、X射線和γ射線的相同和不同之處：（習(xí)題P20—371）a、相同之處：X射線和γ射線都是電磁波，它們具有相同的性質(zhì)，如不可見、依直線傳播、不帶電、能穿透物質(zhì)、能使物質(zhì)電離、使膠片感光、能發(fā)生生物效應(yīng)等。b、不同之處：⑴、產(chǎn)生機理不同，X射線是高速電子與物質(zhì)碰撞產(chǎn)生的；而γ射線是放射性物質(zhì)原子核衰變時放射出來的。⑵、X射線是連續(xù)譜，γ射線是線狀譜；⑶、X射線的能量取決于管電壓，γ射線的能量取決于放射性同位素的種類；⑷、X射線的強度隨管電壓和管電流而變化，γ射線的強度取決于源的大小，且隨時間而不斷減弱。一、射線檢測物理基礎(chǔ)5射線檢測培訓(xùn)5/8/20249、γ射線的衰變律和半衰期：（P8）⑴、衰變律：⑵、半衰期：利用半衰期計算任一時刻的源活度：

Ⅰ例題：已知Ir192源的半衰期為75天。求活度為100Ci的Ir192源兩個月后活度為多少？解：一、射線檢測物理基礎(chǔ)6射線檢測培訓(xùn)5/8/202410、常用γ射線源的能量和半衰期：

11、射線與物質(zhì)的相互作用產(chǎn)生三種效應(yīng)及其特征：a、光電效應(yīng)—光子與原子的束縛電子作用時,光子把全部能量轉(zhuǎn)移某個束縛電子，使之發(fā)射出去,而光子本身則消失掉，這一過程稱為光電效應(yīng).光電效應(yīng)產(chǎn)生光電子、俄歇電子和標識X射線。b、康普頓效應(yīng)—光子將部分能量給予外層電子，變?yōu)槟芰枯^低的方向改變了的散射光子，產(chǎn)生反沖電子。60Co137Cs192Ir170Tm75Se平均能量（MeV)1.250.660.3650.0720.204半衰期5.3年33年74天130天120天一、射線檢測物理基礎(chǔ)7射線檢測培訓(xùn)5/8/2024c、電子對效應(yīng)：當(dāng)入射光子的能量大于1.02MeV時，受原子核庫侖場的作用，光子消失，產(chǎn)生一個正電子和一個負電子。12、“窄束”與“寬束”，“單色”與“多色”：（習(xí)題P37—380）：窄束射線—是指透過物體的射線中只包含一次透射線，不包含散射線。寬束射線—是指透過物體的射線中既包含一次透射線，也包含散射線。單色射線—由單一波長組成的射線。多色射線—由多個波長組成的射線，由連續(xù)波長組成的射線稱為“白色射線”。一、射線檢測物理基礎(chǔ)8射線檢測培訓(xùn)5/8/202413、單色窄束射線的衰減律和半價層：（P19-21）衰減律：

半價層：

利用半價層計算射線強度：

例題：已知某射線源，鉛的半價層為3mm。求鉛的1/10和1/20價層分別是多少？

一、射線檢測物理基礎(chǔ)9射線檢測培訓(xùn)5/8/2024一、射線檢測物理基礎(chǔ)10射線檢測培訓(xùn)5/8/2024一、射線檢測物理基礎(chǔ)11射線檢測培訓(xùn)5/8/2024Ⅱ例題：若散射線忽略不計，當(dāng)透照厚度的增厚量相當(dāng)于1/2半價層時，則膠片接受的照射線量將減小百分之幾？一、射線檢測物理基礎(chǔ)12射線檢測培訓(xùn)5/8/202414、線衰減系數(shù)和半價層：其中a、能量越高，波長越短，μ越小，Th越大；b、物質(zhì)原子序數(shù)越大，密度越大，μ越大，T1/2越小。c、對于連續(xù)X射線來說，由于在穿透物質(zhì)過程中，平均能量越來越高（波長越來越短），所以平均衰減系數(shù)越來越小，半價層越來越大。一、射線檢測物理基礎(chǔ)13射線檢測培訓(xùn)5/8/202415、射線照相法基本原理：（P24）射線穿透物體過程中會與物質(zhì)發(fā)生相互作用，因吸收和散射而發(fā)生強度減弱。強度減弱程度取決于物質(zhì)的衰減系數(shù)和穿透厚度。當(dāng)試件中存在缺陷時，由于缺陷使試件厚度發(fā)生變化，且構(gòu)成缺陷的物質(zhì)的衰減系數(shù)與試件不同，因此透過缺陷部位和完好部位的射線強度就產(chǎn)生了差異。將射線膠片放于試件下曝光，由于透過缺陷部位和完好部位的射線強度不同，因而使膠片的感光程度不同，膠片經(jīng)處理后，缺陷部位和完好部位就形成了黑度不同的影象，依據(jù)底片上的黑度變化就可以對試件中缺陷進行判斷。一、射線檢測物理基礎(chǔ)14射線檢測培訓(xùn)5/8/202416、射線照相法的優(yōu)缺點：（P25）優(yōu)點：①、可檢測出材料內(nèi)部缺陷；②、適用適用材料廣泛，可用于各種金屬和非金屬材料，且不受工件形狀、表面狀態(tài)和組織的限制；③、缺陷影象直觀，定性、定量比較準確；④、底片可長期保存。缺點：①、可檢出的最小缺陷（絕對靈敏度）與工件厚度有關(guān)，厚度越大，絕對靈敏度越低；②、缺陷檢出率與缺陷方向有關(guān)，對于面狀缺陷和細微裂紋之類的缺陷容易漏檢；③、檢驗速度慢，檢測成本高；④、對人體有害，需要進行安全防護。一、射線檢測物理基礎(chǔ)15射線檢測培訓(xùn)5/8/20241、X射線管的組成和各部分的作用：（P29）⑴、陰極—射線管的負電極，由燈絲和陰極頭組成。燈絲—發(fā)射電子；陰極頭—聚焦電子。⑵、陽極—射線管的正電極，由陽極靶、陽極體和陽極罩組成。陽極靶—接受電子轟擊，產(chǎn)生X射線；陽極體—支撐靶和傳熱；陽極罩—吸收二次電子和部分散射線。⑶、玻殼—支撐電極和保持射線管的真空度。二、射線檢測設(shè)備和器材16射線檢測培訓(xùn)5/8/20242、金屬陶瓷管的優(yōu)點：（P39）

a、機械強度高，抗震性能好，不易破碎；

b、真空度高，電性能好，壽命長；

c、體積小，重量輕；

d、易于焊接鈹窗，透過的軟X射線較多。3、X射線管的冷卻方式：（P31—32）

a、輻射散熱式（油浸自冷、氣體冷卻）

b、強的制循環(huán)冷卻（循環(huán)油外冷、循環(huán)水外冷）

c、旋轉(zhuǎn)陽極冷卻（醫(yī)用X射線機）二、射線檢測設(shè)備和器材17射線檢測培訓(xùn)5/8/20244、X射線管的焦點：（P34）a、實際焦點—陽極靶上受電子轟擊的部分。b、有效焦點—實際焦點在垂直于管軸線方向上的投影。c、焦點大，利于散熱，管電流可以較大；焦點小，散熱條件差，管電流不能太大。d、焦點形狀和尺寸取決于燈絲形狀和尺寸，圓形和正方形焦點尺寸為a(a為直徑或邊長)；長方形和橢圓形焦點尺寸為（a和b為邊長或軸長）。二、射線檢測設(shè)備和器材18射線檢測培訓(xùn)5/8/20245、X射線管的真空度：（P36）X射線管必須在的10-6mmHg的真空度下才能工作。高真空度的作用一是防止電極材料氧化，二是防止氣體電離而響電子發(fā)射。6、X射線機訓(xùn)機的目的：（習(xí)題P38--390）主要目的是為了提高X射線管的真空度。7、X射線機的高壓整流電路：（習(xí)題P39—391）半波整流電路、全波整流電路、全波倍壓恒直流電路。8、軟X射線機：X射線管裝有鈹窗，額定管電壓約50KVP左右的X射線機。二、射線檢測設(shè)備和器材19射線檢測培訓(xùn)5/8/20249、X射線機管電壓和管電流：（P43—44）①、管電壓調(diào)節(jié)是通過調(diào)節(jié)高壓變壓器初級線圈并聯(lián)的自耦變壓器的電壓來實現(xiàn)的。

管電壓越高，電子運動速度越快，產(chǎn)生的X射線能量越高，穿透力越大。②、管電流是通過調(diào)節(jié)燈絲變壓器電壓從而調(diào)節(jié)燈絲加熱電流來實現(xiàn)的。

管電流越大，產(chǎn)生的X射線強度就越大。10、底片黑度：（P59）：

D=1L/L0=1/10 D=2L/L0=1/100 D=3L/L0=1/1000二、射線檢測設(shè)備和器材20射線檢測培訓(xùn)5/8/2024Ⅱ例題：按照GB3323-87標準規(guī)定：AB級射線照相底片黑度范圍為D=1.2～3.5.若要求透過底片評定范圍內(nèi)的亮度應(yīng)不低于30cd/m2。為滿足底片觀察要求，觀片燈亮度至少應(yīng)為多少？解：二、射線檢測設(shè)備和器材21射線檢測培訓(xùn)5/8/202411、射線膠片的襯度（梯度、對比度、反差）（P61）：膠片特性曲線上某一點切線的斜率稱為膠片的梯度（襯度或反差）。12、鉛增感屏的作用：（P67）a、增感效應(yīng)—增加對膠片的感光作用，縮短曝光時間；b、吸收效應(yīng)—吸收波長較長的散射線，提高射線照相對比度。13、鉛增屏的增感原理：（P67）鉛箔屏受射線激發(fā)產(chǎn)生二次電子和二次射線，二次電子和二次射線能量很低，極易被膠片吸收，從而增加了對膠片的感光作用。二、射線檢測設(shè)備和器材22射線檢測培訓(xùn)5/8/202414、增感屏上的劃傷引起的偽缺陷：（P70）鉛屏表面有劃傷時，由于發(fā)射二次電子的表面積增大，會使底片上出現(xiàn)細黑線。熒光屏上有劃傷時，由于增感面積減小，底片上相應(yīng)部位出現(xiàn)亮線。15、R10系列絲型象質(zhì)計的公比為1.25或0.8，即相鄰兩根金屬絲，粗的（編號小的）直徑為細（編號大的）的1.25倍，細的絲徑為粗的0.8倍。R10系列絲型象質(zhì)計絲徑和線號之間的關(guān)系是：

Z=6-10Lgd（P71）二、射線檢測設(shè)備和器材23射線檢測培訓(xùn)5/8/202416、象質(zhì)計是用來評價底片影像質(zhì)量的，并不代表射線照相可檢出的最小缺陷尺寸。

﹡例如2%靈敏度并不意味著工件中尺寸為工件厚度2%的缺陷一定能檢測出來。特別是對裂紋之類方向性很強的缺陷,由于其取向和密閉程度的不同，即使底片上顯示的象質(zhì)計靈敏度很高，有時也有難于檢出甚至完全不能檢出的情況二、射線檢測設(shè)備和器材24射線檢測培訓(xùn)5/8/20241、射線照相對比度，它取決于：①、主因?qū)Ρ榷?-由于不同區(qū)域射線強度差異所產(chǎn)生的對比度叫主因?qū)Ρ榷取９綖椋?，影響因素有：a、由缺陷引起的透照厚度差ΔT；b、射線衰減系數(shù)μ（取決于射線能量、工件材料密度和原子序數(shù)）；c、散射比n。②、膠片對比度，影響因素有：a、膠片類型（γ）；b、顯影條件（配方、時間、溫度、活度和攪動）；c、底片黑度D。三、射線檢測工藝25射線檢測培訓(xùn)5/8/20242、射線照相不清晰度，它取決于：Ⅱ①、幾何不清晰度—由于射線源都有一定的尺寸，所以照相時工件輪廓和缺陷邊緣會在底片上產(chǎn)生半影，這個半影寬度叫做幾何不清晰度。公式為，影響因素有：a、焦點尺寸df；b、焦點至工件表面距離L1；c、工件表面至膠片距離L2。②固有不清晰度，影響因素有：a、射線能量；b、增感屏類型；c、屏-片貼緊程度；d、膠片銀膠比。三、射線檢測工藝26射線檢測培訓(xùn)5/8/20243、射線照相顆粒度取決于：a、膠片類型；b、射線能量；c、顯影條件（配方、時間、溫度）。4、幾何不清晰度計算：

例題：用焦點3mm的X射線機透照厚度為30mm的平板對接焊縫，焦距600mm,求幾何不清晰度。解：已知d=3mm,b=30mm,F=600mm

代入公式：Ug＝０.15(mm)三、射線檢測工藝27射線檢測培訓(xùn)5/8/20245、射線曝光條件包括的內(nèi)容：

X射線機（型號、規(guī)格）；射線膠片（型號）；增感屏（類型、厚度）；焦距（或源到工件表面距離）；管電壓；管電流；曝光時間。6、曝光曲線是表示工件厚度、管電壓和曝光量（管電流曝光時間）之間的關(guān)系的曲線。7、散射線及其控制（P142）：①、散射線成因—散射線是射線與物質(zhì)相互作用時發(fā)生康普頓效應(yīng)而產(chǎn)生的能量較低方向改變了的射線。三、射線檢測工藝28射線檢測培訓(xùn)5/8/2024②、散射源-射線透照相時，一切受到射線照相射的物體都是散射源，如工件、暗盒、墻壁、地板及空氣等都是散射源，其中工件自身是最大的散射源。③、散射線的分類-按散射線的方向可分為：a、前散射—來自暗盒前方的散射；b、背散射—來自暗盒背面的散射；c、側(cè)散射（邊蝕散射）--來自工件周圍的散射。④、散射線的危害—散射線會使底片灰霧度增大，影象對比度降低，使影象模糊，底片質(zhì)量變差。三、射線檢測工藝29射線檢測培訓(xùn)5/8/2024⑤、控制散射線的措施：散射線無法消除，只能采取適當(dāng)措施減小其影響，主要措施有：a、選擇較高的射線能量（小管透照）；b、使用鉛增感屏，在暗盒背面墊鉛板（吸收背散射）；c、在射線管窗口加鉛罩或光闌，減小受照射面積；d、在射線管窗口加濾板，吸收波長較長的射線；e、在工件周圍的暗盒上加擋板（減少邊蝕影響）；f、采用厚度補償物（厚度差大的工件）。三、射線檢測工藝30射線檢測培訓(xùn)5/8/20248、曝光量的修正和計算：（P120--122）①、毫安—時間修正（互易律）：互易律例題：管電流５毫安，曝光時間８分鐘可得到滿意的射線照片，如果其它條件不變，管電流增加到1０毫安，曝光時間應(yīng)變?yōu)槎嗌伲拷猓阂阎牍剑?/p>

三、射線檢測工藝31射線檢測培訓(xùn)5/8/2024②、距離―曝光量（時間、管電流）修正（平方反比律）：

Ⅰ

例題：透照某工件焊縫，用鉛增感，當(dāng)管電壓為200KVP、管電流5mA、焦距600mm、曝光時間5分鐘，底片黑度為2.0?，F(xiàn)將管電流改為10mA、焦距改為800mm、其它條件不變，要得到黑度相同的射線照片，曝光時間應(yīng)變?yōu)槎嗌?？三、射線檢測工藝32射線檢測培訓(xùn)5/8/2024

解：三、射線檢測工藝33射線檢測培訓(xùn)5/8/2024③、利用膠片特性曲線修正曝光量：公式：

例題：透照某工件，曝光量度10mAm時得到的底片黑度為1.0，為使底片黑度達到2.5,問曝光量應(yīng)變?yōu)槎嗌伲浚ㄒ阎z片特性曲線上Lg1.0=2.23,Lg2.5=2.62）解：

三、射線檢測工藝34射線檢測培訓(xùn)5/8/2024④、綜合計算：例題1：焦距離500mm、管電壓力200KV、管電流通渠道5mA、曝光4分鐘得到的底片黑度為1.0?，F(xiàn)改用焦距離750mm、管電流通渠道15mA、管電壓不變，欲使底片黑度提高到1.5，則曝光時間應(yīng)變?yōu)槎嗌伲浚ㄒ阎z片特性曲線上LgE1.0=1.8,LgE1.5=2.1）解：設(shè)黑度不變，焦距和管電流變化時：由

黑度由1.0變?yōu)?.5時，曝光時間應(yīng)變?yōu)椋?/p>

三、射線檢測工藝35射線檢測培訓(xùn)5/8/2024Ⅱ例題2、用Ⅲ型膠片透照某工件，曝光量10mAmin時得到的底片黑度為1.0。為使底片黑度達到2.5,曝光量應(yīng)變?yōu)槎嗌?？（已知膠片特性曲線上Lg1.0=2.23,Lg2.5=2.62）。解：三、射線檢測工藝36射線檢測培訓(xùn)5/8/20249、射線照相等效系數(shù)：（P140）所謂射線照相等效系數(shù)，是指在一定的管電壓下，達到相同的射線吸收效果的鋼的厚度（T0）與被檢材料厚度（Tm）之比，即：

ⅠⅡ例題：已知鋁的射線照相等效系數(shù)為0.08，則50mm厚的鋁相當(dāng)于多厚的鋼？解：三、射線檢測工藝37射線檢測培訓(xùn)5/8/20241、顯影劑的作用和成份：顯影的作用是將已曝光的溴化銀還原為金屬銀，常用的顯影劑是米吐爾和對苯二酚。2、定影的作用和成份：定影的作用是將未顯影的溴化銀溶解掉，而對已還原的金屬銀不發(fā)生作用，常用的定影劑是海波。3、停顯液的作用和成份：停顯液的作用是中和膠片上的顯影劑，停止顯影作用，常用的停顯液是冰醋酸溶液。四、暗室處理38射線檢測培訓(xùn)5/8/2024Ⅰ1、放射防護三大要素：（1）、時間防護――照射量與時間成正比，控制受照射的時間。（2）、距離防護—射線強度與距離的平方成反比，平大人與射源之間的距離。（3）、屏蔽防護—利用物質(zhì)對射線的吸收作用，在人和源之間放置吸收材料。2、防護計算：（1）.時間防護計算：例1：已知工作地點的劑量率為50μSv，問工作人員可在此處工作多少時間？五、輻射防護39射線檢測培訓(xùn)5/8/2024解：每年按50周計算，每周劑量限值為：

50mSv/50=1mSv=103μSv

時間=劑量/劑量率=1000/50=20小時（2）.距離防護計算：Ⅱ例2：距離一γ源2米處的漏泄空氣比釋動能率為0.4mGy/h,散射線空氣比釋動能率為漏泄比釋動能率的9倍.問距源多遠處的空氣比釋動能率可降低到25μGy/h？？解：距源2米處空氣比釋動能率I1=0.4×（1+9）=4mGy/h=4000μGy/h;

五、輻射防護40射線檢測培訓(xùn)5/8/2024（3）.屏蔽防護計算：例3：為將Co60產(chǎn)生的劑量減弱2000倍，所需鉛厚度為多少？（已知Co60在鉛中的半價層Th=1.06cm）。解：五、輻射防護41射線檢測培訓(xùn)5/8/2024㈠、通用要求1、適用范圍：⑴、方法：射線檢測、超聲檢測、磁粉檢測、滲透檢測和渦流檢測等五種無損檢測方法⑵、對象：在制和在用金屬材料制承壓設(shè)備2、術(shù)語和定義：⑴、透照厚度W射線照射方向上材料的公稱厚度。多層透照時，透照厚度為通過的各層材料公稱厚度之和。

⑵、圓形缺陷長寬比不大于3的氣孔、夾渣和夾鎢等缺陷。六、JB/T4730-2019標準42射線檢測培訓(xùn)5/8/2024⑶、條形缺陷長寬比大于3的氣孔、夾渣和夾鎢等缺陷。⑷、小徑管外直徑Do小于或等于100mm的管子。3、使用原則⑴、射線和超聲檢測主要用于承壓設(shè)備的內(nèi)部缺陷的檢測；磁粉檢測主要用于鐵磁性材料制承壓設(shè)備的表面和近表面缺陷的檢測；滲透檢測主要用于金屬材料制承壓設(shè)備的表面開口缺陷的檢測；渦流檢測主要適用于金屬材料制承壓設(shè)備表面和近表面缺陷的檢測。六、JB/T4730-2019標準43射線檢測培訓(xùn)5/8/2024

⑵、鐵磁性材料表面檢測時，宜采用磁粉檢測。⑶、當(dāng)采用兩種或兩種以上的檢測方法對承壓設(shè)備的同一部位進行檢測時，應(yīng)按各自的方法評定級別。⑷、采用同種檢測方法按不同檢測工藝進行檢測時，如果檢測結(jié)果不一致，應(yīng)以危險度大的評定級別為準。㈡、射線檢測1、適用范圍適用于承壓設(shè)備制造、安裝、在用檢測中對接焊接接頭的射線檢測。

六、JB/T4730-2019標準44射線檢測培訓(xùn)5/8/2024

用于制作焊接接頭的金屬材料包括碳素鋼、低合金鋼、不銹鋼、銅及銅合金、鋁及鋁合金和鈦及鈦合金、鎳及鎳合金。有關(guān)支承件和結(jié)構(gòu)件的對接焊接接頭的射線檢測，也可參照使用。2、射線檢測技術(shù)分為三級：A級——低靈敏度技術(shù)；AB級——中靈敏度技術(shù)；B級——高靈敏度技術(shù)。3、膠片系統(tǒng)⑴、分為四類，即T1、T2、T3和T4類。T1為最高類別，T4為最低類別。

六、JB/T4730-2019標準45射線檢測培訓(xùn)5/8/2024

⑵、A級和AB級技術(shù)應(yīng)采用T3類或更高類別的膠片，B級技術(shù)應(yīng)采用T2類或更高類別的膠片。⑶、采用γ射線對裂紋敏感性大的材料進行射線檢測,應(yīng)采用T2類或更高類別的膠片。

4、黑度計⑴、黑度計可測的最大黑度應(yīng)不小于4.5，測量值的誤差應(yīng)不超過±0.05。

⑵、黑度計至少每6個月校驗一次。黑度片每2年檢定一次。

46射線檢測培訓(xùn)5/8/20245、增感屏射線檢測一般應(yīng)使用金屬增感屏或不用增感屏。6、像質(zhì)計底片影像質(zhì)量采用線型像質(zhì)計測定。線型像質(zhì)計的型號和規(guī)格應(yīng)符合JB/T7902的規(guī)定，JB/T7902中未包含的絲徑、線號及構(gòu)成等內(nèi)容，應(yīng)符合HB7684的有關(guān)規(guī)定。7、表面要求和射線檢測時機⑴、射線檢測前，焊接接頭的表面應(yīng)經(jīng)外觀檢測并合格。表面的不規(guī)則狀態(tài)在底片上的影像不得掩蓋或干擾缺陷影像，否則應(yīng)對表面作適當(dāng)修整。六、JB/T4730-2019標準47射線檢測培訓(xùn)5/8/2024

⑵、射線檢測應(yīng)在焊接完工后進行。對有延遲裂紋傾向的材料，至少應(yīng)在焊接完成24h后進行射線檢測。8、射線檢測技術(shù)等級選擇⑴、射線檢測技術(shù)等級選擇應(yīng)符合制造、安裝、在用等有關(guān)標準及設(shè)計圖樣規(guī)定。

承壓設(shè)備對接焊接接頭的制造、安裝、在用時的射線檢測，一般應(yīng)采用AB級技術(shù)進行檢測。對重要設(shè)備、結(jié)構(gòu)、特殊材料和特殊焊接工藝制作的焊接接頭，可采用B級技術(shù)進行檢測。六、JB/T4730-2019標準48射線檢測培訓(xùn)5/8/2024⑵、由于結(jié)構(gòu)、環(huán)境條件、射線設(shè)備等方面限制，檢測的某些條件不能滿足AB級（或B級）技術(shù)的要求時,經(jīng)合同各方商定，在采取有效補償措施（例如選用更高類別的膠片）的前提下，受限制條件可按A級（或AB級）要求實施，若底片的像質(zhì)計靈敏度達到了AB級（或B級）的規(guī)定,則可認為按AB級（或B級）進行了檢測。⑶、承壓設(shè)備在用檢測中，由于結(jié)構(gòu)、環(huán)境、射線設(shè)備等方面限制,檢測的某些條件不能滿足AB級技術(shù)的要求時,經(jīng)合同各方商定,在采取有效補償措施（例如選用更高類別的膠片）后可采用A級技術(shù)進行射線檢測，但還應(yīng)同時采用其他無損檢測方法進行補充檢測。六、JB/T4730-2019標準49射線檢測培訓(xùn)5/8/20249、輻射防護⑴、現(xiàn)場進行Ｘ射線檢測時，應(yīng)劃定控制區(qū)和管理區(qū)、設(shè)置警告標志。檢測工作人員應(yīng)佩帶個人劑量計，并攜帶劑量報警儀⑵、現(xiàn)場進行γ射線檢測時，劃定控制區(qū)和監(jiān)督區(qū)、設(shè)置警告標志，檢測作業(yè)時，應(yīng)圍繞控制區(qū)邊界測定輻射水平。檢測工作人員應(yīng)佩帶個人劑量計，并攜帶劑量報警儀。Ⅰ10、透照方式選擇原則在可以實施的情況下應(yīng)選用單壁透照方式,在單壁透照不能實施時才允許采用雙壁透照方式。典型的透照方式有八種。六、JB/T4730-2019標準50射線檢測培訓(xùn)5/8/202411、一次透照長度⑴、一次透照長度以透照厚度比K控制。ⅠⅡ⑵、縱向焊接接頭：

A級、AB級：K≤1.03B級：K≤1.01

環(huán)向焊接接頭：

A級、AB級：K≤1.1B級：K≤1.06⑶、對100mm＜Do≤400mm的環(huán)向焊接接頭（包括曲率相同的曲面焊接接頭）,A級、AB級允許采用K≤1.2。

六、JB/T4730-2019標準51射線檢測培訓(xùn)5/8/2024ⅠⅡ12、小徑管對接接頭的透照布置⑴、小徑管采用雙壁雙影透照布置。當(dāng)同時滿足下列兩條件時采用傾斜透照橢圓成像：

T（壁厚）≤8mm；

g/4

（焊縫寬度）≤Do橢圓成像時，應(yīng)控制影像的開口寬度（上下焊縫投影最大間距）在1倍焊縫寬度左右。⑵、不滿足上述條件或橢圓成像困難時可采用垂直透照方式重疊成像。13、小徑管對接接頭的透照次數(shù)

六、JB/T4730-2019標準52射線檢測培訓(xùn)5/8/2024⑴、傾斜透照橢圓成像：當(dāng)T/Do≤0.12,相隔90°透照2次。當(dāng)T/Do＞0.12,相隔120°或60°透照3次。⑵、垂直透照重疊成像時，一般應(yīng)相隔120°或60°透照3次。⑶、由于結(jié)構(gòu)原因不能進行多次透照時，經(jīng)合同各方同意，可不按100%檢測的透照次數(shù)要求，允許采用橢圓成像或重疊成像方式透照一次，此時應(yīng)采取有效措施擴大缺陷可檢出范圍，并保證底片評定范圍內(nèi)黑度和靈敏度滿足要求。六、JB/T4730-2019標準53射線檢測培訓(xùn)5/8/2024⑷:平移距離計算:Ⅰ例題：用2019X射線機透照φ51×3.5的管子環(huán)焊縫，已知焦距F=600mm,焊縫寬度b=10mm。求橢圓間距g=5mm時的透照偏移距離S(不考慮焊縫余高)。

六、JB/T4730-2019標準54射線檢測培訓(xùn)5/8/202414、射線能量選擇⑴、X射線照相應(yīng)盡量選用較低的管電壓。在采用較高管電壓時，應(yīng)保證適當(dāng)?shù)钠毓饬俊?/p>

⑵、對截面厚度變化大的工件，在保證靈敏度要求的前提下，允許采用超過規(guī)定的Ｘ射線管電壓。鋼、銅及銅合金管電壓增量不應(yīng)超過50kV；鈦及鈦合金管電壓增量不應(yīng)超過40kV；鋁及鋁合金管電壓增量不應(yīng)超過30kV。六、JB/T4730-2019標準55射線檢測培訓(xùn)5/8/202415、γ射線允許的透照厚度范圍⑴、采用源在內(nèi)中心透照方式，在保證像質(zhì)計靈敏度達到要求的前提下，允許γ射線最小透照厚度取規(guī)定下限值的二分之一。

Ⅱ⑵、采用其他透照方式，在采取有效補償措施并保證像質(zhì)計靈敏度達到要求的前提下，經(jīng)合同各方同意，Ir-192源的最小透照厚度可降至10mm（小徑管壁厚為5mm），Se-75源的最小透照厚度可降至5mm（小徑管壁厚為2.5mm）。16、射線源至工件表面的最小距離56射線檢測培訓(xùn)5/8/2024⑴、所選用的射線源至工件表面的距離f應(yīng)滿足下式的要求：

A級：f≥7.5d·b

2/3

AB級：f≥10d·b2/3B級：f≥15d·b2/3Ⅱ⑵、采用源在內(nèi)中心透照方式周向曝光時，只要得到的底片質(zhì)量符合4.11.2和4.11.3的要求，f值可以減小，但減小值最多不應(yīng)超過規(guī)定值的50%。⑶、采用源在內(nèi)單壁透照方式時，只要得到的底片質(zhì)量符合4.11.2和4.11.3的要求，f值可以減小，但減小值最多不應(yīng)超過規(guī)定值的20%。六、JB/T4730-2019標準57射線檢測培訓(xùn)5/8/202417、曝光量⑴、Ｘ射線照相，當(dāng)焦距為700mm時，曝光量的推薦值為：

A級和AB級不小于15mA·min；

B級不小于20mA·min。當(dāng)焦距改變時可按平方反比定律對曝光量進行換算。⑵、采用γ射線源透照時,總的曝光時間至少應(yīng)不小于輸送源往返所需時間的10倍。18、曝光曲線六、JB/T4730-2019標準58射線檢測培訓(xùn)5/8/2024

⑴、對每臺在用的射線設(shè)備均應(yīng)做出經(jīng)常檢測材料的曝光曲線，依據(jù)曝光曲線確定曝光參數(shù)。

⑵、對使用中的曝光曲線，每年至少應(yīng)校驗一次。射線設(shè)備更換重要部件或經(jīng)較大修理后應(yīng)及時對曝光曲線進行校驗或重新制作。

19、無用射線和散射線屏蔽

⑴、對初次制定的檢測工藝或檢測工藝的條件、環(huán)境發(fā)生改變時,該檢測工藝在應(yīng)用于正式檢測時應(yīng)進行背散射防護檢查。六、JB/T4730-2019標準59射線檢測培訓(xùn)5/8/2024

⑵、檢查背散射防護的方法是：在暗盒背面貼附“B”鉛字標記，按檢測工藝的規(guī)定進行透照和暗室處理。

若在底片上出現(xiàn)黑度低于周圍背景黑度的“B”字影像，則說明背散射防護不夠,應(yīng)增大背散射防護鉛板的厚度。若底片上不出現(xiàn)“B”字影像或出現(xiàn)黑度高于周圍背景黑度的“B”字影像，則說明背散射防護符合要求。20、像質(zhì)計的使用

六、JB/T4730-2019標準60射線檢測培訓(xùn)5/8/2024⑴、放置原則①像質(zhì)計一般應(yīng)放置在工件源側(cè)表面焊縫的一端（在被檢區(qū)長度的1/4左右位置）,金屬絲橫跨焊縫，細絲置于外側(cè)。當(dāng)一張膠片上同時透照多條焊接接頭時,像質(zhì)計應(yīng)放置在透照區(qū)最邊緣的焊縫處。②單壁透照規(guī)定像質(zhì)計放置在源側(cè)。雙壁單影透照規(guī)定像質(zhì)計放置在膠片側(cè)。雙壁雙影透照像質(zhì)計可放置在源側(cè)，也可放置在膠片側(cè)。③單壁透照中，如果像質(zhì)計無法放置在源側(cè)，允許放置在膠片側(cè)，但應(yīng)進行對比試驗。④當(dāng)像質(zhì)計放置在膠片側(cè)時，應(yīng)在像質(zhì)計上適當(dāng)位置放置鉛字“F”作為標記，F(xiàn)標記的影像應(yīng)與像質(zhì)計的標記同時出現(xiàn)在底片上，且應(yīng)在檢測報告中注明。六、JB/T4730-2019標準61射線檢測培訓(xùn)5/8/2024⑵、象質(zhì)計數(shù)量①原則上每張底片上都應(yīng)有像質(zhì)計的影像。當(dāng)一次曝光完成多張膠片照相時，允許減少使用的像質(zhì)計數(shù)量。②環(huán)形焊接接頭源置于中心周向曝光，至少在圓周上等間隔地放置3個像質(zhì)計;③球罐焊接接頭采用源置于球心全景曝光時，至少在北極區(qū)、赤道區(qū)、南極區(qū)附近的焊縫上沿緯度等間隔地各放置3個像質(zhì)計，在南、北極的極板拼縫上各放置1個像質(zhì)計;

④一次曝光連續(xù)排列的多張膠片時，至少在第一張、中間一張和最后一張膠片處各放置一個像質(zhì)計。六、JB/T4730-2019標準62射線檢測培訓(xùn)5/8/2024

⑶、小徑管象質(zhì)計的使用小徑管可選用通用線型像質(zhì)計或?qū)Ｓ茫ǖ葟浇饘俳z）像質(zhì)計，金屬絲應(yīng)橫跨焊縫放置。像質(zhì)計應(yīng)置于源側(cè)，當(dāng)無法放置在源側(cè)時，可將像質(zhì)計置于膠片側(cè)。⑷、象質(zhì)計的識別底片上，在黑度均勻區(qū)（一般是鄰近焊縫的母材金屬區(qū)）能清晰地看到長度不小于10mm的連續(xù)的金屬絲影像時，則該絲認為是可識別的。專用像質(zhì)計應(yīng)能識別不少于二根金屬絲。六、JB/T4730-2019標準63射線檢測培訓(xùn)5/8/202421、透照部位標記⑴、透照部位的標記由識別標記和定位標記組成。

①識別標記一般包括：產(chǎn)品編號、焊接接頭編號、部位編號和透照日期。返修后的透照還應(yīng)有返修標記,擴大檢測比例的透照還應(yīng)有擴大檢測標記。②定位標記一般包括中心標記和搭接標記。中心標記指示透照部位區(qū)段的中心位置和分段編號的方向,一般用十字箭頭“↑”表示。搭接標記是連續(xù)檢測時的透照分段標記，可用符號“↑”或其他能顯示搭接情況的方法表示。六、JB/T4730-2019標準64射線檢測培訓(xùn)5/8/2024

⑵、標記一般應(yīng)放置在距焊縫邊緣至少5mm以外的部位，標記的影像不應(yīng)重疊，且不應(yīng)干擾有效評定范圍內(nèi)的影像。22、評片要求⑴、評片人員在評片前應(yīng)經(jīng)歷一定的暗適應(yīng)時間。從陽光下進入評片的暗適應(yīng)時間一般為5min～10min；從一般的室內(nèi)進入評片的暗適應(yīng)時間應(yīng)不少于30s。⑵、評片時，底片評定范圍內(nèi)的亮度應(yīng)符合下列規(guī)定：

當(dāng)?shù)灼u定范圍內(nèi)的黑度D≤2.5時，透過底片評定范圍內(nèi)的亮度應(yīng)不低于30cd/m2；六、JB/T4730-2019標準65射線檢測培訓(xùn)5/8/2024當(dāng)?shù)灼u定范圍內(nèi)的黑度D＞2.5時,透過底片評定范圍內(nèi)的亮度應(yīng)不低于10cd/m2。⑶、底片評定范圍的寬度一般為焊縫本身及焊縫兩側(cè)5mm寬的區(qū)域。23、Ⅰ底片質(zhì)量⑴、底片上標記影像顯示完整、位置正確。⑵、底片評定范圍內(nèi)的黑度D符合下列規(guī)定:

A級：1.5≤D≤4.0；

AB級：2.0≤D≤4.0B級：2.3≤D≤4.0。X射線透照小徑管或其他截面厚度變化大的工件時，AB級最低黑度允許降至1.5；B級最低黑度可降至2.0。六、JB/T4730-2019標準66射線檢測培訓(xùn)5/8/2024

采用多膠片方法時，單片觀察的黑度應(yīng)符合以上要求。雙片疊加觀察僅限于A級，疊加觀察時，單片的黑度應(yīng)不低于1.3。對評定范圍內(nèi)的黑度D＞4.0的底片，如有計量檢定報告證明所使用觀片燈的亮度能夠滿足要求，且經(jīng)合同各方同意，允許進行評定。

⑶、底片的像質(zhì)計靈敏度符合規(guī)定⑷、底片評定范圍內(nèi)不應(yīng)存在干擾缺陷影像識別的水跡、劃痕、斑紋等偽缺陷影像。六、JB/T4730-2019標準67射線檢測培訓(xùn)5/8/202424、鋼、鎳、銅制熔化焊對接接頭射線檢測質(zhì)量分級⑴、適用范圍碳素鋼、低合金鋼、奧氏體不銹鋼、鎳及鎳基合金T=2～400mm；銅及銅合金，以及厚度為2～80mm。⑵缺陷類型

焊接接頭中的缺陷按性質(zhì)區(qū)分為裂紋、未熔合、未焊透、條形缺陷和圓形缺陷五類。⑶、根據(jù)焊接接頭中存在的缺陷性質(zhì)、數(shù)量和密集程度，焊接接頭的質(zhì)量等級劃分為Ⅰ、Ⅱ、III、Ⅳ級。六、JB/T4730-2019標準68射線檢測培訓(xùn)5/8/2024

⑷、質(zhì)量分級一般規(guī)定①Ⅰ級焊接接頭內(nèi)不允許存在裂紋、未熔合、未焊透和條形缺陷。②Ⅱ級和III級焊接接頭內(nèi)不允許存在裂紋、未熔合和未焊透。③焊接接頭中缺陷超過III級者為Ⅳ級。④當(dāng)各類缺陷評定的質(zhì)量級別不同時，以質(zhì)量最差的級別作為焊接接頭的質(zhì)量級別。⑸、圓形缺陷的分級評定①圓形缺陷用圓形缺陷評定區(qū)進行質(zhì)量分級評定，圓形缺陷評定區(qū)為一個與焊縫平行的矩形。圓形缺陷評定區(qū)應(yīng)選在缺陷最嚴重的區(qū)域。六、JB/T4730-2019標準69射線檢測培訓(xùn)5/8/2024

②在圓形缺陷評定區(qū)內(nèi)或與圓形缺陷評定區(qū)邊界線相割的缺陷均劃入評定區(qū)內(nèi)。將評定區(qū)內(nèi)的缺陷按規(guī)定換算為點數(shù)，按分級表的規(guī)定評判焊接接頭的質(zhì)量級別。

③由于材質(zhì)或結(jié)構(gòu)等原因,進行返修可能會產(chǎn)生不利后果的焊接接頭，經(jīng)合同各方同意，各級別的圓形缺陷點數(shù)可放寬1點～2點。

④對致密性要求高的焊接接頭，將黑度大的圓形缺陷定義為深孔缺陷,存在深孔缺陷時，焊接接頭質(zhì)量評為Ⅳ級。

⑤缺陷長徑大于T/2焊接接頭質(zhì)量評為Ⅳ級。六、JB/T4730-2019標準70射線檢測培訓(xùn)5/8/2024

⑥質(zhì)量等級為Ⅰ級的焊接接頭和母材公稱厚度T≤5mm的Ⅱ級焊接接頭，不計點數(shù)的缺陷在圓形缺陷評定區(qū)內(nèi)不得多于10個，超過時焊接接頭質(zhì)量等級應(yīng)降低一級。⑹、條形缺陷的分級評定①條形缺陷按單個條形缺陷最大長度和條形缺陷累計最大長度進行評定。

②條形缺陷評定區(qū)是指與焊縫方向平行的、具有一定寬度的矩形區(qū)。T≤25mm，寬度4mm；25mm＜T≤100mm，寬度為6mm；T＞100mm，寬度為8mm。六、JB/T4730-2019標準71射線檢測培訓(xùn)5/8/2024

③當(dāng)兩個或兩個以上條形缺陷處于同一直線上、且相鄰缺陷的間距小于或等于較短缺陷長度時，應(yīng)作為1個缺陷處理，且間距也應(yīng)計入缺陷的長度之中。⑺、綜合評級

①在圓形缺陷評定區(qū)內(nèi)同時存在圓形缺陷和條形缺陷時，應(yīng)進行綜合評級。

②對圓形缺陷和條形缺陷分別評定級別，將兩者級別之和減一作為綜合評級的質(zhì)量級別。六、JB/T4730-2019標準72射線檢測培訓(xùn)5/8/202425、鋁制熔化焊對接接頭射線檢測質(zhì)量分級⑴、范圍厚度為2～80mm，材質(zhì)為鋁及鋁合金

⑵、缺陷類型裂紋、未熔合、未焊透、夾銅、條形缺陷和圓形缺陷六類。

⑶、質(zhì)量分級一般規(guī)定①級焊接接頭內(nèi)不允許存在裂紋、未熔合、未焊透、夾銅缺陷和條形缺陷。②Ⅱ級和Ⅲ級焊接接頭內(nèi)不允許存在裂紋、未熔合、未焊透和夾銅缺陷。③焊接接頭中缺陷超過Ⅲ級者為Ⅳ級。④當(dāng)各類缺陷評定的質(zhì)量級別不同時,以質(zhì)量最差的級別作為焊接接頭的質(zhì)量級別。六、JB/T4730-2019標準73射線檢測培訓(xùn)5/8/2024

⑷、圓形缺陷的分級評定①當(dāng)Ⅲ級接頭允許的缺陷點數(shù)連續(xù)存在、并超過評定區(qū)尺寸的3倍時，接頭質(zhì)量應(yīng)評定為Ⅳ級。②缺陷長徑大于2T/3或缺陷長徑大于10mm，接頭質(zhì)量應(yīng)評定為Ⅳ級。26、鈦及鈦合金對接接頭質(zhì)量分級⑴、范圍：厚度為2～50mm，材質(zhì)為鈦及鈦合金⑵、圓形缺陷的分級評定

Ⅰ級接頭和母材公稱厚度T≤5mm的Ⅱ級接頭，不計點數(shù)的缺陷在圓形缺陷評定區(qū)內(nèi)不得多于10個。

六、JB/T4730-2019標準74射線檢測培訓(xùn)5/8/2024母材公稱厚度T＞5mm的Ⅱ級接頭，不計點數(shù)的缺陷在圓形缺陷評定區(qū)內(nèi)不得多于20個。母材公稱厚度T＞5mm的Ⅲ級接頭，不計點數(shù)的缺陷在圓形缺陷評定區(qū)內(nèi)不得多于30個。超過上述規(guī)定時接頭質(zhì)量應(yīng)降低一級。27、鋼、鎳、銅制承壓設(shè)備管子及壓力管道熔化焊環(huán)形對接接頭質(zhì)量分級⑴、范圍壁厚T≥2mm，材質(zhì)為碳素鋼、低合金鋼、奧氏體不銹鋼、鎳及鎳基合金、銅及銅合金⑵、缺陷類型分為裂紋、未熔合、未焊透、條形缺陷、圓形缺陷、根部內(nèi)凹、根部咬邊等七類。

六、JB/T4730-2019標準75射線檢測培訓(xùn)5/8/2024⑶、質(zhì)量分級的一般規(guī)定①Ⅰ級焊接接頭內(nèi)不允許存在裂紋、未熔合、未焊透、條形缺陷、根部內(nèi)凹、根部咬邊。②Ⅱ級和Ⅲ級焊接接頭內(nèi)不允許存在裂紋、未熔合，雙面焊以及加墊板單面焊中的未焊透。③焊接接頭中缺陷超過Ⅲ級者為Ⅳ級。④當(dāng)各類缺陷評定的質(zhì)量級別不同時,以質(zhì)量最差的級別作為焊接接頭的質(zhì)量級別。⑷、圓形缺陷的分級評定

對小徑管缺陷評定區(qū)取10mm×10mm。

六、JB/T4730-2019標準76射線檢測培訓(xùn)5/8/2024⑸、不加墊板單面焊的未焊透缺陷的測定①管外徑Do≤100mm的小徑管的未焊透深度可采用小徑管專用對比試塊(ⅠA