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文檔簡介

會(huì)計(jì)學(xué)1飛思卡爾單片機(jī)AD功能模塊8位/10位可選擇的轉(zhuǎn)換精度5/256=速度快每進(jìn)行一次10位的轉(zhuǎn)換,僅僅需要7uS采樣時(shí)間可編程

左對(duì)齊/右對(duì)齊的數(shù)據(jù)格式,有符號(hào)/無符號(hào)的轉(zhuǎn)換結(jié)果;轉(zhuǎn)換完畢可產(chǎn)生中斷;使用PAD7外部觸發(fā)控制。9S12的A/D模塊主要特大部分的freescale的MC性U都帶有內(nèi)置的AD轉(zhuǎn)換模塊。第2頁/共35頁轉(zhuǎn)換完畢中斷轉(zhuǎn)換隊(duì)列長度1-8(或1-16)不間斷轉(zhuǎn)換模式多通道掃描第3頁/共35頁AD口。ATD子系統(tǒng)輸入或通用輸入引腳。復(fù)位后默認(rèn)為通用I/O輸入引腳并且只能做輸入對(duì)應(yīng)于兩個(gè)獨(dú)立的ATD模塊:ATDm

(m=0或1)。9S12的A/D模塊外部引腳第4頁/共35頁VDDA(59)、VSSA(62):

A/D模塊提供電源。實(shí)驗(yàn)板上,VDDA接到VCC,VSSA接到GND。單獨(dú)的供電引腳,可以不受其他模塊的影響。VRH(60)、VRL(61):A/D轉(zhuǎn)換模塊的參考高電壓和參考低電壓。

模擬輸入信號(hào)的電壓值在VRH---VRL之間才能得到正確的轉(zhuǎn)換結(jié)果VRH應(yīng)大于VRL,且VRH和VRL應(yīng)在VDDA-VSSA之間。AN6/PAD6

-

AN0/PAD0(51-57):

模擬量輸入通道6-0,通用數(shù)字輸入端口。不可以被用作外部觸發(fā)引腳。AN7/ETRIG/PAD7(58):

模擬量輸入通道7,通用數(shù)字輸入端口。它也可以被配置為A/D轉(zhuǎn)換的外部觸發(fā)引腳。第5頁/共35頁寄存器4個(gè)控制寄存器ATDCTL2、3、4、52個(gè)狀態(tài)寄存器ATDSTAT0、18個(gè)結(jié)果寄存器ATDDRx第6頁/共35頁控制寄存器2—ATDCTL2電源、中斷、外部觸發(fā)ADPU:A/D模塊的電源管理1=正常模式0=低功耗模式AFFC:標(biāo)志位快速清零。1=對(duì)轉(zhuǎn)換結(jié)果寄存器訪問會(huì)自動(dòng)清除標(biāo)志位

0=正常模式,訪問結(jié)果寄存器前讀狀態(tài)寄存器1可以清除轉(zhuǎn)換完成標(biāo)志CCF。第7頁/共35頁控制寄存器2—ATDCTL2AWAI1=等待時(shí)進(jìn)入低功耗模式,0=等待時(shí)ATD保持運(yùn)行。ETRIGLE、ETRIGP:外部觸發(fā)的邊沿/極性控制。

ETRIGE:上兩位的使能位。允許在PAD7輸入外部觸發(fā)信號(hào),允許在外部觸發(fā)到來的同時(shí)進(jìn)行采樣和

AD轉(zhuǎn)換。1=允許,0=禁止。

注意:當(dāng)使用外部觸發(fā)式,ATD通道7將不能作為AD轉(zhuǎn)換通道來使用第8頁/共35頁控制寄存器2—ATDCTL2ASCIE:A/D隊(duì)列轉(zhuǎn)換完成中斷允許。1=允許,并使標(biāo)志位ASCIF=10=禁止。ASCIF:A/D隊(duì)列轉(zhuǎn)換完成中斷標(biāo)志。如果ASCIE=1,此標(biāo)志位和SCF擁有相同的含義。此位只能讀取到0,寫入無效。第9頁/共35頁控制寄存器3—ATDCTL3

S8C、S4C、S2C、S1C:定義轉(zhuǎn)換隊(duì)列的長度。默認(rèn)長度為4。第10頁/共35頁控制寄存器3—ATDCTL3FIFO:結(jié)果寄存器先進(jìn)先出模式。1=FIFO模式,轉(zhuǎn)換結(jié)果是連續(xù)存放的0=非FIFO模式,轉(zhuǎn)換結(jié)果放在對(duì)應(yīng)的寄存器中。

FRZ1、FRZ0:背景調(diào)試凍結(jié)模式允許。這兩個(gè)控制位就決定了,第11頁/共35頁當(dāng)遇到斷點(diǎn)時(shí),A/D模塊怎樣反應(yīng)??刂萍拇嫫?—ATDCTL3FRZ1、FRZ0:背景調(diào)試凍結(jié)模式允許。這兩個(gè)控制位就決定了,當(dāng)遇到斷點(diǎn)時(shí),A/D模塊怎樣反應(yīng)應(yīng)。。第12頁/共35頁控制寄存器4—ATDCTL4轉(zhuǎn)換頻率的預(yù)分頻因子、采樣時(shí)間和AD轉(zhuǎn)換的精度。SRES8:轉(zhuǎn)換精度選擇。1=8位精度(0~255)0=10位精度(0~1023)第13頁/共35頁控制寄存器4—ATDCTL4SMP1、SMP0:采樣時(shí)間選擇。采樣時(shí)間分為兩個(gè)階段第一階段長2個(gè)AD時(shí)鐘周期第二階段由SMP1、SMP0決定第14頁/共35頁控制寄存器4—AATTDDCCTTLL44PRS4、PRS3、PRS2、PRS1、PRS0:A/D時(shí)鐘分頻因子的選擇。A/D時(shí)鐘的計(jì)算公式如下圖。最高可達(dá)總線時(shí)鐘的一半。

注意,A/D模塊的時(shí)鐘頻率要在500KHz和2MHz之間,所以在選擇分頻因子時(shí)一定要注意。第15頁/共35頁控制寄存器5—ATDCTL5DJM:16位結(jié)果寄存器數(shù)據(jù)的對(duì)齊方式。1=右對(duì)齊;0=左對(duì)齊。DSGN:結(jié)果寄存器中數(shù)據(jù)有無符號(hào)。1=有符號(hào),0=無符號(hào)。

SRES8、DJM和DSGN三位配合起來使用,決定了結(jié)果寄存器中數(shù)據(jù)的格式,一共有8種情況。第16頁/共35頁第17頁/共35頁控制寄存器5—ATDCTL5

SCAN:連續(xù)轉(zhuǎn)換隊(duì)列的模式。此位定義了A/D轉(zhuǎn)換是連續(xù)進(jìn)行還是只進(jìn)行一次。1=連續(xù)隊(duì)列轉(zhuǎn)換0=單次隊(duì)列轉(zhuǎn)換。第18頁/共35頁控制寄存器5—AATTDDCCTTLL55MULT

0時(shí):單個(gè)通道采樣。ATD的隊(duì)列控制器只從指定的輸入通道進(jìn)行采樣,可以使用ATDCTL5寄存器中的CC、CB和CA三位來指定需要采樣的模擬量輸入通道。S8C、S4C、S2C和S1C控制位來指定轉(zhuǎn)換次數(shù)。

1時(shí):對(duì)多個(gè)的通道進(jìn)行采樣。每次采樣的通道數(shù)量由

S8C、S4C、S2C和S1C控制位來指定,第一個(gè)采樣通道由

CC、CB和CA控制位來指定,其它采樣通道由通道選擇碼CC、CB和CA的增加來決定。

對(duì)ATDCTL5進(jìn)行寫操作會(huì)終止當(dāng)前隊(duì)列的轉(zhuǎn)換,開始一個(gè)新的隊(duì)列轉(zhuǎn)換。第19頁/共35頁狀態(tài)寄存器0—ATDSTAT0SCF:隊(duì)列完成標(biāo)志。置1條件:當(dāng)一個(gè)隊(duì)列轉(zhuǎn)換完畢后置位;如果處在SCAN模式,則每次轉(zhuǎn)換完畢都置位。清0條件:對(duì)此位寫1;第20頁/共35頁寫ATDCTL5,開始一個(gè)新的對(duì)列;ATDCTL2的AFFC=1(標(biāo)志快速清除)且狀態(tài)寄存器0—ATDSTAT0ETORF:外部觸發(fā)溢出標(biāo)志。置位條件:處于邊沿觸發(fā)模式時(shí),如果第一個(gè)邊沿觸發(fā)的隊(duì)列轉(zhuǎn)換正在進(jìn)行,而這時(shí)卻檢測(cè)到了第二個(gè)有效的邊沿。清零條件:對(duì)此位寫1;第21頁/共35頁寫控制寄存器2、3或4,終止當(dāng)前隊(duì)列;狀態(tài)寄存器0—AATTDDSSTTAATT00FIFOR:FIFO溢出標(biāo)志。1=有FIFO溢出,0=無FIFO溢出。

如果轉(zhuǎn)換完成標(biāo)志(CCF)在沒有被清零時(shí)結(jié)果寄存器被寫入新值(覆蓋),則置位。清零條件:對(duì)此位寫1;寫控制寄存器5,開始一個(gè)新隊(duì)列。CC2、CC1、CC0:轉(zhuǎn)換計(jì)數(shù)器。代表了哪個(gè)結(jié)果寄存器將要接收當(dāng)前轉(zhuǎn)換的結(jié)果。

非FIFO模式(FIFO=0),這3位的初始值為0,計(jì)數(shù)完成后又會(huì)回到初始值。FIFO模式(FIFO=1),轉(zhuǎn)換計(jì)數(shù)器處于循環(huán)計(jì)數(shù)狀態(tài)。第22頁/共35頁狀態(tài)寄存器1—ATDSTAT1CCFx:1=完成隊(duì)列中的第x個(gè)轉(zhuǎn)換;在完成隊(duì)列轉(zhuǎn)換中的某個(gè)AD轉(zhuǎn)換時(shí),相對(duì)

應(yīng)的CCFx位就會(huì)被置位,結(jié)果存儲(chǔ)在

ATDDRx中。0=轉(zhuǎn)換未完成。清零條件:寫控制寄存第器23頁5/共,35頁開始一個(gè)新隊(duì)列;AFFC=1,對(duì)結(jié)果寄存器訪問;輸入允許寄存器--

ATDDIENIENx:通道x輸入數(shù)字允許。這8個(gè)控制位控制了從輸入端口到數(shù)據(jù)寄存器的數(shù)字輸入緩沖區(qū)。

1=緩沖區(qū)有效;0=無效。當(dāng)端口作為模擬量輸入端口時(shí),也可以打開數(shù)字緩沖區(qū),但是會(huì)第24頁/共35頁增加功耗。數(shù)字輸入寄存器

PORTAD

PTADx:A/D模塊的第x個(gè)通道(ANx)的數(shù)字輸入。當(dāng)對(duì)應(yīng)通道的數(shù)字輸入允許時(shí),此位返回了相應(yīng)引腳上的電平邏輯值。

注意,引腳上的電平必須和VRH或VRL匹配,否則將返回一個(gè)不確定的值。

如果響應(yīng)通道的輸入緩沖區(qū)無效(IENx=0),讀取操作只返回1。

注意,PORTAD端口模擬量和數(shù)字量是可以復(fù)用的。當(dāng)輸入模擬量時(shí),會(huì)把模擬信號(hào)直接送到A/D轉(zhuǎn)換器;當(dāng)輸入數(shù)字量時(shí),會(huì)把外部數(shù)字信號(hào)送到

PORTAD寄存器以供讀取。第25頁/共35頁第26頁/共35頁A/D轉(zhuǎn)換結(jié)果寄存器—ATDDRxATDDR0—ATDDR7:0—7通道的結(jié)果寄存器。A/D轉(zhuǎn)換的結(jié)果需要從這幾個(gè)寄存器中讀取。每個(gè)16位寄存器可以分成2個(gè)8位的寄存器來讀取,分別為ATDDRxH和ATDDRxL。

注意轉(zhuǎn)換結(jié)果在這8個(gè)16位寄存器中的存儲(chǔ)格式。以10位左、右對(duì)齊為例:左對(duì)齊10位數(shù)據(jù)另外還要注意有符號(hào)數(shù)據(jù)和無符號(hào)數(shù)據(jù)的區(qū)別?!?/p>

×

×

×

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×右對(duì)齊10位數(shù)據(jù)×第27頁/共35頁×××××√√√√√√√√√√A/D模塊的中斷系統(tǒng)

ATD模塊只有一個(gè)中斷源--隊(duì)列轉(zhuǎn)換完畢中斷ATDCTL2寄存器ASCIE:A/D隊(duì)列轉(zhuǎn)換完成中斷允許。SCF:A/D隊(duì)列轉(zhuǎn)換完成中斷標(biāo)志。第28頁/共35頁

利用MCU的ATD模塊進(jìn)行AD

轉(zhuǎn)換實(shí)驗(yàn)。ATD通道0接電位器,通過通道0采集模擬量。實(shí)例第29頁/共35頁unsigned

int

result;void

main(void){EnableInterrupts;ATD0CTL2=0x80;//使能AD,正常清除標(biāo)志,不使用外部觸發(fā)ATD0CTL3=0x08;//只轉(zhuǎn)換一個(gè)通道

ATD0CTL4=0x25;//10位精度,12分頻ATD0CTL5=0xb0;//右對(duì)齊,無符號(hào),掃描模式,使用通道0for(;;){while(!ATD0STAT0_SCF);//等待當(dāng)前隊(duì)列轉(zhuǎn)換完成//

讀結(jié)果寄存器中的值以便使//清除隊(duì)列完成標(biāo)志result=ATD0DR0;用ATD0STAT0_SCF=1;/*以下是其他代碼*/}}第30頁/共35頁練習(xí)通道15,即ATD1的07通道。

練習(xí)1:采用查詢方式,只轉(zhuǎn)換一個(gè)通道,隊(duì)列長度為1,非FIFO模式,10位精度,12分頻,右對(duì)齊、無符號(hào)、掃

描模式不斷轉(zhuǎn)換。

練習(xí)2:采用中斷方式,只轉(zhuǎn)換一個(gè)通道,隊(duì)列長度為1,非FIFO模式,8位精度,8分頻,右對(duì)齊、無符號(hào)、掃描

模式不斷轉(zhuǎn)換。

練習(xí)3:采用中斷方式,只轉(zhuǎn)換一

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