材料測試方法習(xí)題

PAGEPAGE1材料測試方法習(xí)題1-1計算0.071nm(MoKα)和0.154nm(CuKα)的X-射線的振動頻率和能量。1-2計算當(dāng)管電壓為50kV時，電子在與靶碰撞時的速度與動能以及所發(fā)射的連續(xù)譜的短波限和光子的最大動能.1-3分析下列熒光輻射產(chǎn)生的可能性，為什么？用CuKαX射線激發(fā)CuKα熒光輻射；用CuKβX射線激發(fā)CuKα熒光輻射；用CuKβX射線激發(fā)CuLα熒光輻射；1-4X射線與物質(zhì)有哪些相互作用？規(guī)律如何？對分析有何影響？1-5為使CuKα線的強(qiáng)度衰減50%，需要多厚的Ni濾波片？（Ni的密度為8.9g/cm3）1-6試計算Cu的K系激發(fā)電壓。1-7試計算Cu的Kα1射線的波長。1-8產(chǎn)生X射線需具備什么條件？1-9連續(xù)X射線譜是如何產(chǎn)生的？1-10計算空氣對CuKα的質(zhì)量吸收系數(shù)和線吸收系數(shù)（假定空氣中只有質(zhì)量數(shù)為80％的氮、質(zhì)量分?jǐn)?shù)20％的氧，空氣的密度為1.29＊10-3g/cm31-11標(biāo)識X射線與熒光X射線的產(chǎn)生機(jī)理有何異同？某物質(zhì)的K系熒光X射線波長是否等于它的K系標(biāo)識X射線波長？1-12在立方點(diǎn)陣中畫出下面的點(diǎn)陣面和結(jié)點(diǎn)方向。(010)(0)(113)[10][201][101]1-13證實（1-10）、（1-21）、（-312）屬于[111]晶帶。1-14當(dāng)波長為λ的X射線在晶體中發(fā)生衍射時，相鄰兩（hkl）晶面衍射線的波程差是多少？相鄰兩個HKL干涉面的波程差又是多少？1-15對于晶粒直徑分別為100、75、50、25nm的粉末衍射圖形，請計算由于晶粒細(xì)化引起的衍射條寬化幅度B（設(shè)θ=45°，λ=0.15nm）。又，對于晶粒直徑為25nm的粉末，試計算θ=10°，45°，80°的B值。1-16用粉末相機(jī)得到如下角度的譜線，試求出晶面間距（數(shù)字為θ角，所用射線為CuKα）。12.54°（m）,14.48°(vs),20.70°(s),24.25°(m),25.70°(w),30.04°(vw),33.04°(vw),34.02°(w)(s:strong,m:medium,w:weak,v:very)1-17求出德拜相機(jī)（5.73cm直徑，CuKα輻射）在θ=10°、35°、60°、85°時的Kα雙重線的間距，用角度和厘米表示。1-18簡述定量分析的基本原理及定量線的選擇原則。1-19德拜相機(jī)組成？各部件的作用是什么？測樣時相機(jī)的底相的安裝方式有哪些？各適用于什么樣地方？1-20為什么說衍射線束的強(qiáng)度與晶胞中的原子位置和種類有關(guān)？1-21定量分析的影響因素及克服方法。1-22為什么衍射儀法記錄的始終是平行于試樣表面的晶面的衍射？不平行的表面的晶面是否也有衍射產(chǎn)生？1-23、簡述定性分析的一般原理及注意點(diǎn)。1-24、內(nèi)標(biāo)法中內(nèi)標(biāo)物質(zhì)的選擇原則。

2-1、電子波有何特征？與可見光有何異同？2-2、電磁透鏡的像差是怎樣產(chǎn)生的，如何來減少和消除像差？2-3、說明影響光學(xué)顯微鏡和電磁透鏡分辨率的關(guān)鍵因素是什么？如何提高電磁透鏡的分辨率？2-4、電磁透鏡景深和焦長主要受哪些因素影響？說明電磁透鏡的景深大，焦長長是什么因素影響的結(jié)果？2-5、透射電鏡主要有幾大系統(tǒng)構(gòu)成？各系統(tǒng)之間關(guān)系如何？2-6、照明系統(tǒng)的作用是什么？它應(yīng)滿足什么要求？2-7、成像系統(tǒng)的主要構(gòu)成及其特點(diǎn)是什么？2-8、透射電鏡中有哪些主要光闌，在什么位置？其作用如何？2-9、復(fù)型樣品是采用什么材料和什么工藝制備出來的？2-10、復(fù)型樣品在透射電鏡下的襯度是如何形成的？2-11、限制復(fù)型樣品的分辨率的主要因素是什么？答：限制復(fù)型樣品的分辨率的主要因素是復(fù)型材料粒子尺寸。其尺寸越小，分辨率越高。2-12、說明如何用透射電鏡觀察超細(xì)粉末的尺寸和形態(tài)？如何制備樣品？2-13、萃取復(fù)型可用來分析哪些組織結(jié)構(gòu)？得到什么信息？2-14、分析電子衍射與X衍射有何異同？2-15、制備薄膜樣品的基本要求是什么？具體工藝過程如何？雙噴減薄與離子減薄各適用于制備什么樣品？2-16、什么是衍射襯度？它與質(zhì)厚襯度有什么區(qū)別？2-17、電子束入射固體樣品表面會激發(fā)哪些信號？它們有哪些特點(diǎn)和用途？2-18、掃描電鏡的分辨率受哪些因素影響，用不同的信號成像時，其分辨率有何不同？所謂掃描電鏡的分辨率是指用何種信號成像時的分辨率？2-19、掃描電鏡的成像原理與透射電鏡有何不同？2-20、二次電子像和背散射電子像在顯示表面形貌襯度時有何相同與不同之處？2-21、說明背散射電子像和吸收電子像的原子序數(shù)襯度形成原理，并舉例說明在分析樣品中元素分布的應(yīng)用。2-22、當(dāng)電子束入射重元素和輕元素時，其作用體積有何不同？各自產(chǎn)生的信號的分辨率有何特點(diǎn)？2-23、二次電子像景深很大，樣品凹坑底部都能清楚地顯示出來，從而使圖像的立體感很強(qiáng)，其原因何在？2-24、電子探針儀與掃描電鏡有何異同？電子探針儀如何與掃描電鏡和透射電鏡配合進(jìn)行組織結(jié)構(gòu)與微區(qū)化學(xué)成分的同位分析？2-25、波譜儀和能譜儀各有什么缺點(diǎn)？2-26、舉例說明電子探針的三種工作方式（點(diǎn)、線、面）在顯微成分分析中的應(yīng)用。

3-1、差熱曲線上峰谷產(chǎn)生的原因可能是什么？3-2、要使差熱曲線有較高的靈敏度，可采取什么措施？若要使差熱峰谷有較準(zhǔn)確的出峰溫度和較高的分辨率，應(yīng)采取什么措施？3-3、利用