超聲波檢測(cè)工藝規(guī)程

超聲波檢測(cè)工藝規(guī)程適用范圍1.1本工藝適用于板厚為6的板材、碳素鋼和低合金鋼鍛件、母材壁厚8的全焊透熔化焊對(duì)接焊縫及壁厚大于等于，管徑為57碳素鋼和低合金石油天然氣長(zhǎng)輸、集輸和其他油氣管道環(huán)向?qū)雍缚p、鋼質(zhì)儲(chǔ)罐對(duì)接焊縫的超聲波檢測(cè)等。1.2本工藝規(guī)定了使用A型脈沖反射式超聲波探傷儀進(jìn)行檢測(cè)過(guò)程中，對(duì)受檢設(shè)備做出準(zhǔn)確判定應(yīng)遵循的一般程序和要求。1.3引用標(biāo)準(zhǔn)JB4730/T-2005《承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)》SY/T4109-2005《石油天然氣鋼質(zhì)管道無(wú)損檢測(cè)》GB11345-89《鋼焊縫手工超聲波探傷方法和探傷結(jié)果的分級(jí)》JB/T9214-1999《A型脈沖反射式超聲探傷系統(tǒng) 測(cè)試方法》JB/T10062-1999《超聲探傷用探頭性能測(cè)試方法》GB50128-2005《立式圓筒形鋼制焊接儲(chǔ)罐施工及驗(yàn)收規(guī)范》對(duì)檢測(cè)人員的要求2.1從事超聲波檢測(cè)人員必須經(jīng)過(guò)培訓(xùn)，持證上崗。只有取得質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督部門頒發(fā)的超聲波檢測(cè)技術(shù)等級(jí)證書(shū)的人，方可獨(dú)立從事與該等級(jí)相應(yīng)的超聲波檢測(cè)工作。2.2檢測(cè)人員應(yīng)具有良好的身體素質(zhì)，其校正視力不得低于 5.0，并每年檢查一次。2.3檢測(cè)人員應(yīng)嚴(yán)格執(zhí)行《檢測(cè)作業(yè)安全防護(hù)指導(dǎo)書(shū)》和其它安全防護(hù)規(guī)定，確保安全生產(chǎn)。1/18檢測(cè)程序3.1根據(jù)工程特點(diǎn)和本工藝編制具體的《無(wú)損檢測(cè)技術(shù)方案》。3.2受檢設(shè)備經(jīng)外觀檢查合格后，由現(xiàn)場(chǎng)監(jiān)理或檢驗(yàn)員開(kāi)據(jù)《無(wú)損檢測(cè)指令》或《無(wú)損檢測(cè)委托單》到檢測(cè)中心。3.3檢測(cè)人員按指令或委托單要求進(jìn)行檢測(cè)準(zhǔn)備，技術(shù)人員根據(jù)實(shí)際情況編制《探傷工藝卡》。3.4檢測(cè)人員按《超聲波探傷儀調(diào)試作業(yè)指導(dǎo)書(shū)》等工藝文件進(jìn)行設(shè)備調(diào)試。3.5外觀檢查合格后，施加耦合劑，實(shí)施檢測(cè)，做好《超聲波檢測(cè)記錄》。3.7根據(jù)檢測(cè)結(jié)果和委托單，填寫(xiě)相應(yīng)的回執(zhí)單或合格通知單。若有返修，還應(yīng)出據(jù)《返修通知單》，標(biāo)明返修位置等。將回執(zhí)單和返修通知單遞交監(jiān)理或檢驗(yàn)員，同時(shí)對(duì)受檢設(shè)備進(jìn)行檢驗(yàn)和試驗(yàn)狀態(tài)標(biāo)識(shí)。3.8返修后，按要求重新進(jìn)行檢測(cè)。3.9在檢測(cè)過(guò)程中應(yīng)有Ⅱ或Ⅲ級(jí)人員在現(xiàn)場(chǎng)。所有的檢測(cè)工作完成后，由具有超聲波Ⅱ或Ⅲ級(jí)人員出據(jù)《超聲波檢測(cè)報(bào)告》，由技術(shù)負(fù)責(zé)人或其授權(quán)人審核。探傷儀、探頭、試塊和系統(tǒng)性能的一般要求4.1探傷儀采用A型脈沖反射式探傷儀，工作頻率范圍為 0.5-10MHz，儀器至少在熒光屏滿刻度80％范圍內(nèi)呈線性顯示。探傷儀應(yīng)具有80dB以上的連續(xù)可調(diào)衰減器，步進(jìn)級(jí)每檔不大于2dB，其精度為任意相鄰12dB誤差在±1dB以內(nèi)，最大累計(jì)誤差不超過(guò)1dB，水平線性誤差不超過(guò)1％，垂直線性誤差不超過(guò)5％。4.2探頭晶片有效面積一般不應(yīng)超過(guò)2,且任一邊長(zhǎng)不應(yīng)大于。單斜探頭聲束軸線水平偏離角不應(yīng)大于2o，主聲束垂直方向不應(yīng)有明顯的雙峰。4.3探傷儀和探頭的系統(tǒng)性能2/18在達(dá)到所探工作的最大檢測(cè)聲程時(shí)，其有效靈敏度余量應(yīng)大于或等于10dB。儀器和直探頭組合的始脈沖寬度：對(duì)于頻率為5MHz的探頭，其占寬不得大于；對(duì)于頻率為2.5MHz的探頭，其占寬不得大于。直探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)大于或等于 30dB，斜探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)大于或等于6dB。4.4超聲波檢測(cè)的一般要求檢測(cè)時(shí)，應(yīng)盡量掃查到工作的整個(gè)被檢區(qū)域，探頭的每次掃查復(fù)蓋率應(yīng)大于探頭直徑的15％。探頭的掃查速度不應(yīng)超過(guò) /s。當(dāng)采用自動(dòng)報(bào)警裝置掃查時(shí)，不受此限。掃查靈敏度至少應(yīng)比基準(zhǔn)靈敏度高 6dB。應(yīng)采用透聲性好且不損傷受檢設(shè)備表面的耦合劑，如機(jī)油、漿糊、甘油和水等。檢測(cè)面應(yīng)經(jīng)外觀檢查合格，所有影響超聲檢測(cè)的銹蝕、飛濺和污物都應(yīng)予以清除，其表面粗糙度應(yīng)符合檢測(cè)要求。在制作距離--波幅曲線時(shí)，應(yīng)考慮各種耦合補(bǔ)償。4.5校準(zhǔn)校準(zhǔn)應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)試塊上進(jìn)行，校準(zhǔn)中應(yīng)使超聲主聲束垂直對(duì)準(zhǔn)反射體的軸線，以獲得穩(wěn)定的和最大的反射信號(hào)。儀器在開(kāi)始使用時(shí)，應(yīng)對(duì)其水平線性進(jìn)行測(cè)定。使用中，每隔三個(gè)月至少應(yīng)對(duì)儀器的水平線和垂直線性進(jìn)行一次測(cè)定。斜探頭使用前，應(yīng)進(jìn)行前沿距離、K值、主聲束偏離、靈敏度余量和分辨力等的校準(zhǔn)。使用過(guò)程中，每個(gè)工作日應(yīng)校準(zhǔn)前沿距離、K值和主聲束偏離。直探頭使用前檢查始脈沖占寬、靈敏度余量和分辨力。3/184.6儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核復(fù)核的時(shí)機(jī)：每次檢測(cè)前均應(yīng)對(duì)掃描線、靈敏度進(jìn)行校核，遇有下列情況應(yīng)隨時(shí)進(jìn)行重新校核：校準(zhǔn)后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋紐發(fā)生改變時(shí)；檢測(cè)者懷疑掃描量程或靈敏度有變化時(shí)；連續(xù)工作4小時(shí)以上時(shí)；工作結(jié)束時(shí)。每次檢查結(jié)束前，應(yīng)對(duì)掃描量程進(jìn)行復(fù)核。如果任意一點(diǎn)在掃描線上的偏移超過(guò)掃描讀數(shù)的10％，則掃描量程應(yīng)予以重新調(diào)整，并對(duì)上一次復(fù)核以來(lái)所有的檢測(cè)部位進(jìn)行復(fù)驗(yàn)。每次檢查結(jié)束前，應(yīng)對(duì)掃查靈敏度進(jìn)行復(fù)核，距離--波幅曲線的校核一般不少于3點(diǎn)。校核時(shí)，如曲線上任何一點(diǎn)幅度下降2dB，則應(yīng)對(duì)上一次以來(lái)所有的檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行復(fù)檢；如幅度上升2dB，則應(yīng)對(duì)所有的記錄信號(hào)進(jìn)行重新評(píng)定。4.7試塊試塊應(yīng)妥善保管，各種缺欠孔要經(jīng)常清理。試塊選擇應(yīng)注意外形尺寸應(yīng)能代表被檢工件的特征，試塊的厚度應(yīng)與被檢工作的厚度相對(duì)應(yīng)。如果涉及到兩種或兩種以上不同厚度的部件進(jìn)行熔焊時(shí)，試塊的厚度應(yīng)由其最大厚度來(lái)確定。現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)時(shí)，可以采用其它型式的等效試塊。4.8探傷儀、探頭、試塊和系統(tǒng)性能測(cè)試按《超聲波探傷儀調(diào)試作業(yè)指導(dǎo)書(shū)》進(jìn)行。鋼板的超聲檢測(cè)4/18本條適用于板厚 6～的板材的超聲檢測(cè)和缺欠等級(jí)評(píng)定。5.1探頭的選用按下表進(jìn)行。5.2標(biāo)準(zhǔn)試塊用雙晶直探頭檢測(cè)壁厚小于或等于的鋼板時(shí)，采用 CBⅠ標(biāo)準(zhǔn)試塊。用單晶直探頭檢測(cè)壁厚大于的鋼板時(shí)，采用CBⅡ標(biāo)準(zhǔn)試塊。試塊厚度與被檢鋼板厚度相近。5.3檢測(cè)時(shí)機(jī)對(duì)于要求淬火、正火或回火處理的鋼板，檢測(cè)應(yīng)在熱處理后進(jìn)行。5.4檢測(cè)靈敏度板厚小于或等于時(shí)，用CBⅠ試塊將工件等厚部位第一次底波高度調(diào)整到滿刻度的50％，再提高10dB作為基準(zhǔn)靈敏度。板厚大于時(shí)，應(yīng)將CBⅡ試塊Ф5平底孔第一次反射波高調(diào)整到滿刻度的50％作為檢測(cè)靈敏度。板厚大于探頭的三倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，也可取鋼板無(wú)缺欠的完好部位的第一次底波來(lái)校準(zhǔn)靈敏度，其結(jié)果應(yīng)與5.4.2條相一致。5.5檢測(cè)方法檢測(cè)面可選鋼板的任一軋制平面進(jìn)行檢測(cè)。若檢測(cè)人員認(rèn)為需要或設(shè)計(jì)上有要求時(shí)，也可對(duì)鋼板的上下兩軋制平面分別進(jìn)行檢測(cè)。掃查方式探頭沿垂直于鋼板壓延方向，按間距不大于的平行線進(jìn)行掃查。在鋼板剖口預(yù)定線兩側(cè)各（當(dāng)板厚超過(guò)時(shí)，以板厚的一半為準(zhǔn)）內(nèi)應(yīng)作100％掃查。根據(jù)合同、技術(shù)協(xié)議書(shū)或圖樣的要求，也可進(jìn)行其它形式的掃查。5/185.6缺欠記錄在檢測(cè)過(guò)程中出現(xiàn)下列三種情況之一者及作為缺欠：a)缺欠第一次反射波（F1）波高大于或等于滿刻度的 50％，即F1≥50％者。當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳ǎ˙1）波高未達(dá)到滿刻度，此時(shí)，缺欠第一次反射波（F1）波高與底面第一次反射波（B1）之比大于或等于的50％，即B1≤100％，而F1/B1≥％50者。當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳ǎ˙1）波高低于滿刻度的50％，即B1<50％者。缺欠的邊界或指示長(zhǎng)度的測(cè)定方法檢出缺欠后，應(yīng)在它的周圍繼續(xù)進(jìn)行檢測(cè)，以確定缺欠的延伸及范圍。用雙晶直探頭確定缺欠的邊界或指示長(zhǎng)度時(shí)，探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直，使缺欠波下降到檢測(cè)靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25％或使缺欠第一次反射波高與底面第一次反射波高之比為50％。此時(shí)，探頭中心的移動(dòng)距離即為缺欠的指示長(zhǎng)度，探頭中心點(diǎn)即為缺欠的邊界點(diǎn)。兩種方法測(cè)得的結(jié)果以較嚴(yán)重者為準(zhǔn)。用單直探頭確定缺欠的邊界或指示長(zhǎng)度時(shí)，移動(dòng)探頭，使缺欠第一次反射波高下降到檢測(cè)靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25％或使缺欠第一次反射波與底面第一次反射波高之比為50％。此時(shí)，探頭中心的移動(dòng)距離即為缺欠的指示長(zhǎng)度，探頭中心點(diǎn)即為缺欠的邊界點(diǎn)。兩種方法測(cè)得的結(jié)果以較嚴(yán)重者為準(zhǔn)。確定c)條邊界或指示長(zhǎng)度時(shí)，移動(dòng)探頭，使底面第一次反射波升高到熒光屏滿刻度的50％。此時(shí)，探頭中心的移動(dòng)距離即為缺欠的指示長(zhǎng)度，探頭中心點(diǎn)即為缺欠的邊界點(diǎn)。當(dāng)采用第二次缺欠波和第二次底波來(lái)評(píng)定缺欠時(shí)，檢測(cè)靈敏度應(yīng)以相應(yīng)的第二次反射波來(lái)校準(zhǔn)。5.7缺欠的評(píng)定方法6/18缺欠指示長(zhǎng)度的評(píng)定準(zhǔn)則：一個(gè)缺欠按其指示的最大長(zhǎng)度作為該缺欠的指示長(zhǎng)度。若單個(gè)缺欠的指示長(zhǎng)度小于時(shí)，可不做記錄。單個(gè)缺欠指示面積的評(píng)定規(guī)則一個(gè)缺欠按其指示的最大面積作為該缺欠的單個(gè)指示面積。當(dāng)其小于下表時(shí)，可不作記錄。多個(gè)缺欠其相鄰間距小于或間距小于相鄰小缺欠的指示長(zhǎng)度（取其較大值）時(shí)，其各缺欠面積之和作為單個(gè)缺欠指示面積。缺欠面積占有率的評(píng)定規(guī)則：在任一×檢測(cè)面積內(nèi)，按缺欠所占的百分比來(lái)確定。如鋼板面積小于×,可按比例折算。5.8鋼板缺欠等級(jí)評(píng)定缺欠等級(jí)劃分見(jiàn) 5.7.2的表格。在坡口預(yù)定線兩側(cè)各（板厚超過(guò)時(shí)，以板厚的一半為準(zhǔn)）內(nèi)，缺欠的指示長(zhǎng)度大于或等于時(shí)，則應(yīng)評(píng)為Ⅴ級(jí)。在檢測(cè)過(guò)程中，檢測(cè)人員如確認(rèn)鋼板中有白點(diǎn)、裂紋等危害性缺欠存在時(shí)，則應(yīng)評(píng)為Ⅴ級(jí)。鍛件的超聲檢測(cè)本條適用于碳素鋼和低合金鋼鍛件的超聲檢測(cè)和缺欠等級(jí)評(píng)定。不適用于奧氏體鋼等粗晶材料的超聲檢測(cè)，也不適用于內(nèi)外徑之比小于80％的環(huán)形和筒形鍛件的周向橫波檢測(cè)。6.1試塊縱波直探頭標(biāo)準(zhǔn)試塊采用CSⅠ和CSⅡ、CSⅢ試塊，也可自行加工其他對(duì)比試塊?？v波雙晶直探頭標(biāo)準(zhǔn)試塊7/18工件檢測(cè)距離小于時(shí)，應(yīng)采用CSⅡ試塊。b)縱波雙晶直探頭標(biāo)準(zhǔn)試塊的形狀和尺寸應(yīng)符合 JB4730表5和圖5的規(guī)定。檢測(cè)面是曲面時(shí)，應(yīng)采用CSⅢ標(biāo)準(zhǔn)試塊來(lái)測(cè)定由于曲率不同而引起的聲能損失，其形狀和尺寸符合JB4730圖6的規(guī)定。6.2檢測(cè)時(shí)機(jī)原則上應(yīng)安排在熱處理后，槽、孔、臺(tái)階加工前進(jìn)行。若熱處理后鍛件形狀不適合超聲檢測(cè)時(shí)，也可在熱處理前進(jìn)行，但在熱處理后仍應(yīng)對(duì)鍛件進(jìn)行盡可能完全的檢測(cè)。檢測(cè)面的表面粗糙度Ra為6.3um。6.3檢測(cè)方法鍛件一般應(yīng)進(jìn)行縱波檢測(cè)。對(duì)筒形和環(huán)形鍛件還應(yīng)進(jìn)行橫波檢測(cè)，但掃查部位和驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)由供需雙方商定。橫波檢測(cè)應(yīng)按 JB4730附錄C的要求進(jìn)行?？v波檢測(cè)原則上應(yīng)從兩個(gè)相互垂直的方向進(jìn)行檢測(cè)，盡可能檢測(cè)到鍛件的全體積。鍛件厚度超過(guò)時(shí)，應(yīng)從相對(duì)兩端面進(jìn)行100％的掃查。6.4檢測(cè)靈敏度的確定縱波直探頭檢測(cè)靈敏度的確定當(dāng)被檢部位的厚度大于或等于探頭的三倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，原則上可選用底波計(jì)算法確定檢測(cè)靈敏度。對(duì)由于幾何形狀所限，不能獲得底波或壁厚小于探頭的三倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，可直接采用CSⅠ標(biāo)準(zhǔn)試塊確定檢測(cè)靈敏度。縱波雙晶直探頭檢測(cè)靈敏度的確定選擇CSⅡ試塊，并依次測(cè)試一組不同檢測(cè)距離的 Ф3平底孔（至少三個(gè)）。調(diào)節(jié)衰減器，使其中最高的回波幅度達(dá)到滿刻度的80％。不改變儀器的參數(shù)，測(cè)出其它平底孔回波的最高點(diǎn)，將其標(biāo)在熒光屏上，連接這些點(diǎn)，即是8/18對(duì)應(yīng)于不同直徑平底孔的縱波雙晶直探頭的距離—波幅曲線，并以此作為檢測(cè)靈敏度。檢測(cè)靈敏度一般不得低于最大檢測(cè)距離的 Ф平底孔當(dāng)量直徑。6.5工件材質(zhì)衰減系數(shù)的確定在工件無(wú)缺欠完好區(qū)域，選取三處檢測(cè)面與底面平行且有代表性的部位，調(diào)節(jié)儀器使第一次底面回波幅度（B1）為滿刻度的50％，記錄此時(shí)衰減器的讀數(shù)，再調(diào)節(jié)衰減器，使第二次底面回波幅度（B2）為滿刻度的50％，兩次衰減器讀數(shù)之差即為（B1-B2）的dB差值。衰減系數(shù)的計(jì)算公式為：（ T≥3N）B1-B2）-6dBα= 2T當(dāng)T<3N，且滿足n>3N/t,m=2n:α=（B1-B2）-6dB2(m-n)T式中：α--衰減系數(shù)，dB/m（單程）；（B1-B2）--兩次衰減器讀數(shù)之差， dB；T—工件檢測(cè)厚度，mm。m、n—底波反射次數(shù)。工件上三處衰減系數(shù)的平均值即作為該工件的衰減系數(shù)。6.6缺欠當(dāng)量的確定采用AVG曲線及計(jì)算法確定缺欠的當(dāng)量。對(duì)于三倍近場(chǎng)區(qū)內(nèi)的缺欠，可采用單直探頭或雙晶直探頭的距離—波幅曲線來(lái)確定缺欠當(dāng)量。也可采用其它等效方法來(lái)確定。9/18計(jì)算缺欠當(dāng)量時(shí)，當(dāng)材質(zhì)衰減系數(shù)超過(guò) 4dB/m，應(yīng)考慮修正。6.7缺欠記錄記錄當(dāng)量直徑超過(guò) Φ的單個(gè)缺欠的波幅和位置。密集性缺欠：記錄密集性缺欠中最大當(dāng)量缺欠的位置和分布。餅形鍛件應(yīng)記錄大于或等于Φ當(dāng)量直徑的缺欠密集區(qū)，其它鍛件應(yīng)記錄大于或等于Φ直徑的缺欠密集區(qū)。缺欠密集區(qū)面積以×的方塊作為最小量度單位，其邊界可由6dB法決定。應(yīng)按表二要求記錄底波降低量。衰減系數(shù)：若供需雙方有規(guī)定時(shí)，應(yīng)記錄衰減系數(shù)。6.8缺欠等級(jí)評(píng)定單個(gè)缺欠等級(jí)評(píng)定見(jiàn)一。底波降低量的等級(jí)評(píng)定見(jiàn)二。密集區(qū)缺欠等級(jí)評(píng)定見(jiàn)三。表一 單個(gè)缺欠等級(jí)評(píng)定表二 由缺欠引起底波降低量的等級(jí)評(píng)定表三 密集區(qū)缺欠的等級(jí)評(píng)定一、表二和表三的等級(jí)應(yīng)作為獨(dú)立的等級(jí)分別使用。如果工件的材質(zhì)衰減對(duì)檢測(cè)效果有較大的影響，應(yīng)重新進(jìn)行熱處理。如果被檢測(cè)人員判定為危害性缺欠時(shí)，鍛件的質(zhì)量等級(jí)為 Ⅴ級(jí)。。鍛件修補(bǔ)后，應(yīng)按本標(biāo)準(zhǔn)的要求進(jìn)行檢測(cè)和評(píng)定。10/18焊縫的超聲波檢測(cè)（JB4730標(biāo)準(zhǔn)）本條適用于母材厚度為6～全焊透熔化焊對(duì)接焊縫的超聲檢測(cè)。不適用于鑄鋼及奧氏體鋼焊縫,也不適用于外徑小于或內(nèi)外徑之比小于80％的縱向焊縫檢測(cè)。7.1試塊采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊為 CSKⅠ-A、CSKⅡ-A、CSKⅢ-A、CSKⅣ-A。CSKⅠ-A、CSK-A、CSKⅢ-A試塊適用壁厚范圍為6～的焊縫；CSKⅠ-A和CSKⅣ-A系列試塊適用壁厚范圍大于120～的焊縫。在滿足靈敏度要求時(shí)，也可采用其它型式的等效試塊。檢測(cè)曲面工件時(shí)，如檢測(cè)面曲率半徑R小于等于W2/4時(shí)（W為探頭接觸面寬度，環(huán)縫檢測(cè)時(shí)為探頭寬度，縱縫檢測(cè)時(shí)為探頭長(zhǎng)度），應(yīng)采用與檢測(cè)面曲率相同的對(duì)比試塊，反射孔的位置可參照對(duì)比試塊確定。試塊應(yīng)滿足：b≥2λS/D0式中：b—試塊寬度，mm； λ—聲波波長(zhǎng)，mm；S—聲程，mm； D0—聲源有效直徑，mm。7.2檢測(cè)準(zhǔn)備檢測(cè)面焊縫檢測(cè)一般采用一種K值頭、利用一次反射法在焊縫的單面雙側(cè)對(duì)整個(gè)焊接接頭進(jìn)行檢測(cè)。當(dāng)母材厚度大于時(shí)，采用雙面雙側(cè)的直射波檢測(cè)。對(duì)于要求比較高的焊縫，根據(jù)實(shí)際需要也可將焊縫余高磨平，直接在焊縫上進(jìn)行檢測(cè)。檢測(cè)區(qū)域的寬度應(yīng)是焊縫本身，再加上焊縫兩側(cè)各相當(dāng)于母材厚度30％的一段區(qū)域，這個(gè)區(qū)域最小為，最大為。11/18探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)清除焊接飛濺、鐵屑、油垢及其它雜質(zhì)。檢測(cè)表面應(yīng)平整光滑，其表面粗糙度Ra應(yīng)小于等于6.3um,一般應(yīng)進(jìn)行打磨。移動(dòng)區(qū)范圍應(yīng)滿足下列要求：采用直射法時(shí)，移動(dòng)區(qū)應(yīng)不少于0.75TK；采用一次反射法或串列式掃查時(shí)，移動(dòng)區(qū)應(yīng)不少于1.25TK（T—板厚；K—探頭K值。）。去除余高的焊縫，應(yīng)將余高打磨到與鄰近母材平齊。保留余高的焊縫，如果焊縫表面有咬邊、較大的隆起和凹陷等也應(yīng)進(jìn)行適當(dāng)?shù)男弈?，并作圓滑過(guò)渡以免影響檢驗(yàn)結(jié)果的評(píng)定。探頭K值的選擇.1探頭K值的選擇按下表規(guī)定選擇：.2串列式掃查，推薦選用兩個(gè) K1值的探頭，兩探頭實(shí)際折射角相差不應(yīng)超過(guò)2o，探頭前沿長(zhǎng)度相差應(yīng)小于。為便于探測(cè)厚焊縫坡口邊緣未熔合缺欠，亦可選用兩個(gè)不同K值的探頭，但兩個(gè)探頭K值均應(yīng)在0.7～1.43范圍。7.3距離—波幅曲線的繪制曲線按所用探頭和儀器在相應(yīng)的試塊上實(shí)測(cè)的數(shù)據(jù)繪制而成，該曲線族由評(píng)定線、定量線和判廢線組成。評(píng)定線與定量線之間（包括評(píng)定線）為Ⅰ區(qū)，定量線與判廢線之間（包括定量線）為Ⅱ區(qū)，判廢線及其以上為Ⅲ區(qū)。距離—波幅曲線的靈敏度選擇壁厚為6～120mm的焊縫，其距離—波幅曲線靈敏度按表四規(guī)定；壁厚大于120～400mm的焊縫，其距離—波幅曲線靈敏度按表五規(guī)定；直探頭的距離—波幅曲線靈敏度按表六規(guī)定；檢測(cè)橫向缺欠時(shí)，應(yīng)將各線靈敏度均提高 6dB；檢測(cè)面曲率半徑R小于或等于W2/4時(shí)，距離—波幅曲線的繪制應(yīng)在曲面對(duì)比試塊上進(jìn)行。12/18工件的表面耦合損失和材質(zhì)衰減應(yīng)與試塊相同，在一跨距離聲程內(nèi)最大傳輸損失差不超過(guò)2dB時(shí)可以不進(jìn)行補(bǔ)償。表四 距離—波幅曲線的靈敏度（JB4730）表五 距離—波幅曲線的靈敏度（JB4730）表六 T型焊接接頭直探頭距離—波幅曲線的靈敏度（JB4730）7.4檢測(cè)方法平板對(duì)接焊縫的檢測(cè)為檢測(cè)縱向缺欠，原則上采用一種K值或兩種K值探頭在焊縫的單面雙側(cè)進(jìn)行檢測(cè)。母材厚度大于時(shí)，采用雙面雙側(cè)檢測(cè)，如受幾何條件限制，也可在焊縫雙面單側(cè)采用兩種K值探頭進(jìn)行檢測(cè)。斜探頭應(yīng)垂直于焊縫中心線放置在檢測(cè)面上，作鋸齒型掃查。探頭前后移動(dòng)的范圍應(yīng)保證掃查到全部焊縫截面。在保持探頭垂直焊縫作前后移動(dòng)的同時(shí)，還應(yīng)作10o～15o的左右轉(zhuǎn)動(dòng)。當(dāng)壁厚大于且單側(cè)坡口角度小于5o時(shí)，應(yīng)采用串列式檢測(cè)。為檢測(cè)焊縫及熱影響區(qū)的橫向缺欠應(yīng)進(jìn)行平行和斜平行掃查。檢測(cè)時(shí)，可在焊縫兩側(cè)邊緣使探頭與焊縫中心線成10o～20o作斜平行掃查。焊縫余高磨平時(shí)，可將探頭放在焊縫及熱影響區(qū)上作兩個(gè)方向的平行掃查。焊縫母材超過(guò)時(shí)，應(yīng)在焊縫的兩面作平行掃查或采用兩種K值探頭（K1和K1.5或K1和K2并用）作單面兩個(gè)方向的平行掃查；必要時(shí)亦可用兩個(gè)K1探頭作串列掃查。對(duì)電渣焊縫還應(yīng)增加與焊縫中心線成 45o的掃查。為確定缺欠的位置、方向和形狀，觀察缺欠動(dòng)態(tài)波形和區(qū)分缺欠信號(hào)或偽缺欠信號(hào)，可采用前后、左右、轉(zhuǎn)角和環(huán)繞等四種探頭基本掃查方式。曲面工件對(duì)接焊縫的檢測(cè).1檢測(cè)面為曲面時(shí)，可盡量按平板對(duì)接焊縫的檢測(cè)方法進(jìn)行檢測(cè)。對(duì)于受幾何條件限制，無(wú)法檢測(cè)的部位應(yīng)予以記錄。.2縱縫檢測(cè)時(shí)，對(duì)比試塊的曲率半徑與檢測(cè)面曲率半徑之差應(yīng)小于10％。13/18根據(jù)工件的曲率和材料厚度選擇探頭K值，并考慮幾何臨界角的限制，確保聲束能掃查到整個(gè)焊縫。探頭接觸面修磨后，應(yīng)注意探頭入射點(diǎn)和K值的變化，并用曲率試塊作實(shí)際測(cè)定。當(dāng)檢測(cè)面曲率半徑R大于W2/4且采用平面對(duì)比試塊調(diào)節(jié)儀器時(shí)，應(yīng)注意到熒光屏指示的缺欠深度或水平距離與缺欠實(shí)際的徑向埋藏深度或水平距離弧長(zhǎng)的差異，必要時(shí)應(yīng)進(jìn)行修正。.3環(huán)縫檢測(cè)時(shí)，對(duì)比試塊的曲率半徑應(yīng)為檢測(cè)面曲率半徑的0.9～1.5倍。7.5缺欠定量檢測(cè)靈敏度應(yīng)調(diào)到定量線靈敏度。對(duì)所有反射波幅超過(guò)定量線的缺欠，均應(yīng)確定其位置、最大反射波幅和缺欠當(dāng)量。7.6缺欠定量應(yīng)根據(jù)缺欠最大反射波幅確定缺欠當(dāng)量直徑 Φ或缺欠指示長(zhǎng)度 ΔL。缺欠當(dāng)量直徑Φ，用當(dāng)量平底孔直徑表示，主要用于直探頭檢測(cè)，可采用公式計(jì)算，距離—波幅曲線和試塊對(duì)比來(lái)確定缺欠當(dāng)量尺寸。缺欠指示長(zhǎng)度 ΔL的測(cè)定采用以下方法：當(dāng)缺欠反射波只有一個(gè)高點(diǎn)，且位于Ⅱ區(qū)或Ⅱ區(qū)以上時(shí)，使波幅降到熒光屏滿刻度的80%后，用6dB法測(cè)其指示長(zhǎng)度。當(dāng)缺欠反射波峰值起伏變化，有多個(gè)高點(diǎn)，且位于Ⅱ區(qū)或Ⅱ區(qū)以上時(shí)，使波幅降到熒光屏滿刻度的80%后，用端點(diǎn)6dB法測(cè)其指示長(zhǎng)度。當(dāng)缺欠反射波峰位于Ⅰ區(qū)時(shí)，如認(rèn)為有必要記錄時(shí)，將探頭左右移動(dòng)，使波幅降到評(píng)定線，以此測(cè)定缺欠指示長(zhǎng)度。7.7缺欠評(píng)定14/18超過(guò)評(píng)定線的信號(hào)應(yīng)注意其是否具有裂紋等危害性缺欠特征，如有懷疑時(shí)，應(yīng)采取改變探頭 K值、增加檢測(cè)面、觀察動(dòng)態(tài)波型并結(jié)合結(jié)構(gòu)工藝特征作判定，如對(duì)波型不能判斷時(shí)，應(yīng)輔以其它檢測(cè)方法作綜合判定。缺欠指示長(zhǎng)度小于時(shí)，按計(jì)。相鄰兩缺欠在一直線上，其間距小于其中較小的缺欠長(zhǎng)度時(shí)，兩缺欠指示長(zhǎng)度之和作為單個(gè)缺欠的指示長(zhǎng)度（不考慮間距）。7.8缺欠等級(jí)評(píng)定不允許存在下列缺欠：反射波幅位于判廢線及Ⅲ區(qū)的缺欠；檢測(cè)人員判定為裂紋等危害性的缺欠。最大反射波幅位于Ⅱ區(qū)的缺欠，根據(jù)其指示長(zhǎng)度按表七規(guī)定予以評(píng)級(jí)。焊接接頭質(zhì)量分級(jí) mm最大反射波幅低于定量線的非裂紋類缺欠，均評(píng)為 Ⅰ級(jí)。不合格缺欠應(yīng)予以返修。返修部位及熱影響區(qū)仍按本標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行檢測(cè)和等級(jí)評(píng)定。8長(zhǎng)輸管道焊縫的超聲波檢測(cè)（ SY4109標(biāo)準(zhǔn)）本條適用于壁厚為5～50mm，管徑為57～1400mm碳素鋼和低合金鋼等金屬材料的石油天然氣長(zhǎng)輸管道、集輸及其站場(chǎng)的管道環(huán)向?qū)雍缚p的超聲檢測(cè)與質(zhì)量分級(jí)；不適用于彎頭與直管、帶頸法蘭與直管，回彎頭與直管對(duì)接接頭的檢測(cè)。8.1試塊采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊為SGB和SRB試塊。SRB試塊用于比較焊縫根部未焊透深度。SGB試塊用于測(cè)定探傷儀、探頭和系統(tǒng)的性能以及對(duì)儀器做調(diào)整和校驗(yàn)。SGB試塊適用范圍見(jiàn)下表：15/188.2檢測(cè)準(zhǔn)備檢測(cè)面焊縫檢測(cè)一般采用一種K值頭，單面雙側(cè)直射法及一次反射法或二次反射法。檢測(cè)區(qū)域的寬度應(yīng)是焊縫本身，再加上焊縫兩側(cè)各區(qū)域。探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)清除焊接飛濺、鐵屑、油垢及其它雜質(zhì)。檢測(cè)表面應(yīng)平整光滑，其表面粗糙度Ra不應(yīng)超過(guò)6.3um,一般應(yīng)進(jìn)行打磨。移動(dòng)區(qū)范圍應(yīng)滿足下列要求：采用一次反射法檢測(cè)時(shí)，探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)不小于1.25PP=2KT（P—探頭移動(dòng)區(qū)； T—板厚；K—折射角正切值。）采用直射法檢測(cè)時(shí)，探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)不小于 0.75P探頭K值的選擇探頭K值的選擇按下表規(guī)定：8.3距離—波幅曲線的繪制曲線按所用探頭和儀器在相應(yīng)的SGB和SRB試塊上實(shí)測(cè)的數(shù)據(jù)繪制而成，該曲線族由評(píng)定線、定量線和判廢線組成。評(píng)定線與定量線之間（包括評(píng)定線）為Ⅰ區(qū)，定量線與判廢線之間（包括定量線）為Ⅱ區(qū)，判廢線及其以上為Ⅲ區(qū)。距離—波幅曲線的靈敏度選擇長(zhǎng)輸管道的距離—波幅曲線靈敏度按下表規(guī)定選擇：8.4檢測(cè)方法采用單面雙側(cè)直射法及一次反射法或二次反射法。探傷靈敏度不低于評(píng)定線靈敏度，對(duì)未焊透靈敏度不低于SRB試塊人工矩形槽反射波峰值點(diǎn)高度。16/18為確定缺欠的位置、方向和形狀，觀察缺欠動(dòng)態(tài)波形和區(qū)分缺欠信號(hào)或偽缺欠信號(hào)，可采用前后、左右、轉(zhuǎn)角和環(huán)繞等四種探頭基本掃查方式。8.5缺欠定量檢測(cè)靈敏度應(yīng)調(diào)到定量線靈敏度。對(duì)波幅超過(guò)評(píng)定線的反射波應(yīng)根據(jù)探頭位置、方向，反射波在熒光屏上的波形和位置及焊縫情況判定是否為缺欠。為探測(cè)縱向缺欠，探頭應(yīng)垂直焊縫中心線做矩形掃查或鋸