實驗6電子探針(能譜儀)結構原理及分析方法_第1頁
實驗6電子探針(能譜儀)結構原理及分析方法_第2頁
實驗6電子探針(能譜儀)結構原理及分析方法_第3頁
實驗6電子探針(能譜儀)結構原理及分析方法_第4頁
全文預覽已結束

下載本文檔

版權說明：本文檔由用戶提供并上傳，收益歸屬內(nèi)容提供方，若內(nèi)容存在侵權，請進行舉報或認領

文檔簡介

實驗6電子探針（能譜儀）結構原理及分析方法一、實驗目的與任務1)構。過探。二、電子探針的結構特點及原理電子針X射線顯微分析儀(簡稱電子探針)利用約1Pm微區(qū)內(nèi)激素征X射線，根征X和定分電鏡子針構掃似外實驗這部分內(nèi)容將參室與X射檢。三、實驗方法及操作步驟對含量元析用察定濃。件()樣品電樣表的析位儀的。()加速壓電為3V選元則于發(fā)電壓，一般選擇加速電壓為分析元素臨界激發(fā)電壓的2～3致樣側，使X射線激發(fā)體積增大同加度元。()電子流征X射線的高X射線強度必大束擇應控制束流條取。析(1析驅動分光譜儀的晶體連續(xù)改變衍射角錄X射隨波。電子探針分析的元素范圍可從鈹(序數(shù)4)到鈾(序數(shù)92，檢測的最低濃度(靈敏度)大致為0.0。()半析的征X正效熒應征X射線強度的影響。實際上，只有樣品是由原子序數(shù)相鄰的兩種元素才誤因用到。()定分析。樣品原子對人射電子的背散射，使能激發(fā)X樣要性量正由的X射原子作收際的X射樣品中由激的的X射線，當其能量征X射界激發(fā)能量發(fā)素征X射線，結果使得兩種元素的特征X射度發(fā)生變化由X征X射線稱次X射線光X，此光。3．分析征X信較適合于分析分。實驗散像二像析實—1。圖實6a是Al-4.0％Cu(質(zhì)量分數(shù))合金的背散射電子像，被選定的直線通過胞狀a-A1實—b是CuKX實—a和6b可見的X射線強度所對應的位置是富Cu的A12Cu在a-A1部X的強度較低說明其固溶的Cu狀cA1晶粒界面內(nèi)側約10m的Cu。分析使入射電子束在樣品表面選定的微區(qū)內(nèi)作光柵掃描，譜儀固定接收某一元素的特征X可微素分示物元偏。元征X位置該元素含高集)低化。實2與實6—1相同的樣實6—2b可以清晰地顯示Cu元在樣品微的。五、實驗內(nèi)容，、作、。六、思考

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明，都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等，如果需要附件，請聯(lián)系上傳者。文件的所有權益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙，網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預覽，若沒有圖紙預覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 人人文庫網(wǎng)僅提供信息存儲空間，僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護處理，對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯，并不能對任何下載內(nèi)容負責。
  • 6. 下載文件中如有侵權或不適當內(nèi)容，請與我們聯(lián)系，我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準確性、安全性和完整性, 同時也不承擔用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

最新文檔

評論

0/150

提交評論