晶體檢驗(yàn)作業(yè)指導(dǎo)書(shū) RevB

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Page1of2作業(yè)指導(dǎo)書(shū):WI-5028發(fā)出日期:審核日期:09/02/2023版次:B編寫(xiě)人:TerryWu批準(zhǔn):晶體檢驗(yàn)作業(yè)指導(dǎo)書(shū)

1.目的和范圍

確定晶體檢查步驟及方法，指導(dǎo)檢驗(yàn)員進(jìn)行晶體來(lái)料的品質(zhì)檢查。具體檢驗(yàn)項(xiàng)目參考《來(lái)料檢驗(yàn)記錄》。2.定義:

2.1不合格品:凡是不符合產(chǎn)品圖紙、工藝文件和技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的產(chǎn)品、無(wú)任何標(biāo)識(shí)的產(chǎn)品。2.2AQL:可接收的質(zhì)量水平。

2.3PlanC=0:零缺陷(樣本經(jīng)檢驗(yàn)后是零缺陷方可接收)。2.5SCAR:針對(duì)安聯(lián)公司內(nèi)部產(chǎn)生不合格品時(shí)，要求責(zé)任部門(mén)采取改正預(yù)防措施的報(bào)告。2.5ICAR:針對(duì)安聯(lián)公司供應(yīng)商產(chǎn)生不合格品時(shí)，要求供應(yīng)商采取改正預(yù)防措施的報(bào)告。2.6NCS:異常通知單，用來(lái)報(bào)告不合格品的表格，同時(shí)請(qǐng)求處置和改正預(yù)防措施。3.職責(zé)

3.1來(lái)料品質(zhì)檢查員負(fù)責(zé)抽樣檢驗(yàn)，鑒別產(chǎn)品是否符合品質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)要求。3.2質(zhì)量工程師根據(jù)異常通知單所反饋來(lái)料不良狀況,確定處理看法。4.授權(quán)

4.1質(zhì)保經(jīng)理5.程序

5.1目檢：

檢查項(xiàng)目外觀內(nèi)容和要求1、引腳平直無(wú)臟污、生銹、氧化。2、標(biāo)識(shí)明了，正確。5.2引腳可焊性試驗(yàn)：

方法為引腳上助焊劑，放入小錫爐(溫度為235±10°C）3秒鐘后拿出，引腳上錫覆蓋

面應(yīng)大于95%以上。若上錫后引腳表面有小氣泡,或焊錫輕易剝落,為上錫不良，屬?lài)?yán)重缺陷。5.3功能檢測(cè)：

1.如是陶瓷晶體用頻率計(jì)數(shù)器測(cè)量振蕩頻率，應(yīng)在規(guī)格要求內(nèi)或與樣板一致（與樣板誤差??0.005MHZ);

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Page2of2作業(yè)指導(dǎo)書(shū):WI-5028發(fā)出日期:審核日期:09/02/2023版次:B編寫(xiě)人:TerryWu批準(zhǔn):晶體檢驗(yàn)作業(yè)指導(dǎo)書(shū)

2.如是石英晶體,應(yīng)用晶體測(cè)試儀測(cè)量其頻率,串聯(lián)諧振電阻靜電容是否符合要求。5.3功能檢測(cè)：

1.如是陶瓷晶體用頻率計(jì)數(shù)器測(cè)量振蕩頻率，應(yīng)在規(guī)格要求內(nèi)或與樣板一致(與樣板誤差??0.005MHZ);

2.如是石英晶體,應(yīng)用晶體測(cè)試儀測(cè)量其頻率,串聯(lián)諧振電阻靜電容是否符合要求。5.4投擲：

每批抽樣式12PCS作投擲試驗(yàn)。按如下要求：引腳向上，非彈簧支架50cmX3次；彈簧支架75cmX3次。

5.5尺寸測(cè)量：

依產(chǎn)品圖紙或產(chǎn)品規(guī)格書(shū)要求。5.6高低溫試驗(yàn)：

首批各抽樣12PCS作高低溫試驗(yàn)，高溫60度X48小時(shí)，低溫-10度X48小時(shí)。6.參考程序

6.1不合格品控制程序AL/QP83016.2改正與預(yù)防措施程序AL/QP85027.表格/記錄

7.1異常通知單FM-0027-XXXX7.2來(lái)料檢驗(yàn)記錄FM-0013-XXXX7.3ICARFM-0028-XXXX7.4