晶體檢驗作業(yè)指導書 RevB

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1.目的和范圍

確定晶體檢查步驟及方法，指導檢驗員進行晶體來料的品質檢查。具體檢驗項目參考《來料檢驗記錄》。2.定義:

2.1不合格品:凡是不符合產品圖紙、工藝文件和技術標準的產品、無任何標識的產品。2.2AQL:可接收的質量水平。

2.3PlanC=0:零缺陷(樣本經檢驗后是零缺陷方可接收)。2.5SCAR:針對安聯(lián)公司內部產生不合格品時，要求責任部門采取改正預防措施的報告。2.5ICAR:針對安聯(lián)公司供應商產生不合格品時，要求供應商采取改正預防措施的報告。2.6NCS:異常通知單，用來報告不合格品的表格，同時請求處置和改正預防措施。3.職責

3.1來料品質檢查員負責抽樣檢驗，鑒別產品是否符合品質標準要求。3.2質量工程師根據異常通知單所反饋來料不良狀況,確定處理看法。4.授權

4.1質保經理5.程序

5.1目檢：

檢查項目外觀內容和要求1、引腳平直無臟污、生銹、氧化。2、標識明了，正確。5.2引腳可焊性試驗：

方法為引腳上助焊劑，放入小錫爐(溫度為235±10°C）3秒鐘后拿出，引腳上錫覆蓋

面應大于95%以上。若上錫后引腳表面有小氣泡,或焊錫輕易剝落,為上錫不良，屬嚴重缺陷。5.3功能檢測：

1.如是陶瓷晶體用頻率計數器測量振蕩頻率，應在規(guī)格要求內或與樣板一致（與樣板誤差??0.005MHZ);

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2.如是石英晶體,應用晶體測試儀測量其頻率,串聯(lián)諧振電阻靜電容是否符合要求。5.3功能檢測：

1.如是陶瓷晶體用頻率計數器測量振蕩頻率，應在規(guī)格要求內或與樣板一致(與樣板誤差??0.005MHZ);

2.如是石英晶體,應用晶體測試儀測量其頻率,串聯(lián)諧振電阻靜電容是否符合要求。5.4投擲：

每批抽樣式12PCS作投擲試驗。按如下要求：引腳向上，非彈簧支架50cmX3次；彈簧支架75cmX3次。

5.5尺寸測量：

依產品圖紙或產品規(guī)格書要求。5.6高低溫試驗：

首批各抽樣12PCS作高低溫試驗，高溫60度X48小時，低溫-10度X48小時。6.參考程序

6.1不合格品控制程序AL/QP83016.2改正與預防措施程序AL/QP85027.表格/記錄

7.1異常通知單FM-0027-XXXX7.2來料檢驗記錄FM-0013-XXXX7.3ICARFM-0028-XXXX7.4