標準解讀
《JJG 101-2004 接觸式干涉儀》是中國國家計量檢定規(guī)程之一,主要針對接觸式干涉儀的檢定方法和技術要求進行了規(guī)定。該標準適用于新制造、使用中以及修理后的接觸式干涉儀的首次檢定和后續(xù)檢定。接觸式干涉儀主要用于測量工件表面形狀誤差和平面度等幾何量參數(shù)。
根據(jù)此標準,接觸式干涉儀需要滿足一定的技術條件才能被認為是合格的,包括但不限于儀器的基本參數(shù)如測量范圍、分辨率、重復性等;同時對環(huán)境條件也有明確要求,比如溫度控制在(20±2)℃范圍內,并且相對濕度不超過75%。
檢定過程中涉及到多個步驟,首先是外觀檢查,確保沒有影響正常使用的缺陷;其次是性能測試,通過一系列實驗來驗證設備是否能夠達到其標稱的技術指標,例如通過標準塊規(guī)或已知尺寸的標準件來進行精度校驗;此外還需進行穩(wěn)定性試驗以評估長時間運行下的表現(xiàn)。
對于不同類型的接觸式干涉儀,具體的操作流程可能會有所差異,但總體上都遵循上述基本原則。完成所有必要的檢測后,如果發(fā)現(xiàn)有任何一項不符合規(guī)定,則需采取相應措施直至滿足要求為止。整個過程由具備資質的專業(yè)人員執(zhí)行,并記錄詳細的測試數(shù)據(jù)與結果供日后參考。
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....
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2004-09-21 頒布
- 2005-03-21 實施
文檔簡介
中華人民共和國國家計量檢定規(guī)程
JJG101—2004
接觸式干涉儀
Contact-typeInterferometers
2004-09-21發(fā)布2005-03-21實施
國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布
JJG101—2004
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接觸式干涉儀檢定規(guī)程??????????????
?JJG101—2004?
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VerificationReulationof代替JJG101—1981?
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Contact-typeInterferometers
本規(guī)程經國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局于年月日批準并自
20040921,
年月日起施行
20050321。
歸口單位:全國幾何量長度計量技術委員會
起草單位:上海市計量測試技術研究院
本規(guī)程委托全國幾何量長度計量技術委員會負責解釋
JJG101—2004
本規(guī)程起草人:
殷德華上海市計量測試技術研究院
()
張鴻順上海市計量測試技術研究院
()
JJG101—2004
目錄
范圍……………………
1(1)
引用文獻………………
2(1)
概述……………………
3(1)
計量性能要求…………
4(2)
干涉濾光片的特性…………………
4.1(2)
平面工作臺帶筋工作臺球筋工作臺的平面度………………
4.2、、(2)
帶筋工作臺中間筋球筋工作臺測頭的高出度…………………
4.3、(2)
平面工作臺的可調性………………
4.4(2)
帶筋工作臺與測量軸線的垂直度…………………
4.5(2)
工作臺工作面的粗糙度……………
4.6(2)
帶筋工作臺球筋工作臺與輔助工作臺的相對位置……………
4.7、(3)
測量力及其調整范圍………………
4.8(3)
測量桿徑向受力時的示值變化……………………
4.9(3)
干涉帶的成像質量和調整的可靠性……………
4.10(3)
干涉帶的對稱性…………………
4.11(3)
測量重復性………………………
4.12(3)
儀器的示值誤差…………………
4.13(3)
平行平晶的平面度和平行度……………………
4.14(3)
通用技術要求…………
5(3)
外觀及各部分相互作用……………
5.1(3)
標識…………………
5.2(4)
計量器具控制…………
6(4)
檢定條件……………
6.1(4)
檢定項目……………
6.2(4)
檢定方法……………
6.3(5)
檢定結果的處理……………………
6.4(8)
檢定周期……………
6.5(8)
附錄測帽的技術要求及檢定方法…………………
A(9)
附錄主要配套檢定工具及其技術要求……………
B(10)
附錄檢定證書及檢定結果通知書內頁格式………
C(12)
JJG101—2004
接觸式干涉儀檢定規(guī)程
1范圍
本規(guī)程適用于接觸式干涉儀的首次檢定后續(xù)檢定和使用中檢驗
、。
2引用文獻
本規(guī)程引用下列文獻
:
通用計量術語及定義
JJF1001—1998
測量不確定度評定與表示
JJF1059—1999
立式接觸式干涉儀
JB/T8233—1999
光學計量儀器用測帽
JB/T9342—1999
使用本規(guī)程時應注意使用上述引用文獻的現(xiàn)行有效版本
,。
3概述
接觸式干涉儀是應用光波干涉原理采用比較法測量長度的儀器主要用于檢定長
,。
度不大于的量塊和其他工件的精密測量
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