GB/T 7354-2003局部放電測(cè)量

ICS19.080K40中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T7354-2003/IEC60270:2000代替GB/T7354—1987放電局測(cè)量Partialdischargeemeasurements（IEC60270:2000.IDT)2003-10-09發(fā)布2004-05-01實(shí)施中華人民共和國(guó)發(fā)布國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

GB/T7354-2003/IEC60270：2000前言范圍規(guī)范性引用文件3定義4試驗(yàn)回路和測(cè)量系統(tǒng)5完整試驗(yàn)回路中的測(cè)量系統(tǒng)的校準(zhǔn)67校準(zhǔn)器和測(cè)量系統(tǒng)特性的檢定·85·················9測(cè)量不確定度及靈敏度…10干擾11直流電壓試驗(yàn)中的局部放電測(cè)量1516附錄A（規(guī)范性附錄）校準(zhǔn)器的性能試驗(yàn)附錄B（資料性附錄）試驗(yàn)回路……附錄（（資料性附錄）電纜、氣體絕緣開關(guān)設(shè)備、電力電容器和帶繞組試品的局部放電測(cè)量28附錄D（資料性附錄）用無(wú)線電干擾儀檢測(cè)局部放電·附錄E（資料性附錄)局部放電參量的數(shù)字采集導(dǎo)則附錄F（資料性附錄)局部放電的非電測(cè)量法附錄G（資料性附錄)29

GB/T7354-2003/IEC60270:2000前本標(biāo)準(zhǔn)等同采用IEC60270：2000《局部放電測(cè)量》(英文版)本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T7354—1987《局部放電測(cè)量》本標(biāo)準(zhǔn)與GB/T7354—1987相比主要變化如下：在在局部放電參量中增加了脈沖重復(fù)頻率N.局放脈沖的相角和發(fā)生瞬時(shí)、平方率等;增加了校準(zhǔn)器、測(cè)量系統(tǒng)和校準(zhǔn)器檢定等章；增加了“校準(zhǔn)器的性能校核”、"局部放電數(shù)字化采集導(dǎo)則”以及“局部放電非電測(cè)量法”等三個(gè)附錄。除此之外.其他章節(jié)與GB/T7354—1987相比也有較大的調(diào)整。本標(biāo)準(zhǔn)中的附錄A為規(guī)范性附錄;附錄B、附錄C、附錄D、附錄E、附錄F、附錄G為資料性附錄本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)電器工業(yè)協(xié)會(huì)提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)高電壓試驗(yàn)技術(shù)和絕緣配合標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(CSBTS/TC163)歸口本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)高電壓試驗(yàn)技術(shù)和絕緣配合標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)解釋。本標(biāo)準(zhǔn)負(fù)責(zé)起草單位：西安高壓電器研究所、武漢高壓研究所。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：王建生、陳倉(cāng)、談克雄、伍志榮、張定國(guó)、李世成、吳長(zhǎng)順、種亮坤本標(biāo)準(zhǔn)1987年10月1日首次發(fā)布，本次為第一次修訂。

GB/T7354-2003/IEC60270:2000部放電范圍本標(biāo)準(zhǔn)適用于電氣設(shè)備、組件和系統(tǒng)在頻率為400Hz及以下的交流電壓試驗(yàn)或直流電壓試驗(yàn)時(shí)產(chǎn)生的局部放電測(cè)量本標(biāo)準(zhǔn)：定義了局部放電的術(shù)語(yǔ)：定義了有關(guān)的被測(cè)參量：規(guī)定了使用的試驗(yàn)回路和測(cè)量回路：規(guī)規(guī)定了通用的模擬及數(shù)字測(cè)量方法：給出了校準(zhǔn)方法及對(duì)校準(zhǔn)儀器的要求；給出了試驗(yàn)程序：給出了區(qū)分局部放電和外界干擾的準(zhǔn)則。本標(biāo)準(zhǔn)條款可用于起草特定電力設(shè)備局部放電測(cè)量的技術(shù)條件。本標(biāo)準(zhǔn)主要涉及脈沖型(短持續(xù)時(shí)間）局部放電的電氣測(cè)量，但也給出了主要用于局部放電定位的非電氣測(cè)量方法（見附錄F).特定電力設(shè)備的特性診斷可由局部放電信號(hào)的數(shù)字化處理（見附錄E)以及主要用于局部放電定位的非電氣測(cè)量方法（見附錄F)完成，本標(biāo)準(zhǔn)主要閘述交流電壓試驗(yàn)時(shí)局部放電的電氣測(cè)量方法，但也提及了在直流電壓試驗(yàn)時(shí)出現(xiàn)的特殊問題(見第11章)。本標(biāo)準(zhǔn)術(shù)語(yǔ)、定義、基本試驗(yàn)回路和程序一般也都適用于其他頻率下所進(jìn)行的試驗(yàn)，但可能要求特殊的試驗(yàn)方法和測(cè)量系統(tǒng)特性·這些要求未在本標(biāo)準(zhǔn)中考電附錄A作為標(biāo)準(zhǔn)要求給出了對(duì)校準(zhǔn)器性能試驗(yàn)的要求規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過(guò)本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件.其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)·然而·鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件·其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。GB/T16927.1高電壓試驗(yàn)技術(shù)第一部分：一般定義和試驗(yàn)要求（GB/T16927.1—1997.eqvIEC60060-1)GB/T16927.2高電壓試驗(yàn)技術(shù)第二部分：測(cè)量系統(tǒng)(GB/T16927.2—1997.eqvIEC60060-2)CISPR16-1無(wú)線電干擾和測(cè)量?jī)x器抗干擾技術(shù)條件及方法第一部分：無(wú)線電干擾和測(cè)量?jī)x器的抗擾性。3定義本標(biāo)準(zhǔn)采用了下述定義、31局部放電(局放）partialdischarge(PD)導(dǎo)體間絕緣僅被部分橋接的電氣放電。這種放電可以在導(dǎo)體附近發(fā)生也可以不在導(dǎo)體附近發(fā)