標準解讀

《GB/T 7242-2010 透鏡中心偏差》是一項國家標準,它規(guī)定了光學透鏡在制造過程中可能出現(xiàn)的中心位置偏差的測量方法及其允許的最大值。該標準適用于各種類型的單片和復合透鏡,對于保證光學系統(tǒng)性能具有重要意義。

根據(jù)此標準,透鏡中心偏差是指實際光軸與理論設計時所預期的理想光軸之間的偏離程度。這種偏差可能會導致成像質量下降或影響整個光學系統(tǒng)的性能。因此,控制并盡可能減小這種偏差是提高光學產品質量的關鍵之一。

標準中詳細描述了幾種不同的測量技術來評估透鏡中心偏差,包括但不限于直接觀測法、投影法以及使用專門設備進行自動檢測等。每種方法都有其適用范圍及特點,在選擇具體實施方式時需考慮被測樣品的具體情況如尺寸大小、形狀復雜度等因素。

此外,《GB/T 7242-2010 透鏡中心偏差》還設定了不同應用場景下透鏡中心偏移量的最大限值。這些限制基于行業(yè)慣例和技術要求制定而成,旨在確保產品能夠滿足基本功能需求的同時也便于制造商之間達成共識。


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....

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  • 現(xiàn)行
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  • 2010-12-01 頒布
  • 2011-05-01 實施
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文檔簡介

ICS011002037020

;

N30...

中華人民共和國國家標準

GB/T7242—2010

代替

GB/T7242—1987

透鏡中心偏差

Centeringerroroflenses

2010-12-01發(fā)布2011-05-01實施

中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布

中國國家標準化管理委員會

GB/T7242—2010

前言

本標準代替透鏡中心誤差

GB/T7242—1987《》。

本標準與版本的主要差異為

GB/T7242—1987:

修改了標準名稱

———;

增加了前言范圍和規(guī)范性引用文件兩個章節(jié)

———、;

更新了引用標準的代號和名稱

———;

增加了表的標題

———1;

修改了表中例和例的基準軸的選定和說明部分的內容

———156“”“”;

增加了表中注的內容

———13;

修改了中心偏差的標注的內容

———“”;

增加了資料性附錄表示形式示例

———A;

增加了資料性附錄的標題和透鏡中心偏差計算公式

———B。

本標準的附錄和附錄是資料性附錄

AB。

本標準由中國機械工業(yè)聯(lián)合會提出

。

本標準由全國光學和光子學標準化技術委員會歸口

(SAC/TC103)。

本標準由南京江南永新光學有限公司蘇州一光儀器有限公司上海理工大學寧波永新光學股份

、、、

有限公司鳳凰光學集團有限公司寧波市教學儀器有限公司貴陽新天光電科技有限公司寧波華光精

、、、、

密儀器有限公司南京東利來光電實業(yè)有限公司寧波舜宇儀器有限公司梧州奧卡光學儀器公司和麥

、、、

克奧迪實業(yè)集團有限公司負責起草

。

本標準主要起草人侯育煒馮瓊輝曾麗珠鄔子剛李晞王國瑞胡清徐利明楊廣烈胡森虎

:、、、、、、、、、、

張景華肖倩

、。

本標準所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為

:

———GB/T7242—1987。

GB/T7242—2010

透鏡中心偏差

1范圍

本標準規(guī)定了透鏡中心偏差的術語和定義基準軸的選定與標注中心偏差的標注及檢驗

、、。

本標準適用于由球面與球面或球面與平面組成的且具有旋轉對稱邊緣面的單透鏡和膠合透鏡對

。

于具有其他邊緣形狀的透鏡例如矩形透鏡也基本適用

(:)。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過本標準的引用而成為本標準的條款凡是注日期的引用文件其隨后所有

。,

的修改單不包括勘誤的內容或修訂版均不適用于本標準然而鼓勵根據(jù)本標準達成協(xié)議的各方研究

(),,

是否可使用這些文件的最新版本凡是不注日期的引用文件其最新版本適用于本標準

。,。

產品幾何技術規(guī)范幾何公差形狀方向位置和跳動公差標注

GB/T1182(GPS)、、

(GB/T1182—2008,ISO1101:2004,IDT)

幾何光學術語符號

GB/T1224、

光學制圖

GB/T13323—2009(ISO10110-1:2006,NEQ)

光學儀器術語

GB/T13962

3術語和定義

和確立的以及下列術語和定義適用于本標準

GB/T1224、GB/T13323—2009GB/T13962。

31

.

透鏡中心偏差centeringerroroflenses

光學表面定心頂點處的法線對基準軸的偏離量

。

透鏡中心偏差是用光學表面定心頂點處的法線與基準軸的夾角來度量此夾角稱為面傾角用希臘

,,

字母χ表示見圖

(1)。

圖1

32

.

基準軸datumaxis

用來標注檢驗和校正中心偏差并按定位零件或組件光學表面的特定性能所選取的軸

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