標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備》對先前的幾個(gè)標(biāo)準(zhǔn)(即GB 5170.5-1985, GB 5170.6-1985, GB 5170.7-1985)進(jìn)行了整合與修訂,主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面:

  1. 標(biāo)準(zhǔn)化程度提升:新標(biāo)準(zhǔn)更加注重與國際接軌,在術(shù)語定義、測試條件設(shè)定等方面參考了更多國際通用的做法,以提高我國電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的基本參數(shù)檢定水平。

  2. 內(nèi)容整合:將原先分散在不同標(biāo)準(zhǔn)中的關(guān)于濕熱試驗(yàn)設(shè)備的技術(shù)要求和檢驗(yàn)方法進(jìn)行了統(tǒng)一整理。例如,原GB 5170.5-1985側(cè)重于恒溫恒濕箱的性能測試;GB 5170.6-1985關(guān)注的是交變濕熱試驗(yàn)箱;而GB 5170.7-1985則涉及到了高溫高濕試驗(yàn)箱的相關(guān)規(guī)定。通過此次修訂,《GB/T 5170.5-1996》將這些不同類型濕熱試驗(yàn)設(shè)備的要求合并到一起,形成了一套更為全面的標(biāo)準(zhǔn)體系。

  3. 技術(shù)指標(biāo)細(xì)化:針對濕熱試驗(yàn)設(shè)備的具體技術(shù)指標(biāo)進(jìn)行了更詳細(xì)的描述,包括但不限于溫度波動度、濕度偏差、恢復(fù)時(shí)間等關(guān)鍵參數(shù),并明確了相應(yīng)的測量方法及合格標(biāo)準(zhǔn),使得檢測過程更具操作性和可比性。

  4. 增加了新的測試項(xiàng)目:為了更好地適應(yīng)現(xiàn)代電子產(chǎn)品的特殊需求,《GB/T 5170.5-1996》還增加了一些之前版本中未涵蓋的新測試項(xiàng)目,比如長期穩(wěn)定性測試、快速變化條件下的響應(yīng)特性評估等,旨在確保被測產(chǎn)品能夠在各種極端環(huán)境下正常工作。

  5. 強(qiáng)調(diào)安全性和環(huán)保性:新版標(biāo)準(zhǔn)加強(qiáng)了對于試驗(yàn)過程中人員安全保護(hù)以及環(huán)境保護(hù)方面的要求,如限制使用有害物質(zhì)、設(shè)置緊急停機(jī)裝置等措施,體現(xiàn)了對社會責(zé)任的關(guān)注。


如需獲取更多詳盡信息,請直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。

....

查看全部

  • 被代替
  • 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替,建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 5170.5-2008
  • 1996-12-13 頒布
  • 1997-11-01 實(shí)施
?正版授權(quán)
GB/T 5170.5-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備_第1頁
GB/T 5170.5-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備_第2頁
GB/T 5170.5-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備_第3頁
免費(fèi)預(yù)覽已結(jié)束,剩余9頁可下載查看

下載本文檔

GB/T 5170.5-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備-免費(fèi)下載試讀頁

文檔簡介

ICS19.040KOA中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T5170.5—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備Inspectionmethodsforbasicparametersofenyironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproducts-Dampheattestingequipments1996-12-13發(fā)布1997-11-01實(shí)施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

GB/T5170.5-1996本標(biāo)準(zhǔn)是GB/T5170電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法系列標(biāo)準(zhǔn)之一。本標(biāo)準(zhǔn)由GB5170.5-85、GB5170.6-85和GB5170.7-85合并、修訂而成。本標(biāo)準(zhǔn)與1985年發(fā)布的標(biāo)準(zhǔn)相比,技術(shù)內(nèi)容有以下變化:-明確本標(biāo)準(zhǔn)適用于環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備在使用期間的周期檢定。以區(qū)別于產(chǎn)品的型式試驗(yàn)等。一測量點(diǎn)的數(shù)量及布放位置以設(shè)備工作室容積2m2為界,不大于2m2時(shí)溫度測量點(diǎn)為9個(gè)、相對濕度測量點(diǎn)為3個(gè).大于2m2時(shí)溫度測量點(diǎn)為15個(gè)、相對濕度測量點(diǎn)為4個(gè)。測量時(shí)間亦大為縮短。-恒定濕熱試驗(yàn)設(shè)備增加了溫濕度均勻度和波動度的測量。-增加了用圖表示交變濕熱試驗(yàn)設(shè)備升降溫特性的要求,刪去了以平均升降溫速率表示升降溫特性的方法。-對溫濕度偏差、均勻度、波動度均給出了計(jì)算公式,用以定量的表示測量結(jié)果,本標(biāo)準(zhǔn)自實(shí)施之日起,代替GB5170.5~5170.7-85。本標(biāo)準(zhǔn)由機(jī)械工業(yè)部提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口。本標(biāo)準(zhǔn)由機(jī)械工業(yè)部廣州電器科學(xué)研究所負(fù)責(zé)起草本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:謝建華、付文茹、陳學(xué)進(jìn)、薛振夷、王則燕。

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)濕熱試驗(yàn)設(shè)備檢定方法GB/T5170.5-1996Inspectionmethodsforbasicparametersofenvironmental代替GB5170.5~5170.7-85testingequipmentsforelectricandelectronicproductsDampheattestingeguipments范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了濕熱試驗(yàn)設(shè)備的檢定項(xiàng)目、檢定儀器、測量點(diǎn)的位置與數(shù)量、檢定步驃和檢定數(shù)據(jù)的處理與檢定結(jié)果。本標(biāo)準(zhǔn)適用于對GB/T2423.3《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法》GB/T2423.4《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法》GB2423.9《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Cb:設(shè)備用恒定濕熱試驗(yàn)方法》和GB2423.16《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)J:長雷試驗(yàn)方法》所用試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定。本標(biāo)準(zhǔn)也適用于類似設(shè)備的周期檢定2引用標(biāo)準(zhǔn)下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文·通過在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。本標(biāo)準(zhǔn)出版時(shí),所示版本均為有效。所有標(biāo)準(zhǔn)都會被修訂,使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性。GB/T2423.3—93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法GB/T2423.4—93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法GB2423.9—89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Cb:設(shè)備用恒定濕熱試驗(yàn)方法GB2423.16-90電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)J:長霉試驗(yàn)方法GB/T5170.1—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則GB6999—86環(huán)境試驗(yàn)用相對濕度查算表檢定

溫馨提示

  • 1. 本站所提供的標(biāo)準(zhǔn)文本僅供個(gè)人學(xué)習(xí)、研究之用,未經(jīng)授權(quán),嚴(yán)禁復(fù)制、發(fā)行、匯編、翻譯或網(wǎng)絡(luò)傳播等,侵權(quán)必究。
  • 2. 本站所提供的標(biāo)準(zhǔn)均為PDF格式電子版文本(可閱讀打印),因數(shù)字商品的特殊性,一經(jīng)售出,不提供退換貨服務(wù)。
  • 3. 標(biāo)準(zhǔn)文檔要求電子版與印刷版保持一致,所以下載的文檔中可能包含空白頁,非文檔質(zhì)量問題。

評論

0/150

提交評論