標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 39865-2021 單軸晶光學(xué)晶體折射率測量方法》是一項(xiàng)國家標(biāo)準(zhǔn)，旨在規(guī)范單軸晶光學(xué)晶體材料折射率的測量過程。該標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)規(guī)定了使用V棱鏡法、最小偏向角法以及干涉法等不同技術(shù)手段來測定單軸正光性或負(fù)光性晶體材料的普通光線折射率及非常光線折射率的方法。適用于科研機(jī)構(gòu)、生產(chǎn)企業(yè)對單軸晶系光學(xué)晶體進(jìn)行質(zhì)量控制和性能評估時(shí)參考。

標(biāo)準(zhǔn)首先明確了適用范圍，指出其主要針對的是單軸晶體，這類晶體在物理特性上具有一個(gè)方向上的特殊性質(zhì)，不同于其他兩個(gè)相互垂直的方向。接著，文件列舉了引用的標(biāo)準(zhǔn)文獻(xiàn)，這些文獻(xiàn)為理解和執(zhí)行本標(biāo)準(zhǔn)提供了必要的背景知識和技術(shù)支持。

對于術(shù)語與定義部分，《GB/T 39865-2021》給出了關(guān)鍵概念如“單軸晶體”、“折射率”、“主平面”等的專業(yè)解釋，確保使用者能夠準(zhǔn)確理解相關(guān)詞匯含義。此外，還介紹了幾種常用的折射率測量方法，包括但不限于：

  • V棱鏡法：通過觀察光線經(jīng)過特定角度切割的V形棱鏡后產(chǎn)生的偏折情況來計(jì)算折射率。
  • 最小偏向角法：基于當(dāng)入射角等于出射角時(shí)，光線偏離原始路徑的角度達(dá)到最小值這一原理來進(jìn)行測量。
  • 干涉法：利用光波之間的干涉現(xiàn)象（如邁克爾遜干涉儀）來間接推算出樣品的折射率信息。

每種方法都配有詳細(xì)的步驟說明，從實(shí)驗(yàn)裝置的選擇到具體操作流程，再到數(shù)據(jù)處理方式，均給予了詳盡指導(dǎo)。同時(shí)，標(biāo)準(zhǔn)還強(qiáng)調(diào)了實(shí)驗(yàn)過程中需要注意的安全事項(xiàng)和技術(shù)要求，比如溫度控制、環(huán)境濕度等因素可能對測量結(jié)果造成的影響。


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....

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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2021-03-09 頒布
  • 2021-10-01 實(shí)施
?正版授權(quán)
GB/T 39865-2021單軸晶光學(xué)晶體折射率測量方法_第1頁
GB/T 39865-2021單軸晶光學(xué)晶體折射率測量方法_第2頁
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文檔簡介

ICS17180

Q65.

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T39865—2021

單軸晶光學(xué)晶體折射率測量方法

Methodformeasuringrefractiveindexofuniaxialopticalcrystals

2021-03-09發(fā)布2021-10-01實(shí)施

國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布

國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T39865—2021

前言

本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本標(biāo)準(zhǔn)由中國建筑材料聯(lián)合會提出

。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國人工晶體標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口

(SAC/TC461)。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位山東大學(xué)中國工程物理研究院化工材料研究所中國建材檢驗(yàn)認(rèn)證集團(tuán)股份有

:、、

限公司中國科學(xué)院福建物質(zhì)結(jié)構(gòu)研究所

、。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人王善朋陶緒堂孫洵尹文龍呂奎霖喬杰李春龍鄭國宗

:、、、、、、、。

Ⅰ

GB/T39865—2021

單軸晶光學(xué)晶體折射率測量方法

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了單軸晶光學(xué)晶體折射率測量方法的環(huán)境要求測量原理與方法檢測儀器要求待測

、、、

量樣品準(zhǔn)備測量步驟數(shù)據(jù)處理和不確定度評定

、、。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于單軸晶光學(xué)晶體的折射率測量其他光學(xué)晶體的折射率測量可參照執(zhí)行

,。

2測量環(huán)境要求

測量環(huán)境要求如下

:

溫度測量過程中溫度變化不大于

a):21℃±3℃,0.5℃;

相對濕度不大于

b):30%;

振動滿足設(shè)備對環(huán)境的振動要求

c):。

3測量原理

垂直入射法測量單軸晶光學(xué)晶體折射率的測量原理如圖所示通過測量入射光經(jīng)過待測晶體的

1。

折射角和入射角由折射定律計(jì)算獲得待測晶體的折射率被測晶體加工成直角棱鏡樣品晶體光軸位

,。,

于入射直角面內(nèi)當(dāng)特定波長的非偏振平行光垂直入射到直角面時(shí)由于光和光的折射率不同經(jīng)

,,oe,

過晶體后在出射面發(fā)生不同角度折射通過自準(zhǔn)直儀分別測量光的折射角i和光的折射角i及入

,ooee

射角θ由公式和公式計(jì)算可得樣品的折射率n和n

,(1)(2)oe。

i

n=sino

oθ…………(1)

sin

i

n=sine

eθ…………(2)

sin

式中

:

n光折射率

o———o;

n光折射率

e———e

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