GB/T 37143-2018電工電子產(chǎn)品成熟度試驗(yàn)方法

ICS19040

K04.

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T37143—2018

電工電子產(chǎn)品成熟度試驗(yàn)方法

Maturitytestingforelectricandelectronicproducts

2018-12-28發(fā)布2019-07-01實(shí)施

國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T37143—2018

目次

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅳ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語(yǔ)和定義

3………………1

試驗(yàn)的一般性描述

4………………………2

激發(fā)應(yīng)力的確定

5…………………………2

薄弱環(huán)節(jié)分析

5.1………………………2

敏感應(yīng)力分析

5.2………………………2

激發(fā)應(yīng)力類型確定

5.3…………………2

試驗(yàn)裝置要求

6……………2

試驗(yàn)方法

7…………………2

應(yīng)力及應(yīng)力極限

7.1……………………2

溫度應(yīng)力激發(fā)試驗(yàn)

7.2…………………3

產(chǎn)品溫度分布測(cè)試

7.2.1……………3

低高溫步進(jìn)應(yīng)力試驗(yàn)

7.2.2/…………3

振動(dòng)步進(jìn)應(yīng)力激發(fā)試驗(yàn)

7.3……………4

振動(dòng)譜

7.3.1…………………………4

振動(dòng)步進(jìn)應(yīng)力試驗(yàn)

7.3.2……………4

綜合環(huán)境應(yīng)力循環(huán)試驗(yàn)

7.4……………5

試驗(yàn)中故障的處理

8………………………7

產(chǎn)品成熟度的評(píng)價(jià)

9………………………8

成熟度評(píng)價(jià)方法

9.1……………………8

成熟度的耐應(yīng)力分量值的確定與計(jì)算方法

9.2………8

成熟度的生產(chǎn)制造能力分量的確定與計(jì)算方法

9.3…………………9

試驗(yàn)報(bào)告中應(yīng)給出的信息

10……………11

附錄資料性附錄電工電子產(chǎn)品成熟度試驗(yàn)的理論基礎(chǔ)

A()…………12

附錄規(guī)范性附錄試驗(yàn)裝置要求

B()……………………13

試驗(yàn)裝置一般要求

B.1…………………13

振動(dòng)應(yīng)力試驗(yàn)系統(tǒng)

B.2…………………13

溫度應(yīng)力試驗(yàn)系統(tǒng)

B.3…………………13

測(cè)量裝置

B.4……………13

振動(dòng)測(cè)量裝置

B.4.1…………………13

溫度測(cè)量裝置

B.4.2…………………14

夾具

B.5…………………14

Ⅰ

GB/T37143—2018

附錄資料性附錄示例

C()………………15

薄弱環(huán)節(jié)確定和敏感應(yīng)力分析

C.1……………………15

產(chǎn)品成熟度評(píng)價(jià)試驗(yàn)

C.2………………17

產(chǎn)品成熟度評(píng)價(jià)

C.3……………………18

概述

C.3.1……………18

成熟度的耐應(yīng)力分量值的計(jì)算

C.3.2………………18

成熟度的生產(chǎn)制造能力分量值的計(jì)算

C.3.3………18

參考文獻(xiàn)

……………………20

Ⅱ

GB/T37143—2018

前言

本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口

(SAC/TC8)。

本標(biāo)準(zhǔn)負(fù)責(zé)起草單位北京航空航天大學(xué)蘇州廣博力學(xué)環(huán)境實(shí)驗(yàn)室有限公司工業(yè)和信息化部電

:、、

子第五研究所

。

本標(biāo)準(zhǔn)參加起草單位中國(guó)航空工業(yè)集團(tuán)公司沈陽(yáng)飛機(jī)設(shè)計(jì)研究所航天科技集團(tuán)一院所

:、702、

重慶市科學(xué)技術(shù)研究院西安西測(cè)電子技術(shù)服務(wù)有限公司廣州廣電計(jì)量檢測(cè)股份有限公司

、、。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人王曉紅黃曉光紀(jì)春陽(yáng)王德言施榮明李宇翔陳永祥李澤新杜渝

:、、、、、、、、、

明志茂

。

Ⅲ

GB/T37143—2018

引言

本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)提請(qǐng)注意聲明符合本文件時(shí)可能涉及第章與電工電子產(chǎn)品成熟度評(píng)估方

,,9“

法相關(guān)的專利的使用本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)對(duì)于該專利的真實(shí)性有效性和范圍無(wú)任何立場(chǎng)

”,、。

該專利持有人已向本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)保證她愿意同任何申請(qǐng)人在合理且無(wú)歧視的條款和條件下

,

就專利授權(quán)許可進(jìn)行談判該專利持有人的聲明已在本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)備案相關(guān)信息可以通過(guò)以下

。。

聯(lián)系方式獲得

:

專利持有人姓名王曉紅

:

地址北京市海淀區(qū)學(xué)院路號(hào)北京航空航天大學(xué)為民樓

:37,316,100083

請(qǐng)注意除上述專利外本文件的某些內(nèi)容仍可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別這些專

,。

利的責(zé)任

。

Ⅳ

GB/T37143—2018

電工電子產(chǎn)品成熟度試驗(yàn)方法

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電工電子產(chǎn)品成熟度試驗(yàn)的一般性描述激發(fā)應(yīng)力的確定試驗(yàn)裝置要求以及具體實(shí)

、、

施方法故障的處理方法及成熟度評(píng)價(jià)方法

、。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于為提高與評(píng)價(jià)電工電子產(chǎn)品成熟度而開展的環(huán)境應(yīng)力試驗(yàn)

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)

GB/T2424.5

系統(tǒng)可靠性分析技術(shù)失效模式和影響分析程序

GB/T7826(FMEA)

電工電子產(chǎn)品加速應(yīng)力試驗(yàn)規(guī)程高加速壽命試驗(yàn)導(dǎo)則

GB/T29309—2012

3術(shù)語(yǔ)和定義

下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件

。

31

.

產(chǎn)品成熟度productmaturity

產(chǎn)品成熟程度的度量用來(lái)衡量產(chǎn)品的設(shè)計(jì)水平質(zhì)量技術(shù)完備性及可應(yīng)用性等能滿足產(chǎn)品預(yù)期

,、、

目標(biāo)的程度

。

32

.

技術(shù)規(guī)范極限technicalspecificationlimit

由產(chǎn)品技術(shù)規(guī)范規(guī)定的產(chǎn)品預(yù)期將工作的應(yīng)力極限值產(chǎn)品在該應(yīng)力極限值內(nèi)功能正常