標準解讀
《GB/T 36613-2018 發(fā)光二極管芯片點測方法》是一項國家標準,該標準詳細規(guī)定了發(fā)光二極管(LED)芯片在生產和質量控制過程中進行電氣性能測試的方法。其主要內容包括但不限于以下幾個方面:
首先,定義了術語和定義,明確了“發(fā)光二極管”、“正向電壓”、“反向電流”等關鍵概念的具體含義,為后續(xù)內容的理解奠定基礎。
其次,指出了適用范圍,適用于各類LED芯片的電學參數(shù)測量,包括但不限于正向導通特性、反向擊穿特性的測定。
接著,描述了測試條件與環(huán)境要求,比如溫度、濕度以及光照條件等,確保不同實驗室或生產線上獲取的數(shù)據(jù)具有可比性。
然后,詳述了具體的測試程序,從樣品準備到實際操作步驟,再到數(shù)據(jù)記錄與處理方法,覆蓋整個測試流程。特別強調了如何正確連接測試設備與被測器件以避免因接觸不良導致的結果偏差。
此外,還規(guī)定了結果表示方式及精度要求,指導如何準確地報告測試所得信息,并給出了推薦使用的單位制和有效數(shù)字保留規(guī)則。
最后,對于測試過程中可能出現(xiàn)的一些特殊情況也給予了說明,比如異常值處理原則等,保證了即使遇到非典型情況也能按照統(tǒng)一的標準來進行評估。
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....
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2018-09-17 頒布
- 2019-01-01 實施





文檔簡介
ICS31260
L45.
中華人民共和國國家標準
GB/T36613—2018
發(fā)光二極管芯片點測方法
Probetestmethodforlightemittingdiodechips
2018-09-17發(fā)布2019-01-01實施
國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布
中國國家標準化管理委員會
GB/T36613—2018
目次
前言
…………………………Ⅰ
引言
…………………………Ⅱ
范圍
1………………………1
規(guī)范性引用文件
2…………………………1
術語和定義
3………………1
芯片測試條件及步驟
4……………………2
電參數(shù)點測
5………………5
光參數(shù)點測
6………………5
靜電放電敏感性點測
7……………………6
GB/T36613—2018
前言
本標準按照給出的規(guī)則起草
GB/T1.1—2009。
請注意本文件的某些內容可能涉及專利本文件的發(fā)布機構不承擔識別這些專利的責任
。。
本標準由中華人民共和國工業(yè)和信息化部電子歸口
()。
本標準起草單位三安光電股份有限公司廈門市三安光電科技有限公司中國電子技術標準化研
:、、
究院廣州賽西標準檢測研究院有限公司
、。
本標準主要起草人蔡偉智梁奮劉秀娟李國煌呂艷金威邵曉娟周鋼時軍朋
:、、、、、、、、。
Ⅰ
GB/T36613—2018
引言
半導體發(fā)光二極管芯片作為發(fā)光二極管器件的核心部件其性能好壞直接影響發(fā)光二極管器件在
,
半導體照明產品上的應用如何準確測試半導體發(fā)光二極管芯片的光電性能成為芯片制造和使用中
。,
的重要環(huán)節(jié)該標準的制定是為了確保在規(guī)模化生產的同時芯片質量可靠穩(wěn)定
。。
Ⅱ
GB/T36613—2018
發(fā)光二極管芯片點測方法
1范圍
本標準規(guī)定了發(fā)光二極管芯片以下簡稱芯片光參數(shù)直流電參數(shù)以及靜電放電敏感性的點測
(“”)、
條件和點測方法
。
本標準適用于批量生產的可見光發(fā)光二極管正裝芯片和薄膜芯片的檢測方法紫外光紅外光發(fā)
。、
光二極管芯片以及外延片的點測也可參照使用
。
本標準不適用于發(fā)光二極管芯片的熱參數(shù)和交流特性測試
。
2規(guī)范性引用文件
下列文件對于本文件的應用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文
。,
件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件
。,()。
半導體發(fā)光二極管測試方法
SJ/T11394—2009
半導體照明術語
SJ/T11395—2009
半導體發(fā)光二極管芯片測試方法
SJ/T11399—2009
3術語和定義
界定的以及下列術語和定義適用于本文件
SJ/T11395—2009。
31
.
點測probetest
對芯片光電性能和參數(shù)自動檢測的方法
。
注采用自動程控測試儀器以探針接觸形式對按一定規(guī)則排列的芯片進行瞬態(tài)測試并能按每一顆芯片的位置形
:,,
成參數(shù)分布圖
。
32
.
參數(shù)分布圖mapping
點測芯片后按芯片的位置形成用顏色表示光電參數(shù)測試值的彩色圖
。
33
.
瞬時測試transienttest
采用毫秒級脈沖驅動點亮芯片在測試時間內通過程控測試儀器自動讀取多個光電參數(shù)值
,,。
34
.
收光器photoreceiver
點測中用來采集被測芯片發(fā)光強度或輻射功率的儀器
。
35
.
載片卡盤chuck
點測中用來承載芯片并可提供芯片背面電極電性接觸的底盤
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