標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 33502-2017 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜(XPS)數(shù)據(jù)記錄與報(bào)告的規(guī)范要求》是一項(xiàng)國家標(biāo)準(zhǔn)，旨在為使用X射線光電子能譜技術(shù)進(jìn)行表面化學(xué)分析時(shí)的數(shù)據(jù)記錄及報(bào)告提供統(tǒng)一指導(dǎo)。該標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)規(guī)定了從實(shí)驗(yàn)準(zhǔn)備到最終結(jié)果呈現(xiàn)整個(gè)過程中應(yīng)當(dāng)遵循的具體步驟和技術(shù)參數(shù)設(shè)置原則，確保不同實(shí)驗(yàn)室間獲得的結(jié)果具有可比性和可靠性。

首先，對于樣品處理部分，《GB/T 33502-2017》強(qiáng)調(diào)了對樣品狀態(tài)（如清潔度、均勻性等）的基本要求，并給出了推薦的預(yù)處理方法。此外，還明確了如何正確選擇和制備參考材料以保證測試準(zhǔn)確性。

其次，在儀器操作方面，本標(biāo)準(zhǔn)提供了關(guān)于XPS設(shè)備校準(zhǔn)、工作條件設(shè)定等方面的指南，包括但不限于能量分辨率、掃描步長等關(guān)鍵參數(shù)的選擇依據(jù)。同時(shí)，也指出了在實(shí)際測量過程中應(yīng)注意的問題，比如避免樣品污染、控制合適的真空度等。

再者，《GB/T 33502-2017》特別關(guān)注數(shù)據(jù)分析環(huán)節(jié)，不僅介紹了常見峰形識(shí)別技巧以及背景扣除算法，還針對復(fù)雜譜圖解析給出了具體建議。更重要的是，它提出了定量分析時(shí)應(yīng)考慮的因素，如元素相對靈敏度因子的選擇與應(yīng)用。


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....

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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2017-02-28 頒布
  • 2018-01-01 實(shí)施
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GB/T 33502-2017表面化學(xué)分析X射線光電子能譜(XPS)數(shù)據(jù)記錄與報(bào)告的規(guī)范要求_第1頁
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GB/T 33502-2017表面化學(xué)分析X射線光電子能譜(XPS)數(shù)據(jù)記錄與報(bào)告的規(guī)范要求-免費(fèi)下載試讀頁

文檔簡介

ICS7104040

G04..

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T33502—2017/ISO162432011

:

表面化學(xué)分析X射線光電子能譜XPS

()

數(shù)據(jù)記錄與報(bào)告的規(guī)范要求

Surfacechemicalanalysis—RecordingandreportingdatainX-ray

hotoelectronsectroscoXPS

pppy()

(ISO16243:2011,IDT)

2017-02-28發(fā)布2018-01-01實(shí)施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T33502—2017/ISO162432011

:

目次

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅳ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語和定義

3………………1

記錄和報(bào)告的范圍

4………………………1

發(fā)送數(shù)據(jù)給用戶

5…………………………4

附錄資料性附錄譜圖實(shí)例

A()…………5

參考文獻(xiàn)

………………………9

Ⅰ

GB/T33502—2017/ISO162432011

:

前言

本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本標(biāo)準(zhǔn)使用翻譯法等同采用表面化學(xué)分析射線光電子能譜數(shù)據(jù)記錄

ISO16243:2011《X(XPS)

與報(bào)告的規(guī)范要求

》。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口

(SAC/TC38)。

本標(biāo)準(zhǔn)負(fù)責(zé)起草單位廈門愛勞德光電有限公司清華大學(xué)化學(xué)系

:、。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人時(shí)海燕李展平孫海珍姚文清劉芬王水菊

:、、、、、。

Ⅲ

GB/T33502—2017/ISO162432011

:

引言

射線光電子能譜廣泛用于材料的表面分析樣品中的元素除氫和氦外由測量光電子譜

X(XPS)。()

的芯能級(jí)結(jié)合能比對這些能量的元素列表而辯識(shí)這些元素的化學(xué)態(tài)信息可以由測量的光電子的化學(xué)

。

位移和或線型比對參考態(tài)而推知

/。

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了分析記錄中要包括的樣品和實(shí)驗(yàn)參數(shù)信息的范圍分析結(jié)果要以標(biāo)準(zhǔn)格式記錄格

。,

式要足夠詳細(xì)以使該實(shí)驗(yàn)可重復(fù)該格式需滿足報(bào)告的要求

。。

報(bào)告宜包括實(shí)驗(yàn)條件和數(shù)據(jù)采集參數(shù)以使數(shù)據(jù)的質(zhì)量可評(píng)估

,。

Ⅳ

GB/T33502—2017/ISO162432011

:

表面化學(xué)分析X射線光電子能譜XPS

()

數(shù)據(jù)記錄與報(bào)告的規(guī)范要求

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了分析者使用射線光電子能譜分析試樣后應(yīng)報(bào)告信息的最低要求包括原

X(XPS)。

始記錄和分析記錄的信息

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

表面化學(xué)分析詞匯第部分通用術(shù)語和譜學(xué)術(shù)語

ISO18115-11:(Surfacechemical

analysis—Vocabulary—Part1:Generaltermsandtermsusedinspectroscopy)

3術(shù)語和定義

界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件

ISO18115-1。

31

.

外系統(tǒng)exsitu

分析系統(tǒng)的外部

。

32

.

內(nèi)系統(tǒng)insitu

分析系統(tǒng)的內(nèi)部

。

4記錄和報(bào)告的范圍

41概述

.

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了分析人員使用分析樣品時(shí)應(yīng)記錄和報(bào)告信息的最低要求該記錄和報(bào)告的要

XPS

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