標準解讀
《GB/T 30704-2014 表面化學分析 X射線光電子能譜 分析指南》是針對X射線光電子能譜(XPS)技術在表面化學分析中的應用而制定的一項國家標準。該標準旨在為使用XPS進行材料表面成分及化學狀態(tài)分析提供指導性意見,確保測試過程的規(guī)范性和結果的一致性、準確性。
標準首先介紹了XPS的基本原理及其在科學研究和工業(yè)生產(chǎn)中的重要地位。接著詳細描述了儀器設備的要求,包括對光源、能量分析器、檢測系統(tǒng)等關鍵部件性能參數(shù)的規(guī)定,以保證數(shù)據(jù)采集的質(zhì)量。同時,對于樣品準備也給出了具體建議,強調(diào)了樣品清潔度、均勻性等因素對最終結果的影響,并列舉了幾種常見類型的樣品處理方法。
在實驗操作部分,《GB/T 30704-2014》規(guī)定了一系列標準化流程,涵蓋從開機前檢查到數(shù)據(jù)分析報告編寫整個過程。它不僅明確了不同條件下應選擇何種掃描模式或設置哪些參數(shù),還特別指出如何通過調(diào)整實驗條件來優(yōu)化信號強度與分辨率之間的平衡。此外,對于可能出現(xiàn)的數(shù)據(jù)偏差或異常情況,該標準也提供了相應的解決策略。
關于數(shù)據(jù)分析,《GB/T 30704-2014》深入探討了峰位校正、背景扣除、譜峰擬合等多個環(huán)節(jié)的技術細節(jié)。其中,尤其重視元素定量分析時需考慮的因素,如相對靈敏度因子的選擇、多重散射效應的修正等。通過這些內(nèi)容的學習,使用者能夠更加準確地解析復雜譜圖,從而獲得可靠的物質(zhì)組成信息。
最后,該標準還提到了質(zhì)量控制的重要性,建議實驗室建立完善的內(nèi)部審核機制,定期參加能力驗證活動,以此持續(xù)提升技術水平和服務質(zhì)量。
如需獲取更多詳盡信息,請直接參考下方經(jīng)官方授權發(fā)布的權威標準文檔。
....
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2014-06-09 頒布
- 2014-12-01 實施





文檔簡介
ICS7104040
G04..
中華人民共和國國家標準
GB/T30704—2014/ISO108102010
:
表面化學分析
X射線光電子能譜分析指南
Surfacechemicalanalysis—X-rayphotoelectronspectroscopy—
Guidelinesforanalysis
(ISO10810:2010,IDT)
2014-06-09發(fā)布2014-12-01實施
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布
中國國家標準化管理委員會
GB/T30704—2014/ISO108102010
:
目次
前言
…………………………Ⅰ
引言
…………………………Ⅱ
范圍
1………………………1
規(guī)范性引用文件
2…………………………1
術語和定義
3………………1
符號和縮略語
4……………1
樣品分析概述
5……………2
樣品表征
6…………………3
概述
6.1…………………3
樣品形態(tài)
6.2……………4
材料類型
6.3……………5
樣品處理和安裝
6.4……………………6
樣品處理
6.5……………6
儀器核查
7…………………7
概述
7.1…………………7
儀器檢查
7.2……………7
儀器校準
7.3……………8
儀器設定
7.4……………12
寬掃描譜
8…………………13
數(shù)據(jù)采集
8.1……………13
數(shù)據(jù)分析
8.2……………14
窄掃描
9……………………15
概述
9.1…………………15
數(shù)據(jù)采集
9.2……………15
數(shù)據(jù)分析
9.3……………15
測試報告
10………………18
參考文獻
……………………20
GB/T30704—2014/ISO108102010
:
前言
本標準按照給出的規(guī)則起草
GB/T1.1—2009。
本標準使用翻譯法等同采用表面化學分析射線光電子能譜分析指南
ISO10810:2010《X》。
與本標準中規(guī)范性引用的國際文件有一致性對應關系的我國文件如下
:
檢測和校準實驗室能力的通用要求
———GB/T27025—2008(ISO/IEC17025:2005,IDT)
表面化學分析詞匯
———GB/T22461—2008(ISO18115:2001,IDT)
本標準由全國微束分析標準化技術委員會提出并歸口
(SAC/TC38)。
本標準起草單位中國科學院化學研究所
:。
本標準起草人趙志娟劉芬趙良仲章小余
:、、、。
Ⅰ
GB/T30704—2014/ISO108102010
:
引言
射線光電子能譜被廣泛用于材料的表面分析將所測芯能級結合能與各種元素的結合能
X(XPS)。
表對照來識別樣品中的元素除之外與純元素態(tài)的數(shù)據(jù)比較其化學態(tài)可以根據(jù)譜峰位移以
(H、He)。,
及其他參數(shù)的變化來確定元素的定量信息從所測光電子峰的強度中得到利用公式和儀器廠商提供
。。
的或本儀器測量的相對靈敏度因子以及合適的軟件可以計算所測表面層中各化學成分的含量
。
本標準是為了幫助射線光電子能譜儀的操作者進行典型樣品的有效和有意義的分析
X。
Ⅱ
GB/T30704—2014/ISO108102010
:
表面化學分析
X射線光電子能譜分析指南
1范圍
本標準適用于射線光電子能譜儀的操作者分析典型樣品本標準幫助操作者完成整個分析過
X。
程包括樣品處理譜儀校準和設定以及寬掃描譜和窄掃描譜的采集并給出了定量和準備最終報告的
,,,
建議
。
2規(guī)范性引用文件
下列文件對于本文件的應用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文
。,
件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件
。,()。
檢測和校準實驗室能力的通用要求
ISO/IEC17025(Generalrequirementsforthecompetenceof
testingandcalibrationlaboratories)
表面化學分析詞匯第一部分通用術語和譜學術語
ISO18115-1——:(Surfacechemical
analysis—Vocabulary—Part1:Generaltermsandtermsusedinspectroscopy)
3術語和定義
界定的術語和定義適用于本文件
ISO18115-1。
4符號和縮略語
下列符號和縮略語適用于本文件
。
俄歇電子能譜
AES(Augerelectronspectroscopy)
變角射線光電子能譜
ARXPSX(Angle-resolvedX-rayphotoelectronspectroscopy)
物質(zhì)的量咨詢委員會
CCQM(Consultativecommitteeforamountofsubstance)
有證標準參考物質(zhì)
CRM()(Certifiedreferencematerial)
有效衰減長度
EAL(Effectiveattenuationlength)
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