GB/T 26168.4-2010電氣絕緣材料確定電離輻射的影響第4部分：運(yùn)行中老化的評(píng)定程序

ICS29.035.20K15中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T26168.4-2010/IEC60544-5:2003電氣絕緣材料確定電離輻射的影響第4部分：運(yùn)行中老化的評(píng)定程序Electricalinsulatingmaterials-Determinationoftheeffectsofionizingradiation-Part4:ProceduresforassessmentofageinginService(IEC60544-5:2003,IDT)2011-01-14發(fā)布2011-07-01實(shí)施中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T26168.4-2010/IEC60544-5:2003次前言引言12規(guī)范性引用文件3代號(hào)4背景資料5狀態(tài)監(jiān)測(cè)技術(shù)6裝置存放法參考文獻(xiàn)

GB/T26168.4-2010/IEC60544-5:2003前GB/T26168《電氣絕緣材料確定電離輻射的影響》分為4個(gè)部分：第1部分：輻射相互作用和劑量測(cè)定：第2部分：輻照和試驗(yàn)程序；第3部分：輻射環(huán)境下的應(yīng)用分級(jí)體系；-第4部分：運(yùn)行中老化的評(píng)定程序。本部分為第4部分。本部分等同采用IEC60544-5:2003《電氣絕緣材料確定電離輻射的影響第4部分：運(yùn)行中老化的評(píng)定程序)。本部分在等同采用IEC60544-5:2003時(shí)做了如下編輯性修改：用小數(shù)點(diǎn)"."代替作為小數(shù)點(diǎn)的返號(hào)"".刪除了國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的前言。本本部分的引用文件,對(duì)已經(jīng)轉(zhuǎn)化為我國(guó)標(biāo)準(zhǔn)的,列出了我國(guó)標(biāo)準(zhǔn)及其與國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的轉(zhuǎn)化程度。本部分增加規(guī)范性引用文件章節(jié)，以下章節(jié)編號(hào)順延-原文為第5部分,由于IEC第3部分已并入第2部分，本部分準(zhǔn)編號(hào)順延至第4部分本部分由中國(guó)電器工業(yè)協(xié)會(huì)提出。本部分由全國(guó)電氣絕緣材料與絕緣系統(tǒng)評(píng)定標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC301)歸口.本部分負(fù)責(zé)起草單位：機(jī)械工業(yè)北京電工技術(shù)經(jīng)濟(jì)研究所、上海電纜研究所。本部分參加起草單位：上海核工業(yè)研究設(shè)計(jì)研究院、核工業(yè)第二研究設(shè)計(jì)院、沈陽(yáng)電纜產(chǎn)業(yè)有限公司、常州八益電纜有限公司、江蘇上上電纜集團(tuán)、浙江萬馬電纜股份有限公司、浙江萬馬高分子材料有限公司、上海電纜廠有限公司、臨海市亞東特種電纜料廠、上海凱波特種電纜料廠、安徽電纜股份有限公司、江蘇華光電纜電器有限公司、工業(yè)和信息化部第五研究所、深圳市華測(cè)檢測(cè)技術(shù)股份有限公司。本部分主要起草人：孫建生、郭麗平、孫偉博、呂冬寶、顧申杰、柴松、周敘元、王松明、楊娟、陳文卿王怡遙、周才輝、項(xiàng)健、張萬友、楊仁祥、鄲勇、朱平。

GB/T26168.4-2010/IEC60544-5：2003在電工絕緣材料領(lǐng)域，有機(jī)材料占很大的比重。這些材料對(duì)輻射的作用很敏感，而且材料種類不同,其響應(yīng)程度也大不相同。因此能夠評(píng)估絕緣材料在使用期間老化的程度是非常重要的。標(biāo)準(zhǔn)GB/T26168的本部分提供了絕緣材料使用壽命檢測(cè)程序評(píng)估基本聚合物瞬露于輻照環(huán)境的壽命有幾種途徑.在這方面的發(fā)展是基于過去15年里對(duì)老化壽命影響因素的理解。在核電站，通常采用鑒定程序選擇材料，包括聚合物基材料。先前這些鑒定程序是在對(duì)老化缺乏足夠認(rèn)識(shí)情況下編制的,因此本部分所討論的大多數(shù)方法引證了先前鑒定程序的局限性本部分為第4部分,內(nèi)容是關(guān)于運(yùn)行中老化的評(píng)定程序。第1部分(輻射相互作用與劑量測(cè)定)制定了導(dǎo)論.廣泛涉及包括評(píng)測(cè)輻射作用等問題，該部分還給予下述內(nèi)容的指南·放射測(cè)量學(xué)、幾種放射和吸收劑量測(cè)定的方法以及幾種應(yīng)用放射測(cè)量學(xué)計(jì)算任一特定材料吸收劑量的方法。第2部分（輻照和試驗(yàn)程序)描述了7種不同類型的輻照瞬露條件的試驗(yàn)程序，該部分詳細(xì)制定了試驗(yàn)條件的控制方法，以保證試驗(yàn)結(jié)果的表征性以及材料性能的可比性。該部分定義并確定了主要輻照條件和試驗(yàn)程序，用于特性轉(zhuǎn)變結(jié)果和相應(yīng)的終點(diǎn)指標(biāo)。第3部分(輻射環(huán)境下的分級(jí)體系)提供了推薦性的區(qū)分絕緣材料耐輻射性能的分類體系。

GB/T26168.4-2010/IEC60544-5：2003電氣絕緣材料確定電離輻射的影響第4部分：運(yùn)行中老化的評(píng)定程序范圍GB/T26168的本部分規(guī)定了用于輻射環(huán)境的聚合物材料運(yùn)行中壽命評(píng)估方法，例如電纜絕緣和護(hù)套、彈性體密封材料、聚合物涂層和橡膠套管等。本部分適用于提供評(píng)估運(yùn)行中老化的指導(dǎo)方針.內(nèi)容包括基于條件檢測(cè)的壽命評(píng)估程序、嚴(yán)酷環(huán)境下試樣存放裝置的使用以及實(shí)際老化的樣品制樣。2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過GB/T26168的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分.然而，鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件.其最新版本適用于本部分。GB/T26168.1—2010電氣絕緣材料確定電離輻射的影響：第1部分：輻射相互作用和劑量測(cè)定（IEC60544-1:1994.IDT）GB/T26168.2-2010電氣絕緣材料確定電離輻射的影響：第2部分：輻照和試驗(yàn)程序（IEC60544-2:1991.IDT）IEC61244-1:1993高聚物長(zhǎng)期輻照下老化的測(cè)定第1部分：調(diào)節(jié)限制氧化擴(kuò)散的技術(shù)IEC61244-2:1996高聚物長(zhǎng)期輻照下老化的測(cè)定第2部分：低劑量輻射下老化預(yù)測(cè)程序IEC/TR61244-3:2005高聚物長(zhǎng)期輻照下老化的測(cè)定第3部分：低壓電纜材料在線監(jiān)控過程3代號(hào)BR丁基橡膠BWR佛水反應(yīng)堆CM狀態(tài)監(jiān)測(cè)CSPE氯磺化聚乙烯