GB/T 25276-2010液晶顯示器(LCD)用三醋酸纖維素酯(TAC)膜厚度測定方法

ICS7108099

G15..

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T25276—2010

液晶顯示器LCD用三醋酸

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纖維素酯TAC膜厚度測定方法

()

TriacetlcelluloseTACfilmsforliuidcrstaldislaLCD—

y()qypy()

Determinationofthickness

(ISO4593:1993,NEQ)

2010-09-26發(fā)布2011-08-01實(shí)施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

中華人民共和國

國家標(biāo)準(zhǔn)

液晶顯示器LCD用三醋酸

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纖維素酯TAC膜厚度測定方法

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GB/T25276—2010

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中國標(biāo)準(zhǔn)出版社出版發(fā)行

北京復(fù)興門外三里河北街號(hào)

16

郵政編碼

:100045

網(wǎng)址

電話

:6852394668517548

中國標(biāo)準(zhǔn)出版社秦皇島印刷廠印刷

各地新華書店經(jīng)銷

*

開本印張字?jǐn)?shù)千字

880×12301/160.58

年月第一版年月第一次印刷

201012201012

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書號(hào)

:155066·1-40812

如有印裝差錯(cuò)由本社發(fā)行中心調(diào)換

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舉報(bào)電話01068533533

:()

GB/T25276—2010

前言

本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本標(biāo)準(zhǔn)與塑料薄膜和薄片機(jī)械掃描法厚度的測定一致性程度為非等效

ISO4593:1993《》。

本標(biāo)準(zhǔn)由中國石油和化學(xué)工業(yè)協(xié)會(huì)提出

。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國光學(xué)功能薄膜材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口

(SAC/TC431)。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位中國樂凱膠片集團(tuán)公司

:。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人孫志英劉新省許麗麗李保民

:、、、。

Ⅰ

GB/T25276—2010

液晶顯示器LCD用三醋酸

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纖維素酯TAC膜厚度測定方法

()

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了液晶顯示器用三醋酸纖維素酯膜厚度的測定方法

(LCD)(TAC)。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于用機(jī)械測量法和射線法對(duì)液晶顯示器用膜厚度的測定也適用于眼鏡片用

TAC。

膜厚度的測定不適用于膜壓花邊厚度的測定

TAC。TAC。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

塑料試樣狀態(tài)調(diào)節(jié)和試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境

GB/T2918

3術(shù)語和定義

下列術(shù)語和定義適用于本文件

。

31

.

光學(xué)功能薄膜opticalfunctionalfilms

具有優(yōu)良光學(xué)性能主要用于平板顯示器的各種原膜和功能膜

。

4儀器

41機(jī)械式厚度測量儀

.

應(yīng)達(dá)到以下精度

:

內(nèi)包括精度為

———100μm(100μm)1μm;

到包括精度為

———100μm250μm(250μm)2μm;

以上精度為

———250μm3μm。

注1當(dāng)上述測量儀不能勝任要求更高的精度時(shí)不應(yīng)使用本方法而應(yīng)選用更適合的測量儀或測量方法

:,,。

塑料薄膜和薄片樣品平均厚度的測量卷材平均厚度和產(chǎn)量的測量重量測量法重量分析厚

ISO4591《,(

度中規(guī)定了應(yīng)用稱量法測定厚度

)》。

測量儀應(yīng)有一個(gè)表面為平面的下測量面和一個(gè)表面為平面或凸面的上測量面所有測量面應(yīng)是拋

,

光的

。

上下測量面為平面平面時(shí)每一測量面直徑應(yīng)在至之間兩平面不平行度小于

/,2.5mm10mm,

下測量面應(yīng)可調(diào)節(jié)以滿足上述要求測量面對(duì)試樣施加的負(fù)荷應(yīng)在至之間

5μm。。0.5N1.0N。

上下測量面為凸面平面時(shí)上測量面的曲率半徑應(yīng)在至間下測量面的直徑應(yīng)不

/,15mm50mm,

小于測量面對(duì)試樣施加的負(fù)荷應(yīng)在至之間

5mm,0.1N0.5N