標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 1958-2004 產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS) 形狀和位置公差 檢測(cè)規(guī)定》相比于《GB 1958-1980》,主要在以下幾個(gè)方面進(jìn)行了調(diào)整和完善:
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標(biāo)準(zhǔn)名稱與范圍更新:新標(biāo)準(zhǔn)將名稱調(diào)整為包含“產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)”的表述,更明確地界定了標(biāo)準(zhǔn)適用的技術(shù)領(lǐng)域。同時(shí),擴(kuò)大了適用范圍,涵蓋了更廣泛的幾何尺寸、形狀和位置公差的檢測(cè)方法。
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技術(shù)內(nèi)容升級(jí):隨著測(cè)量技術(shù)和工業(yè)發(fā)展的進(jìn)步,《GB/T 1958-2004》引入了更多現(xiàn)代檢測(cè)技術(shù)和方法,如數(shù)字化測(cè)量、坐標(biāo)測(cè)量機(jī)(CMM)應(yīng)用等,提高了檢測(cè)的準(zhǔn)確性和效率。此外,對(duì)形狀誤差(如直線度、平面度)和位置誤差(如平行度、垂直度)的定義、計(jì)算方法及允許偏差等方面也進(jìn)行了細(xì)化和優(yōu)化。
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公差原則調(diào)整:新標(biāo)準(zhǔn)對(duì)最大實(shí)體原則(MMVC)、最小實(shí)體原則(LMVC)等相關(guān)公差原則的應(yīng)用給出了更詳細(xì)的規(guī)定和示例,以適應(yīng)現(xiàn)代制造業(yè)對(duì)零件互換性和裝配精度的更高要求。
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術(shù)語(yǔ)和定義更新:為了與國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)接軌并適應(yīng)技術(shù)發(fā)展,新標(biāo)準(zhǔn)對(duì)諸多專業(yè)術(shù)語(yǔ)進(jìn)行了修訂或新增,確保了術(shù)語(yǔ)的準(zhǔn)確性和國(guó)際一致性。
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合格性判定規(guī)則明確化:《GB/T 1958-2004》對(duì)形狀和位置誤差的合格性判定規(guī)則進(jìn)行了明確闡述,提供了更加具體的操作指導(dǎo),便于檢驗(yàn)人員執(zhí)行和判斷。
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示例與圖解豐富:新標(biāo)準(zhǔn)增加了大量實(shí)際應(yīng)用示例和圖解,幫助使用者更好地理解和應(yīng)用各項(xiàng)規(guī)定,提高了標(biāo)準(zhǔn)的實(shí)用性和可操作性。
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標(biāo)準(zhǔn)化與國(guó)際接軌:《GB/T 1958-2004》在制定時(shí)參考了國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織(ISO)的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn),增強(qiáng)了中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)與國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的一致性,便于國(guó)際貿(mào)易和技術(shù)交流。
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- 被代替
- 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替,建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 1958-2017
- 2004-11-11 頒布
- 2005-07-01 實(shí)施




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GB/T 1958-2004產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)形狀和位置公差檢測(cè)規(guī)定-免費(fèi)下載試讀頁(yè)文檔簡(jiǎn)介
ICS17.040.10J04中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T1958—2004代替GB1958-1980產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)形狀和位置公差檢測(cè)規(guī)定GeometricalproductSpecifications(GPS)Geometricaltolerance--Verificationprescription2004-11-11發(fā)布2005-07-01實(shí)施中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局愛(ài)布中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
GB/T1958-2004目次前言1范圍2規(guī)范性引用文件3一般規(guī)定4形狀誤差及其評(píng)定5位置誤差及其評(píng)定6基準(zhǔn)的建立和體現(xiàn)17附錄A(資料性附錄)檢測(cè)方案……18附錄B(資料性附錄)最小區(qū)域與定向最小區(qū)域判別法
GB/T1958-2004前本標(biāo)準(zhǔn)是對(duì)GB/T1958—1980《形狀和位置公差檢測(cè)規(guī)定》標(biāo)準(zhǔn)的修訂本標(biāo)準(zhǔn)與GB/T1958—1980相比主要變化如下:增加了標(biāo)準(zhǔn)的前言,使標(biāo)準(zhǔn)更完善標(biāo)準(zhǔn)的技術(shù)內(nèi)容作了四方面的修改:根據(jù)GB/T1182—1996標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定,取消了GB/T1958-一1980版本中四棱柱公差帶的概念并根據(jù)GB/T1182-1996作了相應(yīng)的變更;根據(jù)GB/T18780.1—2002標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定·將標(biāo)準(zhǔn)中的有關(guān)概念作了相應(yīng)的改動(dòng),如“被測(cè)實(shí)際要素"改為“被測(cè)提取要素""理想要素"改為“擬合要素"、"實(shí)際軸線”改為"提取中心線”"實(shí)際中心面”改為"提取中心面";C根據(jù)國(guó)家計(jì)量技術(shù)規(guī)范中規(guī)定的通用計(jì)量術(shù)語(yǔ),將標(biāo)準(zhǔn)中有關(guān)名詞如“讀數(shù)”改為“示值"、“極限測(cè)量總誤差”和“測(cè)量精度"改為"測(cè)量不確定度”;對(duì)附錄A中所規(guī)定的對(duì)稱度誤差檢測(cè)方法的有關(guān)說(shuō)明作了修改,以更加滿足應(yīng)用需要。在標(biāo)準(zhǔn)編寫格式上按GB/T1.1—2000的規(guī)定作了相應(yīng)的修改。本標(biāo)準(zhǔn)附錄A、附錄B為資料性附錄本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)產(chǎn)品尺寸和幾何技術(shù)規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口,本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:機(jī)械科學(xué)研究院、北京市計(jì)量科學(xué)研究所。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:王欣玲、陳月祥、崔瑞志、吳迅。本標(biāo)準(zhǔn)于1980年首次發(fā)布。
GB/T1958-2004產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)形狀和位置公差檢測(cè)規(guī)定本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了形狀誤差和位置誤差(以下簡(jiǎn)稱形位誤差)的檢測(cè)原則、檢測(cè)條件、評(píng)定方法及檢測(cè)方宗本標(biāo)準(zhǔn)適用于14項(xiàng)形位誤差的檢測(cè)2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過(guò)本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn),然而.鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件.其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。GB/T1182—1996形狀和位置公差通則、定義、符號(hào)和圖樣表示法(eqvISO/DIS1101:1996)GB/T18779.1產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)工件與測(cè)量設(shè)備的測(cè)量檢驗(yàn)第1部分:按規(guī)范檢驗(yàn)合格或不合格的判定規(guī)則(eqvISO14253-1:1998)GB/T18779.2產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)工件與測(cè)量設(shè)備的測(cè)量檢驗(yàn)第2部分:測(cè)量設(shè)備校準(zhǔn)和產(chǎn)品檢驗(yàn)中GPS測(cè)量的不確定度評(píng)定指南(ISO/TS14253-2:1999.IDT)GB/T18780.1—2002產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)幾何要素第1部分:基本術(shù)語(yǔ)和定義(idtISO14660-1:1999)一般規(guī)定3.1形位誤差是指被測(cè)提取要素對(duì)其擬合要素的變動(dòng)量。本標(biāo)準(zhǔn)涉及的形位誤差共有14項(xiàng),見(jiàn)表1。住1:提取要素是指按(B/T18780.1定義的提取組成要素和提取導(dǎo)出要素的統(tǒng)稱。注2:提取組成要素是在實(shí)際要素上提取數(shù)量足夠多的點(diǎn)形成的。3.2測(cè)量形位誤差時(shí),表面粗糙度、劃痕、擦傷以及塌邊等其他外觀缺陷,應(yīng)排除在外測(cè)量截面的布置、測(cè)量點(diǎn)的數(shù)目及其布置方法,應(yīng)根據(jù)被測(cè)要素的結(jié)構(gòu)特征、功能要求和加工工藝等因素決定3.3形位誤差檢測(cè)原則分5種:與擬合要素比較原則、測(cè)量坐標(biāo)值原則、測(cè)量特征參數(shù)原則、測(cè)量跳動(dòng)原則和控制實(shí)效邊界原則,見(jiàn)表2。根據(jù)檢測(cè)原則對(duì)各項(xiàng)目擬定的檢測(cè)方案見(jiàn)附錄A。3.4測(cè)量形位誤差時(shí)的標(biāo)準(zhǔn)條件:1)標(biāo)準(zhǔn)溫度為20℃;2)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量
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