標準解讀

《GB/T 17541-1998 學習機通用規(guī)范》作為一項技術標準，為學習機的產(chǎn)品設計、生產(chǎn)、檢驗提供了統(tǒng)一的準則。然而，您提到的對比對象未明確給出，我無法直接提供兩者之間的具體變更內(nèi)容。如果想要了解該標準與另一個特定標準或其前一版之間的差異，通常需要詳細比對兩個標準的具體條款，包括但不限于技術要求、測試方法、安全規(guī)范、性能指標等方面的調(diào)整和更新。

例如，如果對比的是該標準與一個假想的舊版標準，可能的變更點可能涵蓋新技術的納入（如支持數(shù)字化教育資源的新格式）、提升硬件配置要求以適應更復雜的學習軟件、增強用戶交互體驗的設計原則、以及更加嚴格的數(shù)據(jù)保護與隱私安全規(guī)定等。但請注意，這些僅是假設性示例，并非針對實際的比較結(jié)果。

要獲得確切的變更信息，需要直接查閱這兩個標準文檔，逐條分析其異同。


如需獲取更多詳盡信息，請直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標準文檔。

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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 1998-11-05 頒布
  • 1999-06-01 實施
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文檔簡介

ICS35.160L62中華人民共和國國家標準GB/T17541一1998學習機通用規(guī)范Generalspecificationforelementarycomputer1998-11-05發(fā)布1999-06-01實施國家質(zhì)量技術監(jiān)督局發(fā)布

GB/T17541-1998范圍引用標準23型號命名要求44.1處理機設計要求4.2外觀及結(jié)構(gòu)要求4.3電源適應能力4.4功能4.5性能4.6電磁兼容性4.7安全4.8環(huán)境條件4.8.1大大氣環(huán)境條件4.8.2機械環(huán)境條件4.9可靠性和鍵壽命5試驗方法···············5.1試驗環(huán)境條件5.2外觀及結(jié)構(gòu)檢查5.3電源適應能力試驗5.4功能檢查5.5性能檢查5.6電磁兼容性試驗5.7安全試驗5.8環(huán)境試驗5.8.1一般要求5.8.2溫度下限試驗5.8.3溫度上限試驗5.8.4恒定濕熱試驗5.8.5振動試驗5.8.6沖擊試驗5.8.7運輸包裝跌落試驗5.9可靠性和鍵壽命試驗5.9.1可靠性試驗5.9.2鍵壽命試驗

GB/T17541-19986檢驗規(guī)則6.1一一般規(guī)定檢驗分類63定型檢驗交收檢驗…6.5例行檢驗……標志、包裝、運輸、存7.1標志…7.27.37.4存…·附錄A（標準的附錄）故障的分類

GB/T17541-1998本標準規(guī)定了學習機的通用技術條件,主要內(nèi)容包括：技術要求、試驗方法、檢驗規(guī)則等，本標準的適用對象主要是以通用信息處理用鍵盤為主機的、配以有關設備(如：電源、軟驅(qū)等)以及相應的信息處理軟件,用于游戲、教育和簡單的信息處理的學習機。本標準適用于各種具有上述功能和作用的射頻或視、音頻輸出的學習機類產(chǎn)品。本標準的附錄八是標準的附錄。本標準由中華人民共和國電子工業(yè)部提出本標準起草單位：電子工業(yè)部標準化研究所、北京市產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗所。本標準主要起草人：武杰、王立建、張振生、陳靜、黃一禾、王煥祥、范承斌、唐瑞春。

中華人民共和國國家標準學習機通用規(guī)范GB/T17541-1998Generalspeciticationforelementarycomputer范圍1.1主題內(nèi)容本標準規(guī)定了學習機通用要求、試驗方法、檢驗規(guī)則,以及標志、包裝、運輸、存等，1.2適用范圍本標準適用于各種射頻輸出或視、音頻輸出的學習機(以下簡稱學習機）引用標準下列標準所包含的條文，通過在本標準中引用而構(gòu)成為本標準的條文。本標準出版時，所示版本均為有效。所有標準都會被修訂，使用本標準的各方應探討使用下列標準最新版本的可能性。GB191—1990包裝儲運圖示標志GB2312—1980信息交換用漢字編碼字符集基本集GB/T2423.1—1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A：低溫試驗方法(eqvIEC68-2-1:1974）GB/T2423.2-1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗B:高溫試驗方法(eqvIEC68-2-2：1974）GB/T2423.3-1993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ca:恒定濕熱試驗方法（eqvIEC68-2-3:1984）GB/T2423.5-1995。電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Ea和導則：沖擊（idtTEC68-2-27:1987）GB/T2423.10-1995電電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fe和導則：振動（正弦）idtIEC68-2-6:1982）GB/T2787-1981信息處理交換用七位編碼字符集鍵盤的字母數(shù)字區(qū)布局(eqvISO2530:1975）GB/T2828—1987連批檢查計數(shù)抽樣程序及抽樣表(適用于連續(xù)批的檢查)GB/T4837-1984打字機打印鍵和功能鍵的布局(idtISO1091:1977)GB4943—1995信息技術設備(包括電氣事務設備)的安全(idtIEC950:1991)GB/T5007.1-1985信息交換用漢字24×24點陣字模集GB/T5007.2-1985信息交換用漢字24×24點陣字模數(shù)據(jù)集GB/T5080.7—1986設備可靠性試驗恒定失效率假定下的失效率與平均無故障時間的驗證試驗方案(idtIEC605-7：1978）GB/T5199.1-1985信息交換用漢字15×16點陣字模集GB/T5199.2-1985信息交換用漢字15

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