標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 17362-1998 黃金飾品的掃描電鏡X射線能譜分析方法》這一國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了使用掃描電子顯微鏡結(jié)合X射線能譜儀（SEM-EDS）對(duì)黃金飾品進(jìn)行成分分析的技術(shù)要求、操作步驟、結(jié)果表述以及質(zhì)量控制等方面的具體規(guī)范。下面是對(duì)該標(biāo)準(zhǔn)主要內(nèi)容的展開(kāi)說(shuō)明：

  1. 適用范圍：本標(biāo)準(zhǔn)適用于測(cè)定黃金飾品中主元素（如金、銀、銅）及其雜質(zhì)元素（如鐵、鎳、鋅等）的含量，通過(guò)微觀形貌觀察與化學(xué)成分分析相結(jié)合，評(píng)估飾品的純度和質(zhì)量。

  2. 術(shù)語(yǔ)和定義：明確了掃描電鏡（SEM）、X射線能譜分析（EDS）等基本概念，為標(biāo)準(zhǔn)的準(zhǔn)確理解和執(zhí)行奠定基礎(chǔ)。

  3. 儀器要求：規(guī)定了進(jìn)行測(cè)試所使用的掃描電鏡及X射線能譜儀應(yīng)具備的基本性能指標(biāo)，包括分辨率、檢測(cè)限、穩(wěn)定性等，確保分析結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。

  4. 樣品制備：詳細(xì)說(shuō)明了樣品選取、切割、鑲嵌、磨拋、清洗等預(yù)處理步驟，以保證樣品表面適合SEM觀察和EDS分析，同時(shí)避免污染和形貌改變影響分析結(jié)果。

  5. 測(cè)試條件與參數(shù)設(shè)置：包括電子束加速電壓、工作距離、檢測(cè)時(shí)間等參數(shù)的選擇原則，旨在優(yōu)化分析效率與精度。

  6. 數(shù)據(jù)采集與處理：闡述了如何通過(guò)SEM獲取飾品表面的微觀形貌圖像，并利用EDS技術(shù)收集元素的特征X射線信號(hào)，進(jìn)一步對(duì)這些數(shù)據(jù)進(jìn)行定量或半定量分析，確定各元素的相對(duì)或絕對(duì)含量。

  7. 結(jié)果表述：規(guī)定了分析結(jié)果應(yīng)包含的信息，如樣品描述、測(cè)試條件、檢測(cè)到的元素種類(lèi)及其含量范圍或具體數(shù)值，必要時(shí)還需提供元素分布圖或線條掃描分析結(jié)果。

  8. 質(zhì)量控制：強(qiáng)調(diào)了在分析過(guò)程中實(shí)施的質(zhì)量控制措施，如使用標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)校準(zhǔn)儀器、重復(fù)測(cè)試以驗(yàn)證結(jié)果的一致性，確保分析的準(zhǔn)確性。

  9. 安全操作：簡(jiǎn)要提及了在操作SEM和EDS設(shè)備時(shí)應(yīng)注意的安全事項(xiàng)，以防輻射傷害、電氣安全事故等。


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  • 1998-05-08 頒布
  • 1998-12-01 實(shí)施
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ICS37.020N33中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T17362-1998黃金飾品的掃描電鏡X射線能譜分析方法NondestructivemethodofX-rayEDSanalysiswithSEMforgoldjewelry1998-05-08發(fā)布1998-12-01實(shí)施國(guó)家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

GB/T17362-1998該標(biāo)準(zhǔn)無(wú)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，為首次制定的我國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了掃描電鏡X射線能譜儀對(duì)黃金飾品進(jìn)行無(wú)損定量分析的技術(shù)要求和規(guī)范，適用于各種純金飾品和K金飾品含金量的測(cè)定。本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并負(fù)責(zé)技術(shù)歸口。本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)有色金屬工業(yè)總公司北京有色金屬研究總院、核工業(yè)部北京地質(zhì)研究院、泊金部北京鋼鐵研究總院共同負(fù)責(zé)起草。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：劉安生、張宜、毛永靜、

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)黃金飾品的掃描電鏡X射線能譜分析方法GB/T17362-1998NondestructivemethodofX-rayEDSanalysiswithSEMforgoldjewelry1范園本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用掃描電鏡的X射線能譜儀，對(duì)黃金飾品金含量進(jìn)行無(wú)損的定量分析方法的技術(shù)要求和規(guī)范。本標(biāo)準(zhǔn)適用于對(duì)各種純金飾品和K金飾品含金量的測(cè)定，也可適用于各種鍍金、包金、鍛壓金等表面含金層厚度大于3″m的飾品表面層含金量的測(cè)定。本標(biāo)準(zhǔn)也適用于電子探針X射線能譜儀對(duì)黃金飾品的分析。2引用標(biāo)準(zhǔn)下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文，通過(guò)在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。本標(biāo)準(zhǔn)出版時(shí)，所示版本均為有效。所有標(biāo)準(zhǔn)都會(huì)被修訂，使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性GB/T4930-93電子探針?lè)治鰳?biāo)準(zhǔn)樣品通用技術(shù)條件GB/T15074-94電子探針定量分析方法通則GB/T17359—1998電子探針和掃描電鏡X射線能譜定量分析方法通則3分析方法原理在掃描電鏡中，當(dāng)具有一定能量并被聚焦的電子束轟擊樣品時(shí)，被照射區(qū)發(fā)射出各個(gè)元素的特征X射線,利用半導(dǎo)體探測(cè)器對(duì)不同能量的X射線進(jìn)行色散的特性，對(duì)接收的信號(hào)進(jìn)行放大、處理和分析可獲得各元素的特征X射線峰的能量分布及其強(qiáng)度值，再通過(guò)與相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)樣品的X射線譜的對(duì)比測(cè)定，以及修正計(jì)算處理，最終可以獲得被測(cè)樣品的化學(xué)組成的定量分析結(jié)果。4儀器和材料A1掃描電子顯微鏡4.2：又射線能譜儀、4.3，超聲波清洗器。A4無(wú)水乙醇，丙酮：4.5電吹風(fēng)機(jī)。4.6K金標(biāo)樣一套。5標(biāo)準(zhǔn)樣品5.1黃金飾品通常只含有金、銀、銅三種元素，在有些情況下,還可能含有

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