GB/T 17362-2008黃金制品的掃描電鏡X射線能譜分析方法

犐犆犛７１．０４０．９９

犖５３

中華人民共和國國家標準

犌犅／犜１７３６２—２００８

代替ＧＢ／Ｔ１７３６２—１９９８，ＧＢ／Ｔ１７７２３—１９９９

黃金制品的掃描電鏡犡射線

能譜分析方法

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２００８０９１８發(fā)布２００９０５０１實施

中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局

發(fā)布

中國國家標準化管理委員會

書

犌犅／犜１７３６２—２００８

前言

本標準代替ＧＢ／Ｔ１７３６２—１９９８《黃金飾品的掃描電鏡Ｘ射線能譜分析方法》和ＧＢ／Ｔ１７７２３—

１９９９《黃金制品鍍層成分的Ｘ射線能譜測量方法》兩個標準。

本標準與ＧＢ／Ｔ１７３６２—１９９８和ＧＢ／Ｔ１７７２３—１９９９兩個標準相比主要修改如下：

———將適用范圍進行了合并，使其能分別適用于不同含金量的Ｋ金制成的黃金制品和表面有含金

鍍層的鍍金制品的鍍層成分的測定這兩種情況；

———將原來兩個標準的相關章節(jié)，刪去重復的部分，對不同的部分進行整理加工形成新的文本；

———刪去了ＧＢ／Ｔ１７７２３中“術語”這一節(jié)；

———原標準中“飾品”一律改為“制品”；

———本標準不再規(guī)定選用的校正程序，操作人員可根據實際分析的試樣，自行選擇采用；

———著重強調測定鍍層制品時，工作電壓的選擇，這是對鍍層成分能否測準的關鍵所在。

本標準的附錄Ａ為規(guī)范性附錄。

本標準由全國微束分析標準化技術委員會提出。

本標準由全國微束分析標準化技術委員會歸口。

本標準起草單位：北京有色金屬研究總院、核工業(yè)總公司北京地質研究院、北京鋼鐵研究總院。

本標準主要起草人：劉安生、張宜、毛允靜。

本標準所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為：

———ＧＢ／Ｔ１７３６２—１９９８；

———ＧＢ／Ｔ１７７２３—１９９９。

Ⅰ

書

犌犅／犜１７３６２—２００８

黃金制品的掃描電鏡犡射線

能譜分析方法

１范圍

１．１本標準規(guī)定了用配置在掃描電鏡上的Ｘ射線能譜儀對黃金制品化學成分進行無損定量分析的方

法和技術要求。

１．２本標準適用于各種純金制品和Ｋ金制品化學成分的測定，也適用于各種鍍金、包金、鍛壓金等制

品表面含金層厚度為０．２μｍ以上，３μｍ以下的表面層化學成分無損測定。

１．３本標準適用于黃金制品中質量分數在０．１％～１００％的元素定量分析。本標準也適用于配置在電

子探針分析儀上的Ｘ射線能譜儀對黃金制品的分析。

２規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過本標準的引用而成為本標準的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有

的修改單（不包括勘誤的內容）或修訂版均不適用于本標準，然而，鼓勵根據本標準達成協議的各方研究

是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標準。

ＧＢ／Ｔ４９３０電子探針分析標準樣品通用技術條件

３分析方法原理

在掃描電鏡中，當具有一定能量并被聚焦的電子束轟擊樣品時，被照射區(qū)發(fā)射出各個元素的特征

Ｘ射線，利用半導體探測器對不同能量的Ｘ射線進行色散的特性，對接收的信號進行放大、處理和分

析，可獲得各元素的特征Ｘ射線峰的能量分布及其強度值，再通過與相應的標準樣品的Ｘ射線譜的對

比測定，以及修正計算處理，最終可以獲得被測試樣的化學組成的定量分析結果。

對鍍層試樣，通過改變掃描電鏡的工作電壓，從而改變入射電子在試樣中的穿透深度，從而獲得不

同深度內元素存在的信息。在相同的實驗條件下，測量鍍層中存在元素和相應的標準樣品中同種元素

的特征Ｘ射線，經對比、修正后求出鍍層內相應于電子穿透深度范圍內的元素組成的定量分析結果。

４儀器和材料

４．１掃描電子顯微鏡。

４．２Ｘ射線能譜儀。

４．３超聲波清洗器。

４．４無水乙醇、丙酮。

４．５電吹風機。

４．６Ｋ金標樣一套。